專利名稱：用于高精度鉆孔的磁性分度器的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種精確成孔的系統(tǒng)，并尤其涉及一種將設備定位并指示要形成孔的位置的系統(tǒng)。
背景技術：
經(jīng)常需要以高精度和特殊性在工件的盲區(qū)內定位一個位置。尤其是，如果需要將一個結構的兩個部分固定到一起，在僅僅一個外表面對于工人可見的情況下，如果不是不可能的話，通常也很難精確地且可再現(xiàn)地將緊固件放置在兩個部分之間。這尤其與飛機相關，在飛機的情況中，飛機的蒙皮已經(jīng)放置在內部框架結構上，并且必須固定到內部框架結構上。一旦蒙皮放置到位，要將首先穿過蒙皮以固定到飛機的內部結構上的緊固件準確定位通常是相當困難的。這種情形也發(fā)生在其他構造和制造情況中。
已經(jīng)嘗試一種解決方案，其中，從結構的內側進行背面鉆孔。也就是，要使工人自身空間上置于機構內側并然后通過從屬結構穿過蒙皮進行切割。但是，這經(jīng)常在孔的形成方面造成精度不佳。應垂直于飛機蒙皮形成的全尺寸孔在遵循背面鉆出的導向孔之后可能會傾斜。這是由于從蒙皮內側形成的孔很難輕易地精確垂直于飛機蒙皮而形成。尤其是，零件的內部結構可能不垂直于蒙皮，而穿透(on through)蒙皮外側的孔必須垂直于蒙皮。此外，對于工人來說，爬入通常很小的區(qū)域內來形成孔非常困難。
在飛機工業(yè)中廣泛使用背標(backmarker)，以便將孔從下部結構傳遞到外表面上。背標由薄金屬的長開口件構成，在一側具有一個銷釘，而在另一側具有一個孔，該銷釘和孔對齊。在下部結構中，銷釘側在蒙皮之下滑動，以便與導向孔對直，而導向孔鉆入到外蒙皮中。這個方法對寬的零件和厚的零件不起作用。開口板件的偏斜以及將該裝置安裝到厚零件上的困難使得薄片狀金屬的使用局限于靠近蒙皮邊緣的區(qū)域。
另一種方法是利用探針或定位裝置，以在蒙皮上確定精確的位置。尤其是，該裝置首先用三維空間內的位置編程。因此，當一表面放置于探針的工作范圍內時，探針可以確定探針所接觸的點的位置。然而，這需要進行大量的預編程，并需要精確地放置要被檢測的表面。對于很多用途來說，使用這種特殊的方位探針增加了時間和制造成本。而且，在鉆孔之前檢測下部結構存在若干缺點。當蒙皮放置在一個裝配好的結構上時，蒙皮的重量會導致該結構和儀器(tooling)變形。有可能檢測的孔在測量和鉆削之間移位。而且，在檢測和鉆孔之間的溫度變化也會由于零件的膨脹或收縮以及上表面和下表面之間的膨脹差而導致孔不對齊。在飛機結構中，由緊固件引起的孔的漲大和孔的冷加工也可以改變孔在檢測和鉆孔之間的位置。
在飛機構造過程中，為了將機身的一部分緊固到另一部分上，形成孔的界限值通常在一英寸的百分之一以內。用于內部機身結構的一種特殊構造方法包括使用在機身的內部結構或橫梁上使用正弦波形貌測量。為了確保足夠堅固的連接，該連接將承受飛機所遇到的極端的應力，緊固件必須放置在正弦波的波峰處。因此，緊固件的放置必須極其準確，以與波峰重合，而不是與波谷或波峰附近的部分重合。也需要精確定位被隱藏的結構件的邊緣。在這個和很多其他用途中，緊固件的精確定位變得非常重要。

發(fā)明內容
本發(fā)明旨在一種磁性分度器，該磁性分度器可以將一產(chǎn)生磁場的裝置定位在盲區(qū)或不可接近的位置。磁鐵最初放置在加工表面的一側上，從而由磁鐵產(chǎn)生的磁場穿過加工表面，使得磁場的軸線基本垂直于加工表面。包括多個受磁場影響的探針的裝置定位在加工表面的相對一側上。然后，探針在加工表面之上移動，來確定磁鐵的位置。一旦確定了磁場軸的位置，就通過其上定位探針的平臺、在加工表面上作出標記或加工。尤其是，即使在工件的下側不可見的情況下，也可以再現(xiàn)地將孔直接定位在磁鐵之上。另外，通過本發(fā)明，可以非常精確地將加工工具定位在加工表面上，而不需要看到加工表面的下側。
