專利名稱：：校準(zhǔn)方法和計算x線體層照相裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及一種校準(zhǔn)(calibration)方法和X射線的計算X線體層照相[CT(ComputedTomography)]裝置，具體是涉及向校準(zhǔn)對象提供預(yù)定條件來進(jìn)行校準(zhǔn)的方法和進(jìn)行數(shù)據(jù)(data)接收裝置的校準(zhǔn)的X射線CT裝置。
背景技術(shù)：
：在X射線CT裝置中，進(jìn)行數(shù)據(jù)收集裝置的校準(zhǔn)。校準(zhǔn)通過在規(guī)定多個X射線照射條件下分別收集X射線檢測器的各信道的檢測值來進(jìn)行。收集到的檢測值作為校準(zhǔn)數(shù)據(jù)(calibrationdata)存儲在存儲器(memory)中，作為進(jìn)行X射線檢測器的靈敏度補償?shù)鹊臄?shù)據(jù)來利用。進(jìn)行X射線檢測器10的靈敏度補償?shù)?，以便拍攝圖像的質(zhì)量不受X射線檢測器的靈敏度變化等的影響(例如特開2001-70297號公報(第2頁，圖5))。每天進(jìn)行校準(zhǔn)，如果每次更新校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，雖然保證圖像質(zhì)量，但因為校準(zhǔn)消耗大量時間，所以每天一次的X射線CT裝置的實際運轉(zhuǎn)時間短。為了避免這種事情的發(fā)生，在不影響圖像質(zhì)量的范圍內(nèi)，期望以盡可能低的頻度來進(jìn)行校準(zhǔn)。因此，本發(fā)明的課題在于實現(xiàn)以適當(dāng)頻度來進(jìn)行校準(zhǔn)的方法和具備進(jìn)行這種校準(zhǔn)的單元的X射線CT裝置。
發(fā)明內(nèi)容(1)解決上述課題的一個方面的發(fā)明是一種校準(zhǔn)方法，其特征在于當(dāng)向校準(zhǔn)對象提供預(yù)定條件進(jìn)行校準(zhǔn)時，根據(jù)從過去到現(xiàn)在的多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，預(yù)測校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的未來值，根據(jù)預(yù)測，指定下次進(jìn)行校準(zhǔn)的時期。(2)解決上述課題的另一方面的發(fā)明是一種X射線CT裝置，具有利用X射線來收集拍攝對象中圖像重構(gòu)用數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)收集單元、和根據(jù)所述數(shù)據(jù)來重構(gòu)圖像的圖像重構(gòu)單元，其特征在于具備校準(zhǔn)單元，進(jìn)行所述數(shù)據(jù)收集單元的校準(zhǔn)；預(yù)測單元，根據(jù)從過去到現(xiàn)在的多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，預(yù)測校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的未來值，和指定單元，根據(jù)預(yù)測，指定下次進(jìn)行校準(zhǔn)的時期。在(1)或(2)所述的各方面的發(fā)明中，根據(jù)從過去到現(xiàn)在的多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，預(yù)測校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的未來值，并根據(jù)該預(yù)測，指定下次進(jìn)行校準(zhǔn)的時期，所以可以適當(dāng)頻度來進(jìn)行校準(zhǔn)。通過將由所述多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)與時序模式相對照來進(jìn)行所述預(yù)測的優(yōu)點在于可高精度預(yù)測。用供給由所述多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的函數(shù)來進(jìn)行所述預(yù)測的優(yōu)點在于可簡便進(jìn)行預(yù)測。所述多次校準(zhǔn)是一天一次的校準(zhǔn)的優(yōu)點在于得到預(yù)測值，作為一天一次數(shù)據(jù)。用圖形來顯示通過所述多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)及通過所述預(yù)測得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的優(yōu)點在于容易把握校準(zhǔn)時間的推移。(3)解決上述課題的另一方面的發(fā)明是一種校準(zhǔn)方法，其特征在于當(dāng)向校準(zhǔn)對象提供預(yù)定條件進(jìn)行校準(zhǔn)時，一天一次進(jìn)行校準(zhǔn)，直到預(yù)定次數(shù)，之后，一周一次進(jìn)行校準(zhǔn)，當(dāng)一周一次的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)值超過預(yù)定限度時，進(jìn)行一天一次的校準(zhǔn)。