專利名稱：測量和檢驗連續(xù)的細(xì)長紡紗材料的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測量或檢驗紡紗材料的品質(zhì)參數(shù)。它具體而言涉及用于檢驗細(xì)長材料的方法、裝置和設(shè)備。
背景技術(shù)：
對于織物的形成和品質(zhì)，所使用紗的特性是關(guān)鍵。在形成織物的過程中，所使用的紗經(jīng)歷變化的張力和速度。結(jié)果，對這些條件顯示出差響應(yīng)的紗斷裂并且使得處理效率下降?？椢锏耐庥^還主要由紗中存在的變化來確定。在開始時，關(guān)于質(zhì)量變化和直徑變化的紗品質(zhì)的確定是不可避免的。
在最終紗階段所識別的所有品質(zhì)偏差是不可糾正的；而是造成品質(zhì)偏差的準(zhǔn)備過程應(yīng)當(dāng)被識別和糾正。由于這些原因，從纖維階段到紗階段連續(xù)監(jiān)視紗的品質(zhì)以便于獲得造成偏差的各種品質(zhì)特性。
在現(xiàn)代紡紗環(huán)境中，任何工藝中材料偏差以及來源的立即識別是重要的要求。這主要是因為現(xiàn)代機(jī)器所采用的機(jī)器速度不斷提高。結(jié)果，即使有微小響應(yīng)的延遲，將產(chǎn)生大量的品質(zhì)差的材料。一個實例的現(xiàn)代并條機(jī)(drawframe)以1000米/分運(yùn)行。
目前，大多數(shù)紡紗廠僅采用一個均勻度檢驗器來測量質(zhì)量特性。為滿足條件1，可能需要使用多于一個裝置，因為在所有可用均勻度檢驗器的當(dāng)前配置中，一次僅可檢驗一種材料。這是由于現(xiàn)有均勻度檢驗器包括電容測量裝置，其在橋結(jié)構(gòu)上工作，其中通常4個槽可用于檢驗，也就是檢驗條子、粗紗、粗紡紗(coarse spun yarn)和細(xì)紡紗(fine spun yarn)。然而，這樣的橋結(jié)構(gòu)施加了如下限制使用這些槽中的僅僅一個，一次進(jìn)行僅一種測量，并且需要其他槽來形成測量過程的部分。為此，不可能一次檢驗多于一種材料。此外，條子、粗紗、紗的喂給機(jī)構(gòu)的特性不同。因此，每次要檢驗不同材料類型時都需要互換這些喂給裝置。由于這些原因，需要多于一個裝置連同較多的人力來操作。增加的操作人力成本和對多于一個裝置的投資將限制紡紗行業(yè)的利潤邊際。
紡成的紗的重要材料參數(shù)是毛羽度(hairiness)。
紡成的紗是使用不同紡紗方法來生產(chǎn)的。借助流行的環(huán)錠紡紗方法，通過拉長粗紗在環(huán)錠紡紗機(jī)中生產(chǎn)紗，所述紗是平行排列并且通過施加加捻并且通過在線軸(bobbin)上卷繞紗以低加捻保持的一束纖維。從所述纖維束這樣紡成的紗具有伸出的纖維和成環(huán)的纖維，其從紗芯伸出。這些被稱為毛羽，紗線的毛羽的數(shù)量和特性一般被稱為紗線毛羽度。與紡成的紗一起的毛羽的易得到性對所有類型的紡成的紗來說是常見的小事故(common incidence)；其中僅毛羽形成程度隨纖維特性、所采用的機(jī)器參數(shù)集和所應(yīng)用的不同紡紗方法而變化。與常規(guī)環(huán)錠紡紗方法相比，一個實例的最近的集束紡紗方法減小了毛羽。
毛羽度水平增加可導(dǎo)致整經(jīng)和織造斷裂因而紗線毛羽度對織造和針織工藝以及高速針織過程是關(guān)鍵的紗線參數(shù)。例如，在織造期間噴氣紡成的紗的性能關(guān)鍵依賴于毛羽度水平。紗線毛羽度不總是不期望的；某些應(yīng)用偏好毛羽的紗來用于較好的織物覆蓋和手感。在可用于紗結(jié)構(gòu)的毛羽中，正是比短毛羽長的較長毛羽關(guān)鍵地影響著織物整理，如染料吸收等。這樣，紗線毛羽度的測量對于使紡紗工藝最優(yōu)化是重要的并且產(chǎn)生具有所需品質(zhì)的紗。
在各種紗測量中-目前已提出了多達(dá)70種不同的測量技術(shù)-僅流行幾種測量技術(shù)。一種測量技術(shù)是用Zweigle毛羽度檢驗儀來識別。該檢驗儀采用光源，其光落在伸出的毛羽之上。伸出的毛羽的圖像由12個近距離隔開的光電晶體管來接收。每個伸出的毛羽的纖維長度被測量和表示為處于某種類別區(qū)間的毛羽。
在Lawson-Hemphill，Inc.的US專利5,875,419中描述的另一個發(fā)明要求了類似于前述情況的方法，其差異在于將紗直徑考慮到毛羽度測量中。細(xì)長的紡紗材料被移動經(jīng)過光源以產(chǎn)生陰影。圖像被捕獲于許多分離的、接近的光感測元件，每個具有與照射在元件上的光量相關(guān)的輸出電平。細(xì)長材料的許多緊密間隔的部分的寬度以兩個不同的被選擇的感測元件確定輸出水平來將細(xì)長材料毛羽與芯區(qū)分。簡而言之，毛羽度被表示為伸出長度與細(xì)長材料直徑之比。
在Keisokki Kogyo Co.的歐洲專利申請出版物EP-A-0′754'943中披露的另一個發(fā)明使用了一種裝置，借助它有可能單獨檢測用于芯部分和毛羽部分的數(shù)據(jù)。細(xì)長材料測量裝置設(shè)有用于通過對相交并通過行進(jìn)的伸出材料的衍射激光執(zhí)行傅立葉變換在譜平面上形成傅立葉變換模式的裝置，所述模式包括細(xì)長材料芯模式和表面投影模式。毛羽并不被單獨考慮并且借助該發(fā)明僅測量每單位長度的總毛羽量。
在Zellweger Uster Limited的US專利4,948,260中描述的又一個發(fā)明類似于所提及的歐洲專利申請公開EP-A 0′754'943來測量紗線毛羽度，但使用這樣的裝置，其包括光發(fā)射器和接收器，發(fā)射器用于從一側(cè)照亮檢驗體，接收器用于接收和評估檢驗體表面所反射的依賴于表面結(jié)構(gòu)的光；過濾裝置(screen means)，其具有中心光圈的光學(xué)系統(tǒng)；以及吸收器過濾器，其放置在所述發(fā)射器和接收器之間，用于過濾來自檢驗體照亮側(cè)的引導(dǎo)光，其中接收器僅檢測從檢驗體一側(cè)反射的光。