本發(fā)明的第一實施例包括用于確定裝置的位置的系統(tǒng)，其中，所述裝置產(chǎn)生一個場，這個場根據(jù)距所述裝置的橫向距離而強度有所變化。該系統(tǒng)包括一個探針，該探針適于受到所述裝置產(chǎn)生的變化的場強的影響，并有助于定位所述裝置。隨著探針移動，處理器確定影響探針的場強。確認系統(tǒng)對處理器已經(jīng)利用探針確定了裝置的位置進行物理確認。
本發(fā)明的第二實施例包括通過一個表面來確定裝置的位置的系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括一個裝置，該裝置產(chǎn)生磁場，且位于所述表面的第一側上。探針定位在受磁場影響的表面的第二側上。處理器確定探針由磁場造成的影響。該處理器適于根據(jù)磁場對探針的影響來確定裝置的位置。
本發(fā)明還提供了一種精確定位一個位置的新方法。該方法包括用一個受到場影響的探針來定位一個產(chǎn)生場的裝置的位置。該裝置放置在一個表面的第一側上。然后，場由該裝置產(chǎn)生而穿過所述表面。探針在該表面的第二側上使用，來確定場的中心軸，并對場的中心軸提供物理確認。一旦確定了場的中心軸的位置，則可以在精確和預定位置上進行加工。
從下面提供的詳細描述中，本發(fā)明的其他應用領域將變得易于理解。應理解的是在表明本發(fā)明優(yōu)選實施例的時候，詳細的描述和特定的示例僅僅為了舉例說明的目的，而并非意在限制本發(fā)明的范圍。


從詳細描述和附圖，將可以對本發(fā)明更全面地理解，圖中圖1是根據(jù)本發(fā)明的數(shù)字磁化器的優(yōu)選實施例的透視圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明的數(shù)字磁化器的側視圖；圖3是在使用中的磁性分度器的透視圖；圖4是在已經(jīng)定位之后的磁性分度器的平臺的透視圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明第二實施例的磁性分度器的透視圖；以及圖6是固定到機器人上的磁性分度器的第三實施例的透視圖。
具體實施例方式
下面對優(yōu)選實施例的描述實質上僅僅是舉例說明，而絕非對本發(fā)明、本發(fā)明的用途或應用加以限制。
參照圖1和2，圖中示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的磁性分度器10。磁性分度器10包括真空附著元件12、工件平臺14、探針平臺16和多個探針18、20和22。真空附著元件12一般包括其中可以產(chǎn)生真空的元件，以便將工件平臺14固定到工件(下面進一步描述)。然而，應理解到可以使用任何適于將工件平臺14附著到工件上的適當系統(tǒng)。大致垂直地從工件平臺14伸出的是穩(wěn)定元件24(圖2)，該穩(wěn)定元件24與工件相接合，以確保工件平臺14基本平行于工件。磁鐵26定位在工件與工件平臺14相反的一側上。磁鐵26產(chǎn)生磁場，該磁場具有中心磁軸26a。從工件平臺14伸出的是探針平臺16。探針平臺16相對于工件平臺14可移動。第一組調節(jié)螺釘28允許探針平臺16沿第一軸A移動。而第二組調節(jié)螺釘30允許探針平臺沿著第二軸B移動。因此，利用第一組調節(jié)螺釘28和第二組調節(jié)螺釘30，探針平臺16可以二維地相對工件平臺14移動。
固定到探針平臺16上的是探針18、20和22。探針18、20和22間隔開，以便各探針限定了一個中心軸C。中心軸C是與每個探針18、20和22延伸的軸等距而平行的軸。
探針18、20和22固定到第二探針平臺32上，該第二探針平臺32用緊固件33固定到探針平臺16上。這使得第二探針平臺32可以從探針平臺16上拆下，而不必移動工件平臺14。
參照圖3和4，每個探針18、20和22的效果由處理器34確定。處理器34可以是任何適當?shù)奶幚砥?，然而，微處理器能夠確定磁場對每個探針18、20和22的影響，并能夠確定每個探針18、20和22對于磁場的相對取向。處理器34的確定結果顯示在顯示裝置35上。具體地，可以使用CRT或LCD屏作為顯示裝置35。處理器34可以在顯示裝置35上顯示中心軸C與磁軸26a共線的確認信息。