(4)解決上述課題的另一方面的發(fā)明是一種X射線CT裝置，具有利用X射線來收集拍攝對象中圖像重構(gòu)用數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)收集單元、和根據(jù)所述數(shù)據(jù)來重構(gòu)圖像的圖像重構(gòu)單元，其特征在于具備校準(zhǔn)單元，進(jìn)行所述數(shù)據(jù)收集單元的校準(zhǔn)；和控制單元，使所述校準(zhǔn)單元在一天一次進(jìn)行校準(zhǔn)，直到達(dá)到預(yù)定次數(shù)，之后，一周一次進(jìn)行校準(zhǔn)，當(dāng)一周一次的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)值超過預(yù)定限度時，進(jìn)行一天一次的校準(zhǔn)。在(3)或(4)所述的各方面的發(fā)明中，一天一次進(jìn)行校準(zhǔn)，直到達(dá)到預(yù)定次數(shù)，之后，一周一次進(jìn)行校準(zhǔn)，當(dāng)一周一次的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)值超過預(yù)定限度時，進(jìn)行一天一次的校準(zhǔn)，所以可以適當(dāng)頻度來進(jìn)行校準(zhǔn)。用圖形來顯示通過所述校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的優(yōu)點在于容易把握校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的推移。所述圖形是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)IV的圖形的優(yōu)點在于容易把握校準(zhǔn)數(shù)據(jù)本身。所述圖形是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)MR的圖形的優(yōu)點在于容易把握校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的變化量。所述圖形是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)EWMA的圖形的優(yōu)點在于容易把握校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的移動平均。圖1是本發(fā)明實施形態(tài)一例的裝置框圖。圖2是表示X射線檢測器的模式結(jié)構(gòu)的圖。圖3是表示X射線檢測器的模式結(jié)構(gòu)的圖。圖4是表示X射線照射、檢測裝置的模式結(jié)構(gòu)的圖。圖5是表示X射線照射、檢測裝置的模式結(jié)構(gòu)的圖。圖6是本發(fā)明實施形態(tài)一例的裝置動作的流程圖。圖7是本發(fā)明實施形態(tài)一例的裝置動作的流程圖。圖8是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的推移和預(yù)測的圖形。圖9是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的推移和預(yù)測的圖形。圖10是本發(fā)明實施形態(tài)一例的裝置動作的流程圖。圖11是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的推移和預(yù)測的圖形。圖12是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的推移和預(yù)測的圖形。圖13是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的推移和預(yù)測的圖形。具體實施例方式下面，參照附圖來詳細(xì)說明本發(fā)明的實施形態(tài)。本發(fā)明不限于實施形態(tài)。圖1表示X射線CT裝置的框圖(block)。本裝置為本發(fā)明的實施形態(tài)一例。通過本裝置的結(jié)構(gòu)示出關(guān)于本發(fā)明裝置的實施形態(tài)一例。通過本裝置的動作，示出關(guān)于本發(fā)明的方法的實施形態(tài)一例。如圖1所示，本裝置具備掃描臺架(gantry)2、拍攝臺(table)4和操作控制臺(console)6。掃描臺架2具有X射線管20。從X射線管20放射出的未圖示的X射線通過準(zhǔn)直儀(collimator)22形成為扇形X射線束(beam)、即扇形波射束(fanbeam)，照射到X射線檢測器24。X射線檢測器24具有沿扇狀X射線束的寬度方向排列成陣列(array)狀的多個檢測元件。后面詳細(xì)說明X射線檢測器24的結(jié)構(gòu)。X射線管20、準(zhǔn)直儀22和X射線檢測器24構(gòu)成X射線照射、檢測裝置。后面詳細(xì)說明X射線照射檢測裝置。將數(shù)據(jù)收集部26連接于X射線檢測部24。數(shù)據(jù)收集部26收集X射線檢測器24的各檢測元件的檢測信號，作為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)(digitaldata)。來自X射線管20的X射線照射由X射線控制器(controller)28控制。