專利名稱：液晶顯示面板測試裝置及方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種液晶顯示面板測試裝置及方法，特別是一種經由比對標準規(guī)格的數(shù)值，可自動進行液晶顯示面板相位的調整及測試，以使該液晶顯示面板符合需求，達到快速檢測。
背景技術：
一般而言，液晶顯示面板以液晶分子材料為基本要素，將白濁的液晶分子夾在經過配向處理的兩片玻璃板之間，即可組合成目前熱門而且與我們日常生活息息相關的液晶單體。
由于液晶分子介于固態(tài)與液態(tài)之間，不但具有液體易受外力作用而流動的特性，亦具有晶體特有的光學異方向性質，所以能夠利用外加電場來驅使液晶的排列狀態(tài)改變至其它指向，造成光線穿透液晶層時的光學特性發(fā)生改變，此即是利用外加的電場來產生光的調變現(xiàn)象，稱之為液晶的光電效應。利用此效應可制作出各式的液晶顯示面板，如扭轉向列型(TN-Twisted Nematic)液晶顯示面板、超扭轉向列型(STN-Super TN)液晶顯示面板、及薄膜晶體管(TFT-Thin Film Transistor)液晶顯示面板等。
請參閱圖1所示的液晶顯示面板的結構示意圖，液晶顯示面板1依序由一第一偏光板10、一第一位相差板11、一液晶單體12、一第二位相差板13及一第二偏光板14所組成，其中當?shù)谝黄獍?0的角度為90度時，第二偏光板14的角度為0度，反之亦然，并藉旋轉調整第一位相差板11與第二位相差板13的相位，以改善位相差板對液晶單體12及偏光板光學特性的補償條件，以獲得較大的視角。
習用的調整方式皆使用人工校調的方式，去旋轉調整第一位相差板11與第二位相差板13的相位，以符合所需的數(shù)值，或是更換不同的位相差板再進行人工校調，以符合所需的數(shù)值。
綜觀以上說明，習用的液晶顯示面板測試方法，至少存在以下缺點一、使用人工校調的方式調整位相差板的相位，校調精準度不佳，無法確保校調品質。
二、使用人工校調的方式調整位相差板的相位，耗費人力資源，提高生產成本，降低市場競爭力。
三、使用人工校調的方式調整位相差板的相位，其重現(xiàn)性不佳，無法確保每次校調的客觀條件一致，進而影響校調品質及產品的再現(xiàn)性。
四、使用人工校調的方式調整位相差板的相位，無法自動化一貫作業(yè)，因而降低生產效能。

發(fā)明內容
本發(fā)明的主要目的是提供一種液晶顯示面板測試裝置及方法，可提高測試的精準度，以確保液晶顯示面板的品質。
本發(fā)明的次要目地是提供一種液晶顯示面板測試裝置及方法，可簡化測試流程，降低生產成本，進而提升市場競爭力。
本發(fā)明的另一目的是提供一種液晶顯示面板測試裝置及方法，可確保每次檢測液晶顯示面板時，其客觀條件一致，進而確保測試的品質及產品的再現(xiàn)性。
本發(fā)明的又一目的是提供一種液晶顯示面板測試裝置及方法，可自動化一貫作業(yè)，進而降低生產成本，增加生產效能。
為達上述目的，本發(fā)明提供一種液晶顯示面板測試裝置，該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板組成，其中該液晶顯示面板測試裝置包括一光源產生裝置，可提供一光源；一測試基座，用以承載該液晶顯示面板，使該液晶顯示面板與該光源行進方向呈一適當角度，且該測試基座可旋轉調整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，以及選擇進行該第一位相差板與選擇進行該第二位相差板的置換；一光擷取單元，其相對應該光源產生裝置設置，用以接收由該液晶顯示面板來的光源；一光訊號檢測裝置，其連接于該光擷取單元，用以判讀該光擷取單元的數(shù)據。
其中，該液晶顯示面板測試裝置還包括一比對裝置，其設于該光訊號檢測裝置與該測試基座間，且該比對裝置可提供一比對值，用以比對該光訊號檢測裝置所判讀的數(shù)據，作為該測試基座調整的依據。
于本發(fā)明液晶顯示面板測試方法的較佳實施例中，其中一液晶顯示面板設于一測試基座上，且該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板所組成，包括下列步驟(a)將一光源以一適當角度射入該液晶顯示面板；(b)接收由該液晶顯示面板來的光源，以獲得一檢測值；(c)將該檢測值與一標準值比較；