磁性分度器10用真空附著元件12固定到表面或工件36上。如上面所討論的，真空附著元件12可以通過任意適當?shù)难b置來將工件平臺14固定到工件36上。例如，可以在真空附著元件12內產(chǎn)生真空，以將工件平臺14被保持到位。也應理解到根據(jù)工件平臺14的尺寸，可以使用多于兩個真空附著元件12。
在工件36之下的是從屬結構或支撐梁38。在必須形成孔的位置處，放置一個磁鐵26。在工件平臺14固定到工件36上之前，該磁鐵26在初步制造步驟中放置在支撐梁38上。由此，磁鐵26能夠輕易放置在為了在工件36和支撐梁38之間形成固定而必須形成孔的精確位置處。磁性分度器10放置在與必須形成孔的地方相對靠近的位置處。然后，利用調節(jié)螺釘28、30，調節(jié)探針平臺16，直到中心軸C正好在磁軸26a之上或與磁軸26a共線(通過下面更全面描述的過程)。
一旦中心軸C正好對齊在磁軸26a之上，就拆下第二探針平臺32，以便鉆頭40可以通過探針平臺16和工件平臺14鉆孔，從而在工件36中形成孔。應理解到，可以將放置附加的鉆孔導引元件，來代替第二探針平臺32，以便隨著鉆頭穿過磁性分度器10，提高由鉆頭40所執(zhí)行的鉆孔步驟的精度。
一旦穿過工件36和支撐梁38形成孔，在內部區(qū)域的清理過程中，去掉磁鐵26。此外，通過對真空附著元件12加壓來將磁性分度器10從工件36上除去。然后，使用任何適當?shù)木o固件來將工件36永久地固定到支撐梁38上。
磁鐵26的精確位置通過定位作為磁鐵26的北-南(N-S)極軸的磁軸26a來加以確定。磁鐵26的磁軸26a、也稱作中心或場軸(field axis)，是磁場的中心以及磁場最強的區(qū)域。磁鐵26放置在支撐梁38上，以便磁軸26a基本垂直于支撐梁38的表面。因此，一旦將工件36固定到支撐梁38上，磁軸26a也就垂直于工件36的表面。另外，工件36應該不與磁鐵26產(chǎn)生的磁場相干涉。但是，應理解到只要磁鐵26的磁場對于探針18、20和22檢測由磁鐵26產(chǎn)生的磁場來說足夠強，那么工件36實際上可以由任何非磁性材料形成。
應理解到下面描述中對單個探針18的參照是探針18、20和22中每一個的示例，并且這種對單個探針的描述僅僅出于清楚的目的。探針18受磁鐵26產(chǎn)生的磁場的影響，即，探針18檢測到磁鐵26所產(chǎn)生的磁場。一種示例性的探針類型是霍爾效應探針。在霍爾效應探針18中，當電流垂直于霍爾效應探針18中的場而流動時，磁鐵26所產(chǎn)生的磁場產(chǎn)生一個電壓?；魻栃结?8測量由磁鐵26的磁場產(chǎn)生的感應電壓。已知感應電壓和電流，可以利用方程VHned/I＝B。根據(jù)這個方程，VH等于霍爾電壓，n等于載荷子密度，e等于電荷，d等于帶條寬度(strip width)，而I等于電流。一旦利用霍爾效應探針18知道了磁場的強度，就可以確定磁軸26a的位置?；魻栃结?8越靠近磁軸26a，則霍爾效應探針18中的響應越大。根據(jù)第一實施例，當每個探針18、20和22的響應基本相等時，磁軸26a位于與探針18、20和22的中心軸C共線。
處理器34確定并處理在每個探針18、20和22上的造成的影響。顯示裝置35顯示由處理器34所確定的影響。處理器34也可以指示應如何利用調節(jié)螺釘28、30來移動探針平臺16，以便校正中心軸C載磁軸26a上的位置。然后，一旦每個探針18、20和22示出一個等量的響應，就可以知道中心軸C正好位于磁軸26a之上。此時，顯示裝置表示中心軸C處于磁軸26a之上，且操縱者不需進行進一步的調節(jié)。尤其是，中心軸C與磁鐵26的磁軸26a共線。一旦顯示出中心軸C處于磁軸26a之上，則拆下第二探針平臺32，以便可以引入鉆尖或鉆頭40來形成所需的孔。