省略圖示X射線管20與X射線控制器28的連接關(guān)系。準(zhǔn)直儀22由準(zhǔn)直儀控制器30控制。省略圖示準(zhǔn)直儀22與準(zhǔn)直儀控制器30的連接關(guān)系。將以上從X射線管20到準(zhǔn)直儀控制器30的部件裝載在掃描臺架2的旋轉(zhuǎn)部34上。旋轉(zhuǎn)部34的旋轉(zhuǎn)由旋轉(zhuǎn)控制器36來控制。省略圖示旋轉(zhuǎn)部34與旋轉(zhuǎn)控制器36的連接關(guān)系。上述構(gòu)成的掃描臺架2是本發(fā)明的數(shù)據(jù)收集單元的實施形態(tài)的一例。對掃描臺架2中的X射線檢測器24進(jìn)行校準(zhǔn)。后面詳細(xì)說明校準(zhǔn)。拍攝臺4將未圖示的拍攝對象搬入和搬出掃描臺架2的X射線照射空間。后面詳細(xì)說明對象與X射線照射空間的關(guān)系。操作控制臺6具有數(shù)據(jù)處理裝置60。數(shù)據(jù)處理裝置60由例如計算機(computer)等構(gòu)成。數(shù)據(jù)處理裝置60上連接控制接口(interface)62。在控制接口62上連接掃描臺架2與拍攝臺4。數(shù)據(jù)處理裝置60通過控制接口62來控制掃描臺架2和拍攝臺4。通過控制接口62來控制掃描臺架2內(nèi)的數(shù)據(jù)收集部26、X射線控制器28、準(zhǔn)直儀控制器30和旋轉(zhuǎn)控制器36。省略圖示這些各部與控制接口62的各連接。數(shù)據(jù)處理裝置60上還連接數(shù)據(jù)收集緩沖器64。在數(shù)據(jù)收集緩沖器64上連接掃描臺架2的數(shù)據(jù)收集部26。數(shù)據(jù)收集部26收集的數(shù)據(jù)通過數(shù)據(jù)收集緩沖器64被輸入數(shù)據(jù)處理裝置60。數(shù)據(jù)處理裝置60使用通過數(shù)據(jù)收集緩沖器64收集到的多個視圖的透射X射線數(shù)據(jù)來進(jìn)行圖像重構(gòu)。作為預(yù)處理，對透射X射線數(shù)據(jù)實施將X射線檢測器的靈敏度補償設(shè)為開始的規(guī)定補償。在圖像重構(gòu)中使用例如濾光放映(filteredbackprojection)法等。數(shù)據(jù)處理裝置60是本發(fā)明中重構(gòu)單元的實施形態(tài)一例。數(shù)據(jù)處理裝置60上還連接存儲裝置66。存儲裝置66存儲各種數(shù)據(jù)或程序(program)。將校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)庫(database)也存儲在存儲裝置66中。數(shù)據(jù)處理裝置60通過執(zhí)行存儲裝置66中存儲的程序，進(jìn)行關(guān)于拍攝執(zhí)行的各種數(shù)據(jù)處理。通過數(shù)據(jù)處理裝置60執(zhí)行規(guī)定程序來進(jìn)行X射線檢測器24的校準(zhǔn)。在數(shù)據(jù)處理裝置60上還連接顯示裝置68和操作裝置70。顯示裝置68顯示從數(shù)據(jù)處理裝置60輸出的重構(gòu)圖像或其它信息。由使用者來對操作裝置70進(jìn)行操作，將各種指示或信息等輸入數(shù)據(jù)處理裝置60。使用者使用顯示裝置68和操作裝置70來交互(interactive)操作本裝置。圖2表示X射線檢測器24的模式結(jié)構(gòu)。如圖所示，X射線檢測器24構(gòu)成為將多個X射線檢測元件24(i)排列成1維陣列狀的多信道的X射線檢測器。i是信道號碼，例如i＝1-1000。X射線檢測元件24(i)作為整體形成彎曲成圓筒凹面狀的X射線入射面。X射線檢測器24如圖3所示，也可將多個X射線檢測元件24(ik)排列成2維陣列狀。多個X射線檢測元件24(ik)作為整體形成彎曲成圓筒凹面狀的X射線入射面。K是列號碼，例如k是1、2、3、4。X射線檢測元件24(ik)由列號碼k相同的元件來分別構(gòu)成檢測元件列。X射線檢測器24的檢測元件列不限于4列，也可是大于或小于4個的多個。X射線檢測元件24(ik)例如由閃爍器(scintillator)與發(fā)光二極管(photodiode)的組合構(gòu)成。但不限于此，例如也可是利用鎘碲(CdTe)等的半導(dǎo)體X射線檢測元件、或利用氙(Xe)氣的電離箱型X射線檢測元件。圖4表示X射線照射、檢測裝置中X射線管20、準(zhǔn)直儀22與X射線檢測器24的相互關(guān)系。圖4(a)是表示從掃描臺架2的正面看的狀態(tài)的圖，(b)是表示從側(cè)面看的狀態(tài)圖。如圖所示，從X射線管20放射出的X射線通過準(zhǔn)直儀22形成為扇形X射線束400，照射到X射線檢測器24上。圖4(a)中，表示扇形X射線束400的寬度。扇形波射束X射線400的寬度方向與X射線檢測器24中的信道排列方向一致。準(zhǔn)直儀22具有間隔空間彼此相對的1對準(zhǔn)直儀刀片(collimatorblade)222、224。準(zhǔn)直儀刀片222、224之間的空間構(gòu)成X射線束400的寬度方向的開口(小孔aperture)。該小孔決定X射線束400的寬度。圖4(b)中示出X射線束400的厚度。X射線束400的厚度方向與X射線檢測器24中多個檢測元件列的并設(shè)方向一致。準(zhǔn)直儀22具有間隔空間彼此相對的1對準(zhǔn)直儀刀片226、228。