專利名稱：多波長旋光測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種光學(xué)測試儀，特別是一種多波長旋光測試儀。
(二)技術(shù)背景目前我國只有單波長旋光測試儀，這類儀器缺點1、只有單波長鈉燈等作為光源；2、靠人眼判斷以暗視場均勻做出判斷是否消光，誤差大，不靈敏；3、在消光位置附近，檢偏器沿正向或反向旋轉(zhuǎn)相同角度時出現(xiàn)的結(jié)果相同，這使測量誤差變?yōu)榕袛嗾`差的兩倍，因此這種儀器只能達(dá)到度的量級；4、只能測量固定長度液體，且無法計算旋光色散。對于固體物質(zhì)的旋光測量，特別是對于大旋光性晶體物質(zhì)，過去一直沒有有效的測量儀器。

發(fā)明內(nèi)容為克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，本實用新型提供一種設(shè)計合理、制造容易、使用方便、測量精度高、既可測量多波長光，變長度固體、液體等物質(zhì)的旋光率，又可測雙折射率的多波長旋光測試儀。
一種多波長旋光測試儀，由光源、準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器組成，準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器安裝在機(jī)殼內(nèi)一個水平平臺上，偏檢器和起偏器安裝在被測樣品架的左右兩測，三者光軸在同一條水平線上。
所述的偏檢器和起偏器均為波長范圍為190nm-900nm、無吸收的偏光鏡。
所述的光源為溴鎢燈和氘燈。
本實用新型改變了傳統(tǒng)旋光儀只能測單波長光的缺點，波長范圍從190nm到900nm均可測量；測量時，將被測樣品置于被測樣品架上。在測量過程中，光源可根據(jù)波長范圍從190nm到900nm之間的變化，自動切換溴鎢燈和氘燈；接收器可直接與計算機(jī)連接，能立刻得出測量直接結(jié)果，方便、可靠、準(zhǔn)確；既可以當(dāng)光度計用，又可以當(dāng)旋光儀用，測量范圍擴(kuò)大，避免重復(fù)性購買儀器，做到一機(jī)多用、活用；可測量變長度固體、液體等物質(zhì)的旋光率；不但能測旋光率，還同時測出旋光色散，還可以測雙折射。
旋光測量原理根據(jù)光學(xué)原理，旋光就是當(dāng)線偏振光通過某些透明物質(zhì)后，其振動面旋轉(zhuǎn)了一個角度φ，而旋光率ρ為ρ=φ/d=πλ0(n1-nr)---(1)]]>式中λo為光波在真空中的波長，圓偏振光波的折射率nr，nl，d透明物質(zhì)厚度。傳統(tǒng)的測量原理是測出φ，d是已知就能算出旋光率ρ。本實用新型中，固定φ為90°或90°的倍數(shù)，也就是當(dāng)線偏振光通過某些透明物質(zhì)后找出透過率極大或極小值，隨著波長變化，符合以下規(guī)律φ(λ)＝ρ(λ)d＝m180°-90°(m＝1，2，3...)(2)將出現(xiàn)最小值。符合以下規(guī)律φ(λ)＝ρ(λ)d＝m180°(m＝1，2，3...) (3)將出現(xiàn)最大值。由此可以算出旋光率ρ。
雙折射測量原理設(shè)兩偏振片平行p1∥p2，被測晶片光軸方向位于p1，p2透振方向同側(cè)，其干涉光強(qiáng)為I=I1[1-12sin22θ(1-cosδ)]---(4)]]>式中I1為入射光的強(qiáng)度，θ為被測晶體光軸與偏振片偏振方向的夾角，δ為o光和e光的位相差，可寫為δ=2πλ(ne-no)·d=2πλ·Δn·d---(5)]]>當(dāng)δ＝2nπ時光強(qiáng)達(dá)到最大值，當(dāng)δ＝(2n+1)π時光強(qiáng)達(dá)到最小值，經(jīng)計算得出Δn=λ1λ22(λ1-λ2)d---(6)]]>式中λ1＞λ2，代表相鄰的極大、極小波長值。
本實用新型具有設(shè)計合理、制造容易、使用方便、測量精度高、可測量多波長光、既可測量變長度固體、液體等物質(zhì)的旋光率，又可測雙折射率的特點。


圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是本實用新型旋光測量時光透過率極大、極小值曲線。
圖3是本實用新型雙折射測量時光透過率極大、極小值曲線。
其中，1、光源，2斬光器，3、準(zhǔn)直鏡，4、參比池，5、接收器，6、被測樣品架，7、偏檢器，8、起偏器。
具體實施方式
實施例本實用新型的結(jié)構(gòu)如圖1所示，由光源1、準(zhǔn)直鏡3、參比池4、斬光器2、被測樣品架6和接收器5組成，準(zhǔn)直鏡3、參比池4、斬光器2、被測樣品架6和接收器5安裝在機(jī)殼內(nèi)一個水平平臺上，偏檢器7和起偏器8安裝在被測樣品架6的左右兩測，三者光軸在同一條水平線上。偏檢器7和起偏器8均為波長范圍為190nm-900nm、無吸收的偏光鏡；光源1為溴鎢燈和氘燈。
權(quán)利要求1.一種多波長旋光測試儀，由光源、準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器組成，準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器安裝在機(jī)殼內(nèi)一個水平平臺上，其特征在于，偏檢器和起偏器安裝在被測樣品架的左右兩測，三者光軸在同一條水平線上。
2.如權(quán)利要求1所述的多波長旋光測試儀，其特征在于，所述的偏檢器和起偏器均為波長范圍為190nm-900nm、無吸收的偏光鏡。
3.如權(quán)利要求1所述的多波長旋光測試儀，其特征在于，所述的光源為溴鎢燈和氘燈。
專利摘要本實用新型涉及一種多波長旋光測試儀，由光源、準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器組成，準(zhǔn)直鏡、參比池、斬光器、被測樣品架和接收器安裝在機(jī)殼內(nèi)一個水平平臺上，偏檢器和起偏器安裝在被測樣品架的左右兩測，三者光軸在同一條水平線上；偏檢器和起偏器均為波長范圍為190nm－900nm、無吸收的偏光鏡；光源為溴鎢燈和氘燈。本實用新型既可以當(dāng)光度計用，又可以當(dāng)旋光儀用，測量范圍擴(kuò)大，避免重復(fù)性購買儀器，做到一機(jī)多用、活用，具有設(shè)計合理、制造容易、使用方便、測量精度高、既可測量多波長下變長度固體、液體等物質(zhì)的旋光率，又可測雙折射率的特點。
文檔編號G01N21/17GK2738242SQ20042009747
公開日2005年11月2日 申請日期2004年11月9日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月9日
發(fā)明者魏愛儉 申請人:山東大學(xué)