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      電子虛擬樣板非球面檢測方法

      文檔序號:6025473閱讀:196來源:國知局
      專利名稱:電子虛擬樣板非球面檢測方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明屬于先進(jìn)光學(xué)制造與檢測技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種檢測光學(xué)非球面反射元件的新方法。
      背景技術(shù)
      光學(xué)非球面元件表面面形最通用的測量方法是干涉檢測技術(shù),在該項(xiàng)技術(shù)當(dāng)中,零位補(bǔ)償干涉檢測技術(shù)廣泛應(yīng)用于非球面拋光階段的面形測量,所謂的零位補(bǔ)償法即設(shè)計(jì)一種帶有特定波象差的光學(xué)系統(tǒng)(稱之為零位補(bǔ)償器),其中的零位補(bǔ)償器的設(shè)計(jì)是基于理想非球面的,檢驗(yàn)光束經(jīng)由數(shù)字波面干涉儀出射至補(bǔ)償器,光束經(jīng)過補(bǔ)償器再經(jīng)被檢驗(yàn)非球面反射,再次經(jīng)過補(bǔ)償器后回到干涉儀,此時(shí)包含有被檢驗(yàn)非球面面形誤差信息的檢驗(yàn)光與參考光相互干涉形成干涉條紋,對干涉條紋進(jìn)行分析、處理即可得到被檢驗(yàn)非球面的面形誤差。
      簡言之,即通過補(bǔ)償器的波面補(bǔ)償作用,將平面波前或者球面波前變成與被檢驗(yàn)非球面的理想面形相一致的波前,以此波前與被檢驗(yàn)波前進(jìn)行比較,并通過數(shù)字干涉技術(shù)觀察二者之間的差異,從而確定被檢驗(yàn)非球面元件的面形。
      但是此類零位補(bǔ)償干涉檢測方法具有一定的缺點(diǎn),具體表現(xiàn)在針對于不同面形的非球面元件,需要設(shè)計(jì)不同的零位補(bǔ)償器,同時(shí)為了獲得高精度的測量結(jié)果,要求在設(shè)計(jì)補(bǔ)償器時(shí),一方面使之能夠很好地校正非球面波前,使殘余誤差最小,另一方面要求補(bǔ)償元件的厚度、曲率半徑、空氣間隔、同心度等公差分配合理。如此一來,補(bǔ)償系統(tǒng)的誤差極易產(chǎn)生不正確的成像而導(dǎo)致衍射環(huán)的出現(xiàn),并由于補(bǔ)償器中某些元件的反射光與參考光發(fā)生相互干涉,從而在像面上出現(xiàn)一些偽干涉條紋,由于這些偽條紋與檢驗(yàn)光同時(shí)發(fā)生位相移動,因此其對檢驗(yàn)結(jié)果影響很大。此外,在考慮環(huán)境因素的影響時(shí),如空氣湍流、震動、電壓波動等不但使測量數(shù)據(jù)的采集十分困難,同時(shí)將引入隨機(jī)誤差。這是由于此類相位測量技術(shù)在實(shí)際應(yīng)用中,其相移裝置自身精度的影響較大,較典型的相移裝置采用壓電陶瓷晶體(PZT),其工作原理是將PZT粘貼于標(biāo)準(zhǔn)反射鏡后,利用施加于其上的直流電壓產(chǎn)生微小位移,移動標(biāo)準(zhǔn)反射鏡從而實(shí)現(xiàn)改變光程并達(dá)到改變參考光相位的目的。該裝置的缺點(diǎn)在于光線與反射鏡表面法線夾角1°的角度偏差將產(chǎn)生1%的相移誤差,同時(shí),由于需要高的電壓源以及其電壓——位移非線性而難以獲得高的測量精度且不易于應(yīng)用。如圖1所示的就是一個(gè)傳統(tǒng)的零位補(bǔ)償干涉檢驗(yàn)裝置,包括有數(shù)字波面干涉儀1、零位補(bǔ)償器2和被檢驗(yàn)非球面3。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的目的是為了解決傳統(tǒng)非球面零位補(bǔ)償干涉檢驗(yàn)技術(shù)中存在針對不同面形非球面需要設(shè)計(jì)不同的零位補(bǔ)償器,同時(shí)零位補(bǔ)償器的制造精度及裝配精度難于實(shí)現(xiàn)、測量受諸多因素影響等不足,提供一種不需要設(shè)計(jì)專門的補(bǔ)償器及相移裝置就可對非球面面形進(jìn)行檢測的電子虛擬樣板檢測方法。
