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      填充有功能型光反射材料的閃爍探測器及其制作方法

      文檔序號:5957406閱讀:240來源:國知局
      專利名稱:填充有功能型光反射材料的閃爍探測器及其制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種天文觀測儀器,具體涉及一種填充有功能型光反射材料的閃爍探測器,以及這種探測器的制作方法。
      背景技術(shù)
      在核物理探測及天文觀測中,經(jīng)常使用固體探測儀器(或稱閃爍探測器)來實現(xiàn)高能量射線的探測。閃爍探測器主要是由閃爍體(一般使用的是無機閃爍體)、光電子器件(一般使用的是光電倍增管)和相應(yīng)的電子學(xué)線路等組成,探測器的性能一般涉及到以下幾個方面1、閃爍體的發(fā)光波長、發(fā)光時間和光傳輸性能;2、閃爍體與光探測器之間的耦合、傳輸與光收集;3、光探測器轉(zhuǎn)換器件的性能及其轉(zhuǎn)換效率;4、電子學(xué)噪聲信號放大和接收。
      探測器的工作原理是當(dāng)帶電粒子或γ射線入射到閃爍體內(nèi),使得閃爍體內(nèi)的原子電離、激發(fā),在退激發(fā)過程中發(fā)光,人們通常稱之為熒光。采用光電倍增管來探測熒光,利用光電效應(yīng)產(chǎn)生電子,經(jīng)電子學(xué)儀器放大成形的脈沖信號來記錄射線的能量,判斷何種元素產(chǎn)生的射線。
      如何進一步提高探測儀器的性能,不斷地滿足科學(xué)實驗的需要,便成為儀器研制者和儀器使用者不斷努力和探索的目標。
      探測器各部分的性能確定之后,要提高儀器的能量分辨率就要近可能得到高的光子收集率。射線照在閃爍體內(nèi)以4π立體角發(fā)射,在到達光探測器件之前是完全按光學(xué)規(guī)律直線傳播的,對大部分的無機閃爍晶體(例如無機閃爍體),利用漫反射的方法收集光為最佳。提高漫反射材料的反射率,成為提高光子收集率的途徑之一?,F(xiàn)有技術(shù)中常用的漫反射材料有MgO、Al2O3白色涂料,聚四氟乙稀(Teflon)膜等,但常用的Teflon在深空、低溫下冷脆,直接影響探頭光量子效率。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的任務(wù)是找到一種新的漫反射材料應(yīng)用于閃爍探測器,來實現(xiàn)提高光量子收集的效率。進一步的發(fā)明目的是提供一種能夠適應(yīng)在深空、低溫下使用時仍然具有較高光量子收集效率的,填充有功能型光反射材料的閃爍探測器,以及這種閃爍探測器的制作方法。
      完成上述發(fā)明任務(wù)的方案是填充有功能型光反射材料的閃爍探測器,由閃爍體和光電子器件構(gòu)成,其特征在于,在晶體與晶體室的間隙中填充有高反射率功能型漫反射材料,該材料的組成包括氧化鎂、氧化鈦的超細粉、成型劑和光耦合劑;氧化鎂、氧化鈦的的質(zhì)量比例為1∶0.8~1.2;氧化鎂、氧化鈦超細粉與成型劑和光耦合劑的質(zhì)量比例分別為1∶10。
      這里所述的超細粉,是指顆粒的平均直徑在0.2μm以下。
      所述的成型劑可以采用高級變壓器油;所述的光耦合劑可以采用硅油、硅脂或礦物脂。
      在優(yōu)化方案中,氧化鎂、氧化鈦超細粉的比例為1∶1。
      以上所述的填充有功能型光反射材料的閃爍探測器的制作方法,包括以下步驟首先制作高反射率功能型漫反射材料將MgO及TiO2超細粉烘干,按1∶0.8~1.2配比,烘干過篩后待用;按上述比例準備好成型劑、光耦合劑;將混合好的分散的MgO+TiO2粉倒入成型劑、光耦合劑內(nèi);
      攪拌去除氣泡,并使之均勻,便制成了所需的漫反射聚合材料。
      然后,清洗干凈所用的晶體室;將晶體放入晶體室內(nèi);調(diào)整好各種幾何參數(shù)并建立一個施工平臺;慢慢將制備好的漫反射材料倒入晶體與晶體室的間隙中聚合成型;待將晶體室放入35℃的烘箱內(nèi)保持6小時,以便能充分除完氣泡;漫反射材料固化后,用光電倍增管與晶體室封裝好后進行裝調(diào)、測試。
      上述方法的優(yōu)化方案是漫反射材料要分幾次倒入,待前次倒入的材料基本固化后再進行下一次操作。
      原因是當(dāng)晶體與晶體室的間隙較深時,一次全部將間隙注滿其固化時間將會很長,TiO2將會沉積在底部,使得漫反射材料的均勻性得不到保證,將會降低漫反射的效率。
      采用此材料對晶體進行封裝后比使用聚四氟乙稀(Teflon)膜對晶體封裝探測器的能量分辨率提高了三至五個百分點,應(yīng)該講是一個相當(dāng)大的進步。