準(zhǔn)直儀刀片226、228之間的空間構(gòu)成扇形波射束X射線400的寬度方向的小孔。該小孔決定X射線束400的厚度。在這種X射線束400的扇面中使體軸交叉，例如圖5所示，將裝載在拍攝臺4上的對象8搬入X射線照射空間。掃描臺架2構(gòu)成內(nèi)部包含X射線照射、檢測裝置的筒狀結(jié)構(gòu)。X射線照射空間形成于掃描臺架2的筒狀結(jié)構(gòu)的內(nèi)側(cè)空間中。將由X射線束400切片(slice)的對象8的像投影到X射線檢測器24上。通過X射線檢測器24，檢測透過對象8的X射線。由準(zhǔn)直儀22的小孔來確定照射到對象8上的X射線束400的厚度th。由X射線管20、準(zhǔn)直儀22與X射線檢測器24構(gòu)成的X射線照射、檢測裝置保持這些相互關(guān)系不變，連續(xù)旋轉(zhuǎn)(掃描scan)對象8的體軸四周。由此，進(jìn)行軸掃描(axialscan)。在X射線照射、檢測裝置的旋轉(zhuǎn)同時，當(dāng)使拍攝臺4沿對象8的體軸方向連續(xù)移動時，X射線照射、檢測裝置對于對象8、相對沿包圍對象8的螺旋狀軌道旋轉(zhuǎn)。由此，進(jìn)行所謂螺旋掃描(helicalscan)。掃描每次旋轉(zhuǎn)，收集多個(例如1000左右)視圖的透射X射線數(shù)據(jù)。通過X射線檢測器24-數(shù)據(jù)收集部26-數(shù)據(jù)收集緩沖器64的系列來進(jìn)行透射X射線數(shù)據(jù)的收集。說明X射線檢測器24的校準(zhǔn)。圖6示出關(guān)于校準(zhǔn)的本裝置的動作流程(flow)圖。如圖所示，由步驟(stage)61來進(jìn)行規(guī)定天數(shù)的每天校準(zhǔn)(dailycalibration)。所謂每天校準(zhǔn)是在本裝置運轉(zhuǎn)之前進(jìn)行的一天一次的校準(zhǔn)。校準(zhǔn)是在預(yù)定的X射線照射條件下測定X射線檢測器24的各信道的X射線檢測信號。通常，確定多個X射線照射條件，在各條件下分別測定各信道的X射線檢測信號。測定值作為校準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲在數(shù)據(jù)庫中。通過進(jìn)行規(guī)定天數(shù)的每天校準(zhǔn)，得到連續(xù)的多天校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。通過掃描臺架2與操作控制臺6聯(lián)合來進(jìn)行每天校準(zhǔn)。步驟603中的掃描臺架2和操作控制臺6是本發(fā)明中校準(zhǔn)單元的實施形態(tài)的一例。接著，在步驟603中，預(yù)測校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的未來值。未來值的預(yù)測根據(jù)連續(xù)的多天校準(zhǔn)數(shù)據(jù)來進(jìn)行。連續(xù)的多天校準(zhǔn)數(shù)據(jù)形成時間系列數(shù)據(jù)。還將時間系列數(shù)據(jù)稱為時間序列(timeseries)。例如使用時序模式(timeseriesmodel)來進(jìn)行時間序列的未來值的預(yù)測。事先形成時序模式并裝備到本裝置中。圖7中示出時序模式的形成步驟。如圖所示，在步驟701中，收集長期的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。收集到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)例如是每天校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。之后，在步驟703中，進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。數(shù)據(jù)分析也稱為時間序列分析(timeseriesanalysis)。對長期的每天校準(zhǔn)數(shù)據(jù)、即長期的時間序列進(jìn)行時間序列進(jìn)行時間序列分析。通過對長期的時間序列的分析，特定時間序列的特性。下面，在步驟705中，形成時序模式。形成時序模式，與時間序列的特性一致。作為形成時序模式的方法，例如已知MA(movingaverage)、AR(autoregression)、ARMA(autoregressivemovingaverage)等，利用這些中的適當(dāng)有效方法。對X射線檢測器24的各信道形成時序模式。由此，得到每個信道的時序模式。時序模式的形成由數(shù)據(jù)處理裝置60來進(jìn)行?；?，也可由與本裝置不同的適當(dāng)WS(workstation)進(jìn)行，裝備在本裝置中。校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的未來值預(yù)測通過將連續(xù)的多天校準(zhǔn)數(shù)據(jù)對照時序模式來進(jìn)行。對每個X射線檢測器24的各信道進(jìn)行預(yù)測。即，通過將連續(xù)多天的每個信道的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)對照每個信道的時序模式來進(jìn)行。