專利名稱:氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)，本實(shí)用新型涉及氣固分離的效率測(cè)量領(lǐng)域。本實(shí)用新型旨在提供一種測(cè)量效果好的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型所提供的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)，包括有氣固分離裝置，所述氣固分離裝置的待過(guò)濾氣體進(jìn)氣側(cè)設(shè)有第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置，所述氣固分離裝置的已過(guò)濾氣體排氣側(cè)設(shè)有第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置。本實(shí)用新型提供的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)相比現(xiàn)有技術(shù)而言能夠?qū)崿F(xiàn)更高精度的測(cè)量，并且步驟簡(jiǎn)單、讀數(shù)方便。
【專利說(shuō)明】
氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本實(shí)用新型涉及氣固分離的效率測(cè)量領(lǐng)域?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]在現(xiàn)有技術(shù)能夠，氣固分離技術(shù)在生產(chǎn)中有著廣泛的應(yīng)用。在氣固分離技術(shù)中，各種原因也在促使氣固分離裝置的精度在進(jìn)一步提高，現(xiàn)階段的氣固分離技術(shù)中，已經(jīng)可以對(duì)氣體中的微米級(jí)固體顆粒實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化的分離操作。但是相對(duì)于氣固分離技術(shù)的迅速發(fā)展而言，對(duì)于氣固分離裝置的高精度測(cè)量技術(shù)卻發(fā)展緩慢。
[0003]在現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)氣固分離裝置進(jìn)行效率測(cè)量時(shí)普遍是直接對(duì)氣固分離裝置前端的氣體進(jìn)行粒子濃度測(cè)量，再對(duì)氣固分離裝置后端的氣體進(jìn)行粒子濃度測(cè)量，實(shí)現(xiàn)兩個(gè)測(cè)量值之間的比較。然而這種直接測(cè)量方法在實(shí)際應(yīng)用中的精度往往只能達(dá)到0.5?lmg/ Nm3,這對(duì)于過(guò)濾分離精度較高的氣固分離裝置而言，遠(yuǎn)不足以滿足實(shí)際需求。[〇〇〇4]此外在現(xiàn)有技術(shù)中的對(duì)氣固分離效率進(jìn)行測(cè)量的系統(tǒng)，不僅測(cè)量精度難以滿足實(shí)際需求，并且工作時(shí)的穩(wěn)定性較差，很容易受到工作環(huán)境中的溫度、光照、濕度、甚至粉塵成分等其他因素的影響而導(dǎo)致測(cè)量誤差和系統(tǒng)故障?！緦?shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型旨在提供一種測(cè)量效果好的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型所提供的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)，包括有氣固分離裝置，所述氣固分離裝置的待過(guò)濾氣體進(jìn)氣側(cè)設(shè)有第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置，所述氣固分離裝置的已過(guò)濾氣體排氣側(cè)設(shè)有第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置。
[0007]在現(xiàn)有技術(shù)中，直接對(duì)氣固混合相中的固相顆粒進(jìn)行檢測(cè)并不容易實(shí)現(xiàn)，并且檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確度和精度效果較差，本實(shí)用新型中采用第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)對(duì)氣固混合相中的固體小顆粒所帶有的微電荷進(jìn)行檢測(cè)，從而通過(guò)對(duì)所述的微電荷定量后對(duì)氣固混合相中的固體小顆粒進(jìn)行定量。進(jìn)而在利用第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)了對(duì)氣固混合相中的固體小顆粒進(jìn)行定量后，對(duì)比第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置的測(cè)量結(jié)果，而可以對(duì)比對(duì)出氣固分離裝置的待過(guò)濾氣體進(jìn)氣側(cè)和已過(guò)濾氣體排氣側(cè)之間的固體小顆粒的變化量，進(jìn)而可以得出氣固分離裝置的氣固分離效率。