      圖1為晶體及晶體室的示意圖;圖2為使用聚四氟乙稀(Teflon)膜作為漫反射材料測出的譜線;圖3為MgO+TiO作為漫反射材料測出的譜線。
      具體實施例方式
      實施例1,填充有功能型光反射材料的閃爍探測器由閃爍體和光電子器件構(gòu)成,可采用BGO和CsI兩種晶體。參照圖1,在晶體與晶體室的間隙中填充有防震、高溫高反射率功能型漫反射材料,該材料的組成包括氧化鎂、氧化鈦的超細粉、成型劑和光耦合劑;氧化鎂、氧化鈦的的質(zhì)量比例為1∶~1;氧化鎂、氧化鈦超細粉與成型劑和光耦合劑的體積比例為2∶5。
      其制作方法是首先制作高反射率功能型漫反射材料將MgO及TiO2超細粉烘干,按1∶0.8~1.2配比,過篩后待用;按上述比例準備好成型劑、光耦合劑;將混合好的分散的MgO+TiO2粉倒入成型劑、光耦合劑內(nèi);攪拌去除氣泡,并使之均勻,便制成了所需的漫反射材料。
      然后,清洗干凈所用的晶體室;將晶體放入晶體室內(nèi);調(diào)整好各種幾何參數(shù)并建立一個施工平臺;慢慢將制備好的漫反射材料倒入晶體與晶體室的間隙中;漫反射材料要分幾次倒入,待前次倒入的材料基本固化后再進行下一次操作。待將晶體室放入35℃的烘箱內(nèi)保持6小時,以便能充分除完氣泡;漫反射材料固化后,用光電倍增管與晶體室配合好后進行裝調(diào)、測試。
      材料形成與空間發(fā)射探測相匹配的固溶體,在深空中有一定的光、機、電性能。經(jīng)檢測,使用相同的光電倍增管、相同的電子學(xué)儀器、相同的信號放大倍數(shù)、相同的高壓,使用不同的漫反射材料分別對本發(fā)明和傳統(tǒng)方案進行測試,可以得到兩組譜線測試用的放射源是137Cs。對本發(fā)明測試得到的圖3所示譜線,比測試傳統(tǒng)技術(shù)聚四氟乙稀(Teflon)膜作為漫反射材料所得到的圖2譜線有明顯改善。
      權(quán)利要求
      1.一種填充有功能型光反射材料的閃爍探測器,由閃爍體和光電子器件構(gòu)成,其特征在于,在晶體與晶體室的間隙中填充有高反射率功能型漫反射材料,該材料的組成包括氧化鎂、氧化鈦的超細粉、成型劑和光耦合劑;氧化鎂、氧化鈦的的質(zhì)量比例為1∶0.8~1.2;氧化鎂、氧化鈦超細粉與成型劑和光耦合劑的質(zhì)量比例分別為1∶10。
      2.按照權(quán)利要求1所述的填充有功能型光反射材料的閃爍探測器,其特征在于,所述的氧化鎂、氧化鈦超細粉的比例為1∶1。
      3.按照權(quán)利要求1或2所述的填充有功能型光反射材料的閃爍探測器,其特征在于,所述的超細粉,是指顆粒的平均直徑在0.2μm以下;所述的成型劑采用變壓器油;所述的光耦合劑采用硅油、硅脂或礦物脂。
      4.一種權(quán)利要求1所述的填充有功能型光反射材料的閃爍探測器的制作方法,包括以下步驟首先制作高反射率功能型漫反射材料將MgO及TiO2超細粉烘干,按1∶0.8~1.2配比,過篩后待用;按氧化鎂、氧化鈦超細粉與成型劑和光耦合劑分別為1∶10的質(zhì)量比例準備好成型劑、光耦合劑;將混合好的分散的MgO+TiO2粉倒入成型劑、光耦合劑內(nèi);攪拌去除氣泡,并使之均勻,便制成了所需的漫反射聚合材料。然后,清洗干凈所用的晶體室;將晶體放入晶體室內(nèi);調(diào)整好各種幾何參數(shù)并建立一個施工平臺;慢慢將制備好的漫反射材料倒入晶體與晶體室的間隙中;待將晶體室放入35℃的烘箱內(nèi)保持6小時,以便能充分除完氣泡;漫反射材料固化后,用光電倍增管與晶體室配合好后進行裝調(diào)、測試。
      5.按照權(quán)利要求4所述的填充有功能型光反射材料的閃爍探測器的制作方法,其特征在于漫反射材料要分幾次倒入,待前次倒入的材料基本固化后再進行下一次操作。
      全文摘要
      填充有功能型光反射材料的閃爍探測器,由閃爍體和光電子器件構(gòu)成,其特征在于,在晶體與晶體室的間隙中填充有高反射率功能型漫反射材料,該材料的組成包括氧化鎂、氧化鈦的超細粉、成型劑和光耦合劑;氧化鎂、氧化鈦的質(zhì)量比例為1∶0.8~1.2;氧化鎂、氧化鈦超細粉與成型劑和光耦合劑的質(zhì)量比例為1∶10。本發(fā)明的制作方法首先制作漫反射材料將MgO及TiO
      文檔編號G01T1/00GK1632614SQ20041006598
      公開日2005年6月29日 申請日期2004年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月29日
      發(fā)明者宮一忠, 王楠森, 張仁健, 舒雙寶, 徐宏祥, 常進, 蔡明生, 唐和森, 馬濤, 方正, 張南, 于敏, 毛建萍 申請人:中國科學(xué)院紫金山天文臺
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