專利名稱:一種基于cpci計(jì)算機(jī)的平臺(tái)單元測(cè)試儀的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種基于CPCI計(jì)算機(jī)的平臺(tái)單元測(cè)試儀,包括機(jī)箱、輸入輸出設(shè)備、控制計(jì)算機(jī)、測(cè)控設(shè)備、電源;機(jī)箱包括上下堆疊的上機(jī)箱和下機(jī)箱,上機(jī)箱和下機(jī)箱均為11U減震機(jī)箱,內(nèi)部框架均符合標(biāo)準(zhǔn)19英寸設(shè)備上架要求;測(cè)控設(shè)備包括平臺(tái)測(cè)控裝置和絕緣通路測(cè)試儀;輸入輸出裝置包括KVM切換器和打印機(jī);控制計(jì)算機(jī)為CompactPCI計(jì)算機(jī)架構(gòu),電源包括精密組合電源和28V直流穩(wěn)壓電源。本實(shí)用新型通過電路的集成和整合減少了電路模件數(shù)量和測(cè)試機(jī)箱物理體積,采用CompactPCI計(jì)算機(jī)架構(gòu)和插箱結(jié)構(gòu)提高測(cè)試系統(tǒng)美觀度和可靠性,解決了平臺(tái)系統(tǒng)的自動(dòng)化單元測(cè)試和通用全兼容測(cè)試問題。
【專利說明】
一種基于CPC I計(jì)算機(jī)的平臺(tái)單元測(cè)試儀
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型用于地面自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域,用于慣性平臺(tái)系統(tǒng)的生產(chǎn)調(diào)試、單元測(cè)試。 【背景技術(shù)】
[0002]平臺(tái)單元測(cè)試儀用于平臺(tái)系統(tǒng)的生產(chǎn)調(diào)試、單元測(cè)試。測(cè)試設(shè)備往往采用商業(yè)化的計(jì)算機(jī)、通用儀器或模塊來搭建測(cè)試系統(tǒng),由于軍用裝備的研制和定型周期較長,系統(tǒng)維護(hù)和支持的周期通常在10?20年以上,而商用計(jì)算機(jī)和通用儀器的更新?lián)Q代周期僅為2?5 年,當(dāng)商用儀器和計(jì)算機(jī)在軍用裝備中大規(guī)模使用時(shí),對(duì)軍用已定型測(cè)試設(shè)備的維護(hù)和支持成為軍方用戶和生產(chǎn)廠家的重大挑戰(zhàn)。由于測(cè)試軟件基于特定硬件開發(fā),一旦硬件發(fā)生變化,其軟件接口的維護(hù)、支持和更新工作量巨大。因此為了滿足測(cè)試設(shè)備的保障性需求, 迫切需要研制一種模塊化、標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)控系統(tǒng),減少測(cè)試軟件對(duì)硬件的依賴性。同時(shí)為滿足部隊(duì)測(cè)試便捷,簡(jiǎn)化操作、縮短測(cè)試時(shí)間、測(cè)試設(shè)備通用化、運(yùn)輸方便可靠等需求,平臺(tái)單元測(cè)試儀需要進(jìn)行小型化、集成化、模塊化、標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì),減小測(cè)試設(shè)備數(shù)量和體積,優(yōu)化單元測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試流程,提高自動(dòng)化測(cè)試程度。
[0003]本實(shí)用新型通過多項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)創(chuàng)新,可以實(shí)現(xiàn)平臺(tái)系統(tǒng)的全兼容測(cè)試,并具有自檢和標(biāo)校的功能,自動(dòng)化程度高,耗時(shí)短、使用方便、靈活,代表了國內(nèi)外測(cè)試設(shè)備通用化、 自動(dòng)化,智能化的發(fā)展趨勢(shì)?!緦?shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型目的是提供一種基于CPCI計(jì)算機(jī)的平臺(tái)單元測(cè)試儀,其主要解決了平臺(tái)系統(tǒng)的自動(dòng)化單元測(cè)試和通用全兼容測(cè)試問題。
