專利名稱：檢測電路板的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子檢測技術(shù)，具體地說對電路板的檢測方法。
背景技術(shù)：
在電子行業(yè)對電路板生產(chǎn)檢驗過程中，為了判斷電路板是否合格，需要設(shè)置一道工序檢驗電路板某幾個測試點在上電、斷電時的邏輯電平(高、低電平兩種狀態(tài))及后來的邏輯電平變化和各點變化的先后次序(對先后的時間差精度要求并不很高)。這道工序往往用多個指示燈顯示被測點的狀態(tài)，靠人眼觀察燈的狀態(tài)變化、及各個燈變化次序(即時序)。這種靠人眼觀察的方法很容易出現(xiàn)主觀誤判。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是靠微處理器監(jiān)測整個過程，最終輸出是否合格的結(jié)果，以避免人為誤判現(xiàn)象。
實現(xiàn)上述目的的技術(shù)方案一種檢測電路板的方法，包括如下步驟1)確定測試點；2)在電路板上選擇一個當電路板上電時立即出現(xiàn)高電平、斷電時立即出現(xiàn)低電平的信號點作為微處理器的基準信號接入點；3)將合格電路板上步驟1)所述的各測試點接入微處理器各引腳(P1)和將步驟2)所述信號點接入微處理器作為基準信號，通過微處理器記錄合格電路板上各測試點的如下檢測數(shù)據(jù)上電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)，掉電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)；4)將待檢測電路板上步驟1)所述的各測試點接入微處理器各引腳(P1)和將步驟2)所述信號點接入微處理器作為基準信號，通過微處理器記錄待檢測電路板上步驟1)所述各測試點的如下檢測數(shù)據(jù)步驟3)所述上電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)，步驟3)所述掉電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)；5)在步驟4)進行的過程中，同時將微處理器記錄的待檢測電路板檢測數(shù)據(jù)與步驟3)記錄的合格電路板對應(yīng)檢測數(shù)據(jù)進行比較；6)若步驟5)的比較結(jié)果不相等，則給出出錯信息；否則，繼續(xù)執(zhí)行步驟4)，待步驟5)執(zhí)行完畢，給出合格信息。
采用上述技術(shù)方案，本發(fā)明有益的技術(shù)效果在于通過用微處理器自動檢測電路板各被測點的狀態(tài)、變化并發(fā)出檢測信息，避免出現(xiàn)主觀產(chǎn)生的誤判現(xiàn)象。根據(jù)本發(fā)明制作的檢測裝置成本低廉，檢測效率高，經(jīng)濟效益明顯。


圖1是一種檢測電路板的方法的測試學(xué)習(xí)模式流程圖。
圖2是一種檢測電路板的方法的測試模式流程圖。
圖3(a)、(b)、(c)分別是上電“數(shù)據(jù)表”結(jié)構(gòu)的一種示例。
圖4是實現(xiàn)檢測電路板的方法的電路原理圖。
圖5是對應(yīng)圖3的引腳狀態(tài)變化時序圖。
具體實施例方式
結(jié)合圖1-4，一種檢測電路板的方法，包括如下步驟1)確定測試點8個；2)在電路板上選擇一個當電路板上電時立即出現(xiàn)高電平、斷電時立即出現(xiàn)低電平的信號點作為微處理器的基準信號接入點；3)將合格電路板上步驟1)所述的各測試點接入微處理器各引腳(P10-P17)，將步驟2)所述信號點接入微處理器INT0作為基準信號(NORM)；
4)上電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”存儲空間清0，對上電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”存儲單元每個字節(jié)置0FFH；5)基準信號上升沿到時，開計時器，取引腳P1檢測的測試點電位的變化狀態(tài)數(shù)據(jù)(如圖3(a)所示)，并保存在存儲器第一地址空間，還保存到存儲器第二地址空間對應(yīng)“上電時引腳狀態(tài)”存儲單元；6)檢測是否超出給定的上電學(xué)習(xí)測試等待時間5秒，若超時，則轉(zhuǎn)步驟10，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；7)取引腳P1數(shù)據(jù)，判斷是否與第一地址空間存儲數(shù)據(jù)相等，若相等則返回上一步執(zhí)行，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；8)根據(jù)不等的位找出狀態(tài)變化腳，并對該腳對應(yīng)上電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”內(nèi)存單元加1(圖3(c)所示)，叛斷是否超出2次，若超出2次，則給出出錯信息，否則，將引腳數(shù)據(jù)傳輸給第一地址空間單元(圖3(c)所示)，順序執(zhí)行；9)并在存儲器第一地址空間(根據(jù)該腳目前狀態(tài)變化次數(shù)及哪個腳變化)記錄下該引腳的上電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”(圖3(a)、(b)所示)，轉(zhuǎn)步驟6)；10)將第一地址空間存儲的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”等“數(shù)據(jù)表”保存到存儲器第二地址空間“數(shù)據(jù)表”存儲單元，發(fā)上電學(xué)習(xí)完畢提示信息；11)對掉電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”存儲空間清0，對掉電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”存儲單元每個字節(jié)置0FFH；12)當基準信號下降沿到時，開計時器，取引腳(P1)檢測的測試點電位的變化狀態(tài)數(shù)據(jù)，并分別保存到存儲器第一地址空間和存儲器第二地址空間對應(yīng)的“掉電時引腳狀態(tài)”存儲單元；13)檢測是否超出給定的5秒掉電學(xué)習(xí)測試等待時間，若超時，則轉(zhuǎn)步驟17，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；14)取引腳P1數(shù)據(jù)，判斷是否與第一地址空間存儲數(shù)據(jù)相等，若相等則返回上一步執(zhí)行，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；15)根據(jù)不等的位找出狀態(tài)變化腳，并對該腳對應(yīng)掉電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”內(nèi)存單元加1，叛斷引腳狀態(tài)變化次數(shù)是否超出2次，若超出2次，則給出出錯信息，否側(cè)將引腳數(shù)據(jù)傳輸給第一地址空間單元，繼續(xù)順序執(zhí)行；16)在存儲器第一地址空間(根據(jù)該腳目前狀態(tài)變化次數(shù)及哪個腳變化)記錄下該引腳的掉電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”，轉(zhuǎn)步驟13)；17)將第一地址空間存儲的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”等“數(shù)據(jù)表”保存到存儲器第二地址空間“數(shù)據(jù)表”存儲單元，發(fā)掉電學(xué)習(xí)完畢提示信息；18)將待檢測電路板按步驟1)所述的各測試點接入微處理器各引腳(P10-P17)，按步驟2)所述信號點接入微處理器INT0作為基準信號(NORM)；19)對上電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”存儲空間清0，對上電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”存儲單元每個字節(jié)置0FFH；20)當基準信號上升沿到時，開計時器，取引腳(P1)數(shù)據(jù)，并保存在存儲器第一地址空間，并與存儲器第二地址空間對應(yīng)“上電時引腳狀態(tài)”數(shù)據(jù)比較是否相等，若不相等，則發(fā)出出錯信息，否則順序執(zhí)行；21)檢測是否超出給定的上電測試等待時間5秒，若超時，則發(fā)出出錯信息，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；22)取引腳P1數(shù)據(jù)，判斷是否與第一地址空間存儲數(shù)據(jù)相等，若相等則返回上一步執(zhí)行，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；23)根據(jù)不等的位找出狀態(tài)變化腳，并對該腳對應(yīng)上電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”內(nèi)存單元加1，叛斷引腳狀態(tài)變化次數(shù)是否超出2次，若超出2次，則給出出錯信息，否則，將引腳數(shù)據(jù)傳輸給第一地址空間單元，順序執(zhí)行；24)在存儲器第一地址空間(根據(jù)該腳目前狀態(tài)變化次數(shù)及哪個腳變化)記錄下該引腳的上電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”；25)將存儲器第一地址空間存儲的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”與保存到存儲器第二地址空間的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”對比，若不相等，則轉(zhuǎn)步驟17)，否則，發(fā)合格提示信息，順序執(zhí)行下一步驟；26)對掉電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”存儲空間清0，對掉電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