圖8中示出1個信道的預(yù)測結(jié)果的一例。圖中，◇表示實測值，△表示預(yù)測值。如圖所示，連續(xù)多天進(jìn)行未來值預(yù)測。因為使用時序模式，所以可進(jìn)行高精度預(yù)測。另外，因為使用每天校準(zhǔn)，所以可得到預(yù)測值，作為一天一次的值。由數(shù)據(jù)處理裝置60來進(jìn)行未來值預(yù)測。數(shù)據(jù)處理裝置60是本發(fā)明中預(yù)測單元的實施形態(tài)的一例。實測值和預(yù)測值在顯示裝置68中被顯示為圖形(graph)。顯示裝置68是本發(fā)明的顯示單元的實施形態(tài)的一例。因為由顯示裝置68來顯示實測值和預(yù)測值，所以使用者可容易判斷狀況。接著，在步驟605中，根據(jù)預(yù)測來指定下次校準(zhǔn)的日期。作為下次校準(zhǔn)的日期，對任一信道指定預(yù)測值超過規(guī)定限度的日期?；陬A(yù)測的日期的指定由數(shù)據(jù)處理裝置60進(jìn)行。數(shù)據(jù)處理裝置60是本發(fā)明中指定單元的實施形態(tài)的一例。另外，使用者也可根據(jù)預(yù)測顯示來指定日期。接著，在步驟607中，對指定日進(jìn)行校準(zhǔn)。對指定日僅進(jìn)行1次校準(zhǔn)。或者，也可進(jìn)行當(dāng)天和次日兩次校準(zhǔn)。校準(zhǔn)的結(jié)果，更新數(shù)據(jù)庫。該數(shù)據(jù)庫成為今后靈敏度補償?shù)鹊臄?shù)據(jù)庫。執(zhí)行校準(zhǔn)后，返回步驟603，進(jìn)行校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的未來值預(yù)測。此時，將步驟607中得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的實測值置換為時間序列的預(yù)測值。另外，對應(yīng)于實測值與預(yù)測值之差，補償指定日之前的預(yù)測值，更新時間序列。更新后的時間序列被用于每天校準(zhǔn)的未來值預(yù)測。這樣，在根據(jù)未來預(yù)測指定的日期進(jìn)行每天校準(zhǔn)的下一次校準(zhǔn)。因此，預(yù)測值未超過限度的期間中不進(jìn)行校準(zhǔn)，所以校準(zhǔn)的間隔比每天校準(zhǔn)還長。另外，當(dāng)預(yù)測值超過限度而進(jìn)行估計時，在與之一致的指定日進(jìn)行校準(zhǔn)，所以可適時進(jìn)行校準(zhǔn)。步驟603中的每天校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的預(yù)測也可通過函數(shù)匹配(fitting)來進(jìn)行，代替使用時序模式。通過使用函數(shù)匹配，可簡便進(jìn)行預(yù)測。即，例如圖9所示，對時間序列進(jìn)行函數(shù)匹配，將通過函數(shù)預(yù)測的數(shù)據(jù)超過限度USL(upperspeclimit)或LSL(lowerspeclimit)的日期設(shè)為下次校準(zhǔn)的日期。即便如此，也因為在預(yù)測值未超過限度期間不進(jìn)行校準(zhǔn)，所以可使校準(zhǔn)的間隔比每天校準(zhǔn)還長。另外，當(dāng)預(yù)測值超過限度而進(jìn)行估計時，因為在與之一致的指定日進(jìn)行校準(zhǔn)，所以可適時進(jìn)行校準(zhǔn)。圖10表示關(guān)于校準(zhǔn)的本裝置的其它動作流程圖。如圖所示，在步驟101中，一天一次進(jìn)行校準(zhǔn)。連續(xù)規(guī)定天數(shù)進(jìn)行一天一次的校準(zhǔn)。由此，對X射線檢測器24的各信道得到校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的時間序列。接著，在步驟103中，一周一次進(jìn)行校準(zhǔn)。即，代替一天一次的校準(zhǔn)，以一周一次的頻度來進(jìn)行校準(zhǔn)。由此，校準(zhǔn)間隔從1天延伸到1周。接著，在步驟105中，判斷一周一次的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。根據(jù)預(yù)定的限度來進(jìn)行判斷。當(dāng)所有信道中校準(zhǔn)數(shù)據(jù)都在限度內(nèi)時，返回步驟103，進(jìn)行一周一次的校準(zhǔn)。在校準(zhǔn)數(shù)據(jù)在限度內(nèi)期間，重復(fù)一周一次的校準(zhǔn)。這樣，在校準(zhǔn)數(shù)據(jù)未超過限度期間，進(jìn)行一周一次的校準(zhǔn)，所以校準(zhǔn)的間隔可比每天校準(zhǔn)還長。由顯示裝置68來顯示一周一次的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。因為由顯示裝置68來顯示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的推移，所以使用者可容易判斷狀況。顯示裝置68是本發(fā)明中顯示單元的實施形態(tài)的一例。圖11-13中示出顯示例。圖11表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的IV(individualvalue)圖形。