[0005]本實(shí)用新型的技術(shù)解決方案是:
[0006]—種基于CPCI計(jì)算機(jī)的平臺(tái)單元測(cè)試儀,包括機(jī)箱、輸入輸出設(shè)備、控制計(jì)算機(jī)、 測(cè)控設(shè)備、電源;其特殊之處是,所述機(jī)箱包括上下堆疊的上機(jī)箱和下機(jī)箱,所述上機(jī)箱和下機(jī)箱均為11U減震機(jī)箱,內(nèi)部框架均符合標(biāo)準(zhǔn)19英寸設(shè)備上架要求;所述下機(jī)箱底部裝有腳輪;所述測(cè)控設(shè)備包括平臺(tái)測(cè)控裝置和絕緣通路測(cè)試儀;所述平臺(tái)測(cè)控裝置設(shè)置在上機(jī)箱上層,高度為4U;所述絕緣通路測(cè)試儀設(shè)置在下機(jī)箱上層,高度為4U;所述輸入輸出裝置包括KVM切換器和打印機(jī);所述KVM切換器設(shè)置在上機(jī)箱下層,高度2U;所述打印機(jī)設(shè)置于機(jī)箱外;所述控制計(jì)算機(jī)為CompactPCI計(jì)算機(jī)架構(gòu),設(shè)置在上機(jī)箱中層,高度4U;所述電源包括精密組合電源和28V直流穩(wěn)壓電源;所述精密組合電源設(shè)置在下機(jī)箱中層,高度4U;所述 28V直流穩(wěn)壓電源設(shè)置在下機(jī)箱下層,高度2U。
[0007]上述控制計(jì)算機(jī)的數(shù)字表卡、64通道I/O卡1、64通道I/O卡2、三通道可逆計(jì)數(shù)器、 通訊測(cè)試電路、框架角轉(zhuǎn)換與測(cè)量模件、高速串行通訊卡分別與平臺(tái)測(cè)控裝置連接;所述控制計(jì)算機(jī)通過USB接口與打印機(jī)連接;所述控制計(jì)算機(jī)通過VGA接口與KVM切換器連接;所述控制計(jì)算機(jī)的數(shù)字表卡與絕緣通路測(cè)試儀的測(cè)量口連接;所述控制計(jì)算機(jī)的64通道I/O卡3 與平臺(tái)測(cè)控裝置的控制口連接;所述精密組合電源向平臺(tái)測(cè)控裝置供電;所述28V直流穩(wěn)壓電源分別向平臺(tái)測(cè)控裝置和絕緣通路測(cè)試儀供電;所述平臺(tái)測(cè)控裝置在測(cè)試時(shí)通過電纜分別與加速度模數(shù)轉(zhuǎn)換裝置和三軸液浮陀螺連接;所述絕緣通路測(cè)試儀在測(cè)試時(shí)通過電纜分別與加速度模數(shù)轉(zhuǎn)換裝置和三軸液浮陀螺連接。
[0008]上述下機(jī)箱底部為可拆卸腳輪。
[0009]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn):
[0010]1、本實(shí)用新型采用虛擬儀器板卡減少了測(cè)試設(shè)備數(shù)量,通過系統(tǒng)集成將平臺(tái)測(cè)試電源縮減到6U機(jī)架高度,通過電路的集成和整合減少了電路模件數(shù)量和測(cè)試機(jī)箱物理體積。
[0011]2、本實(shí)用新型采用CompactPCI計(jì)算機(jī)架構(gòu)和插箱結(jié)構(gòu)提高測(cè)試系統(tǒng)美觀度和可靠性。
[0012]3、本實(shí)用新型通過系統(tǒng)集成將檢定設(shè)備集成到平臺(tái)測(cè)控裝置中,采用移動(dòng)減震測(cè)試機(jī)箱方便測(cè)試設(shè)備的展開和回收,提高了測(cè)試設(shè)備的運(yùn)輸可靠性。
[0013]4、本實(shí)用新型通過優(yōu)化單元測(cè)試項(xiàng)目與測(cè)試流程縮短了測(cè)試時(shí)間。[〇〇14]因此,平臺(tái)系統(tǒng)單元儀具有輕小便捷、美觀大方、維護(hù)方便、可靠性高、自動(dòng)化程度高、集成度高等優(yōu)點(diǎn),可以滿足平臺(tái)系統(tǒng)的測(cè)試需求使用需求?!靖綀D說明】
