專利名稱:可回授控制的微定位平臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種利用應(yīng)變規(guī)傳感器量測平臺連結(jié)機(jī)構(gòu)的變形量,并將量測所得的訊號回授至控制器,并運(yùn)算修正致動器的動作,進(jìn)而以低成本的方式,大幅提高平臺定位精準(zhǔn)度的可回授控制的微定位平臺。
背景技術(shù):
傳統(tǒng)機(jī)械式的進(jìn)給系統(tǒng)多半采用導(dǎo)螺桿、齒輪、皮帶、軸承及滑軌等機(jī)械零件,此類型機(jī)械零件會因為組件公差或裝配誤差造成定位精度受到限制,并且也因為組件間的摩擦接觸造成平臺穩(wěn)定性差;因此如果要將傳統(tǒng)機(jī)械式的進(jìn)給系統(tǒng)提升至納米等級的精度,其裝配及組件加工精度的要求就很重要,并且也需有適當(dāng)潤滑減少摩擦,如此一來,這些技術(shù)瓶頸將會使得超精密定位系統(tǒng)的價格居高不下。
為了突破傳統(tǒng)定位系統(tǒng)設(shè)計上的困難,現(xiàn)在較常使用的技術(shù)即是采用撓性結(jié)構(gòu)(Flexure Structure),其是于基座內(nèi)以撓性結(jié)構(gòu)連結(jié)平臺,再以壓電致動器做為平臺的驅(qū)動源,利用致動器的材料變形,達(dá)到定位的精度,而撓性結(jié)構(gòu)則取代原先機(jī)械式的旋轉(zhuǎn)對(Revolute Pair)、滑行對(Prismatic Pair)和球面對(Spherical Pair),如此一來,將可避免機(jī)械零件裝配誤差、組件接觸面摩擦、黏滯損耗和溫升,以及剛性差等缺點,并且在平臺微小化的發(fā)展時,也可以避免微小零件加工的困難。
該種壓電式平臺,雖在納米檢測與納米制造上已應(yīng)用的相當(dāng)廣泛,但因壓電致動器本身具有潛變以及遲滯的非線性效應(yīng)(如圖1所示,壓電致動器的動作曲線圖),而影響壓電式平臺的定位性能,而此非線性的現(xiàn)象必須依賴回授控制得以消除;此外,撓性定位平臺雖然具有無間隙與無裝配誤差的特性,但平臺會有不同軸向間干涉的誤差,此誤差亦可藉由回授控制加以消除。
美國專利US6,555,829即為具有回授控制的定位平臺,其專利為一組二垂直軸向驅(qū)動的撓性平臺,所使用的驅(qū)動器為雙壓電致動器(BimorphPiezoelectric Actuator),并且使用撓性平板彈簧來導(dǎo)引平臺的行進(jìn)方向;請參閱圖2所示,其中,10與20為上述的雙壓電致動器,11~14及21~24為所定義的撓性平板彈簧,當(dāng)致動器動作并使平臺位移后,分別以位置感測裝置15、25來量測平臺的位置,并將量測所的的訊號回授至控制器30,再由控制器30控制致動器10、20的動作,以達(dá)到精準(zhǔn)的定位;該專利的回授系藉由位置傳感器來達(dá)成,而位置傳感器的精度會直接影響平臺的定位精度,目前常用的位置傳感器為電容式位移傳感器或雷射干涉儀,位置傳感器的組裝精度要求極高,以電容式位移傳感器為例,傳感器與待測體的間距為數(shù)微米至數(shù)百微米的內(nèi),平行度必須在某個范圍內(nèi),此裝配必須依賴經(jīng)驗與儀器加以校正,且其電路設(shè)計復(fù)雜造價高,而雷射干涉儀的體積龐大又造價更為昂貴,以致使壓電平臺的閉回路系統(tǒng)設(shè)計不易,而無法有效降低成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種可回授控制的微定位平臺,以數(shù)組由平板彈簧所制成的鉸煉式的連結(jié)機(jī)構(gòu)架置動作平臺,于動作平臺的各軸向位置分別裝設(shè)致動器,例如壓電致動器,并于連結(jié)機(jī)構(gòu)上裝設(shè)可量測