在Zweigle毛羽度檢驗儀以及Lawson-Hemphill系統(tǒng)和方法兩者中，毛羽的長度相對于紗線直徑或不相對于紗線直徑來測量。然而，由于毛羽不總是直線垂直于紗線軸獲得(一般情況下毛在所有方向上以不同形狀伸出，包括彎曲的、傾斜的和成環(huán)的)，所測的毛羽長度不是真實長度，并且在任何一種這些方法中沒有提到用于糾正這一事實。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種方法和設(shè)備以及裝置，其特別是考慮到上述要求導(dǎo)致改進(jìn)的細(xì)長紡紗材料檢驗?！凹?xì)長(紡紗)材料”或“線狀元件”在下面指紡紗生產(chǎn)工藝中任何形式的中間或最終產(chǎn)品，如例如條子、粗紗或紗線。
對于這些所討論的要求，提出了一種設(shè)備，其可檢驗多于一種試樣，所述試樣是線狀元件(最廣義的詞)。所述設(shè)備可檢驗不同性質(zhì)的線狀元件，包括紗線、條子和粗紗，同時采用不同檢驗條件集來估算品質(zhì)特性，如，例如毛羽度特性，包括毛粒，質(zhì)量特性和線密度(計數(shù))缺陷。所提出的設(shè)備可優(yōu)選地提供以與目前現(xiàn)有技術(shù)均勻度檢驗器相同數(shù)量的人力來管理的可能性。
本發(fā)明另外的目的是提供一種同時測量多于一種連續(xù)細(xì)長材料的各種物理特性的設(shè)備。
所述設(shè)備因此包含至少兩個裝置，每個檢驗裝置至少包括用于測量試樣線密度的模塊和質(zhì)量測量模塊。它包括信號處理器和/或控制器，用于評估來自兩個檢驗裝置的模塊的信號。至少一個檢驗裝置可選擇地進(jìn)一步包括用于測量毛羽度特性的模塊，和/或用于根據(jù)其光學(xué)特性來測量和分類某種類型的缺陷的模塊。
例如，第一檢驗裝置選擇地包括毛羽度特性模塊和/或用于測量和分類某種類型的缺陷的模塊，該第一檢驗裝置可包括用于喂給紗的喂給裝置，而第二檢驗裝置可包括用于喂給條子和/或粗紗的喂給裝置-從而使有可能在一個設(shè)備中同時測量紗線特性和條子和/或粗紗特性，而無需常?；Q喂給裝置。
基于檢驗多于一種試樣和物理特性集的需要，可設(shè)置用于每個試樣的許多分離的檢驗裝置。每個這些裝置將包含旨在檢驗所需物理特性的模塊。每個這些檢驗裝置可被支持以自動試樣喂給裝置，用于將試樣放置在所選試樣路徑上以用于均勻的檢驗條件。這些檢驗裝置亦可被手動喂給。
本發(fā)明另外的目的是提供一種測量試樣線密度的機(jī)構(gòu)。
在一個優(yōu)選設(shè)備中，試樣在其所限定的路徑上行進(jìn)。指定長度的試樣由收集裝置切割并收集，該收集裝置在垂直于試樣的平面上行進(jìn)。所收集的試樣然后被放置在稱重天平上。
在另一個優(yōu)選設(shè)備中，試樣在線性路徑上行進(jìn)并且在用于線密度測量的指定長度之后經(jīng)過基準(zhǔn)點，試樣被切割并且自其路徑轉(zhuǎn)向(divert)。同時，在線性路徑中行進(jìn)的所切割的材料被放在稱重天平上。
本發(fā)明另外的目的是提供一種測量試樣光學(xué)特性的機(jī)構(gòu)。在優(yōu)選裝置中，試樣在其經(jīng)過傳感器組件時與多色(非單色)光束的束路徑相交。來自試樣的反射光由檢測器或多個檢測器收集為例如三個色分量(紅、綠和藍(lán))。試樣中可能的雜質(zhì)根據(jù)關(guān)于色分量做出的響應(yīng)來分類。
整個本申請的上下文中的“光”指的是通常意義上的電磁輻射，包括紅外、可見和紫外輻射。
作為這些發(fā)明的共同優(yōu)點，可對單個試樣進(jìn)行品質(zhì)特性，如質(zhì)量變化，毛羽度，光學(xué)特性和線密度的測量。這導(dǎo)致每單位時間的檢驗數(shù)量增加以及試樣長度的節(jié)省。
本發(fā)明的目的還有提供一種毛羽度檢驗器模塊和毛羽度檢驗器裝置，以及測量如在細(xì)長材料中可獲得的以及如在測量裝置中出現(xiàn)的毛羽的長度并且測量毛羽的非線性度程度。
在短毛羽和長毛羽中，長毛羽在包括織造和整理過程的纖維形成過程中特別是干擾因素。在常規(guī)測量中，由于長毛羽具有由于線密度而造成的以細(xì)長材料軸為基準(zhǔn)的在任何方向上的懸垂(drape)、成環(huán)和伸出導(dǎo)致的較高趨勢，假定毛羽在垂直于線狀元件軸的方向上存在，如在線狀元件中存在的所測的毛羽的長度實際上不是全長度。其中考慮環(huán)、懸垂特性的非線性度因素，將幫助根據(jù)測量輸出的常規(guī)方法來很好地預(yù)測纖維加工中的諸如紡紗材料紗線的線狀元件的表現(xiàn)。
因此本發(fā)明另外的目的是提供一種用于測量毛羽度并考慮毛羽的非線性度的裝置和方法。優(yōu)選地，本發(fā)明應(yīng)當(dāng)提供一種方法和裝置，通過使用所提出的裝置來測量毛羽直徑和相同的毛羽的散射/反射光之間的關(guān)系。
根據(jù)本發(fā)明，這是通過光學(xué)方法來完成的，該方法評估兩個信號，表示在測量區(qū)中存在的毛羽的真實總長度的總毛羽長度信號，以及表示毛羽在測量區(qū)中伸出多遠(yuǎn)的總毛羽伸出信號，其例如是由陰影從線狀元件中伸出多遠(yuǎn)來給出的。可基于總毛羽伸出信號和總毛羽長度信號的商來計算非線性度因素。
優(yōu)選地，用于實施該方法的設(shè)備包括光源，其具有相干線性光并因此給出清晰、獨特的陰影畫面，以及檢測器陣列，例如包括CCD元件，以測量位置敏感信號以便于評估線狀元件中的毛羽的非線性度。