”存儲單元每個字節(jié)置0FFH；27)當基準信號下降沿到時，開計時器，取引腳(P1)檢測的測試點電位的變化狀態(tài)數(shù)據(jù)，保存到存儲器第一地址空間，并比較存儲器第一地址空間與存儲器第二地址空間對應(yīng)的“掉電時引腳狀態(tài)”存儲單元數(shù)據(jù)是否相等，若不相等，則發(fā)出出錯信息，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；28)檢測是否超出給定的掉電測試等待時間5秒，若超時，則轉(zhuǎn)步驟14，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；29)取引腳(P1)數(shù)據(jù)，判斷是否與第一地址空間存儲數(shù)據(jù)相等，若相等則返回上一步執(zhí)行，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；30)根據(jù)不等的位找出狀態(tài)變化腳，并對該腳對應(yīng)掉電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”內(nèi)存單元加1，叛斷引腳狀態(tài)變化次數(shù)是否超出2次，若超出2次，則給出出錯信息，否則，將引腳數(shù)據(jù)傳輸給第一地址空間單元，順序執(zhí)行；31)在存儲器第一地址空間(根據(jù)該腳目前狀態(tài)變化次數(shù)及哪個腳變化)記錄下該引腳的掉電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”；32)將第一地址空間存儲的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”與存儲器第二地址空間存儲的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”對比，若不相等，則轉(zhuǎn)步驟24)，否則，發(fā)合格提示信息。
在圖5中畫出了對應(yīng)于上電時圖3(a)、(b)、(c)的引腳P1.0-1.7狀態(tài)變化時序圖，下電時的“數(shù)據(jù)表”存儲結(jié)構(gòu)與之相同。
在實際中，為了進行掉電保護，存儲器第一地址空間采用內(nèi)存儲器，存儲器第二地址空間采用是外存儲器，可將合格電路板上各測試點的檢測數(shù)據(jù)存貯在外存儲器上，外存儲器優(yōu)選EEPROM存儲器，將待檢測電路板上各測試點的檢測數(shù)據(jù)存儲在內(nèi)存儲器上。
檢測電路板的裝置，如圖4所示，包括微處理器、外存儲器IC2、指示燈(D1、D2)和模式鍵SW1。IC1為微處理器，振蕩外接電路為微處理器提供時鐘，微處理器的復(fù)位電路為上電瞬間低電平復(fù)位，而后5V通過R2對C3充電，IC1的RESET腳變?yōu)楦唠娖?。IC2為使用I2C總線協(xié)議讀寫的掉電數(shù)據(jù)不丟失的EEPROM存儲器，SCL腳為時鐘總線，SDA腳為數(shù)據(jù)總線，分別接到微處理器P0.1腳和P0.0腳，通過這兩個腳完成對存儲器的讀寫，在這里用于保存數(shù)據(jù)表(見附圖3)。顯示電路部分D1為模式指示燈，D2為忙指示燈，Q3、Q4構(gòu)成兩個射隨器分別驅(qū)動D1、D2指示燈。被測信號輸入部分IN0～IN7為被監(jiān)測的邏輯電平輸入腳，NORM為基準信號輸入腳，IN0～IN7的時序是相對于NORM基準信號來說的。模式鍵SW1在按下閉合時IC1的13腳得到低電平，松開則得到高電平。發(fā)聲電路的Q1、Q2、Q3復(fù)合管構(gòu)成射隨器，驅(qū)動揚聲器SP1發(fā)出提示聲。
工作過程被測電路板各個測試點輸入到微處理器IC1的P1.0～P1.7任意腳(測試點不能超過8個)，在電路板上選擇一個當電路板上電時立即出現(xiàn)高電平、斷電時立即出現(xiàn)低電平的信號點作為微處理器的基準信號接入點接微處理器IC1的輸入腳IN0。按模式鍵進入學(xué)習(xí)模式，對合格的電路板上電一瞬間在存儲器第二地址空間記錄下當時輸入到微處理器P1.0～P1.7腳的邏輯狀態(tài)，如圖3(a)所示，同時忙指示燈亮(等待5秒鐘學(xué)習(xí)時間后自動變暗)，接下來在5秒內(nèi)在存儲器第二地址空間記錄下P1.0～P1.7各引腳電平變化后的狀態(tài)及變化時的時間(變化一次記錄一次)，如圖3(b)所示。如果某引腳電平變化次數(shù)超過2次則發(fā)出出錯提示聲(因此本裝置限制用于被測電路板上電5秒內(nèi)測試點電平不再變化且各引腳變化次數(shù)上電、斷電最多都不超過2次的場合)。如果未發(fā)出出錯提示聲5秒后忙指示燈滅并發(fā)出上電學(xué)習(xí)完畢提示聲。此時可以對被測的合格電路板斷電，掉電一瞬間在存儲器第二地址空間記錄下當時輸入到微處理器P1.0～P1.7腳的掉電邏輯狀態(tài)，同時忙指示燈亮。接下來在5秒內(nèi)在存儲器第二地址空間記錄下P1.0～P1.7各引腳電平變化后的狀態(tài)及變化時的時間，如果某引腳電平變化次數(shù)超過2次則發(fā)出出錯提示聲，這時應(yīng)重新學(xué)習(xí)。