應(yīng)變量的應(yīng)變規(guī)傳感器,于壓電致動器動作并使平臺位移時,平臺將抵壓連結(jié)機(jī)構(gòu)并使其產(chǎn)生變形,應(yīng)變規(guī)傳感器即可量測該連結(jié)機(jī)構(gòu)的變形量,并將量測所得的訊號回授至控制器,經(jīng)由控制器的運(yùn)算,再修正控制致動器的動作,以使動作平臺準(zhǔn)確定位;藉此,利用應(yīng)變規(guī)傳感器的訊號換算為位移訊號,即可有效降低設(shè)備的成本,且達(dá)到精確定位的回授控制效果。
本發(fā)明的另一目的是提供一種可回授控制的微定位平臺,于一主動作平臺內(nèi)以數(shù)組由平板彈簧所制成的鉸煉式的連結(jié)機(jī)構(gòu)架置一次動作平臺,于主動作平臺及次動作平臺的不同軸向位置上分別裝設(shè)致動器,并于各平臺的連結(jié)機(jī)構(gòu)上裝設(shè)可量測應(yīng)變量的應(yīng)變規(guī)傳感器;藉此,可分別將不同軸向的應(yīng)變規(guī)傳感器量測所得的訊號回授至控制器,經(jīng)由控制器的運(yùn)算比對,再分別修正控制各致動器的動作,而各平臺不同軸向設(shè)置的致動器,可于動作時降低各軸向間的干涉,進(jìn)而達(dá)到精確定位的回授控制效果,亦可達(dá)到多軸定位的效果。
本發(fā)明的上述目的是這樣實現(xiàn)的,一種可回授控制的微定位平臺,包括一基座;至少一動作平臺,設(shè)于基座內(nèi);數(shù)個組連結(jié)機(jī)構(gòu),連結(jié)架設(shè)動作平臺;至少一致動器,連結(jié)于動作平臺,并使動作平臺軸向位移;應(yīng)變規(guī)傳感器,設(shè)于連結(jié)機(jī)構(gòu)上,以量測連結(jié)機(jī)構(gòu)的變形量。
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖1是壓電致動器的動作曲線圖;圖2是美國專利US6,555,829的架構(gòu)示意圖;圖3是本發(fā)明的架構(gòu)示意圖;圖4是圖3A部放大圖;圖5是圖3B部放大圖;圖6是圖3C部放大圖;圖7是本發(fā)明動作平臺于第一軸向的位移與應(yīng)變量的關(guān)系曲線圖;圖8是本發(fā)明動作平臺于第一軸向的位移與應(yīng)變量的關(guān)系曲線圖;圖9是本發(fā)明回授控制的示意圖;圖10是本發(fā)明致動器經(jīng)回授控制后的動作曲線圖;圖11是本發(fā)明的另一架構(gòu)示意圖;圖12是圖11D部放大圖;圖13是圖11E部放大圖。
附圖標(biāo)記說明10壓電致動器;11撓性平板彈簧;12撓性平板彈簧;13撓性平板彈簧;14撓性平板彈簧;15位置感測裝置;20壓電致動器;21撓性平板彈簧;22撓性平板彈簧;23撓性平板彈簧;24撓性平板彈簧;25位置感測裝置;30控制器;40基座;41動作平臺;42溝槽;43連結(jié)機(jī)構(gòu);431平板彈簧;44致動器;441撓性鉸煉對;45致動器;451撓性鉸煉對;46連結(jié)機(jī)構(gòu);461平板彈簧;47致動器;471撓性鉸煉對;48致動器;481撓性鉸煉對;49連結(jié)機(jī)構(gòu);491平板彈簧;50應(yīng)變規(guī)傳感器;51應(yīng)變規(guī)傳感器;52控制器;60基座;61主動作平臺;62連結(jié)機(jī)構(gòu);621平板彈簧;63致動器;64次動作平臺;65連結(jié)機(jī)構(gòu);651平板彈簧;66致動器;67應(yīng)變規(guī)傳感器;68應(yīng)變規(guī)傳感器。
具體實施例方式