(d)以該測試基座旋轉調整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，以及選擇進行該第一位相差板與選擇進行該第二位相差板的置換，使該檢測值近似該標準值。
為了便于進一步了解本發(fā)明的特征、目的及功能，下面結合附圖以具體實例對本發(fā)明進行詳細說明。


圖1是液晶顯示面板的結構示意圖；圖2為本發(fā)明的液晶顯示面板測試裝置第一較佳實施例示意圖；圖3是本發(fā)明的液晶顯示面板測試裝置第二較佳實施例示意圖；圖4是本發(fā)明的液晶顯示面板測試裝置第三較佳實施例示意圖；圖5是本發(fā)明液晶顯示面板測試方法較佳實施例流程示意圖。
附圖標記說明1、201、201a、201b液晶顯示面板；10、2010第一偏光板；11、2011第一位相差板；12、2012液晶單體；13、2013第二位相差板；14、2014第二偏光板；202光源產生裝置；203、203a、203b光源；204、204a、204b比對裝置；2040分光裝置；2041、2041a、2041b樣品液晶顯示面板；2042、2042a、2042b、2042c樣品光擷取單元；205測試基座；206、206a、206b、206c光擷取單元；207光訊號檢測裝置；208記錄裝置；209數(shù)字延遲器；301將一光源垂直該液晶顯示面板射入；302接收由該液晶顯示面板來的光源，以獲得一檢測值；303將該檢測值與一標準值比較；304以該測試基座調整該液晶顯示面板的相位，使該檢測值近似該標準值。
具體實施例方式
圖2是本發(fā)明的液晶顯示面板測試裝置第一較佳實施例示意圖。如圖2所示，液晶顯示面板201依序由一第一偏光板2010、一第一位相差板2011、一液晶單體2012、一第二位相差板2013及一第二偏光板2014等五層組成，且該液晶顯示面板201是穿透式的面板，該液晶顯示面板測試裝置由光源產生裝置202提供一光源203，本發(fā)明的光源產生裝置202使用染料激光器(DyeLaser)作為可見光的產生裝置，因激光具有高分辨率、高亮度及高純度的特性，故該光源203的波長可控制在380nm至780nm，其分辨率還可達到0.01nm，亦即可見光的波長，如此測試者才可分清楚所產生的圖形。
接著，光源203進入-比對裝置204，該比對裝置204依序包括有一分光裝置2040、一樣品液晶顯示面板2041及一樣品光擷取單元2042，其中該分光裝置2040可將該光源203等量、等光程長(D1＝D2)分成光源203a及光源203b，分別配置光源203a垂直進入樣品液晶顯示面板2041與光源203b垂直進入液晶顯示面板201，使樣品液晶顯示面板2041與液晶顯示面板201的測試客觀條件一致，再利用相對應分光裝置2040所設置的樣品光擷取單元2042來接收光源203a。
該光源203b以垂直方向進入測試基座205上所承載的液晶顯示面板201，該光源203b通過液晶顯示面板201后被一光擷取單元206所接收，且由液晶顯示面板201至光擷取單元206的距離(D4即光程長)等于由樣品液晶顯示面板2041至樣品光擷取單元2042的距離(D3即光程長)，將光擷取單元206與樣品光擷取單元2042皆連接至光訊號檢測裝置207，用以判讀光擷取單元206與樣品光擷取單元2042的數(shù)據。因該樣品液晶顯示面板2041是標準樣品的確定規(guī)格，故該比對裝置204可提供一比對值Ch2，用以比對該光訊號檢測裝置207所判讀待測的液晶顯示面板201的數(shù)據Ch1，且該測試基座205可0至360度分別旋轉調整該第一位相差板2011和該第二位相差板2013的相位，或選擇進行該第一位相差板2011的置換，或選擇進行該第二位相差板2013的置換，使數(shù)據Ch1與比對值Ch2近似，亦即液晶顯示面板201的相位達到所需的標準的測試值。
且該光訊號檢測裝置207連接一記錄裝置208作為記錄數(shù)據之用，并利用外來觸發(fā)信號(External Trigger)的方式連接一數(shù)字延遲器209后，再連接到光源產生裝置202，以便控制該光源產生裝置202與該光訊號檢測裝置207同步運作，使檢測工作順利完成。通常，該光訊號檢測裝置207都是使用示波器作為檢測裝置，該記錄裝置208使用計算機或積分器，該光擷取單元206與該樣品光擷取單元2042使用電荷耦合器(CCD)、互補式金屬氧化半導體(CMOS)或光電倍增管(PMT)。以下所述的本發(fā)明其它較佳實施例中，因大部份的組件相同或類似于前述實施例，因此相同的組件將直接給予相同的名稱及編號，且對于類似的組件則給予相同名稱但在原編號后另增加一英文字母以資區(qū)別且不予贅述。