如果未發(fā)出出錯提示聲5秒后忙指示燈滅并發(fā)出掉電學(xué)習(xí)完畢提示聲，接下來自動返回測試模式。測試模式下過程相似，只是數(shù)據(jù)記錄在內(nèi)存，再與學(xué)習(xí)時記錄在存儲器第二地址空間的數(shù)據(jù)比較。上電一瞬間在內(nèi)存記錄下當時輸入到微處理器P1.0～P1.7腳的上電邏輯狀態(tài)，與學(xué)習(xí)時記錄在存儲器第二地址空間的數(shù)據(jù)比較，如果不等則發(fā)出出錯提示聲，相等則接下來在內(nèi)存記錄下P1.0～P1.7各引腳電平變化后的狀態(tài)及變化時的時間(如果某引腳電平變化2次以上則發(fā)出出錯提示聲)，有引腳變化一次就與存儲器第二地址空間學(xué)習(xí)時記錄的對應(yīng)數(shù)據(jù)表比較一次，一旦數(shù)據(jù)完全相同則發(fā)出上電測試合格提示聲，如果5秒過后數(shù)據(jù)還不相同則發(fā)出出錯提示聲。如果聽到上電測試合格提示聲便可對被測電路板斷電，測試斷電時各引腳的狀態(tài)及其變化過程與上電測試相同。
必須指出，上述實施例只對本發(fā)明作出的一個非限定性舉例說明。但本領(lǐng)域的技術(shù)人員會理解，在沒有偏離本發(fā)明的宗旨和范圍下，可以對本發(fā)明作出各種修改、替換和變更。如上述實施例將引腳狀態(tài)變化次數(shù)設(shè)定為2次(這是最常用的情況)，測試等待時間設(shè)定為5秒。當合格電路板與上述設(shè)定不一致時，可根據(jù)需要靈活設(shè)定。這些修改、替換和變更仍屬本發(fā)明的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種檢測電路板的方法，包括如下步驟1)確定測試點；2)在電路板上選擇一個當電路板上電時立即出現(xiàn)高電平、斷電時立即出現(xiàn)低電平的信號點作為微處理器的基準信號接入點；3)將合格電路板上步驟1)所述的各測試點接入微處理器各引腳(P1)和將步驟2)所述信號點接入微處理器作為基準信號，通過微處理器記錄合格電路板上各測試點的如下檢測數(shù)據(jù)上電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)，掉電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)；4)將待檢測電路板上步驟1)所述的各測試點接入微處理器各引腳(P1)和將步驟2)所述信號點接入微處理器作為基準信號，通過微處理器記錄待檢測電路板上步驟1)所述各測試點的如下檢測數(shù)據(jù)步驟3)所述上電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)，步驟3)所述掉電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)；5)在步驟4)進行的過程中，同時將微處理器記錄的待檢測電路板檢測數(shù)據(jù)與步驟3)記錄的合格電路板對應(yīng)檢測數(shù)據(jù)進行比較；6)若步驟5)的比較結(jié)果不相等，則給出出錯信息；否則，繼續(xù)執(zhí)行步驟4)，待步驟5)執(zhí)行完畢，給出合格信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述檢測電路板的方法，其特征在于所述步驟3)記錄合格電路板上各測試點的檢測數(shù)據(jù)過程包括1)對上電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”存儲空間清0，對上電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”存儲單元每個字節(jié)置0FFH；2)當基準信號上升沿到時，開計時器，取引腳(P1)檢測的測試點電位的變化狀態(tài)數(shù)據(jù)，并保存在存儲器第一地址空間，還保存到存儲器第二地址空間對應(yīng)“上電時引腳狀態(tài)”存儲單元；3)檢測是否超出給定的上電學(xué)習(xí)測試等待時間，若超時，則轉(zhuǎn)步驟7，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；4)取引腳(P1)數(shù)據(jù)，判斷是否與第一地址空間存儲數(shù)據(jù)相等，若相等則返回上一步執(zhí)行，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；5)根據(jù)不等的位找出狀態(tài)變化腳，并對該腳對應(yīng)上電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”內(nèi)存單元加1，并將引腳數(shù)據(jù)傳輸給第一地址空間單元；6)并在存儲器第一地址空間(根據(jù)該腳目前狀態(tài)變化次數(shù)及哪個腳變化)記錄下該引腳的上電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”，轉(zhuǎn)步驟3)；7)將第一地址空間存儲的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