所述光源可發(fā)射可見和不可見光譜范圍內(nèi)的光，并且所述裝置包括檢測器，其具有寬譜響應(yīng)以檢測線狀元件中的毛羽的反射/折射/散射光。
當(dāng)使用作為棉紗的線狀元件時，以上優(yōu)選方法帶來了特定的優(yōu)點。處于其自然色的棉紗是所需的。在影響處于其自然色的棉紗毛羽的光散射的主要因素是毛羽的圓度和厚度。與棉纖維的圓度相比，預(yù)期棉纖維毛羽的顏色變化的影響較小。棉纖維的圓度主要由成熟度來確定，其中與未成熟纖維和死纖維相比，已成熟纖維顯示出較高的細(xì)胞壁厚度。與死纖維相比，已成熟纖維反射較多的光。通過對使用所述檢測器確定為陰影的毛羽厚度來規(guī)格化散射光的量，在最終用途應(yīng)用，如絲光處理和染色的選項之間可選擇棉紗，并且亦有可能使原材料的使用和過程最優(yōu)化。在優(yōu)選最終用途應(yīng)用之一-染色中，棉產(chǎn)品中缺乏染色均勻性已經(jīng)是紡紗加工機(jī)的長期存在的問題。棉產(chǎn)品的染色問題主要與纖維的成熟度水平關(guān)聯(lián)。


在以下將參照附圖來更詳細(xì)地描述本發(fā)明的優(yōu)選實施例。在附圖中，這些圖示出為圖1A和1B分別是根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備的3D視圖和側(cè)視圖，圖2是用于線密度測量的模塊的示意圖，圖2A到2D是示出圖2模塊的功能的序列，圖3是用于線密度測量的另一個實施例的示意圖，圖3A到3C是示出圖3模塊的功能的序列，圖4是用于光學(xué)特性測量的模塊的示意圖，圖5是用圖4的模塊測量的信號(示意性的)，圖6是圖1A和圖1B的設(shè)備的總體方塊圖，圖7是電容質(zhì)量傳感器模塊的方塊圖，圖8A到8C是從紡紗材料紡成的紗9伸出的毛羽的不同構(gòu)造(示意性的)，圖9是毛羽度檢驗器的第一實施例的側(cè)視圖(頂部)和前視圖(底部)，圖10是毛羽度檢驗器的第二實施例，圖11到14是不同情況下檢測器陣列的響應(yīng)(示意性的)，圖15是毛羽度檢驗器的第三實施例，圖16是測量區(qū)中的毛羽的結(jié)構(gòu)，圖17A到17C是示出纖維特性和測量信號之間的關(guān)系的示意圖。
具體實施例方式
圖1A和1B示出用于同時檢驗兩個試樣的優(yōu)選實施例的設(shè)備。盡管所示的實施例涉及一次檢驗兩個試樣，有可能將多于兩個的檢驗裝置集成到一個設(shè)備中。
本實施例包含用于測量第一試樣24a的第一檢驗裝置1和用于測量另一個試樣25a的第二檢驗裝置2。在第一檢驗裝置中，保持在軸架4中的試樣24a通過喂給機(jī)構(gòu)3拉出并且由布置臂(laying arm)布置在檢驗路徑24b上。
作為實例，第二檢驗裝置2可被用于檢驗條子或粗紗。細(xì)紗的線密度及其變化常常受到條子和粗紗線密度的影響。這是因為條子和粗紗的期望線密度在該過程中可因材料中存在的變化而改變，尤其是由機(jī)器，特別是其關(guān)鍵部件導(dǎo)致的長期變化。
根據(jù)該實例，第一檢驗裝置1可被用于檢驗紡成的紗。
作為替換，第一和第二檢驗裝置均可被用于檢驗紡成的紗。作為另一個替換，第一和第二檢驗裝置可被用于檢驗條子/粗紗。于是(或者也在其他情況下)，第一檢驗裝置可包括少于總數(shù)的在下面進(jìn)一步描述的模塊。
軸架4被設(shè)計成容納試樣包；所述包被放置在栓釘(peg)上并且通過適當(dāng)?shù)膹埦o裝置拉到喂給機(jī)構(gòu)。喂給機(jī)構(gòu)3保持在保持器陣列中的試樣的起始端。在每個檢驗的開始期間，布置臂5依序從保持器拾起試樣24a并放置在檢驗路徑24b上。
沿第一檢驗裝置1中的檢驗路徑，模塊被一個在另一個上地堆疊。在圖1A和1B中呈現(xiàn)了以下模塊毛羽度感測模塊10，用于確定毛羽度特性；質(zhì)量(電容)傳感器12，用于估算質(zhì)量特性；光學(xué)傳感器13，用于估算和分類雜質(zhì)。這些模塊堆疊在豎直平面中。張緊裝置11被放置在試樣路徑24b中以得到預(yù)定張力以獲得檢驗之間的均勻檢驗條件。一對輥14-連同用作喂給裝置的臂5-被放置在裝置的下游從而以預(yù)選抽取(withdrawal)速度拉出試樣。這對輥14還將試樣引導(dǎo)至下一個可能的測量模塊，在此情況下是用于測量試樣24a線密度的模塊。線密度測量模塊包括切割器15、收集容器16和稱重天平7。廢物收集箱23放置在檢驗裝置的底部以收集直接跌落的試樣以及經(jīng)歷線密度測量的試樣部分。
所示實例中的第二檢驗裝置2類似于第一檢驗裝置1。在此，第二裝置不必是完整的裝置，即它可僅包括諸如第一裝置的完整裝置的一些模塊。在優(yōu)選實施例中，在第二檢驗裝置2中，電容性傳感器18被設(shè)置用于估算第二試樣25a-例如條子或粗紗的質(zhì)量變化。試樣由喂給裝置17引導(dǎo)至檢驗路徑25b。試樣行進(jìn)在一對輸送機(jī)輥19引導(dǎo)的線性路徑中。在可替換的實施例中，所述路徑可以是非線性的，并且例如包含偏差。所述一對輸送機(jī)輥19將試樣引導(dǎo)至下一個可能的測量模塊，在此情況下是用于測量試樣25a線密度的模塊。線密度測量模塊包括切割器20、轉(zhuǎn)向板21和稱重天平8。廢物收集箱22放置在檢驗裝置的底部以收集直接跌落的試樣以及進(jìn)行線密度測量的試樣部分。
兩個檢驗裝置包括共用的處理元件，例如共用信號處理器和控制器裝置6，其可與具有用戶界面的PC連接。這個事實可例如被用于相關(guān)檢驗。如果第二檢驗裝置檢驗條子或粗紗，并且第一檢驗裝置檢驗從這種產(chǎn)品紡成的紗，則數(shù)據(jù)評估裝置可以如下方式被提供有有關(guān)紡紗工藝的信息，使得第二檢驗裝置的某種信號可與第一檢驗裝置的稍后的信號相關(guān)，所述稍后的信號涉及受檢條子或粗紗段是其部分的紗段。