圖3是本發(fā)明的液晶顯示面板測試裝置第二較佳實施例示意圖。如圖3所示，液晶顯示面板201a與樣品液晶顯示面板2041a皆為反射式的面板，光源203a被樣品液晶顯示面板2041a所反射的夾角為θ1，光源203b被液晶顯示面板201a所反射的夾角為θ2，且夾角θ1等于夾角θ2，光程長(D1＝D2、D3＝D4)，如此一來，樣品液晶顯示面板2041a與液晶顯示面板201a的測試客觀條件便一致；由樣品液晶顯示面板2041a來的反射光源被樣品光擷取單元2042a所接收，由液晶顯示面板201a來的反射光源被光擷取單元206a所接收，再由光訊號檢測裝置207檢測比對。其它各組件作動方式與本發(fā)明第一較佳實施例相同，在此不予贅述。
如圖4是本發(fā)明的液晶顯示面板測試裝置第三較佳實施例示意圖。如圖4所示，液晶顯示面板201b與樣品液晶顯示面板2041b皆為穿透反射式(半反射式)的面板，光源203a被樣品液晶顯示面板2041b所反射的夾角為θ3，至樣品光擷取單元2042b的距離(光程長)為D3，光源203a通過樣品液晶顯示面板2041b至樣品光擷取單元2042c的距離(光程長)為D5；光源203b被液晶顯示面板201b所反射的夾角為θ4，至光擷取單元206b的距離(光程長)為D4，光源203b通過液晶顯示面板201b至光擷取單元206c的距離(光程長)為D6；其中，夾角(θ3＝θ4)、光程長(D1＝D2、D3＝D4、D5＝D6)，如此一來，樣品液晶顯示面板2041b與液晶顯示面板201b的測試客觀條件亦一致，由樣品液晶顯示面板2041b來的反射光源被樣品光擷取單元2042b所接收，由樣品液晶顯示面板2041b來的穿透光源被樣品光擷取單元2042c所接收；由液晶顯示面板201b來的反射光源被光擷取單元206b所接收，由液晶顯示面板201b來的穿透光源被光擷取單元206c所接收，四者訊號皆由光訊號檢測裝置207檢測比對。其它各組件作動方式亦與本發(fā)明第一較佳實施例相同，在此不予贅述。
當然，圖2、圖3與圖4中的比對裝置(204、204a、204b)亦可省略，直接由預存于計算機中的資料，取得比對值來比對即可。
圖5是本發(fā)明液晶顯示面板測試方法較佳實施例流程示意圖。如圖5所示，液晶顯示面板設于一測試基座上，且該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板，該測試方法包括下列步驟(a)將一光源垂直該液晶顯示面板射入301，其中該光源是可見光，波長為380至780nm，分辨率為0.01nm，且產生該光源的裝置通常是使用一染料激光器(Dye Laser)作為可見光的產生裝置。
(b)接收由該液晶顯示面板來的光源，以獲得一檢測值302，該檢測值通常將由該液晶顯示面板來的光源以一光擷取單元接收后，再使用示波器轉換成數(shù)據資料所獲得的值，且由該液晶顯示面板來的光源會隨該液晶顯示面板的類型不同而改變，該液晶顯示面板為穿透式面板時，由該液晶顯示面板來的光源是穿透式的光源；該液晶顯示面板為反射式面板時，由該液晶顯示面板來的光源是反射式的光源；該液晶顯示面板為穿透反射式(半反射式)面板時，由該液晶顯示面板來的光源是穿透反射式的光源。
(c)將該檢測值與一標準值比較303，該標準值是廠商所需的規(guī)格數(shù)據，可使用現(xiàn)有的數(shù)據庫，或是直接由樣品取得數(shù)據。
(d)以該測試基座調整該液晶顯示面板的相位，使該檢測值近似該標準值304，以該測試基座旋轉調整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，或選擇進行該第一位相差板的置換，或選擇進行該第二位相差板的置換，以使該檢測值近似該標準值。