[0015]圖1為平臺(tái)單元測(cè)試儀連接關(guān)系示意圖。
[0016]圖2為單元測(cè)試原理框圖。[〇〇17]圖3為絕緣通路測(cè)試原理框圖?!揪唧w實(shí)施方式】
[0018]平臺(tái)單元測(cè)試儀的關(guān)鍵技術(shù)包括CPCI計(jì)算機(jī)平臺(tái)及虛擬儀器測(cè)試技術(shù),檢定設(shè)備集成化技術(shù),19英寸上架4U插箱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),自動(dòng)化單元測(cè)試軟件設(shè)計(jì)技術(shù)。
[0019]【具體實(shí)施方式】如下:
[0020]平臺(tái)單元測(cè)試儀由平臺(tái)測(cè)控裝置、絕緣通路測(cè)試儀、控制計(jì)算機(jī)、28V直流穩(wěn)壓電源、精密組合電源、打印機(jī)、測(cè)試電纜及軟件產(chǎn)品組成。
[0021]平臺(tái)系統(tǒng)單元測(cè)試設(shè)備采用移動(dòng)減震機(jī)箱作為測(cè)試設(shè)備的安裝機(jī)架,并兼做包裝箱使用。移動(dòng)減震機(jī)箱移動(dòng)方便,減震效果好,具備抗機(jī)械結(jié)構(gòu)振動(dòng)特性和耐氣候特性,具有很高的強(qiáng)度和硬度,可以使柜內(nèi)的貴重電子設(shè)備得到更加安全的防護(hù)。內(nèi)部框架符合標(biāo)準(zhǔn)19英寸設(shè)備上架要求,支持精確堆疊。平臺(tái)系統(tǒng)單元測(cè)試設(shè)備采用2個(gè)11U移動(dòng)減震機(jī)箱通過上下堆疊實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)級(jí)設(shè)備安裝聯(lián)調(diào),平臺(tái)系統(tǒng)地面測(cè)試設(shè)備機(jī)柜示意圖參見圖1。上機(jī)箱為控制與測(cè)試機(jī)柜,放置控制計(jì)算機(jī)(高度4U)和平臺(tái)測(cè)控裝置(高度4U),為了節(jié)約空間、 減小設(shè)備體積,鍵盤/顯示器八鼠標(biāo)使用標(biāo)準(zhǔn)機(jī)架結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的抽取式KVM。下機(jī)箱為電源機(jī)柜,放置一個(gè)28V直流穩(wěn)壓電源(高度2U )、1個(gè)精密組合電源(高度4U)以及平臺(tái)系統(tǒng)絕緣通路測(cè)試儀(高度4U),底部安裝可拆卸腳輪,方便設(shè)備移動(dòng)和固定。
[0022]在平臺(tái)單元測(cè)試中,平臺(tái)單元測(cè)試儀完成平臺(tái)系統(tǒng)的供電、狀態(tài)監(jiān)測(cè)、狀態(tài)控制和狀態(tài)轉(zhuǎn)換;完成平臺(tái)系統(tǒng)的各項(xiàng)功能檢查;完成對(duì)平臺(tái)系統(tǒng)的參數(shù)標(biāo)定、對(duì)準(zhǔn)和導(dǎo)航;建立數(shù)據(jù)管理文件,把測(cè)試過程以及各項(xiàng)測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)記錄下來,便于在線或離線查看、打印。在平臺(tái)系統(tǒng)的生產(chǎn)和調(diào)試過程中,平臺(tái)單元測(cè)試設(shè)備除完成以上功能外,能夠在人工參與的情況下,對(duì)平臺(tái)系統(tǒng)的任意測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行單步控制、調(diào)試與測(cè)試。