圖12表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的MV(movingaverage)圖形。圖13表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的EWMV(exponentiallyweightedmovingaverage)圖形。IV圖形的優(yōu)點在于容易把握校準(zhǔn)數(shù)據(jù)值本身。MA圖形的優(yōu)點在于容易把握校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的變化量。EWMA圖形的優(yōu)點在于容易把握校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的移動平均。上下夾著各圖形的線表示限度設(shè)定值。當(dāng)任1信道中校準(zhǔn)數(shù)據(jù)超過限度時，根據(jù)步驟105中的判斷結(jié)果，返回步驟101的一天一次的校準(zhǔn)。由此，數(shù)據(jù)庫的更新間隔變?yōu)?天?？蓪⑿?zhǔn)數(shù)據(jù)適應(yīng)限度外的外部狀況的變化。在數(shù)據(jù)處理裝置60的控制下進(jìn)行這種校準(zhǔn)。數(shù)據(jù)處理裝置60是本發(fā)明中控制單元的實施形態(tài)的一例。另外，使用者從一周一次的校準(zhǔn)到一天一次的校準(zhǔn)的切換也可根據(jù)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的推移顯示來進(jìn)行。如上詳細(xì)所述，根據(jù)本發(fā)明，可實現(xiàn)以適當(dāng)頻度進(jìn)行校準(zhǔn)的方法、具備進(jìn)行這種校準(zhǔn)的單元的X射線CT裝置。權(quán)利要求1.一種校準(zhǔn)方法，其特征在于當(dāng)向校準(zhǔn)對象提供預(yù)定條件進(jìn)行校準(zhǔn)時，根據(jù)從過去到現(xiàn)在的多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，預(yù)測校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的未來值，根據(jù)該預(yù)測，指定下次進(jìn)行校準(zhǔn)的時期。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于通過將由所述多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)應(yīng)用于時序模式進(jìn)行所述預(yù)測。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于通過MA、AR和ARMA中任一來形成所述時序模式。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于使用供給由所述多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的函數(shù)來進(jìn)行所述預(yù)測。5.根據(jù)權(quán)利要求1-4之一所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于所述多次校準(zhǔn)是一天一次的校準(zhǔn)。6.根據(jù)權(quán)利要求1-5之一所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于用圖形來顯示通過所述多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)及通過所述預(yù)測得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。7.一種校準(zhǔn)方法，其特征在于當(dāng)向校準(zhǔn)對象提供預(yù)定條件進(jìn)行校準(zhǔn)時，一天一次進(jìn)行校準(zhǔn)，直到預(yù)定次數(shù)，之后，一周一次進(jìn)行校準(zhǔn)，當(dāng)一周一次的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)值超過預(yù)定限度時，進(jìn)行一天一次的校準(zhǔn)。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于用圖形來顯示通過所述校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于所述圖形是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)IV的圖形。10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于所述圖形是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)MR的圖形。11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于所述圖形是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)EWMA的圖形。