參照圖5，磁性分度器系統(tǒng)50的第二實施例包括一個可移動的傳感器筒(sensor canister)52，且在可移動的傳感器筒52的頂部上固定有方向性的或發(fā)信號的LED54、56、58和60。每個LED54、56、58和60可以包括一列LED，以便可以表示在特定方向上響應的強度。沿著中心軸D并居中放置的是標識器62，該標識器62穿過可移動的傳感器筒52，以便選擇性地接合工件36。中心軸D與探針64、66和68的關系就如同第一實施例的中心軸C與探針18、20和22的關系一樣。
每個探針64、66和68連接到處理器70上。探針64、66和68基本上與參照第一實施例所描述的探針18、20和22相類似地工作。處理器70也和上述的處理器34相類似地工作。然而，在磁性分度器50中，處理器70確定中心軸D相對于磁軸26a的位置，并點亮適當?shù)腖ED 54、56、58和60，表示可移動的傳感器筒52必須移動的方向，以將中心軸D與磁軸26a正確對齊。一旦中心軸D基本上放置成與磁鐵26的磁軸26a共線，則所有四個LED陣列54、56、58和60都點亮，來表示中心軸D正確地與磁軸26a對齊。即，當所有四個LED54、56、58和60都點亮時，它們?yōu)榇泡S26a基本處于與中心軸D共線產(chǎn)生了一個視覺上的確認。此時，可以壓下標識器62，以便在工件36的這個位置上形成一個標志。
一旦已經(jīng)作出標志，就可以簡單地從工件36上拆下可移動傳感器筒52，并且可以將適當?shù)目ūP固定到工件36上，來確保在工件36中形成正確對齊的孔。再者，一旦通過工件36和支撐梁38形成孔，就可以從內部空間中清理掉磁鐵26和任何碎片。
參照圖6，圖6示出磁性分度器80的第三實施例。磁性分度器80包括固定到機器人86的手臂84上的單個探針82。應理解到也可以與機器人86一同使用多個探針。但是，如果靠近表面88放置到一個位置上，并然后借助于第一位置的精確已知條件沿著表面88移動到另一位置，則僅需要一個探針82。因此，有效的多個探針可以通過簡單地放置并移動單個探針82并精確地檢索先前的放置狀態(tài)以及針對每個先前放置狀態(tài)的場測量值來加以模擬。
產(chǎn)生具有中心磁軸90a的磁場的磁鐵90放置在表面88的附近、與磁性分度器80相對。處理器94確定探針82的響應并控制機器人86。以這種方式，機器人86可以快速定位固定于支撐板92上的磁鐵90的磁軸90a。然而，應理解到可以使用單獨的處理器來確定磁軸90a的位置并控制機器人86。另外，一旦處理器94已經(jīng)確定了磁軸90a的精確位置，則工具可以放置到機器人手臂84上，以按需要形成孔。也應理解到可以從機器人86伸出多個手臂84，以便一旦磁軸90a的位置被定位，工具手臂就簡單地旋轉到位，同時工具從工具手臂中伸出，以在表面88內形成孔。在使用機器人86時，形成孔用來確認磁鐵90已經(jīng)正確定位。
應理解到本發(fā)明的每個實施例并不需要霍爾效應探針。對磁鐵26、90所產(chǎn)生的磁場敏感或可以檢測該磁場的任何探針都可以用作本發(fā)明中。一種替代型探針是霍尼維爾分支機構的固態(tài)電子器件中心所生產(chǎn)的混合型三軸磁性傳感器HMC2003(Three-Axis Magnetic Sensor Hybrid HMC2003produced by Solid State Electronics Center，A division of Honeywell)。在簡單地用替代型探針取代霍爾效應探針的同時，重制磁性分度器10的其他部分。如果替代型探針、如HMC2003能夠在多于一個相對軸上確定磁軸，那么在磁性分度器10上就僅僅需要一個探針。然而，仍應理解到的是單個替代型探針仍限定用于確定磁軸26a、90a的中心探針軸。替代型探針仍能夠檢測到磁鐵26和90所產(chǎn)生的磁場，并能夠指示磁軸26a、90a。
