專利名稱：低電壓重置功能檢測(cè)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電壓檢測(cè)電路，尤指一種低電壓重置功能檢測(cè)電路。
背景技術(shù)：
一般電子電路的正常工作均需要提供一穩(wěn)定的電壓源。如果供給的電壓短暫中斷或低于穩(wěn)定電壓源值時(shí)，就會(huì)造成電路不正常工作。因此在設(shè)計(jì)電子電路時(shí)，就需要使電子電路具有一低電壓重置功能，能在電壓短暫中斷或低于穩(wěn)定電壓源值時(shí)進(jìn)行重置，保證電路正常工作。通常，還需要在電壓源和電子電路間設(shè)計(jì)一低電壓重置電路，用以偵測(cè)電壓源。此低電壓重置電路連接至電子電路的低電壓重置接腳，將偵測(cè)到的電壓信號(hào)反映至低電壓重置接腳，使電子電路據(jù)此信號(hào)做出響應(yīng)，即若此電壓信號(hào)的電壓值低于電子電路正常工作的最低電壓值，電子電路將進(jìn)行重置，反之，將保持原工作狀態(tài)。
為了使電子電路正常工作，必須保證電子電路的低電壓重置功能完好，因而就需要檢測(cè)電子電路的低電壓重置功能，以保證其能正常工作。現(xiàn)在常用的檢測(cè)電路多整合到電子電路中，如于1995年9月12日公告的、專利名稱為“Circuit for testing power-on-reset circuitry”的US Pat.No.5,450,417中用于確定重置功能是否可正常運(yùn)行的控制電路就是整個(gè)電子電路中的一部分。該控制電路雖然可檢測(cè)出重置功能是否完好，但其是在電子電路正常工作后進(jìn)行運(yùn)作，不能對(duì)重置功能有損的電路進(jìn)行恢復(fù)，若檢測(cè)出功能有損的電路，則需進(jìn)行更換，因而較為麻煩，且此控制電路較為復(fù)雜，成本比較高。
因此需要一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的檢測(cè)電路，可在電子電路使用前測(cè)試其低電壓重置功能是否完好，以省卻更換電路的繁瑣。

發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種低電壓重置功能檢測(cè)電路，用于在被測(cè)電路使用前檢測(cè)被測(cè)電路的低電壓重置功能是否完好。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明所提供的低電壓重置功能檢測(cè)電路包括一參考電壓源；一第一可變電阻，其一端與參考電壓源相連；一第二可變電阻，其一端與第一可變電阻的另一端相連接，另一端接地；及一跳線，具有四個(gè)接腳，其中第一接腳連接于第一可變電阻與第二可變電阻之間，第三接腳接地，第二接腳與第四接腳共同相連于被測(cè)電路的低電壓重置接腳。
本發(fā)明低電壓重置功能檢測(cè)電路只需兩個(gè)可變電阻及一具有四個(gè)接腳的跳線即可實(shí)現(xiàn)在電子電路使用前進(jìn)行低電壓重置功能檢測(cè)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，可節(jié)省成本。

圖1是本發(fā)明低電壓重置功能檢測(cè)電路的電路圖。
圖2是本發(fā)明低電壓重置功能檢測(cè)電路的操作流程圖。
具體實(shí)施方式請(qǐng)參閱圖1，所示為本發(fā)明低電壓重置功能檢測(cè)電路10的電路圖。其中低電壓重置功能檢測(cè)電路10位于測(cè)試板1上，其通過(guò)輸出點(diǎn)A與被測(cè)電路2的低電壓重置接腳20相連，以測(cè)試該被測(cè)電路2的低電壓重置功能是否完好。其中低電壓重置功能檢測(cè)電路10的電路圖如圖1中虛線框所示。該檢測(cè)電路10包括一參考電壓源Vref，一第一可變電阻R1，一第二可變電阻R2，一跳線100，及一輸出點(diǎn)A，用于輸出電壓信號(hào)至被測(cè)電路2的低電壓重置接腳20。參考電壓源Vref通過(guò)串聯(lián)的第一可變電阻R1與第二可變電阻R2接地。該跳線100具有第一接腳1001、第二接腳1002、第三接腳1003及第四接腳1004四個(gè)接腳，其中第一接腳1001連于第一可變電阻R1與第二可變電阻R2的中間點(diǎn)B，第三接腳1003接地，第二接腳1002與第四接腳1004共同相連于輸出點(diǎn)A。
