專利名稱：千分尺量面平行度檢查儀的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種千分尺量面平行度檢查儀。
背景技術：
千分尺量面平行度要求非常高，檢測十分不便。對量程較小的千分尺，目前是使用平行平晶檢測，對于大量程的千分尺，由于兩測量面距離較大，無法用平晶檢查，必需制作相當復雜的檢具，用測微表進行檢查，測量效率低，適用范圍小，檢查結果的可信度也不高，限制了大規(guī)格千分尺質量的進一步提高。

發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的目的是提供一種千分尺量面平行度檢查儀。
上述的目的通過以下的技術方案實現(xiàn)千分尺量面平行度檢查儀，其組成包括平行平板和架體，所述的架體上具有導軌，所述的導軌上裝有左V型定位塊和右V型定位塊，所述的左V型定位塊和右V型定位塊上裝有被測千分尺，所述的架體上裝有X軸調(diào)整手輪和Y軸調(diào)整手輪。
這個技術方案有以下有益效果1.本實用新型利用光學自準直原理，測量精度高。
2.分劃板上的刻值按測量面大小換算成線值，方便讀數(shù)。
3.光學成像的方法進行非接觸測量，對被測千分尺的影響小。
4.利用直角棱鏡和直角屋脊棱鏡做反射面，可同時反映被測面兩個方向上的角度偏差，而且可以在轉動千分螺絲的同時進行測量。
5.提供標準平行平板，可以隨時校準儀器。


附圖1是本產(chǎn)品的結構示意圖。
附圖2是本產(chǎn)品的測量原理圖。
附圖3是附圖2的F-F剖視圖。
附圖4是被測表面平行時的成像圖。
附圖5是被測表面不平行時的成像圖。
附圖6是十字分劃板的十字位置示意圖。
附圖7是十字分劃板的十字位置示意圖。
具體實施方式
實施例1千分尺量面平行度檢查儀，其組成包括平行平板6和架體22，所述的架體22上具有導軌2，所述的導軌2上裝有左V型定位塊3和右V型定位塊5，所述的左V型定位塊3和右V型定位塊5上具有被測千分尺4，所述的架體22上裝有X軸調(diào)整手輪1和Y軸調(diào)整手輪7。
上述的千分尺量面平行度檢查儀，使用時，將被測量千分尺4放在兩V型定位塊3和5上，兩測量面對著位置21處(位置21為直角棱鏡13和直角屋脊棱鏡14的安裝位置)，通過調(diào)整手輪1和7，可以在儀器分劃板上找到同一分劃板9通過千分尺兩測量面反射回來的兩個自準直像，這兩個像相互偏離的位置差就反映了千分尺兩個測量面的平行度。
上述的千分尺量面平行度檢查儀，其測量原理燈泡18發(fā)出的光通過毛玻璃17照亮十字分劃板16，分劃板16上的十字像通過分光棱鏡10、反光鏡11和反光鏡15后，通過物鏡組12以平行光出射，平行光通過直角棱鏡13和直角屋脊棱鏡14分別到達被測平面19和被測平面20(如圖4)，當兩被測平面平行時，兩束光ABCDE和A′B′C′D′E′平行返回，再通過物鏡、反光鏡、分光棱鏡，使十字分劃板16上的十字像成在目鏡分劃板2的同一位置上，即通過目鏡組8觀察時，分劃板16上的十字像是重合的。反之，當被測面19和20不平行時，通過直角棱鏡13和直角屋脊棱鏡14反射回來的光線就不再平行而是成一與兩待測面相關的角度(如圖5中α)，其結果是通過兩棱鏡后成在分劃板16上的兩個十字像偏離一定的距離，它反映了兩被測平面的平行度誤差大小和方向，為測量讀數(shù)方便，分劃板刻成圖6、圖7的樣子，使用時通過轉動分劃板，不用計算就可以通過分劃板上兩十字線間的格值數(shù)直接讀出測量值。
上述的千分尺量面平行度檢查儀，當待測面表面粗糙度較低，不能反射光線時，可以在量面上粘附兩片平行平晶的方法來測量，只是限于兩棱鏡的外形尺寸，可測量平面的最小距離受到限制。
權利要求1.一種千分尺量面平行度檢查儀，其組成包括平行平板和架體，其特征是所述的架體上具有導軌，所述的導軌上裝有左V型定位塊和右V型定位塊，所述的左V型定位塊和右V型定位塊上裝有被測千分尺，所述的架體上裝有X軸調(diào)整手輪和Y軸調(diào)整手輪。
專利摘要千分尺量面平行度檢查儀。千分尺量面平行度要求非常高，檢測十分不便。對量程較小的千分尺，目前是使用平行平晶檢測，對于大量程的千分尺，由于兩測量面距離較大，無法用平晶檢查，必需制作相當復雜的檢具，用測微表進行檢查，測量效率低，適用范圍小，檢查結果的可信度也不高，限制了大規(guī)格千分尺質量的進一步提高。千分尺量面平行度檢查儀，其組成包括平行平板6和架體22，所述的架體22上具有導軌2，所述的導軌2上裝有左V型定位塊3和右V型定位塊5，所述的左V型定位塊3和右V型定位塊5上裝有被測千分尺4，所述的架體22上裝有X軸調(diào)整手輪1和Y軸調(diào)整手輪7。該產(chǎn)品用于檢測千分尺。
文檔編號G01B3/18GK2767952SQ20042005404
公開日2006年3月29日 申請日期2004年12月23日 優(yōu)先權日2004年12月23日
發(fā)明者李文義, 崔洪烈, 閆爽, 劉世濱, 李淑英 申請人:哈爾濱量具刃具集團有限責任公司