[0008]在本實(shí)施例中所述的第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置能夠應(yīng)用在氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)的原理是基于一般的微小顆粒都是帶有一定的電荷量， 并且對(duì)于微小顆粒而言，自身非常容易帶有電荷，而在同一工況氣固兩相流中的固體顆粒物經(jīng)氣固分離設(shè)備分離后，進(jìn)氣側(cè)和排氣側(cè)固體小顆粒物的粒徑分布和質(zhì)量濃度雖然發(fā)生顯著變化，但同一固體小顆粒的荷電特征相對(duì)穩(wěn)定，即使顆通過(guò)氣固分離裝置后的荷電特征發(fā)生變化(比如速度變化碰撞摩擦等)，這個(gè)變化也是可預(yù)測(cè)和修正的；對(duì)分離出來(lái)的固體小顆粒的粒徑分布和質(zhì)量的反復(fù)比對(duì)，完全可以獲得可信的固體小顆粒的分離效率，從而實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)監(jiān)控氣固分離裝置的性能和失效判斷。
[0009]其中第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置中包括有對(duì)微電荷顆粒物的進(jìn)行電荷量檢測(cè)的檢測(cè)端，所述檢測(cè)端工作時(shí)與一定范圍內(nèi)的帶電顆粒產(chǎn)生感應(yīng)電信號(hào)，并且將產(chǎn)生的電信號(hào)傳輸至信號(hào)處理裝置。其中所述的檢測(cè)端還可以與原本不帶電的固體小顆粒進(jìn)行撞擊并在撞擊的過(guò)程中與原本不帶電的固體小顆粒實(shí)現(xiàn)電子交換， 并且將所述的電子交換過(guò)程所產(chǎn)生的電信號(hào)記錄傳輸至信號(hào)處理裝置。上述結(jié)構(gòu)所基于的原理是:當(dāng)兩個(gè)固體相互接觸時(shí)，相接觸的固體之間可以發(fā)生電荷轉(zhuǎn)移。這種電荷轉(zhuǎn)移就是眾所周知的摩擦起電原理，或者叫做接觸起電。當(dāng)氣流中的固體小顆粒碰到置于氣流中的傳感器檢測(cè)端時(shí)，電荷轉(zhuǎn)移產(chǎn)生的電流就可以通過(guò)第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置或第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置進(jìn)行測(cè)量。進(jìn)而在此原理的基礎(chǔ)上，電子處理設(shè)備根據(jù)特定的安裝場(chǎng)合進(jìn)行調(diào)整，并產(chǎn)生一個(gè)連續(xù)的模擬輸出信號(hào)。
[0010]進(jìn)而，由上述可知，固體小顆粒中微電荷信號(hào)產(chǎn)生主要是兩個(gè)機(jī)理，一種是撞擊電流信號(hào)，另一種是靜電感應(yīng)信號(hào)。在所有的檢測(cè)端附近隨機(jī)分布的固體小顆粒所產(chǎn)生的感應(yīng)電流信號(hào)加上所有檢測(cè)端隨機(jī)碰撞的固體小顆粒產(chǎn)生的撞擊電流信號(hào)為檢測(cè)端實(shí)測(cè)的原始信號(hào)。[〇〇11]進(jìn)而在本實(shí)用新型中所提供的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)將第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的結(jié)果與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的結(jié)果相比，是可以等效于被測(cè)氣體中的固體小顆粒含量變化。其中所述的第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置可以采用但不僅限于采用美國(guó)奧本系統(tǒng)有限公司下列型號(hào)的粉塵濃度監(jiān)測(cè)儀:Tribo3200粉塵濃度監(jiān)測(cè)儀、Tribo3300粉塵濃度監(jiān)測(cè)儀、Tribo3400粉塵濃度監(jiān)測(cè)儀、 Trib〇3600粉塵濃度監(jiān)測(cè)儀或Trib〇3800粉塵濃度監(jiān)測(cè)儀。盡管現(xiàn)有技術(shù)中能夠找到微電荷顆粒物檢測(cè)裝置，但是這種微電荷顆粒物檢測(cè)裝置并沒(méi)有被應(yīng)用到氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)中。