此外，由于兩個檢驗裝置1、2同時工作并檢驗兩個試樣24a、25a，每單位時間進(jìn)行的檢驗的總數(shù)比常規(guī)可用的均勻度檢驗器多。由于為相同試樣長度估算多個品質(zhì)特性，因此還可設(shè)想試樣的節(jié)省。此外，通過具有包含兩個檢驗裝置的集成設(shè)備，與雙檢驗設(shè)備相比減小了所需空間。操作者操作具有兩個評估單元所需的時間亦比操作根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備所需的時間長。
接下來更詳細(xì)地描述用于線密度測量的裝置。這樣的裝置可用作如參照圖1A和1B所述的設(shè)備中的模塊但不是必須如此。
圖2相應(yīng)地示出用于測量試樣線密度的模塊。
在根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備中，線密度的測量與對檢驗中的試樣與質(zhì)量、毛羽度、光學(xué)特性等的測量同時進(jìn)行。
所述裝置包括輸送機(jī)輥14，其是在圖1中說明的檢驗裝置1的部分。在輸送機(jī)輥下，在試樣行進(jìn)路徑24b上，切割裝置15和廢物收集箱23被一個在另一個之下地設(shè)置。收集容器16放置得遠(yuǎn)離檢驗路徑。稱重天平7放置得接近廢物收集箱。
參照圖2A-2D來說明用于測量的優(yōu)選的操作序列。
在圖2A中，在測量開始之后，具有預(yù)定長度的材料直接收集在廢物箱23中。然后切割裝置15對行進(jìn)中的試樣24a執(zhí)行切割。
在圖2B中，收集容器16進(jìn)入試樣路徑24b并且開始收集行進(jìn)中的試樣。為此，收集容器被提供有適當(dāng)?shù)倪\(yùn)輸機(jī)構(gòu)，如液力、氣力、電力步進(jìn)器等。
在圖2C中，在達(dá)到試樣的預(yù)定檢驗長度之后，切割裝置15在此啟動對行進(jìn)中的試樣的切割。同時，收集裝置16與被切割的試樣退回其原始位置。
在圖2D中，收集裝置將用于測量的所收集的試樣傳遞到稱重天平7上。
所確定的重量被傳遞到圖1的控制器6，其中用預(yù)定公式，通過使用于線密度測量的試樣的重量和長度建立關(guān)系來評估試樣的線密度。
在稱重之后，試樣被放置到廢物收集箱23。
根據(jù)需要，該序列將對每個新試樣并且在所述試樣內(nèi)重復(fù)。
圖3示出測量試樣線密度的另一個優(yōu)選實施例。
所述裝置包括輸送機(jī)輥19，其是圖1中說明的檢驗裝置2的部分。在輸送機(jī)輥下，在試樣行進(jìn)路徑25b上，切割裝置20、轉(zhuǎn)向板21和稱重天平8被一個在另一個之下地設(shè)置。廢物收集箱22放置得遠(yuǎn)離檢驗路徑。
使用圖3A-3C來說明優(yōu)選用于測量的操作序列。
在圖3A中，在測量開始之后，相當(dāng)于線密度測量的優(yōu)選長度的材料直接收集在稱重天平8中。
在圖3B中，切割裝置20啟動對行進(jìn)中的試樣25a的切割。同時，轉(zhuǎn)向板21進(jìn)入試樣路徑25b。
在圖3C中，試樣由轉(zhuǎn)向板21轉(zhuǎn)向至廢物收集箱22。
由稱重天平8確定的重量被傳送至圖1的控制器6，其中借助預(yù)定公式，通過使用于線密度測量的試樣的重量和長度建立關(guān)系來定義所評估的檢驗的線密度。
如果需要，該序列將對每個新試樣重復(fù)或者它可對相同的試樣重復(fù)。
接下來，用于評估光學(xué)特性的裝置被更詳細(xì)地描述。這樣的裝置可(但不是必須)用作如參照圖1A和1B所述的設(shè)備中的模塊。
用于測量試樣光學(xué)特性的模塊的優(yōu)選實施例在圖4中示出。該模塊在圖1中由13表示。該實施例包括第一光源51，其發(fā)射處于可見和/或不可見光譜范圍內(nèi)的電磁輻射，和第二光源52，優(yōu)選為多色光源，第一檢測器54，優(yōu)選地用于檢測全光譜范圍，RGB檢測器55和信號處理器56。與在圖1中提及的相同，優(yōu)選為要估算光學(xué)特性的紡紗材料紡成的紗的試樣24a被設(shè)置成接受來自光源51、52兩者的光。
當(dāng)試樣24a在第一光源51和檢測器54之間移動時，試樣53的芯體依賴于試樣的厚度而被阻擋，并且檢測器54接收與試樣厚度成比例的光信號。檢測器所接收的信號被傳遞到信號處理器56。
試樣24a在其進(jìn)一步向下運(yùn)動時接收來自第二光源52的光。試樣反射落下來的光，并且包含分別用于接收紅、綠和藍(lán)的檢測器的RGB檢測器55接收來自全部反射光的相應(yīng)信號。檢測器所接收的信號被傳遞到信號處理器56。
檢測器所提供的信號可如以下所述來評估。
參照圖5來說明對優(yōu)選為紡紗材料紡成的紗的試樣的光學(xué)特性，優(yōu)選為缺陷的確定。
試樣24a沿其長度包含兩個缺陷60和61。第一缺陷60類似于試樣顏色，并且第二缺陷61的顏色不同于試樣顏色。
第一缺陷60產(chǎn)生由檢測器54收集的尺寸信號62a，其經(jīng)過缺陷閾62以分類為缺陷。類似地，第二缺陷61產(chǎn)生信號62b。
第一缺陷60產(chǎn)生從檢測器55接收的尺寸的等效RGB信號63a，其落在設(shè)置值以下以便于檢測缺陷的特性。在此情況下，用于缺陷60的顏色類似于試樣的特性，該缺陷被分類為缺陷類型1，其可被稱為“過程缺陷”。
第二缺陷61產(chǎn)生從檢測器55接收的尺寸等效RGB信號63b，其經(jīng)過設(shè)置閾。結(jié)果，缺陷61被分類為缺陷類型2，其可被稱為“原材料缺陷”，在棉紡成紗的情況下其主要由種皮、種子、葉的部分、皮、莖導(dǎo)致。
如可從圖5的底部板看到的，RGB信號以兩種形式被分析。在形式1中，使用某種硬件裝置/參考算法在總體上考慮RGB信號。作為替換，如在形式2中所述，可通過使用某種硬件裝置/參考算法來利用R、G和B檢測器的各個響應(yīng)。