請參閱圖3,本發(fā)明的基座40與動作平臺41可于一基板上以線切割或放電加工方式加工出貫穿的溝槽42,而于基座40內(nèi)中空位置設(shè)有動作平臺41,動作平臺41的各邊角分別以連結(jié)機(jī)構(gòu)43架置于基座40內(nèi),其中該連結(jié)機(jī)構(gòu)43可為鉸練式撓性機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)對(Revolute Pair)、滑行對(Prismatic Pair)或球面對(Spherical Pair),于基座40與動作平臺41間的第一軸向位置(例如X軸向),設(shè)有由撓性鉸煉對441、451連結(jié)的致動器44、45,其中該致動器44、45可為壓電材料、線性馬達(dá)或旋轉(zhuǎn)馬達(dá),并于致動器44、45的相對側(cè)適當(dāng)位置設(shè)有另一鉸煉式的連結(jié)機(jī)構(gòu)46,另于基座40與動作平臺41間的第二軸向位置(例如Y軸向),則設(shè)有由鉸煉對471、481連結(jié)的致動器47、48,其中該致動器47、48可為壓電材料、線性馬達(dá)或旋轉(zhuǎn)馬達(dá),并于致動器47、48的相對側(cè)適當(dāng)位置設(shè)有另一鉸煉式的連結(jié)機(jī)構(gòu)49;請參閱圖4,動作平臺41其中一邊角的鉸煉式連結(jié)機(jī)構(gòu)43,是由呈雙L形的平板彈簧431所制成的鉸煉式的機(jī)構(gòu);請參閱圖3、圖5,致動器44、45相對側(cè)的鉸煉式的連結(jié)機(jī)構(gòu)46,是由另一種型態(tài)的雙L形平板彈簧461所制成的鉸煉式的可撓性機(jī)構(gòu),于致動器44、45動作時,動作平臺41可于基座內(nèi)作第一軸向的位移,并抵壓連結(jié)機(jī)構(gòu)46,而使平板彈簧461變形,本發(fā)明于平板彈簧461的一側(cè)裝設(shè)應(yīng)變規(guī)傳感器50,例如電阻式應(yīng)變規(guī),以量測平板彈簧461的變形量;請參閱圖3、圖6,相同的,致動器47、48相對側(cè)的鉸煉式的連結(jié)機(jī)構(gòu)49,亦是由另一種型態(tài)的雙L形平板彈簧491所制成的鉸煉式的可撓性機(jī)構(gòu),于致動器47、48動作時,動作平臺41可于基座內(nèi)作第二軸向的位移,并抵壓連結(jié)機(jī)構(gòu)49,而使平板彈簧491變形,本發(fā)明于平板彈簧491的一側(cè)裝設(shè)應(yīng)變規(guī)傳感器51,以量測平板彈簧491的變形量。
由于應(yīng)變規(guī)傳感器已應(yīng)用在許多試驗及量測上,其能量測大部份固態(tài)物質(zhì)的伸長或壓縮的物理現(xiàn)象,因此在測試體上貼上應(yīng)變規(guī)傳感器即可測其應(yīng)變,當(dāng)測試體有應(yīng)變時,應(yīng)變量會傳給應(yīng)變規(guī)傳感器,而改變其電氣特性。請參閱圖7,本發(fā)明于第一軸向的平板彈簧一側(cè)裝設(shè)應(yīng)變規(guī)傳感器,經(jīng)由實驗驗證后,可以測得動作平臺于第一軸向位移時,其與應(yīng)變規(guī)傳感器輸出訊號的關(guān)系曲線為線性關(guān)系。請參閱圖8,相同的,本發(fā)明于第二軸向(Y軸向)的平板彈簧一側(cè)裝設(shè)應(yīng)變規(guī)傳感器,經(jīng)由實驗亦可測得動作平臺于第二軸向位移時,其與應(yīng)變規(guī)傳感器輸出訊號的關(guān)系曲線為線性關(guān)系,因此量測應(yīng)變規(guī)傳感器的訊號即可對應(yīng)至動作平臺的位移情形。