”等“數(shù)據(jù)表”保存到存儲器第二地址空間“數(shù)據(jù)表”存儲單元，發(fā)上電學(xué)習(xí)完畢提示信息；8)對掉電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”存儲空間清0，對掉電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”存儲單元每個字節(jié)置0FFH；9)當基準信號下降沿到時，開計時器，取引腳(P1)檢測的測試點電位的變化狀態(tài)數(shù)據(jù)，并分別保存到存儲器第一地址空間和存儲器第二地址空間對應(yīng)的“掉電時引腳狀態(tài)”存儲單元；10)檢測是否超出給定的掉電學(xué)習(xí)測試等待時間，若超時，則轉(zhuǎn)步驟14，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；11)取引腳(P1)數(shù)據(jù)，判斷是否與第一地址空間存儲數(shù)據(jù)相等，若相等則返回上一步執(zhí)行，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；12)根據(jù)不等的位找出狀態(tài)變化腳，并對該腳對應(yīng)掉電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”內(nèi)存單元加1，并將引腳數(shù)據(jù)傳輸給第一地址空間單元；13)在存儲器第一地址空間(根據(jù)該腳目前狀態(tài)變化次數(shù)及哪個腳變化)記錄下該引腳的掉電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”，轉(zhuǎn)步驟10)；14)將第一地址空間存儲的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”等“數(shù)據(jù)表”保存到存儲器第二地址空間“數(shù)據(jù)表”存儲單元，發(fā)掉電學(xué)習(xí)完畢提示信息；所述權(quán)項1中步驟4)記錄待檢測電路板上各測試點的檢測數(shù)據(jù)過程包括15)對上電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”存儲空間清0，對上電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”存儲單元每個字節(jié)置0FFH；16)當基準信號上升沿到時，開計時器，取引腳(P1)數(shù)據(jù)，并保存在存儲器第一地址空間，并與存儲器第二地址空間對應(yīng)“上電時引腳狀態(tài)”數(shù)據(jù)比較是否相等，若不相等，則發(fā)出出錯信息，否則順序執(zhí)行；17)檢測是否超出給定的上電測試等待時間，若超時，則發(fā)出出錯信息，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；18)取引腳(P1)數(shù)據(jù)，判斷是否與第一地址空間存儲數(shù)據(jù)相等，若相等則返回上一步執(zhí)行，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；19)根據(jù)不等的位找出狀態(tài)變化腳，并對該腳對應(yīng)上電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”內(nèi)存單元加1，并將引腳數(shù)據(jù)傳輸給第一地址空間單元20)在存儲器第一地址空間(根據(jù)該腳目前狀態(tài)變化次數(shù)及哪個腳變化)記錄下該引腳的上電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”；21)將存儲器第一地址空間存儲的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”與保存到存儲器第二地址空間的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”對比，若不相等，則轉(zhuǎn)步驟17)，否則，發(fā)合格提示信息，順序執(zhí)行下一步驟；22)對掉電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”存儲空間清0，對掉電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”存儲單元每個字節(jié)置0FFH；23)當基準信號下降沿到時，開計時器，取引腳(P1)檢測的測試點電位的變化狀態(tài)數(shù)據(jù)，保存到存儲器第一地址空間，并比較存儲器第一地址空間與存儲器第二地址空間對應(yīng)的“掉電時引腳狀態(tài)”存儲單元數(shù)據(jù)是否相等，若不相等，則發(fā)出出錯信息，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；24)檢測是否超出給定的掉電測試等待時間，若超時，則轉(zhuǎn)步驟14，