      為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種電子虛擬樣板非球面檢測方法,該方法首先利用數(shù)字波面干涉儀直接檢測被檢驗(yàn)非球面得到實(shí)際條紋一維印板,其特征在于該方法還包括如下后續(xù)步驟使所述實(shí)際條紋一維印板與一個(gè)高分辨率CCD攝像頭的發(fā)射光束同光軸且平行對焦;將所述高分辨率CCD攝像頭拍攝到的實(shí)際條紋一維印板的信息通過圖像采集卡實(shí)時(shí)傳輸至計(jì)算機(jī),并存儲起來;利用計(jì)算機(jī)中的程序依次進(jìn)行如下處理1)利用數(shù)字相移技術(shù)進(jìn)行疊柵處理,即模擬出理想非球面的三幅等位相差面形光柵作為參考光柵,存儲于計(jì)算機(jī)中;將存儲于計(jì)算機(jī)中的由圖像采集卡獲取的實(shí)際條紋一維印板的信息光柵與所述的參考光柵分別進(jìn)行實(shí)時(shí)同步放大、疊柵處理,產(chǎn)生三幅數(shù)字相移電子疊柵條紋;2)對所述疊柵條紋進(jìn)行中值濾波處理,即以疊柵條紋局部域灰度的中位數(shù)作為濾波器的輸出灰度,復(fù)現(xiàn)圖像原有的清晰輪廓;3)對濾波處理后的疊柵條紋進(jìn)行位相計(jì)算,包括減法運(yùn)算及模數(shù)轉(zhuǎn)換,然后對所述疊柵條紋進(jìn)行波前重構(gòu),獲得被檢測面的真實(shí)面形條紋。
      所述的利用數(shù)字相移技術(shù)進(jìn)行疊柵處理是以理論條紋光強(qiáng)分布作為特征量,提取理想非球面在等位相差處的三幅灰度圖像作為參考光柵。
      本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于檢驗(yàn)非球面時(shí),不需要針對不同的非球面元件設(shè)計(jì)專用的補(bǔ)償器,從而避免任何由于補(bǔ)償器制造及裝配誤差引入的檢驗(yàn)光束波前的變化,進(jìn)而消除由于不正確成像而導(dǎo)致嚴(yán)重影響測量結(jié)果的衍射環(huán)的出現(xiàn)。在考慮環(huán)境因素的影響時(shí),如空氣湍流、震動等,本發(fā)明所述方法受擾動小、分析結(jié)果重復(fù)精度高。本發(fā)明所述的電子虛擬樣板非球面檢測方法與CCD攝像頭的分辨率密切相關(guān),由于近年來高分辨率CCD攝像頭的不斷進(jìn)展,因此本發(fā)明提供的全新的非球面檢驗(yàn)方法具有更加廣泛的實(shí)際推廣應(yīng)用前景。


      圖1為現(xiàn)有技術(shù)的零位補(bǔ)償干涉檢驗(yàn)裝置示意圖。
      圖2為直接利用數(shù)字波面干涉儀獲得被檢驗(yàn)非球面實(shí)際條紋一維印板的裝置示意圖。
      圖3為實(shí)施本發(fā)明所述方法的裝置的示意圖。
      圖4為本發(fā)明所述方法的工作流程概念框圖。
      圖5為本發(fā)明的疊柵條紋中值濾波處理流程圖。
      圖6a、6b為本發(fā)明的波前重構(gòu)過程示意圖。
      1為數(shù)字波面干涉儀,2為零位補(bǔ)償器,3為被檢驗(yàn)非球面,4為實(shí)際條紋一維印板,5為高分辨率CCD攝像頭,6為圖像采集卡,7為計(jì)算機(jī),8為疊柵處理程序模塊,9為中值濾波處理程序模塊,10為位相計(jì)算程序模塊,11為波前重構(gòu)程序模塊。