綜上所述，本發(fā)明的一種液晶顯示面板測試裝置及方法，可提高測試的精準度，以確保液晶顯示面板的品質，并簡化測試流程，降低生產成本，以及，可確保每次檢測液晶顯示面板時，其客觀條件一致，以自動化一貫作業(yè)，進而降低生產成本，增加生產效能。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，不能以此限制本發(fā)明的范圍，容易聯(lián)想得到，諸如使用不同的光源、液晶顯示面板的組成不同、以計算機取代示波器等等，本領域熟練技術人員于領悟本發(fā)明的精神后，皆可想到變化實施的，即凡依本發(fā)明權利要求所做的均等變化及修飾，仍將不失本發(fā)明的要義所在，亦不脫離本發(fā)明的精神和范圍的，都應視為本發(fā)明的進一步實施。
權利要求
1.一種液晶顯示面板測試裝置，該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板組成，其中該液晶顯示面板測試裝置包括一光源產生裝置，提供一光源；一測試基座，用以承載該液晶顯示面板，使該液晶顯示面板與該光源行進方向呈一適當角度，且該測試基座可分別旋轉調整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，以及選擇進行第一位相差板與選擇進行第二位相差板的置換；一光擷取單元，相對應該光源產生裝置設置，用以接收由該液晶顯示面板來的光源；一光訊號檢測裝置，連接于該光擷取單元，用以判讀光擷取單元的數(shù)據。
2.如權利要求1所述的液晶顯示面板測試裝置，其中該液晶顯示面板測試裝置還包括一比對裝置，設于該光訊號檢測裝置與該測試基座間，且該比對裝置可提供一比對值，用以比對該光訊號檢測裝置所判讀的數(shù)據，作為該測試基座調整的依據。
3.如權利要求2所述的液晶顯示面板測試裝置，其中該比對裝置包括一樣品液晶顯示面板；一分光裝置，將該光源等量、等光程長分別配置至樣品液晶顯示面板與該液晶顯示面板；一樣品光擷取單元，相對應分光裝置設置，用以接收通過該樣品液晶顯示面板的光源。
4.如權利要求1所述的液晶顯示面板測試裝置，其中光源產生裝可為一染料激光器(Dye Laser)。
5.一種液晶顯示面板測試方法，其中一液晶顯示面板設于一測試基座上，且該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板組成，該測試方法包括有下列步驟(a)將一光源以一適當角度射入該液晶顯示面板；(b)接收由該液晶顯示面板來的光源，以獲得一檢測值；(c)將該檢測值與一標準值比較；(d)以該測試基座旋轉調整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，以及選擇進行該第一位相差板與選擇進行該第二位相差板的置換，使該檢測值近似該標準值。
6.如權利要求5所述的液晶顯示面板測試方法，其中步驟(b)所述的由該液晶顯示面板來的光源為穿透式的光源。
7.如權利要求5所述的液晶顯示面板測試方法，其中步驟(b)所述的由該液晶顯示面板來的光源可為反射式光源。
8.如權利要求5所述的液晶顯示面板測試方法，其中步驟(b)所述的由該液晶顯示面板來的光源為穿透反射式的光源。
9.如權利要求5所述的液晶顯示面板測試方法，其中產生光源的裝置為一染料激光器(Dye Laser)。
10.如權利要求5所述的液晶顯示面板測試方法，其中該光源的波長為380至780nm。
11.如權利要求5所述的液晶顯示面板測試方法，其中該光源的分辨率為0.01nm。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示面板測試裝置及方法，該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板組成，其中該液晶顯示面板測試裝置包括有一光源產生裝置，提供一光源；一測試基座，用以承載該液晶顯示面板，使該液晶顯示面板與該光源行進方向呈一適當角度，且該測試基座可旋轉調整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，以及選擇進行該第一位相差板與選擇進行該第二位相差板的置換；一光擷取單元，其相對應該光源產生裝置設置，用以接收由該液晶顯示面板來的光源；一光訊號檢測裝置，連接于該光擷取單元，用以判讀該光擷取單元的數(shù)據。
文檔編號G01N21/17GK1673720SQ20041000629
公開日2005年9月28日 申請日期2004年3月23日 優(yōu)先權日2004年3月23日
發(fā)明者陳志忠, 王伯萍 申請人:力特光電科技股份有限公司