應理解的是本發(fā)明中使用的磁鐵必須使其磁軸26a、90a正確并精確調直。因此，如下措施可能是需要的，即首先利用磁性分度器10檢測磁鐵26、90來確保磁軸26a、90a得以正確調節(jié)，以便當磁鐵26、90固定到支撐梁38或支撐板92上時，磁軸26a、90a基本垂直于工件36、88的表面。這是因為只有在磁軸26a、90a基本垂直于表面產(chǎn)生，磁場的強度才隨著遠離磁軸26a、90a而循序地變弱。由探針18、20、22；64、66、68；和82所檢測的是作用在探針上的磁場，該探針用來確定磁鐵26、90所處的位置。如果磁軸26a、90a與表面成一角度(即，與表面不垂直)，那么磁場也將不垂直，并且也不能正確確定磁軸26a、90a的精確位置。
另外，磁性分度器本身可以進行標定或歸零。這意味著在用磁性分度器執(zhí)行任何任務之前，可以精確確定磁性分度器的中心軸。通常，具有已知磁軸的磁性源可以相對于磁性分度器放置在歸零位置處，使得磁性分度器可以歸零到那個磁軸。此后，就得知了這個磁性分度器的精確歸零位置，從而可以用這個磁性分度器實現(xiàn)定位磁軸的更大的精度。
因此，本發(fā)明的優(yōu)選實施例提供了一種基于先前作出的孔位判定來快速和精確檢測需要在工件上鉆孔的位置，否則該孔位對于操作者或光學檢測儀器來說不可見。該優(yōu)選實施例也可以精確檢測任何不可見的標志。即，本發(fā)明也可以用來檢測隱藏元件的邊緣。本發(fā)明尤其適用于飛機制造工業(yè)中，但是可以理解到本發(fā)明在各種其他制造工業(yè)中都可以廣泛應用。
本發(fā)明的描述在實質上僅僅為舉例說明，未背離本發(fā)明的主旨的變型應處于本發(fā)明的范圍之內。這種變型并不被認為是脫離本發(fā)明的精髓和范圍。
權利要求
1.一種用來確定產(chǎn)生磁場的裝置的位置的系統(tǒng)，該磁場具有磁軸并根據(jù)距該裝置的橫向距離而強度有所變化，該系統(tǒng)包括探針，該探針適于受到所述裝置產(chǎn)生的場的強度所影響，以利于定位所述裝置；處理器，該處理器用以確定影響所述探針的場強；以及確認系統(tǒng)，該確認系統(tǒng)對所述處理器用所述探針已經(jīng)確定了磁軸的位置提供物理確認。
2.如權利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述裝置產(chǎn)生的場是磁場，而所述探針檢測該磁場來確定磁場的強度，使得所述探針的輸出表示所述探針何時位于磁軸附近。
3.如權利要求2所述的系統(tǒng)，其中，所述處理器確定由所述探針檢測的磁場。
4.如權利要求1所述的系統(tǒng)，其中，該系統(tǒng)包括多個所述探針，并且這些探針圍繞一個中心軸間隔開，每個所述探針基本上同時受到所述場的影響。
5.如權利要求4所述的系統(tǒng)，其中，所述多個探針等距間隔開，并且在所述探針中的每一個受到所述場基本均等地影響時，所述場的中心基本與磁軸共線地定位；并且所述處理器確定每個所述探針何時受所述場基本均等地影響。
6.如權利要求5所述的系統(tǒng)，其中，所述確認系統(tǒng)產(chǎn)生確認所述中心軸與所述磁軸基本共線的顯示。
7.如權利要求6所述的系統(tǒng)，其中，所述顯示包括發(fā)光二極管發(fā)出的光或圖形顯示。
8.如權利要求1所述的系統(tǒng)，還包括機器人；用于所述機器人的控制系統(tǒng)；以及其中，所述探針可由所述機器人移動，且所述控制系統(tǒng)經(jīng)所述機器人移動所述探針，直到所述處理器已經(jīng)確定了所述裝置的位置為止。
9.一種通過工件的表面確定裝置的位置的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括定位在工件第一側上的磁鐵；由所述磁鐵產(chǎn)生的磁場，該磁場包括磁軸，所述磁軸基本上垂直于所述工件的第一表面；定位在工件的表面上的探針，其中該探針受到所述磁場的影響；確定所述探針中由所述磁場產(chǎn)生的影響的處理器；其中，所述探針限定了一條中心軸；所述探針上的所述影響在所述中心軸基本與所述磁軸共線時最大；所述處理器適于通過檢測所述磁場對所述探針的影響來確定所述磁鐵的位置；以及在所述中心軸基本與所述磁軸共線時，所述處理器產(chǎn)生一個信號。