用于測量光學(xué)特性的模塊(圖4)和用于確定優(yōu)選為試樣缺陷的光學(xué)特性的相應(yīng)方法的上述實施例亦可用在在線紡紗環(huán)境中。
優(yōu)選用途可以是在紗卷繞器中，其中紗從較小的包轉(zhuǎn)換成較大的包，并且在這樣做的過程中，通過使用集成裝置，如包括紗清除器的裝置，瑕疵的特定特性被監(jiān)視和/或去除。
參照圖4和5所述的實施例可有利地用作紗清除裝置，其中來自檢測器54的陰影輸入被用于缺陷分類，如分類成“毛?！?、“粗”、“細(xì)”，并且來自RGB檢測器55的顏色信號輸入被用于對紗缺陷，如原材料缺陷和過程缺陷的選擇性清除。
可替換地，所述實施例可被設(shè)置成與電容型紗清除器一起工作。
圖6提供圖1A和1B的設(shè)備中的信息流的方塊圖。如從圖中可看出的，實際上可結(jié)合在個人計算機(jī)(PC)中的控制信號處理器和控制器的(PC)控制和協(xié)調(diào)喂給機(jī)構(gòu)、張緊裝置和兩個所述裝置(在圖中分別在信號處理器和控制器的左手側(cè)和右手側(cè)描述)的相應(yīng)模塊。所述PC亦控制線密度測量并且負(fù)責(zé)評估。
所述PC不必是該詞狹義上的個人計算機(jī)，而可以是被提供有適當(dāng)用戶界面的任何計算機(jī)控制裝置。
圖7示出質(zhì)量電容傳感器的方塊圖。評估的不同步驟在附圖中從左到右描述。所述步驟由通過數(shù)字1-3來命名的處理器和“計算/I/P控制器”來執(zhí)行。包含這些處理器的信號處理器和控制器單元經(jīng)由接口(圖中的“Com1”)與PC通信。
接下來較為詳細(xì)地描述毛羽度檢驗裝置和相應(yīng)方法的實施例的特性。毛羽度檢驗裝置是上述設(shè)備中的毛羽度檢驗?zāi)K，或者可以-包括適當(dāng)?shù)奈菇o裝置-是獨立的，或者是其它設(shè)備中的毛羽度檢驗?zāi)K。
圖8A示出從優(yōu)選為紡紗材料紡成的紗的細(xì)長材料101伸出的各種毛羽102、103、104。為了說明所述方法，在毛羽設(shè)置的各種可能性中，三個常用的毛羽結(jié)構(gòu)是優(yōu)選的。
圖中示出了細(xì)長的材料，其具有芯體101、垂直于紗線軸設(shè)置的直毛羽102、處于波狀結(jié)構(gòu)的毛羽103和懸垂毛羽104。這些毛羽的邊緣分別處于與芯體101表面的距離l1、l2和l3處。長度l1、l2和l3是在細(xì)長材料中可用并且在測量裝置中出現(xiàn)的毛羽的長度。然而，從圖8B可以看出，毛羽的實際長度是l1R、l2R和l3R并且等于或不同于l1、l2和l3。
令在細(xì)長材料中可用并且在測量裝置中出現(xiàn)的毛羽的總長度被表示為∑L并且通過使l1、l2和l3相加來計算。(圖8A)。
令毛羽的總實際長度被表示為∑LR并且通過使l1R、l2R和l3R相加來計算。(圖8B)。
說明纖維遠(yuǎn)離理想直線情形的程度的非線性度因子通過使∑L和∑LR相關(guān)來估算。非線性度因子的優(yōu)選方法之一可從以下等式得到(∑LR/∑L*100)-100...(1)優(yōu)選方法中的非線性度因子可被估算如下從圖8C可以看出，芯體101和各種毛羽在測量長度區(qū)M1和M2上向前伸出。測量長度區(qū)M1由芯體101的尺度來限定，并且區(qū)M2等被相等地間隔。它們覆蓋伸出毛羽的區(qū)域。
對于一個掃描，如果從初始運(yùn)行和校準(zhǔn)而估算的測量區(qū)(對應(yīng)于檢測器)中毛羽的各個平均信號值是V，則例如在測量區(qū)M2中，3個毛羽102、103、104將返回等效于Vs1m2l1、Vs2m2l2和Vs3m2l3的信號值，而如果不存在毛羽，將返回零(0)值。
以以下命名法可最好地說明各個信號值Vs1m2l1。
“s”表示掃描區(qū)，“m”表示測量區(qū)，并且“l(fā)”表示毛羽的長度。
如從圖8C可看出的，直毛羽102伸出到測量區(qū)M5，波狀毛羽103亦伸出到測量區(qū)M5，并且懸垂毛羽僅伸出到測量區(qū)M3。
為了討論，假定每個測量區(qū)的尺寸(M1)是1mm。因此直毛羽102具有長度4mm，波狀毛羽103是4mm并且懸垂毛羽104是2mm。在細(xì)長材料中可用并且在測量裝置中出現(xiàn)的毛羽的總長度(∑L)計算出10mm(4mm+4mm+2mm)。
∑L＝l1+l2+l3(2)從圖8C可以看出，3個毛羽占據(jù)總共5個掃描。
直毛羽的總信號值對應(yīng)于Vs1m2l1+Vs1m3l1+Vs1m4l1+Vs1m5l1(3)
波狀毛羽的總信號值對應(yīng)于Vs2m2l2+Vs2m3l2+Vs2m4l2+Vs2m5l2(4)懸垂毛羽的總信號值對應(yīng)于Vs3m2l3+Vs3m3l3+Vs4m3l3+Vs5m3l3...(5)重要的將是注意信號值Vs2m4l2將比相鄰值Vs2m3l2和Vs2m5l2高所暴露長度的比例。
然后通過使來自等式(3)、(4)和(5)的所有3個毛羽的總信號值相加并且將總信號值除以每個掃描的測量區(qū)中的毛羽的各個平均信號值V來估算毛羽的實際總長度。計算值被乘以測量區(qū)尺寸(M1)。
∑LR＝{((Eqn3)+(Eqn4)+(Eqn5))/V}*M1(6)為便于討論，應(yīng)用在圖8C的配置上的等式(6)對于直毛羽將返回4mm的長度；對于波狀毛羽是6mm并且對于懸垂毛羽是4mm。由此對于∑LR得到14mm的值。
應(yīng)用等式(1)，非線性度因子被估算為(14/10*100)-100＝40。