[0012]在上述系統(tǒng)運(yùn)行一段時(shí)間后，可以對(duì)檢測(cè)裝置所檢測(cè)的電荷值實(shí)施標(biāo)定，標(biāo)定是指對(duì)電荷量的檢測(cè)轉(zhuǎn)化為直管的固體小顆粒變化量，這是一種更加直觀分析氣固分離裝置工作效率的方式。具體的方式可以指的是所述第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置運(yùn)行一段時(shí)間后，比較該時(shí)間內(nèi)第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置之間的檢測(cè)數(shù)據(jù)的差值，并且將這段時(shí)間內(nèi)第一顆微電荷粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置之間的固體顆粒物的變化量予以記錄，進(jìn)而根據(jù)所述的檢測(cè)數(shù)據(jù)的差值與固體小顆粒物之間的變化量之間的關(guān)系進(jìn)行對(duì)應(yīng)，從而得出固體小顆粒變化量與所述的檢測(cè)數(shù)據(jù)的差值之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，從而可以從第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置之間測(cè)量讀數(shù)的變化更加直觀地得知?dú)夤谭蛛x裝置的待過(guò)濾氣體進(jìn)氣側(cè)和氣固分離裝置的已過(guò)濾氣體排氣側(cè)之間的固體小顆粒變化量。從而可以使得本實(shí)用新型中的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)的讀數(shù)變得更加簡(jiǎn)便直觀。[〇〇13]并且在本實(shí)用新型中需要說(shuō)明的是，所述的氣固分離裝置的待過(guò)濾氣體進(jìn)氣側(cè)可以指的是位于氣固分離裝置中的位置，也可以指的是氣固分離裝置前端連接的管道的位置；同樣，所述的氣固分離裝置的已過(guò)濾氣體排氣側(cè)可以指的是位于氣固分離裝置中的位置，也可以是指的是氣固分離裝置后端連接的管道的位置。
[0014]本實(shí)用新型所提供的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)，相比與現(xiàn)有技術(shù)對(duì)氣固分離裝置前端和后端的氣固混合相中的固相粒子濃度采用一種全新的系統(tǒng)進(jìn)行等效測(cè)定，直觀方便， 測(cè)量精度高。經(jīng)標(biāo)定后換算可以得知，本實(shí)用新型中測(cè)量系統(tǒng)中的檢測(cè)裝置對(duì)固體細(xì)顆粒的含量檢測(cè)精度，隨顆粒物荷電能力的不同精度可能在0.50?0.0Olmg/Nm3之間變化，但對(duì)大多數(shù)氣固分離設(shè)備而言，足以動(dòng)態(tài)分析氣固分離裝置的分離效率。
[0015]進(jìn)一步的是，所述第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置位于與氣固分離裝置的待過(guò)濾氣體進(jìn)氣側(cè)連接的進(jìn)氣直管上，該進(jìn)氣直管上游的氣流擾動(dòng)處與第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置的距離多該進(jìn)氣直管的2倍直徑，該進(jìn)氣直管下游的氣流擾動(dòng)處與第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置的距離多該進(jìn)氣直管的0.5倍直徑。
[0016]優(yōu)選的是，所述進(jìn)氣直管上游的氣流擾動(dòng)處以及進(jìn)氣直管下游的氣流擾動(dòng)處均指管道的拐彎處、膨脹處或緊縮處。
[0017]進(jìn)一步的是，所述第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置位于與氣固分離裝置的待過(guò)濾氣體排氣側(cè)連接的排氣直管上，該排氣直管上游的氣流擾動(dòng)處與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置的距離多該排氣直管的2倍直徑，該排氣直管下游的氣流擾動(dòng)處與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置的距離多該排氣直管的0.5倍直徑。[〇〇18]優(yōu)選的是，所述排氣直管上游的氣流擾動(dòng)處以及排氣直管下游的氣流擾動(dòng)處均指管道的拐彎處、膨脹處或緊縮處。
[0019]其中，優(yōu)選將所述第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置位于與氣固分離裝置前端連接的管道，發(fā)明人在實(shí)際工作中經(jīng)過(guò)反復(fù)的測(cè)量發(fā)現(xiàn)將第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置設(shè)置于上述的進(jìn)氣直管上且距上游的氣流擾動(dòng)處距離多該進(jìn)氣直管的2倍直徑、距下游的氣流擾動(dòng)處距離多該進(jìn)氣直管的0.5倍直徑時(shí)第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置具有更準(zhǔn)確、更穩(wěn)定的測(cè)量結(jié)果。