12.一種X射線CT裝置，具有利用X射線來收集有關(guān)拍攝對象中圖像重構(gòu)用數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)收集單元、和根據(jù)所述數(shù)據(jù)來重構(gòu)圖像的圖像重構(gòu)單元，其特征在于，具備校準(zhǔn)單元，進(jìn)行所述數(shù)據(jù)收集單元的校準(zhǔn)；預(yù)測單元，根據(jù)從過去到現(xiàn)在的多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，預(yù)測校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的未來值，和指定單元，根據(jù)預(yù)測，指定下次進(jìn)行校準(zhǔn)的時期。13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的X射線CT裝置，其特征在于通過將由所述多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)與時序模式相對照來進(jìn)行所述預(yù)測。14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的X射線CT裝置，其特征在于通過MA、AR和ARMA中任一來形成所述時序模式。15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的X射線CT裝置，其特征在于使用供給由所述多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的函數(shù)來進(jìn)行所述預(yù)測。16.根據(jù)權(quán)利要求12-15之一所述的X射線CT裝置，其特征在于所述多次校準(zhǔn)是一天一次的校準(zhǔn)。17.根據(jù)權(quán)利要求12-16之一所述的X射線CT裝置，其特征在于具備顯示單元，用圖形來顯示通過所述多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)及通過所述預(yù)測得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。18.一種X射線CT裝置，具有利用X射線來收集有關(guān)拍攝對象中圖像重構(gòu)用數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)收集單元、和根據(jù)所述數(shù)據(jù)來重構(gòu)圖像的圖像重構(gòu)單元，其特征在于，具備校準(zhǔn)單元，進(jìn)行所述數(shù)據(jù)收集單元的校準(zhǔn)；和控制單元，使在所述校準(zhǔn)單元一天一次進(jìn)行校準(zhǔn)，直到達(dá)到預(yù)定次數(shù)，之后，一周一次進(jìn)行校準(zhǔn)，當(dāng)一周一次的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)值超過預(yù)定限度時，進(jìn)行一天一次的校準(zhǔn)。19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的X射線CT裝置，其特征在于具備顯示單元，用圖形來顯示通過所述校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的X射線CT裝置，其特征在于所述圖形是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)IV的圖形。21.根據(jù)權(quán)利要求19所述的X射線CT裝置，其特征在于所述圖形是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)MR的圖形。22.根據(jù)權(quán)利要求19所述的X射線CT裝置，其特征在于所述圖形是表示校準(zhǔn)數(shù)據(jù)EWMA的圖形。全文摘要實現(xiàn)以適當(dāng)頻度進(jìn)行校準(zhǔn)的方法、和具備進(jìn)行這種校準(zhǔn)的單元的X射線CT裝置。向校準(zhǔn)對象提供預(yù)定條件，進(jìn)行校準(zhǔn)，根據(jù)從過去到現(xiàn)在的多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)(603)，預(yù)測校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的未來值，根據(jù)預(yù)測，指定下次進(jìn)行校準(zhǔn)的時期(605)。通過將由多次校準(zhǔn)得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)與時序模式相對照來進(jìn)行預(yù)測。文檔編號G01N23/00GK1602809SQ03164830公開日2005年4月6日申請日期2003年9月29日優(yōu)先權(quán)日2003年9月29日發(fā)明者王學(xué)禮,鄉(xiāng)野誠申請人:Ge醫(yī)療系統(tǒng)環(huán)球技術(shù)有限公司