[0023]在平臺(tái)單元測(cè)試中,平臺(tái)絕緣通路測(cè)試儀主要完成平臺(tái)系統(tǒng)的通路電阻、絕緣性能測(cè)試。絕緣通路測(cè)試儀與平臺(tái)單元測(cè)試儀共用控制計(jì)算機(jī)及控制計(jì)算機(jī)內(nèi)的開關(guān)量輸入輸出板、數(shù)字表卡,控制計(jì)算機(jī)通過開關(guān)量輸入輸出板控制并驅(qū)動(dòng)絕緣通路電阻測(cè)試儀本體內(nèi)的繼電器陣列進(jìn)行吸合與釋放動(dòng)作,將相應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)引入到測(cè)量端,然后通過數(shù)字表卡測(cè)量電阻阻值得到通路測(cè)試的測(cè)試結(jié)果;通過繼電器陣列對(duì)相應(yīng)測(cè)試點(diǎn)施加高壓,通過絕緣判別電路得到絕緣性測(cè)試的測(cè)試結(jié)果。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于CPCI計(jì)算機(jī)的平臺(tái)單元測(cè)試儀,包括機(jī)箱、輸入輸出設(shè)備、控制計(jì)算機(jī)、測(cè) 控設(shè)備、電源;其特征在于:所述機(jī)箱包括上下堆疊的上機(jī)箱和下機(jī)箱,所述上機(jī)箱和下機(jī) 箱均為11U減震機(jī)箱,內(nèi)部框架均符合標(biāo)準(zhǔn)19英寸設(shè)備上架要求;所述下機(jī)箱底部裝有腳 輪;所述測(cè)控設(shè)備包括平臺(tái)測(cè)控裝置和絕緣通路測(cè)試儀;所述平臺(tái)測(cè)控裝置設(shè)置在上機(jī)箱 上層,高度為4U;所述絕緣通路測(cè)試儀設(shè)置在下機(jī)箱上層,高度為4U;所述輸入輸出裝置包 括KVM切換器和打印機(jī);所述KVM切換器設(shè)置在上機(jī)箱下層,高度2U;所述打印機(jī)設(shè)置于機(jī)箱 夕卜;所述控制計(jì)算機(jī)為CompactPCI計(jì)算機(jī)架構(gòu),設(shè)置在上機(jī)箱中層,高度4U;所述電源包括 精密組合電源和28V直流穩(wěn)壓電源;所述精密組合電源設(shè)置在下機(jī)箱中層,高度4U;所述28V 直流穩(wěn)壓電源設(shè)置在下機(jī)箱下層,高度2U。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于CPCI計(jì)算機(jī)的平臺(tái)單元測(cè)試儀,其特征在于:所述控制計(jì) 算機(jī)的數(shù)字表卡、64通道I/O卡1、64通道I/O卡2、三通道可逆計(jì)數(shù)器、通訊測(cè)試電路、框架角 轉(zhuǎn)換與測(cè)量模件、高速串行通訊卡分別與平臺(tái)測(cè)控裝置連接;所述控制計(jì)算機(jī)通過USB接口 與打印機(jī)連接;所述控制計(jì)算機(jī)通過VGA接口與KVM切換器連接;所述控制計(jì)算機(jī)的數(shù)字表 卡與絕緣通路測(cè)試儀的測(cè)量口連接;所述控制計(jì)算機(jī)的64通道I/O卡3與平臺(tái)測(cè)控裝置的控 制口連接;所述精密組合電源向平臺(tái)測(cè)控裝置供電;所述28V直流穩(wěn)壓電源分別向平臺(tái)測(cè)控 裝置和絕緣通路測(cè)試儀供電;所述平臺(tái)測(cè)控裝置在測(cè)試時(shí)通過電纜分別與加速度模數(shù)轉(zhuǎn)換 裝置和三軸液浮陀螺連接;所述絕緣通路測(cè)試儀在測(cè)試時(shí)通過電纜分別與加速度模數(shù)轉(zhuǎn)換 裝置和三軸液浮陀螺連接。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于CPCI計(jì)算機(jī)的平臺(tái)單元測(cè)試儀,其特征在于:所述下 機(jī)箱底部為可拆卸腳輪。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK205720472SQ201620389127
【公開日】2016年11月23日
【申請(qǐng)日】2016年4月29日
【發(fā)明人】單鑫偉, 陳偉, 郭勇, 莫小華, 馮暉
【申請(qǐng)人】西安航天精密機(jī)電研究所