如以上所述用于測量總長度和非線性度因子的優(yōu)選實施例可在圖9找到。該實施例包括光源111，優(yōu)選地用于產(chǎn)生相干線性束，以及檢測器113的陣列，包括在預(yù)定位置移位的CCD元件。使用以恒定預(yù)選速度行進(jìn)的輥對114來定位要估算紗毛羽度的細(xì)長材料112，優(yōu)選為紡紗材料紡成的紗，以在光源111和檢測器113之間行進(jìn)。被定位在與光源的一距離處的檢測器接收出自所述源的相干線性光束。
當(dāng)細(xì)長材料112移動在光源和檢測器之間時，細(xì)長材料的芯體112a和伸出的毛羽112b阻擋光的通過。
檢測器然后僅檢測已經(jīng)漏過的光并且在所需路徑中行進(jìn)。這些各個檢測器由此所接收的光量與芯體和伸出毛羽的厚度成比例。
該優(yōu)選實施例的另一個設(shè)置采用光源111和檢測器113之間的束分裂器115，如圖10所示。該束分裂器接收來自所述源的光并且將該光分成兩個不同的軸而不使束的形狀變形。在圖8中，檢測器位于與光源的一角度處，優(yōu)選為90度。
信號分析已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，兩個相鄰毛羽之間的平均距離在大多數(shù)情況下是幾毫米，因此比例如1mm左右的測量區(qū)的直徑明顯大。因此，可以安全地假定通常沒有多于一個毛羽存在于一個區(qū)中。
檢測器和用于處理和評估所檢測的信號的裝置根據(jù)時間來測量總的定量陰影信號，其是除了如以上所述的芯體112a的陰影區(qū)中以外的所有檢測器的信號V之和。該值表示毛羽的總真實長度∑LR。此外，時間相關(guān)的伸出信號被測量，其表示總表觀長度∑L(如果需要，所述值可對某個時間積分以得到表示某個紗長度的總值，如果檢測器小的話，則這是特別理想的)。時間相關(guān)的伸出信號可以以如下方式來評估確定每測量區(qū)的閾信號電平，其在存在毛羽的每個測量區(qū)中被超過。
伸出信號被限定為從紗直徑的外邊緣到檢測到超過所述閾的信號的最外測量區(qū)的距離。依賴于校準(zhǔn)，紗直徑(二等分)可從所述伸出信號得出；在高分辨率的情況下，對于對紗直徑的(選擇的)測量，相同方法可被應(yīng)用，但具有高得多的閾值，其基本上表示完全被阻止接收足夠的光的區(qū)域。根據(jù)這些信號，非線性度因子可如以上所述來評估。
通過圖11-14來說明檢測器陣列對其各種取向位置中的毛羽和細(xì)長材料的芯體的響應(yīng)。
圖11示出當(dāng)光源111和檢測器113之間沒有檢驗材料時測量區(qū)中的檢測器陣列的響應(yīng)。根據(jù)優(yōu)選配置，檢測器陣列可具有“n”個檢測器。然而，為便于理解，在圖11中示出5個測量區(qū)M1到M5，每個表示一個檢測器。
圖12示出了當(dāng)細(xì)長材料151的一部分放置在光源111和檢測器113之間時測量區(qū)中的檢測器陣列的響應(yīng)，其中單個毛羽152垂直于細(xì)長材料的軸而放置。圖12中由M2到M5表示的陣列在所述描述中示出毛羽的響應(yīng)。
圖13示出當(dāng)細(xì)長材料161的部分放置在光源111和檢測器113之間時測量區(qū)中的檢測器陣列的響應(yīng)，其中兩個單個毛羽162和163垂直于細(xì)長材料的軸而放置，其每個具有不同的毛長度。陣列M2和M3返回等效于2個毛羽的信號，而陣列M4和M5返回對應(yīng)于較長毛羽163的部分的信號。
圖14示出當(dāng)細(xì)長材料171的部分放置在光源111和檢測器113之間時測量區(qū)中的檢測器陣列的響應(yīng)，其中在單個掃描中毛羽172在邊緣173具有鉤狀圖形。
從圖11到14，信號VH用來表示當(dāng)細(xì)長材料阻擋整個束而檢測器不接收光束部分時檢測器的響應(yīng)。這種情況在圖11到14中以測量區(qū)M1來觀察，其中部分或全部芯體阻擋測量區(qū)M1。
信號V1用來表示當(dāng)沒有檢驗材料存在于光源和檢測器之間時檢測器的響應(yīng)。這種情形的實例可在圖14的測量區(qū)M5中獲得。
信號Vf1用來表示單個毛羽時的檢測器的響應(yīng)。其實例在圖12中對應(yīng)于測量區(qū)M2到M5可獲得并且亦在圖13中通過M4和M5可獲得。
信號Vf2用來表示當(dāng)兩個獨立的毛羽在測量區(qū)上向前伸出時檢測器的響應(yīng)。其實例在圖13中對應(yīng)于測量區(qū)M2和M3可獲得并且亦在圖14中在M4中可用于表示鉤狀纖維部分。
更優(yōu)選的裝置在圖15中提及。該實施例包括光源111，優(yōu)選地用于產(chǎn)生相干線性束，束分裂器115，檢測器113的陣列，包括在預(yù)定位置移位的CCD元件，聚光透鏡116，機(jī)械過濾器和另一個檢測器118。
使用以恒定預(yù)選速度行進(jìn)的輥對114來定位要估算紗毛羽度的細(xì)長材料112，優(yōu)選為紡紗材料紡成的紗，以在光源111和束分裂器115之間行進(jìn)。所述束分裂器接收來自所述源的光并且將該光分成兩個不同的軸而不使束的形狀變形。第一檢測器，檢測器113的陣列，位于與光源的一角度處，優(yōu)選為90度。第二檢測器，檢測器118，沿光源的軸放置。
當(dāng)細(xì)長材料112移動在光源和檢測器之間時，細(xì)長材料的芯體112a和伸出的毛羽112b以如下討論的方式做出響應(yīng)。
細(xì)長材料的芯體112a和伸出的毛羽112b阻擋光的通過。束分裂器然后僅接收已經(jīng)漏過的光并且在所需路徑中行進(jìn)。束分裂器115將光信息分成兩個軸121和122。第一檢測器113沿第一軸121放置。機(jī)械過濾器117沿第二軸122放置。在第一檢測器113接收的光量與芯體和伸出毛羽的厚度成比例。機(jī)械過濾器的目的是阻擋沿第二軸122傳播的光以使表示細(xì)長材料芯體的該光不到達(dá)第二檢測器118。