在本實(shí)施方式中，參考電壓源Vref大于被測(cè)電路2正常工作的最低電壓值，第一可變電阻R1與第二可變電阻R2的中間點(diǎn)B的電壓VB等于被測(cè)電路2正常工作的最低電壓值，即低于此值被測(cè)電路2則會(huì)重置。因VB＝Vref×R2/(R1+R2)，因而可通過(guò)調(diào)節(jié)第一可變電阻R1與第二可變電阻R2的阻值調(diào)出所需的被測(cè)電路2正常工作的最低電壓值。在本發(fā)明的實(shí)施方式中，被測(cè)電路2正常工作的最低電壓值為+3.3V，參考電壓源Vref為+5V，則只需第一可變電阻R1與第二可變電阻R2滿足R2/(R1+R2)＝0.66，則B點(diǎn)的電壓VB即為+3.3V。連接跳線100的第一接腳1001與第二接腳1002，則輸出點(diǎn)A的電壓值VA＝VB＝+3.3V，相當(dāng)于給被測(cè)電路2正常供電，被測(cè)電路2開始正常工作。若此時(shí)連接跳線100的第三接腳1003與第四接腳1004，而斷開第一接腳1001與第二接腳1002的連接，則輸出點(diǎn)A的電壓VA為0，相當(dāng)于給被測(cè)電路2供電電壓值低于正常工作的最低電壓值，若被測(cè)電路2的低電壓重置功能正常，則其應(yīng)做出重置動(dòng)作。若被測(cè)電路2進(jìn)行重置，則說(shuō)明其低電壓重置功能完好，若沒(méi)有進(jìn)行重置，則說(shuō)明被測(cè)電路2的低電壓重置功能損壞。從而，可檢測(cè)出被測(cè)電路2的低電壓重置功能是否完好。
請(qǐng)參閱圖2，所示為本發(fā)明低電壓重置功能檢測(cè)電路10的操作流程圖。在步驟S201，在測(cè)試板1上連接好檢測(cè)電路10并調(diào)節(jié)第一可變電阻R1與第二可變電阻R2的阻值，使得VB為被測(cè)電路2正常工作的最低電壓值+3.3V。在步驟S202，將檢測(cè)電路10的輸出點(diǎn)A連接至被測(cè)電路2的低電壓重置接腳20。在步驟S203，連接跳線100的第一接腳1001與第二接腳1002，則此時(shí)輸出點(diǎn)A的電壓VA＝VB＝+3.3V，被測(cè)電路2開始正常工作。在步驟S204，斷開跳線100的第一接腳1001與第二接腳1002的連接，連接第三接腳1003與第四接腳1004，則此時(shí)輸出點(diǎn)A的電壓為0，低于被測(cè)電路2正常工作的最低電壓值，因而被測(cè)電路2應(yīng)做重置。若被測(cè)電路2進(jìn)行重置，則說(shuō)明其低電壓重置功能完好，若沒(méi)有進(jìn)行重置，則說(shuō)明被測(cè)電路2的低電壓重置功能損壞。如此，可檢測(cè)出被測(cè)電路2的低電壓重置功能是否完好。
權(quán)利要求
1.一種低電壓重置功能檢測(cè)電路，用于檢測(cè)被測(cè)電路的低電壓重置功能是否完好，其特征在于該檢測(cè)電路包括一參考電壓源；一第一可變電阻，其一端與參考電壓源相連；一第二可變電阻，其一端與第一可變電阻的另一端相連接，另一端接地；及一跳線，其具有四個(gè)接腳，其中第一接腳連接于第一可變電阻與第二可變電阻之間，第三接腳接地，第二接腳與第四接腳相連。
2.如權(quán)利要求1所述的低電壓重置功能檢測(cè)電路，其特征在于更包括有一輸出端，其與第二接腳與第四接腳的連接處相連，用于輸出電壓信號(hào)至被測(cè)電路的低電壓重置接腳。
3.如權(quán)利要求1所述的低電壓重置功能檢測(cè)電路，其特征在于參考電壓源的電壓值大于被測(cè)電路正常工作的最低電壓值。
4.如權(quán)利要求1所述的低電壓重置功能檢測(cè)電路，其特征在于第一可變電阻與第二可變電阻間的電壓值等于被測(cè)電路正常工作的最低電壓值。
全文摘要
一種低電壓重置功能檢測(cè)電路，該電路包括一參考電壓源；一第一可變電阻，其一端與參考電壓源相連；一第二可變電阻，其一端與第一可變電阻的另一端相連接，另一端接地；及一跳線，其具有四個(gè)接腳，其中第一接腳連于第一可變電阻與第二可變電阻之間，第三接腳接地，第二接腳與第四接腳共同相連于被測(cè)電路的低電壓重置接腳。該低電壓重置功能檢測(cè)電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，可節(jié)省成本。
文檔編號(hào)G01R19/165GK1737596SQ20041005121
公開日2006年2月22日 申請(qǐng)日期2004年8月19日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月19日
發(fā)明者謝明志 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司