      具體實(shí)施例方式
      下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步說明如圖2所示,首先直接利用數(shù)字波面干涉儀獲得被檢驗(yàn)非球面面形實(shí)際條紋一維印板。裝置主要包括有數(shù)字波面干涉儀1和被檢驗(yàn)非球面3。
      如圖3所示,將利用數(shù)字波面干涉儀直接測得的被檢驗(yàn)非球面實(shí)際條紋一維印板4裝卡于一夾具上,并借助于一具有五維自由度的調(diào)整平臺將固定于其上的高分辨率CCD攝像頭5的發(fā)射光束調(diào)整得與實(shí)際條紋一維印板4同光軸且平行對焦;將圖像采集卡6直接插接于計(jì)算機(jī)主板上的PCI插槽,并通過數(shù)據(jù)線與高分辨率CCD攝像頭5實(shí)時(shí)連接;啟動裝置,程序初始化后,按照圖4所示流程處理,即用高分辨率CCD攝像頭5拍攝實(shí)際條紋一維印板4并將信息實(shí)時(shí)傳輸至圖像采集卡6后存儲于計(jì)算機(jī)硬盤中;利用數(shù)字相移技術(shù)模擬出理想非球面的面形光柵,作為參考光柵,具體而言是以條紋光強(qiáng)分布作為特征量,提取出理想非球面在等位相差(位相差為π/2)處的三幅灰度圖像,并存儲于計(jì)算機(jī)的幀存儲器中;首先執(zhí)行疊柵處理程序模塊8,即將存儲于計(jì)算機(jī)硬盤中的由圖像采集卡6獲取的實(shí)際條紋一維印板4的信息光柵與三幅等位相差參考光柵分別實(shí)時(shí)同步放大、疊柵處理,從而產(chǎn)生出三幅數(shù)字相移電子疊柵條紋;由于圖像的傳輸、轉(zhuǎn)換以及疊加將會造成像質(zhì)下降,并表現(xiàn)為電子疊柵條紋中的高頻噪聲成份,其特點(diǎn)常呈現(xiàn)孤立離散性分布,并與領(lǐng)域像素有較明顯差異,因此,為了能夠正確地對疊柵條紋進(jìn)行判讀,需要對疊柵條紋執(zhí)行中值濾波處理程序模塊9,其處理思想是局部域灰度的中位數(shù)作為濾波器的輸出灰度,信號中值為按信號大小順序排列后的中間值,用一個(gè)有奇數(shù)點(diǎn)的滑動窗口,并將窗口中心點(diǎn)的值用窗口內(nèi)的各點(diǎn)中值代替,按照圖5中所示的流程執(zhí)行濾波,首先選擇一個(gè)(2n+1)×(2n+1)的窗口,自然數(shù)n的取值范圍為
      ,這里n取2,即用5×5的窗口沿圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行列或行方向移位滑動,每次移位后,對窗口中心位置進(jìn)行重新排序,用排序所得到的中值代替窗口中心位置的原始像素灰度值,執(zhí)行判斷并循環(huán),直至復(fù)現(xiàn)圖像原有的清晰輪廓;隨后,執(zhí)行位相計(jì)算程序模塊10,即通過對疊柵條紋的減法運(yùn)算及模數(shù)轉(zhuǎn)換進(jìn)行數(shù)字化,實(shí)現(xiàn)位相計(jì)算并在讀存儲器解碼地址內(nèi)查詢獲得后,就可對數(shù)字相移疊柵條紋進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,但是由于位相差是光強(qiáng)反正切形式,將引起位相不連續(xù),且其計(jì)算結(jié)果僅局限于第三、四象限上,即[-π/2,π/2],縮小了位相取值范圍,使得到的光程差不超過半個(gè)波長。對于上述問題,本發(fā)明的解決辦法是利用波前重構(gòu)程序模塊11,首先執(zhí)行圖6a所示的波前位相模2π處理,將位相范圍延展至