伸出的毛羽112b散射/反射落在它們上的光。所散射/反射的光然后通過119a和119b之間的路徑，并且到達(dá)聚光透鏡116。來自聚光透鏡116的會聚光然后通過120a和120b之間的路徑并且得到第二檢測器，檢測器118的聚集。由此在第二檢測器接收的總光量是對經(jīng)過光源的全部毛羽的測量。
接下來示出用于根據(jù)毛羽并且使用諸如依照以上實施例的裝置來確定紗特性的另一種方法。
在圖16中示出了測量區(qū)中的幾個毛羽191的設(shè)置。陰影測量是通過使用縫隙192來實現(xiàn)的；該縫隙可具有任何可變的尺度。來自光源193的從毛羽191反射/散射的光被聚集在第二檢測器118。這被用于量化所述毛羽的反射/散射光。
圖17A示出典型為棉的纖維的圓度和反射/散射信號VR之間的關(guān)系。如所說明的，當(dāng)圓度從未成熟階段變到成熟階段時，反射/散射信號成比例增加。
圖17B說明典型為棉的纖維的圓度和圖15檢測器113所聚集的陰影信號VS之間的關(guān)系。如可以看出的，與成熟纖維的陰影信號相比，未成熟纖維的陰影信號較小。然而這些成熟和未成熟纖維的陰影信號的變化比例在根據(jù)反射/散射信號VR的對應(yīng)變化被丟棄時而減小，如可從圖17C看出的。
假定陰影和反射/散射信號的差是Δ，則未成熟纖維的信號差將是Δmin而成熟纖維將是Δmax。Δmin和Δmax之間的關(guān)系預(yù)期是Δmin＜Δmax(7)通過使用如在等式(7)說明的行為，陰影信號和反射/散射信號之間的關(guān)系可以以任何特定方式來建立。所建立的關(guān)系可被用于過程最優(yōu)化等。
這里所說明的一個這樣的實例使用反射/散射信號(VR)與陰影信號(VS)之比率來用于毛羽的相同部分。
比率＝VR/VS(8)對細(xì)長紡紗進(jìn)行估算的所述比率值，比方說用于示例的棉紡成紗，該比率值可被用于對如染色和絲光處理的工藝進(jìn)行最優(yōu)化。
權(quán)利要求
1.一種用于同時檢驗或測量紗和條子和/或粗紗材料的設(shè)備，包括第一檢驗裝置(1)，其具有用于測量紗試樣線密度的模塊和質(zhì)量測量模塊，并且進(jìn)一步包括用于確定紗的毛羽度的模塊(10)和/或用于確定光學(xué)紗特性的裝置，以及紗喂給裝置，所述設(shè)備包括第二檢驗裝置，其具有用于測量試樣線密度的模塊和質(zhì)量測量模塊，以及用于喂給條子和/或粗紗的條子和/或粗紗喂給裝置(5，14)，所述第一檢驗裝置和第二檢驗裝置被配置成使它們獨立工作并且可同時測量試樣。
2.根據(jù)前述權(quán)利要求的任何一項的設(shè)備，線密度測量模塊包括收集容器(16)和稱重裝置(7)，這些元件以如下方式設(shè)置，使得良好限定的長度的試樣比例可被引導(dǎo)至所述容器，在其中所述試樣比例的重量可被評估，其中所述良好限定的長度例如通過切割試樣來確定，所述試樣由喂給裝置在預(yù)定時間期間以預(yù)定速度來轉(zhuǎn)送，所述裝置進(jìn)一步包括評估裝置，用于根據(jù)所述良好限定長度和所確定的重量來評估所述試樣比例的線密度。
3.一種用于檢驗或測量連續(xù)紡紗細(xì)長材料的設(shè)備，包括至少兩個檢驗裝置(1，2)，每個檢驗裝置至少包括用于測量試樣線密度的模塊和質(zhì)量測量模塊，該設(shè)備進(jìn)一步包括喂給裝置(5，14)，用于將試樣獨立喂給至所述兩個檢驗裝置，以及信號處理器和/或控制器(6)，用于評估來自兩個檢驗裝置的模塊的信號。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的設(shè)備，其中至少一個檢驗裝置進(jìn)一步包括用于確定試樣毛羽度的模塊(10)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4的設(shè)備，其中至少一個檢驗裝置進(jìn)一步包括用于確定光學(xué)特性的裝置。
6.例如根據(jù)權(quán)利要求1到5的任何一項的設(shè)備，用于對紗進(jìn)行測量或檢驗，該設(shè)備包括用于測量紗試樣線密度的模塊和質(zhì)量測量模塊，并且進(jìn)一步包括用于確定紗的毛羽度的模塊(10)和用于確定光學(xué)紗特性的裝置，以及紗喂給裝置。
7.一種用于線狀元件的線密度測量的裝置，特別是根據(jù)權(quán)利要求2的設(shè)備的線密度測量模塊，包括用于以預(yù)定精確速度來轉(zhuǎn)送試樣的喂給裝置(14)和用于切割試樣的切割裝置(15)，以及用于控制切割裝置的時序裝置，收集容器(16)和稱重裝置(7)，上述元件以如下方式被設(shè)置，使得在預(yù)定時間期間由喂給裝置轉(zhuǎn)送的一個比例的試樣可由切割裝置來切割并且被引導(dǎo)至所述容器，其中試樣的比例的重量可被評估，所述裝置進(jìn)一步包括評估裝置，用于根據(jù)所述預(yù)定速度、預(yù)定時間和所確定的重量來評估所述比例的試樣的線密度。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的裝置，進(jìn)一步包括引導(dǎo)裝置(21)，用于將試樣比例引導(dǎo)至收集容器或廢物收集箱(22，23)，收集容器(16)和/或廢物收集箱以如下方式被設(shè)置，使得所述試樣比例借助于重力來引導(dǎo)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7的裝置，其中所述收集容器以如下方式安裝和放置，使得它可在第一位置和第二位置之間移動，所述第一位置處于試樣的路徑中以收集一個比例的試樣，所述第二位置不處于試樣的路徑中。