[0020]其中，優(yōu)選將所述第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置位于與氣固分離裝置后端連接的管道，發(fā)明人在實(shí)際工作中經(jīng)過(guò)反復(fù)的測(cè)量發(fā)現(xiàn)將第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置設(shè)置于上述的排氣直管上且距上游的氣流擾動(dòng)處距離多該排氣直管的2倍直徑、距下游的氣流擾動(dòng)處距離多該排氣直管的0.5倍直徑時(shí)第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置具有更準(zhǔn)確、更穩(wěn)定的測(cè)量結(jié)果。
[0021]這是發(fā)明人在工程實(shí)踐中發(fā)現(xiàn)，即便同樣是將檢測(cè)裝置安裝在管道上，隨著檢測(cè)裝置的安裝位置不同，檢測(cè)裝置所產(chǎn)生的誤差也有所不同。在經(jīng)過(guò)發(fā)明人反復(fù)試驗(yàn)和分析之后，發(fā)現(xiàn)氣流在管道中的流動(dòng)過(guò)程有多種狀態(tài)，在氣流剛剛進(jìn)入到管道時(shí)或者氣流在管道中流動(dòng)的截面發(fā)生變化時(shí)，往往伴隨這氣體的膨脹或收縮，并且伴隨著氣體中能量的變化，在這個(gè)過(guò)程中也就導(dǎo)致氣體中的固體小顆粒分布產(chǎn)生變化，因此將第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置或第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置設(shè)在管道中的拐彎處、膨脹或緊縮處時(shí)往往會(huì)導(dǎo)致第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置或第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置的檢測(cè)結(jié)果容易產(chǎn)生較大的誤差并且測(cè)量結(jié)果不穩(wěn)定。并且發(fā)明人在將第一微電荷顆粒物以及第二微電荷顆粒物設(shè)置在直管上后進(jìn)行多次試驗(yàn)后發(fā)現(xiàn)本實(shí)用新型中所提供的位置具有更準(zhǔn)確、更穩(wěn)定的測(cè)量結(jié)果。
[0022]同時(shí)在上述結(jié)構(gòu)中，本實(shí)用新型中，將所述的第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置設(shè)置在于氣固分離裝置相連接的管道上，可以有效避免檢測(cè)裝置在氣固分離裝置中對(duì)氣固分離裝置的工作造成影響，也能使檢測(cè)裝置的安裝、拆卸以及檢修變得更加方便。
[0023]進(jìn)一步的是，所述第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置均采用在粉塵含量為〇.〇 lmg/Nm3至1000mg/Nm3的范圍內(nèi)測(cè)量精度高于0.05mg/Nm3的微電荷顆粒物檢測(cè)裝置。[〇〇24]其中優(yōu)選的是，所述第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置均采用在粉塵含量為〇.〇〇lmg/Nm3至10000mg/Nm3的范圍內(nèi)測(cè)量精度高于0.01mg/Nm3的微電荷顆粒物檢測(cè)裝置。
[0025]在上述結(jié)構(gòu)上，將所述的第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置和/或第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置設(shè)置在于氣固分離裝置相連接的管道上，可以有效避免檢測(cè)裝置在氣固分離裝置中對(duì)氣固分離裝置的工作造成影響，也能使檢測(cè)裝置的安裝、拆卸以及檢修變得更加方便。在上述系統(tǒng)的基礎(chǔ)上，所述第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置同時(shí)連接信號(hào)處理裝置的輸入端。
[0026]下面結(jié)合說(shuō)明書(shū)附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型中的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)作進(jìn)一步的描述和說(shuō)明?！靖綀D說(shuō)明】

[0027]圖1為本實(shí)用新型中的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。[〇〇28]圖2為檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。[〇〇29]其中，在說(shuō)明書(shū)附圖中，各編號(hào)與結(jié)構(gòu)的對(duì)應(yīng)關(guān)系依次為:3為氣固分離裝置，401 為第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置，402為第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置，51為進(jìn)氣直管，52為排氣直管，6為信號(hào)處理裝置，7為信號(hào)線?！揪唧w實(shí)施方式】