10.如權利要求9所述的系統(tǒng)，還包括平臺；其中，所述探針包括多個間隔開并固定到所述平臺上的探針；并且所述多個探針限定了一條中心軸。
11.如權利要求10所述的系統(tǒng)，其中，當所述中心軸基本上與所述磁軸共線時，所述多個探針受到的所述影響基本均等。
12.如權利要求9所述的系統(tǒng)，還包括顯示裝置，其中所述信號產(chǎn)生一個對所述信號的物理確認。
13.如權利要求9所述的系統(tǒng)，還包括一個確認系統(tǒng)，以便對所述磁軸的位置產(chǎn)生物理確認。
14.一種用探針定位一裝置的方法，該裝置產(chǎn)生一個場，該探針受到這個場影響，該方法包括將該裝置放置在工件的第一側上；用所述裝置通過所述工件產(chǎn)生一個場；將探針放置在所述工件的第二側附近；用所述探針確定所述場的中心場軸的位置；以及為用戶提供一個對所述中心場軸的物理確認。
15.如權利要求14所述的方法，其中，所述放置裝置的步驟包括將磁鐵放置在所述工件的所述第一側上，所述場包括在所述探針中產(chǎn)生響應的磁場。
16.如權利要求14所述的方法，其中，提供探針的步驟包括提供至少三個間隔開的探針，這些探針限定了一個中心探針軸；將所述探針固定在可移動平臺上，使得所述中心探針軸可移動；以及將所述平臺可移動地固定到所述工件的所述第二側上。
17.如權利要求16所述的方法，其中，確定所述中心場軸位置的步驟包括相對于所述表面的所述第二側上的點移動所述平臺；隨著所述探針在所述表面上移動，利用所述探針來檢測所述場；以及提供一個處理器來確定在所述探針上的影響，其中，所述處理器確定所述中心探針軸何時與所述中心場軸共線。
18.如權利要求16所述的方法，其中，提供所述中心場軸的物理確認的步驟包括提供一個視覺指示，表示在所述工件的所述第二側上的所述中心探針軸與所述工件的所述第一側上的所述中心場軸基本共線。
19.如權利要求14所述的方法，其中，提供探針的步驟包括提供一個機器人；將探針固定到所述機器人上；以及控制所述機器人，使得所述探針位于所述工件的所述第二側附近。
20.如權利要求14所述的方法，其中，在確定中心場軸的過程中包括相對于所述工件的所述第二側上的點移動所述探針；隨著探針在所述工件上移動用所述場影響所述探針；以及提供一個處理器來確定在所述探針上的影響，所述處理器確定中心場軸。
21.如權利要求14所述的方法，其中，提供所述中心場軸的物理確認的步驟包括提供一個視覺指示，指示在所述工件的所述第二側上的所述中心探針軸與所述工件的所述第一側上的所述中心場軸基本共線。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于定位在工件(36)的盲區(qū)或不可見位置中的產(chǎn)生磁場的裝置(26)的位置的磁性分度器(10)。磁鐵(26)最初放置在工件(36)的第一側，使得磁鐵產(chǎn)生的磁場穿過工件(36)，并基本垂直于工件(36)的表面。然后，包括多個用來檢測磁場的探針(18、20、22)的裝置定位在工件(36)的第二表面上。然后，探針(18、20、22)在第二表面上移動，以通過檢測到的磁場強度來確定磁鐵(26)的軸(26a)的位置。一旦確定了磁鐵(26)的軸(26a)的位置，通過其上定位探針(18、20、22)的平臺對工作表面進行標記或加工。尤其是，即使在工件(36)的第一表面不可見的情況下，也可以正好在磁鐵(26)上精確鉆出或以其他方式形成孔。另外，本發(fā)明可以將加工工具非常精確地定位在第二表面上，而不需要看到工件(36)的第一表面。
文檔編號G01V15/00GK1662347SQ03814943
公開日2005年8月31日 申請日期2003年4月29日 優(yōu)先權日2002年5月9日
發(fā)明者加里·E·喬治森, 約瑟夫·L·哈芬里克特, 雷蒙德·D·倫普特, 格雷戈里·L·克拉克 申請人:波音公司