10.一種用于確定線狀元件的光學(xué)特性的裝置，特別是根據(jù)權(quán)利要求1或5的設(shè)備的模塊或者是在線紡紗環(huán)境的模塊，包括非單色光源(52)，光頻率敏感光檢測器(55)，用于線狀元件(24a)的路徑，以及運(yùn)輸裝置，用于沿所述路徑以恒定速度來移動所述線狀元件，光源(52)和檢測器(55)以如下方式設(shè)置，使得線狀元件由從所述光源發(fā)射的光來照射并且在光源照射時從所述線狀元件發(fā)射的一個比例的光被引導(dǎo)至檢測器，所述裝置進(jìn)一步包括信號處理裝置(56)，其在通信上耦合到所述檢測器并且以使它們執(zhí)行如下步驟的方式被編程根據(jù)檢測器(55)的時間相關(guān)信號來評估時間相關(guān)的顏色信號，其表示沿所述路徑通過的線狀元件的顏色，根據(jù)所述時間相關(guān)的顏色信號來評估時間相關(guān)的顏色偏差信息，其表示與線狀元件平均顏色的顏色偏差，使所述時間相關(guān)的顏色偏差信息與時間相關(guān)的定量信號偏差信息建立關(guān)聯(lián)，基于時間相關(guān)的顏色偏差信息和時間相關(guān)的總信號偏差是否被建立關(guān)聯(lián)的信息來確定缺陷信息，其表示線狀元件缺陷的特性。
11.根據(jù)權(quán)利要求10的裝置，其中處理裝置(56)是這樣的，使得時間相關(guān)的定量信號被評估作為針對檢測器中的不同光頻率所獲得的信號之和。
12.根據(jù)權(quán)利要求10或11的裝置，包括第二光源(51)和第二檢測器(54)，其以如下方式被設(shè)置，使得在第二光對所述線狀元件照射時，它接收表示線狀元件厚度的光信號，該信號是時間相關(guān)的定量信號，總信號偏差信息被評估作為與所述定量信號的平均值的偏差，從而用于獲得缺陷信號。
13.一種用于確定線狀元件的光學(xué)特性的方法，包括以下步驟沿一路徑以恒定速度來移動所述線狀元件，用非單色光來照射所述線狀元件，作為時間的函數(shù)以光敏感的方式來檢測所述線狀元件所發(fā)射的光以獲得時間相關(guān)的檢測器信號，根據(jù)所述時間相關(guān)信號來評估時間相關(guān)的顏色信號，其表示沿所述路徑通過的線狀元件的顏色，根據(jù)所述時間相關(guān)的顏色信號來評估時間相關(guān)的顏色偏差信息，其表示與線狀元件平均顏色的顏色偏差，使所述時間相關(guān)的顏色偏差信息與時間相關(guān)的定量信號偏差信息建立關(guān)聯(lián)，以及基于時間相關(guān)的顏色偏差信息和時間相關(guān)的總信號偏差是否被建立關(guān)聯(lián)的信息來確定缺陷信息，其表示線狀元件缺陷的特性。
14.根據(jù)權(quán)利要求13的方法，其中所述時間相關(guān)的顏色信號和時間相關(guān)的總定量信號偏差信息分別使用一個特定檢測器(55，54)被檢測。
15.一種用于確定諸如紗的線狀元件的毛羽度的裝置，特別是根據(jù)權(quán)利要求1-6的任何一項的設(shè)備的模塊，包括光源(111)，第一光檢測裝置(113)，包括多個位置解析檢測器元件，路徑，用于所述線狀元件，以及運(yùn)輸裝置，用于沿所述路徑以恒定速度來移動所述線狀元件，所述光源和檢測裝置以如下方式設(shè)置，使得線狀元件由從所述光源發(fā)射的光來照射并且在光源照射時從所述線狀元件發(fā)射的一個比例的光使所述線狀元件在所述第一檢測裝置上投射陰影，所述裝置進(jìn)一步包括信號評估裝置，用于評估所述第一檢測裝置所產(chǎn)生的時間相關(guān)信號，這些裝置被配置成執(zhí)行以下步驟評估總毛羽伸出信號，其表示毛羽從所述線狀元件伸出多遠(yuǎn)，以及評估總毛羽長度信號，其表示伸出的毛羽的總長度并且與總陰影信號成比例，基于所述總毛羽伸出信號和總毛羽長度信號來評估時間相關(guān)的毛羽度信號。
16.權(quán)利要求15的裝置，進(jìn)一步包括第二檢測裝置(118)，其以一種方式被設(shè)置并且被設(shè)有束劃分(115)和/或光阻擋(117)，使得從線狀體伸出的毛羽所散射的光照在第二檢測裝置(118)上。
17.權(quán)利要求16的裝置，所述信號評估裝置被配置成使第一檢測裝置(113)所檢測的陰影信號(VS)與第二檢測裝置所檢測的散射信號(VR)對比，并且例如通過評估所述散射信號和陰影信號之比(VR/VS)來比較所述陰影信號和散射信號，并且其中纖維成熟度信息從這樣的比較中獲得。
18.權(quán)利要求15到17的任何一項的裝置，其中所述光源是相干光源，例如激光光源。
19.一種用于確定線狀元件的毛羽度的裝置，包括如下步驟將光束引導(dǎo)至所述線狀元件的測量區(qū)上，根據(jù)所述線狀元件所投射的陰影來確定定量總毛羽長度信號，其表示測量區(qū)中的伸出的毛羽的長度之和，根據(jù)所述陰影的延伸來確定評估總毛羽伸出信號，其表示毛羽從所述線狀元件伸出多遠(yuǎn)，以及根據(jù)所述總毛羽長度信號和總毛羽伸出信號來評估毛羽度信息。
20.權(quán)利要求19的方法，其中在陰影信號(VS)之后檢測散射信號(VR)，例如通過評估所述散射信號和陰影信號之比(VR/VS)來相互比較所述陰影信號和散射信號，并且其中纖維成熟度信息從這樣的比較中獲得。
全文摘要
一種用于檢驗或測量連續(xù)紡紗細(xì)長材料的設(shè)備，包括至少兩個檢驗裝置(1，2)，每個檢驗裝置至少包括用于測量試樣線密度的模塊和質(zhì)量測量模塊。該設(shè)備進(jìn)一步包括喂給裝置(5，14)，用于將試樣獨立喂給至所述兩個檢驗裝置，以及信號處理器和/或控制器(6)，用于評估來自兩個檢驗裝置的模塊的信號。
文檔編號G01N21/952GK1751237SQ03826121
公開日2006年3月22日 申請日期2003年1月8日 優(yōu)先權(quán)日2003年1月8日
發(fā)明者S·N·拉馬錢德蘭, V·斯里尼瓦桑, A·帕文德漢 申請人:第一伊沃爾維克斯私人有限公司