[0030]本實(shí)施例中的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)如圖1和圖2所示，其中包括有對(duì)氣體實(shí)現(xiàn)氣固分離的氣固分離裝置3,本實(shí)施例中的氣固分離裝置3所采用的為一種過(guò)濾裝置。其中該過(guò)濾裝置中包括腔體結(jié)構(gòu)和位于腔體結(jié)構(gòu)中的過(guò)濾元件，過(guò)濾元件將腔體結(jié)構(gòu)分隔為原氣腔和凈氣腔，進(jìn)氣腔和原氣腔分別連接有管道。其中原氣腔連接有進(jìn)氣直管51，凈氣腔連接有排氣直管52。所述的原氣腔和進(jìn)氣直管51統(tǒng)稱為氣固分離裝置3的進(jìn)氣側(cè)，凈氣腔和排氣直管52統(tǒng)稱為氣固分離裝置3的排氣側(cè)。所述測(cè)量系統(tǒng)中設(shè)置有第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置402。
[0031]其中所述的第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401位于氣固分離裝置3的待過(guò)濾氣體進(jìn)氣側(cè)上的進(jìn)氣直管51上;第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置402位于氣固分離裝置3的已過(guò)濾氣體排氣側(cè)的排氣直管52上。其中所述第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401位于與氣固分離裝置3的待過(guò)濾氣體進(jìn)氣側(cè)連接的進(jìn)氣直管51上，該進(jìn)氣直管51上游的氣流擾動(dòng)處與第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401的距離多該進(jìn)氣直管51的2倍直徑，該進(jìn)氣直管51下游的氣流擾動(dòng)處與第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401的距離多該進(jìn)氣直管51的0.5倍直徑。
[0032]本實(shí)施例中的氣流擾動(dòng)處指的是管道的拐彎處、膨脹處或緊縮處。[〇〇33]在上述結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置402通過(guò)信號(hào)線7同時(shí)連接信號(hào)處理裝置6的輸入端，所述的信號(hào)處理裝置6將第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401所檢測(cè)的結(jié)果與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置402所檢測(cè)的結(jié)果進(jìn)行對(duì)比，可以得到兩個(gè)檢測(cè)結(jié)果之間的差值。[〇〇34]并且在上述結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例中的過(guò)濾裝置包括由膨體聚四氟乙烯過(guò)濾薄膜所構(gòu)成的過(guò)濾件，其中所述的膨體聚四氟乙烯過(guò)濾薄膜的孔密度為5X108個(gè)/cm2至30X 108個(gè)/cm2,對(duì)待過(guò)濾氣體中粒徑彡0.5wii的粉塵的去除率在99%以上，也能具有較高的透氣率。這是一種現(xiàn)有技術(shù)中所公開(kāi)的過(guò)濾材料。
[0035]在本實(shí)施例中的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)行一段時(shí)間后，比較第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401所檢測(cè)的結(jié)果與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置402所檢測(cè)的結(jié)果之間的差值關(guān)系，并且利用上述的包括有膨體聚四氟乙烯過(guò)濾薄膜的過(guò)濾裝置對(duì)這段時(shí)間內(nèi)第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置402之間變化的固體小顆粒進(jìn)行攔截并且計(jì)量，根據(jù)上述的檢測(cè)結(jié)果之間的差值關(guān)系和上述的被攔截的固體小顆粒之間的關(guān)系， 得出第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置402之間檢測(cè)數(shù)據(jù)的差值與兩者之間變化的固體小顆粒之間的關(guān)系，從而可以根據(jù)第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置 401與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置402之間檢測(cè)數(shù)據(jù)讀數(shù)之間的關(guān)系更加直觀地判斷出氣固分離裝置3的待過(guò)濾氣體進(jìn)氣側(cè)和已過(guò)濾氣體的排氣側(cè)之間的固體小顆粒變化量，從而更加直觀地得到出氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量結(jié)果。