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；25)取引腳(P1)數(shù)據(jù)，判斷是否與第一地址空間存儲數(shù)據(jù)相等，若相等則返回上一步執(zhí)行，否則繼續(xù)順序執(zhí)行；26)根據(jù)不等的位找出狀態(tài)變化腳，并對該腳對應(yīng)掉電“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”內(nèi)存單元加1，并將引腳數(shù)據(jù)傳輸給第一地址空間單元；27)在存儲器第一地址空間(根據(jù)該腳目前狀態(tài)變化次數(shù)及哪個腳變化)記錄下該引腳的掉電“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”；28)將第一地址空間存儲的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”與存儲器第二地址空間存儲的“引腳變化后狀態(tài)”、“引腳變化時的時間”和“引腳狀態(tài)變化次數(shù)”對比，若不相等，則轉(zhuǎn)步驟24)，否則，發(fā)合格提示信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述檢測電路板的方法，其特征在于將合格電路板上各測試點的檢測數(shù)據(jù)存貯在外存儲器上，將待檢測電路板上各測試點的檢測數(shù)據(jù)存儲在內(nèi)存儲器上。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述檢測電路板的方法，其特征在于所述存儲器第一地址空間是內(nèi)存儲器，所述存儲器第二地址空間是外存儲器。
5.根據(jù)權(quán)利要求2或4所述檢測電路板的方法，其特征在于設(shè)置引腳狀態(tài)變化次數(shù)上限值，當引腳狀態(tài)變化次數(shù)超過設(shè)定的上限值時，發(fā)出出錯信息。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述檢測電路板的方法，其特征在于設(shè)置引腳狀態(tài)變化次數(shù)上限值為2次。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-4任意一項所述檢測電路板的方法，其特征在于設(shè)置掉電測試等待時間為5秒。
8.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述檢測電路板的方法，其特征在于所述存儲器是EEPROM存儲器。
9.一種檢測電路板的裝置，其特征在于包括微處理器、存儲器、揚聲器和模式鍵，微處理器的基準信號來自電路板上電時立即出現(xiàn)高電平、斷電時立即出現(xiàn)低電平的信號點，來自電路板上各測試點的檢測信號接入微處理器的輸入口，微處理器用于將從合格電路板上檢測的上電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)和掉電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)存入存儲器；并將從待檢測電路板上檢測的所述上電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)和所述掉電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)與存入存儲器的數(shù)據(jù)進行比較，將比較結(jié)果輸出給揚聲器，模式鍵，接微處理器用于控制其工作狀態(tài)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述檢測電路板的裝置，其特征在于所述微處理器上還接有工作指示燈。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種檢測電路板的方法，它是通過微處理器記錄合格電路板上電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)，掉電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)；再與通過微處理器記錄待檢測電路板上所述上電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)，所述掉電測試等待時間之內(nèi)各測試點每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時的時間和狀態(tài)變化次數(shù)；并將兩者檢測數(shù)據(jù)進行比較，即可判斷所檢測的電路板是否合格。采用上述技術(shù)方案，本發(fā)明避免了出現(xiàn)主觀產(chǎn)生的誤判現(xiàn)象。根據(jù)本發(fā)明制作的檢測裝置成本低廉，檢測效率高。
文檔編號G01R31/317GK1614436SQ20031011092
公開日2005年5月11日 申請日期2003年11月7日 優(yōu)先權(quán)日2003年11月7日
發(fā)明者吳偉, 楊軍治, 卓成鈺 申請人:深圳創(chuàng)維—Rgb電子有限公司