      區(qū)間,具體而言是判斷疊柵條紋光強(qiáng)值的正負(fù),每當(dāng)實(shí)際位相值為2π的整數(shù)倍時(shí),計(jì)算所得值返回0,在波前重構(gòu)過程中,由于被檢測面是光滑連續(xù)的,而直接計(jì)算出的結(jié)果并沒有轉(zhuǎn)換成實(shí)際的位相值,因此繼續(xù)采取圖6b所示的一維位相展開處理,即將模2π的位相點(diǎn)轉(zhuǎn)化成能夠表征被檢測面面形的值,重構(gòu)時(shí),只要有一個(gè)大的不連續(xù)性出現(xiàn),就加上一個(gè)2π或2π的整數(shù)倍來去掉這種不連續(xù),從而獲得被檢測面的真實(shí)面形條紋。
      本發(fā)明適用于檢驗(yàn)大曲率半徑的光學(xué)非球面面形。
      權(quán)利要求
      1.電子虛擬樣板非球面檢測方法,該方法首先利用數(shù)字波面干涉儀直接檢測被檢驗(yàn)非球面得到實(shí)際條紋一維印板,其特征在于該方法還包括如下后續(xù)步驟使所述實(shí)際條紋一維印板與一個(gè)高分辨率CCD攝像頭的發(fā)射光束同光軸且平行對焦;將所述高分辨率CCD攝像頭拍攝到的實(shí)際條紋一維印板的信息通過圖像采集卡實(shí)時(shí)傳輸至計(jì)算機(jī),并存儲起來;利用計(jì)算機(jī)中的程序依次進(jìn)行如下處理1)利用數(shù)字相移技術(shù)進(jìn)行疊柵處理,即模擬出理想非球面的三幅等位相差面形光柵作為參考光柵,存儲于計(jì)算機(jī)中;將存儲于計(jì)算機(jī)中的由圖像采集卡獲取的實(shí)際條紋一維印板的信息光柵與所述的參考光柵分別進(jìn)行實(shí)時(shí)同步放大、疊柵處理,產(chǎn)生三幅數(shù)字相移電子疊柵條紋;2)對所述疊柵條紋進(jìn)行中值濾波處理,即以疊柵條紋局部域灰度的中位數(shù)作為濾波器的輸出灰度,復(fù)現(xiàn)圖像原有的清晰輪廓;3)對濾波處理后的疊柵條紋進(jìn)行位相計(jì)算,包括減法運(yùn)算及模數(shù)轉(zhuǎn)換,然后對所述疊柵條紋進(jìn)行波前重構(gòu),獲得被檢測面的真實(shí)面形條紋。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法,其特征在于所述的利用數(shù)字相移技術(shù)進(jìn)行疊柵處理是以理論條紋光強(qiáng)分布作為特征量,提取理想非球面在等位相差處的三幅灰度圖像作為參考光柵。
      全文摘要
      電子虛擬樣板非球面檢測方法,屬于先進(jìn)光學(xué)制造與檢測技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明將計(jì)算機(jī)模擬出的三幅等位相差理論非球面干涉條紋作為參考波前;將由數(shù)字波面干涉儀直接測得的被檢驗(yàn)非球面的實(shí)際條紋一維印板用高分辨率的CCD攝像頭拍攝并由圖像采集卡傳輸至計(jì)算機(jī)中;通過對實(shí)際條紋信息進(jìn)行數(shù)字疊加,獲得三幅等位相差的數(shù)字電子疊柵條紋;進(jìn)行去噪處理、位相計(jì)算后,進(jìn)行波前重構(gòu),從而獲得被檢測面連續(xù)面形條紋分布。本發(fā)明克服了傳統(tǒng)零位補(bǔ)償檢驗(yàn)中補(bǔ)償器專用性、裝調(diào)復(fù)雜、耗時(shí)、受環(huán)境因素影響大等缺點(diǎn),具有快速、準(zhǔn)確、針對性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),具有廣闊的市場前景。
      文檔編號G01N21/41GK1529151SQ20031010020
      公開日2004年9月15日 申請日期2003年10月10日 優(yōu)先權(quán)日2003年10月10日
      發(fā)明者程灝波, 馮之敬, 辛科, 王英偉 申請人:清華大學(xué)
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