[〇〇36]其中，本實(shí)施例中的第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置402的信號(hào)輸出端同時(shí)連接信號(hào)處理裝置6的信號(hào)輸入端。通過(guò)信號(hào)處理裝置6將第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置401的檢測(cè)結(jié)果與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置402的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行運(yùn)算分析，從而測(cè)量出氣固分離裝置3的氣固分離效率。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)，包括有氣固分離裝置(3)，其特征在于:所述氣固分離裝置 (3)的待過(guò)濾氣體進(jìn)氣側(cè)設(shè)有第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置(401)，所述氣固分離裝置(3)的 已過(guò)濾氣體排氣側(cè)設(shè)有第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置(402);所述第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝 置(401)位于與氣固分離裝置(3)的待過(guò)濾氣體進(jìn)氣側(cè)連接的進(jìn)氣直管(51)上，該進(jìn)氣直管 (51)上游的氣流擾動(dòng)處與第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置(401)的距離多該進(jìn)氣直管(51)的2 倍直徑，該進(jìn)氣直管(51)下游的氣流擾動(dòng)處與第一微電荷顆粒物檢測(cè)裝置(401)的距離多 該進(jìn)氣直管(51)的0.5倍直徑;所述第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置(402)位于與氣固分離裝置 (3)的待過(guò)濾氣體排氣側(cè)連接的排氣直管(52)上，該排氣直管(52)上游的氣流擾動(dòng)處與第 二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置(402)的距離多該排氣直管(52)的2倍直徑，該排氣直管(52)下游 的氣流擾動(dòng)處與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置(402)的距離多該排氣直管(52)的0.5倍直徑。2.如權(quán)利要求1所述的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于:所述進(jìn)氣直管(51)上游的 氣流擾動(dòng)處以及進(jìn)氣直管(51)下游的氣流擾動(dòng)處均指管道的拐彎處、膨脹處或緊縮處。3.如權(quán)利要求1所述的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于:所述排氣直管(52)上游的 氣流擾動(dòng)處以及排氣直管(52)下游的氣流擾動(dòng)處均指管道的拐彎處、膨脹處或緊縮處。4.如權(quán)利要求1所述的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于:所述第一微電荷顆粒物檢 測(cè)裝置(401)和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置(402)均采用在粉塵含量為0.01mg/Nm3至 1000mg/Nm3的范圍內(nèi)測(cè)量精度高于0.05mg/Nm3的微電荷顆粒物檢測(cè)裝置。5.如權(quán)利要求4所述的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于:所述第一微電荷顆粒物檢 測(cè)裝置(401)和第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置(402)均采用在粉塵含量為0.001mg/Nm3至 10000mg/Nm3的范圍內(nèi)測(cè)量精度高于0.01mg/Nm3的微電荷顆粒物檢測(cè)裝置。6.如權(quán)利要求1?5任一項(xiàng)所述的氣固分離效率測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于:所述第一微電 荷顆粒物檢測(cè)裝置(401)與第二微電荷顆粒物檢測(cè)裝置(402)同時(shí)連接信號(hào)處理裝置(6)的 輸入端。
【文檔編號(hào)】G01N15/06GK205719879SQ201620333465
【公開(kāi)日】2016年11月23日
【申請(qǐng)日】2016年4月19日
【發(fā)明人】譚險(xiǎn)峰
【申請(qǐng)人】成都瑞柯林工程技術(shù)有限公司