請參閱圖5、圖6、圖9,本發(fā)明利用量測應(yīng)變規(guī)傳感器50、51的電壓訊號變化,可利用惠斯同電橋放大,將訊號回授至控制器52,經(jīng)由控制器52的運(yùn)算,即可控制驅(qū)動器修正致動器的控制訊號,以使動作平臺的位移達(dá)到準(zhǔn)確定位的目的。本發(fā)明于初始校正階段時,可先利用高精度的雷射干涉儀比對應(yīng)變規(guī)傳感器的訊號,并根據(jù)比對的結(jié)果計算出控制器的轉(zhuǎn)換運(yùn)算方式,而在動作平臺實際運(yùn)作時,即可不需再使用到昂貴的雷射干涉儀作為位置的傳感器,而直接利用應(yīng)變規(guī)傳感器的訊號換算為位移訊號,且不失其精確性,從而實現(xiàn)精確回授控制的效果。
請參閱圖10,本發(fā)明利用量測應(yīng)變規(guī)傳感器的訊號作為動作平臺回授控制的訊號源,經(jīng)控制器運(yùn)算并修正致動器的控制訊號后,動作平臺于位移時,即可具有準(zhǔn)確的線性度,并于位移至定點后可保持定位在定點上,從而實現(xiàn)準(zhǔn)確定位。
請參閱圖11,本發(fā)明為了降低各軸向間的干涉,而于一基座60內(nèi)設(shè)有一主動作平臺61,主動作平臺61的各邊角分別以鉸煉式的連結(jié)機(jī)構(gòu)62架置于基座60內(nèi),其中該連結(jié)機(jī)構(gòu)62至少一組須為鉸練式撓性機(jī)構(gòu),其余的連結(jié)機(jī)構(gòu)可為旋轉(zhuǎn)對(Revolute Pair)、滑行對(Prismatic Pair)或球面對(SphericalPair),于基座60與主動作平臺61間的第一軸向位置設(shè)有致動器63,另于主動作平臺61內(nèi)設(shè)有一次動作平臺64,次動作平臺64的各邊角分別以鉸煉式的連結(jié)機(jī)構(gòu)65架置于主動作平臺61內(nèi),其中該連結(jié)機(jī)構(gòu)65至少一組須為鉸練式撓性機(jī)構(gòu),其余的連結(jié)機(jī)構(gòu)可為旋轉(zhuǎn)對(Revolute Pair)、滑行對(PrismaticPair)或球面對(Spherical Pair),于主動作平臺61與次動作平臺64間的第二軸向位置設(shè)有致動器66;請參閱圖12,主動作平臺61至少一邊角的鉸煉式連結(jié)機(jī)構(gòu)62,是由概呈Z形的平板彈簧621所構(gòu)成的鉸煉式的撓性機(jī)構(gòu),并于平板彈簧621的一側(cè)裝設(shè)應(yīng)變規(guī)傳感器67,以量測平板彈簧621的變形量;請參閱圖13,相同的,次動作平臺64至少一邊角的鉸煉式連結(jié)機(jī)構(gòu)65,亦是由概呈Z形的平板彈簧651所構(gòu)成的鉸煉式的撓性機(jī)構(gòu),并于平板彈簧651的一側(cè)裝設(shè)應(yīng)變規(guī)傳感器68,以量測平板彈簧651的變形量。
請再參閱圖11、圖12、圖13,當(dāng)?shù)谝惠S向位置的致動器63動作時,主動作平臺61將同時帶動次動作平臺64作第一軸向的位移,并抵壓連結(jié)機(jī)構(gòu)62,而使平板彈簧621變形,利用量測應(yīng)變規(guī)傳感器67的電壓訊號,并將訊號回授至控制器,經(jīng)由控制器的運(yùn)算,即可控制修正致動器63的控制訊號,以使得主動作平臺61于第一軸向的位移可準(zhǔn)確定位;同理,當(dāng)?shù)诙S向位置的致動器66動作時,主要由次動作平臺64作第二軸向的位移,并抵壓連結(jié)機(jī)構(gòu)65,而使平板彈簧651變形,利用量測應(yīng)變規(guī)傳感器68的電壓訊號,并將訊號回授至控制器,經(jīng)由控制器的運(yùn)算,即可控制修正致動器66的控制訊號,以使得次動作平臺64于第二軸向的位移可準(zhǔn)確定位,因此,利用主動作平臺及次動作平臺的逐層式平臺架構(gòu),即可降低各軸向間的干涉。此外,逐層式的平臺架構(gòu),不僅可作兩組的平臺設(shè)計,亦可作兩組以上的平臺架構(gòu),且致動器亦可作更多軸向的分布架設(shè),以使平臺作更多軸向的位移,相同的也都可以利用回授控制,達(dá)到準(zhǔn)確定位的目的。
