專利名稱：電晶體測試模組的壓入裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電晶體測試模組的壓入裝置，特別涉及一種可將數(shù)個(gè)電晶體同時(shí)壓入電晶體測試模組中，以進(jìn)行該電晶體質(zhì)量測試的壓入裝置。
背景技術(shù)：
請參閱圖5所示，為一種習(xí)見的電晶體測試模組，其具有一電路板10，于電路板10板面設(shè)有數(shù)個(gè)晶體承座30，于一選定邊設(shè)有數(shù)個(gè)訊號接點(diǎn)20即所說的金手指，該晶體承座30是可供電晶體50簡易插拔的座體，于其內(nèi)部并設(shè)有訊號接點(diǎn)40及扣持裝置與其它構(gòu)件；藉此，將該電路板10以其訊號接點(diǎn)20插接于一主機(jī)板等其它設(shè)備，即可于所述的數(shù)個(gè)晶體承座30中置入電晶體50，以進(jìn)行該電晶體50的質(zhì)量測試作業(yè)。
但是，上述習(xí)知的電晶體測試模組，其測試作業(yè)必須以人工將電晶體50一一壓入該晶體承座30中，因此，反復(fù)此種動(dòng)作之后，往往會造成作業(yè)人員手指紅腫及磨傷，成為一種職業(yè)傷害；不僅如此，其使用人工將電晶體50一一壓入于晶體承座30的動(dòng)作，勢必造成每一測試動(dòng)作前，均耗費(fèi)相當(dāng)?shù)那爸米鳂I(yè)時(shí)間，難以提升測試作業(yè)的速度，無法有效的降低質(zhì)量管理成本，誠非合理。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是要解決習(xí)知電晶體測試模組存在的測試動(dòng)作前，耗費(fèi)相當(dāng)?shù)那爸米鳂I(yè)時(shí)間，難以提升測試作業(yè)速度以及造成作業(yè)人員手指紅腫及磨傷的問題，而提供一種可克服上述缺點(diǎn)的電晶體測試模組的壓入裝置。
本實(shí)用新型包括有一電晶體壓框、一活動(dòng)架、一驅(qū)動(dòng)裝置，電晶體壓框?yàn)橹锌站匦慰蝮w，于中空矩形框體兩內(nèi)側(cè)壁分別設(shè)有數(shù)個(gè)對應(yīng)電晶體測試模組的突塊，活動(dòng)架為驅(qū)動(dòng)電晶體壓框平衡下壓的架體，于一端設(shè)有至少一樞接部，驅(qū)動(dòng)裝置為可產(chǎn)生升降動(dòng)作的裝置，電晶體壓框以其至少一側(cè)的中間部與活動(dòng)架樞接，活動(dòng)架一端的樞接部樞設(shè)于其它設(shè)備處，活動(dòng)架另一端設(shè)有至少一驅(qū)動(dòng)裝置。
所述的活動(dòng)架可為大于電晶體壓框的中空矩形架體，以供電晶體壓框樞設(shè)于其中。
所述的驅(qū)動(dòng)裝置可為手動(dòng)裝置或自動(dòng)裝置。
本實(shí)用新型利用活動(dòng)架的升降動(dòng)作，以帶動(dòng)電晶體壓框平衡升降，方便將數(shù)個(gè)電晶體一同置入及取出電晶體測試模組中進(jìn)行測試工作，提高了測試速度，降低了質(zhì)量管理成本。


圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例的立體示意圖。
圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例的剖視示意圖。
圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例的局部立體示意圖。
圖4為本實(shí)用新型另一實(shí)施例的剖視示意圖。
圖5為習(xí)知電晶體測試模組的示意圖。
具體實(shí)施方式
請參閱圖1、圖2所示，本實(shí)用新型是可將數(shù)個(gè)電晶體同時(shí)壓入電晶體測試模組中，以供電晶體測試模組進(jìn)行電晶體質(zhì)量測試的壓入裝置，其包括有一電晶體壓框1、活動(dòng)架2、一驅(qū)動(dòng)裝置3，其中電晶體壓框1為中空矩形框體，于中空矩形框體兩內(nèi)側(cè)壁11，分別設(shè)有數(shù)個(gè)對應(yīng)習(xí)知電晶體測試模組之晶體承座30的的突塊12，并令兩側(cè)的復(fù)數(shù)突塊12呈相對應(yīng)狀；活動(dòng)架2為驅(qū)動(dòng)電晶體壓框1平衡下壓的架體，其可為大于電晶體壓框1的中空矩形架體或其它形狀的結(jié)構(gòu)，于一端設(shè)有一樞接部21；驅(qū)動(dòng)裝置3為一種可產(chǎn)生升降動(dòng)作的裝置，其可為手動(dòng)裝置，如圖1、圖2、圖3所示的一種手持壓動(dòng)的四連桿機(jī)構(gòu)組，或自動(dòng)裝置，如圖4所示的一種氣壓缸或其它如油壓缸、電磁閥等可產(chǎn)生升降動(dòng)作的裝置。
藉此，如圖1所示，電晶體壓框1以其至少一側(cè)的中間部13與活動(dòng)架2樞接組裝，活動(dòng)架2一端的樞接部21樞設(shè)于一底座4或其它設(shè)備處，而活動(dòng)架2另一端設(shè)有驅(qū)動(dòng)裝置3，藉此即組成本實(shí)用新型之電晶體測試模組的壓入裝置。
當(dāng)測試人員利用本實(shí)用新型進(jìn)行電晶體測試前，操作驅(qū)動(dòng)裝置3扳動(dòng)活動(dòng)架2產(chǎn)生下降動(dòng)作，并令電晶體壓框1平衡下降，以其兩內(nèi)側(cè)壁11各突塊12分別抵壓于晶體承座30兩端上，如圖3所示，并藉此同時(shí)下壓數(shù)個(gè)晶體承座30，以可將電晶體50一一置放于習(xí)知的電晶體測試模組的晶體承座30中，即可透過電晶體測試模組連接于主機(jī)板等設(shè)備進(jìn)行測試，測試完成后，放開活動(dòng)架2，可使習(xí)知晶體承座30內(nèi)部所設(shè)彈性裝置釋放各電晶體50，即可讓作業(yè)人員取出各種質(zhì)量的電晶體50，并準(zhǔn)備進(jìn)行下一次的測試作業(yè)。
綜上所述，本實(shí)用新型克服了習(xí)知的電晶體測試模組需人工將電晶體50一一壓入晶體承座30中的缺點(diǎn)，可避免長時(shí)間作業(yè)所造成的手部紅腫或傷害，且可加速測試程序的前置作業(yè)，故能提高測試速度，降低質(zhì)量管理成本。
權(quán)利要求1.一種電晶體測試模組的壓入裝置，其特征在于其包括有一電晶體壓框、一活動(dòng)架、一驅(qū)動(dòng)裝置，電晶體壓框?yàn)橹锌站匦慰蝮w，于中空矩形框體兩內(nèi)側(cè)壁分別設(shè)有數(shù)個(gè)對應(yīng)電晶體測試模組的突塊，活動(dòng)架為驅(qū)動(dòng)電晶體壓框平衡下壓的架體，于一端設(shè)有至少一樞接部，驅(qū)動(dòng)裝置為可產(chǎn)生升降動(dòng)作的裝置，電晶體壓框以其至少一側(cè)的中間部與活動(dòng)架樞接，活動(dòng)架一端的樞接部樞設(shè)于其它設(shè)備處，活動(dòng)架另一端設(shè)有驅(qū)動(dòng)裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電晶體測試模組的壓入裝置，其特征在于所述的活動(dòng)架為大于電晶體壓框的中空矩形架體。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電晶體測試模組的壓入裝置，其特征在于所述的驅(qū)動(dòng)裝置為手動(dòng)裝置或自動(dòng)裝置。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種電晶體測試模組的壓入裝置，其包括有一電晶體壓框、一活動(dòng)架、一驅(qū)動(dòng)裝置，電晶體壓框?yàn)橹锌站匦慰蝮w，于中空矩形框體兩內(nèi)側(cè)壁分別設(shè)有數(shù)個(gè)對應(yīng)電晶體測試模組的突塊，活動(dòng)架為驅(qū)動(dòng)電晶體壓框平衡下壓的架體，于一端設(shè)有至少一樞接部，驅(qū)動(dòng)裝置為可產(chǎn)生升降動(dòng)作的裝置，電晶體壓框以其至少一側(cè)的中間部與活動(dòng)架樞接，活動(dòng)架一端的樞接部樞設(shè)于其它設(shè)備處，活動(dòng)架另一端設(shè)有至少一驅(qū)動(dòng)裝置，本實(shí)用新型利用活動(dòng)架的升降動(dòng)作，以帶動(dòng)電晶體壓框平衡升降，方便將數(shù)個(gè)電晶體一同置入及取出電晶體測試模組中進(jìn)行測試工作，提高了測試速度，降低了質(zhì)量管理成本，還可避免長時(shí)間作業(yè)所造成的手部紅腫或傷害。
文檔編號G01R31/00GK2733362SQ20042001252
公開日2005年10月12日 申請日期2004年9月23日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月23日
發(fā)明者資重興 申請人:資重興