權(quán)利要求
1.一種可回授控制的微定位平臺,包括一基座;至少一動作平臺,設(shè)于基座內(nèi);數(shù)個組連結(jié)機(jī)構(gòu),連結(jié)架設(shè)動作平臺;至少一致動器,連結(jié)于動作平臺,并使動作平臺軸向位移;應(yīng)變規(guī)傳感器,設(shè)于連結(jié)機(jī)構(gòu)上,以量測連結(jié)機(jī)構(gòu)的變形量。
2.依權(quán)利要求1所述的可回授控制的微定位平臺,其中,該應(yīng)變規(guī)傳感器的輸出訊號送入控制器,經(jīng)控制器運(yùn)算后,輸出控制訊號至致動器,以修正致動器的動作訊號。
3.依權(quán)利要求1所述的可回授控制的微定位平臺,其中,該動作平臺為一個可作多軸向位移的平臺。
4.依權(quán)利要求1所述的可回授控制的微定位平臺,其中,該動作平臺為一組逐層式的平臺架構(gòu),各層的動作平臺分別作單一軸向或多軸向的位移。
5.依權(quán)利要求1所述的可回授控制的微定位平臺,其中,該連結(jié)機(jī)構(gòu)至少一組為撓性機(jī)構(gòu),其余連結(jié)機(jī)構(gòu)可為撓性機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)對、滑行對或球面對。
6.依權(quán)利要求5所述的可回授控制的微定位平臺,其中,該撓性機(jī)構(gòu)的連結(jié)機(jī)構(gòu)是由平板彈簧所構(gòu)成的撓性機(jī)構(gòu)。
7.依權(quán)利要求1所述的可回授控制的微定位平臺,其中,該致動器為壓電材料、線性馬達(dá)或旋轉(zhuǎn)馬達(dá)。
8.依權(quán)利要求7所述的可回授控制的微定位平臺,其中,該壓電材料的致動器以撓性鉸煉對連結(jié)動作平臺。
9.依權(quán)利要求1所述的可回授控制的微定位平臺,其中,該致動器沿動作平臺的位移方向,作一個或一個以上軸向方向的分布配置,以使動作平臺作一個或一個以上軸向的位移。
10.依權(quán)利要求1所述的可回授控制的微定位平臺,其中,該應(yīng)變規(guī)傳感器設(shè)于致動器相對側(cè)的連結(jié)機(jī)構(gòu)上。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種可回授控制的微定位平臺,于中空狀的基座內(nèi)以數(shù)組連結(jié)機(jī)構(gòu)架置一動作平臺,該連結(jié)機(jī)構(gòu)是由平板彈簧所制成的鉸煉式的機(jī)構(gòu),于基座與動作平臺間的各軸向位置裝設(shè)致動器,使得致動器于動作時,動作平臺可于基座內(nèi)作各軸向微幅的位移,并抵壓連結(jié)機(jī)構(gòu)作變形,另于連結(jié)機(jī)構(gòu)上裝設(shè)應(yīng)變規(guī)傳感器,以感測連結(jié)機(jī)構(gòu)的彈性變形量,應(yīng)變規(guī)傳感器并將電子訊號回授至控制器,經(jīng)由控制器的運(yùn)算修正控制訊號,驅(qū)使致動器準(zhǔn)確動作,以使動作平臺的位移準(zhǔn)確定位。
文檔編號G01B9/02GK1786860SQ20041009850
公開日2006年6月14日 申請日期2004年12月9日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月9日
發(fā)明者朱怡銘, 王維漢, 吳兆棋 申請人:財團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院