專利名稱：傳送系統(tǒng)、接收裝置、測試裝置及測試頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種傳送系統(tǒng)、接收裝置、測試裝置及測試頭，且特別是有關(guān)于一種用于將傳送信號進行傳送的傳送系統(tǒng)、接收裝置、測試裝置及測試頭。
背景技術(shù)：
在習知技術(shù)中，有一種與PLL(Phase Locked Loop；鎖相環(huán))輸出的時脈同步傳送信號的信號傳送方式(例如，參照專利文獻1及2)。PLL具有基準振蕩器及VCO(Voltage Controlled Oscillator；電壓控制振蕩器)，并藉由根據(jù)基準振蕩器的輸出和VCO的輸出的相位差的電壓，再次施加在VCO上，從而使VCO以一定的頻率進行振蕩，且將VCO的輸出作為輸出時脈向外部輸出。
專利文獻1日本專利早期公開的特開2000-13218號公報(圖1)專利文獻2日本專利早期公開的特開2002-198940號公報(圖1)但是，在PLL的輸出時脈中，含有因VCO的相位雜音而造成的不規(guī)則跳動。因此，當利用PLL輸出的時脈傳送信號時，因例如不規(guī)則跳動，有時在信號的傳送中會產(chǎn)生錯誤。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是在提供一種能夠解決上述課題的傳送系統(tǒng)、接收裝置、測試裝置及測試頭。該目的由權(quán)利要求的獨立項所述的特征的組合而實現(xiàn)。而且，從屬項規(guī)定了本發(fā)明的更加有利的具體例子。
本發(fā)明提出一種傳送系統(tǒng)，其是用于將傳送信號進行傳送的傳送系統(tǒng)，且包括輸出預定周期的周期時脈的周期時脈輸出部、使前述傳送信號與前述周期時脈同步傳送的傳送部、接收前述傳送部所傳送的前述傳送信號的接收部。前述接收部具有根據(jù)從前述傳送部接收的前述傳送信號中所取出的取樣數(shù)據(jù)，產(chǎn)生與前述取樣數(shù)據(jù)值的變化同步的數(shù)據(jù)同步時脈的數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部、對從前述周期時脈輸出部接收的前述周期時脈和前述數(shù)據(jù)同步時脈的周期相位差進行檢測的周期相位差檢測部、使從前述周期時脈輸出部所接收的前述周期時脈的相位進行變位元的相位變化時脈，為了使該相位變化時脈和前述數(shù)據(jù)同步時脈的變化相位差達到預定的大小，而根據(jù)前述周期相位差進行產(chǎn)生的相位變化時脈產(chǎn)生部、藉由與前述相位變化時脈同步接收前述傳送信號，從而從由前述傳送部所接收的前述傳送信號中取出前述取樣數(shù)據(jù)，并供給到前述數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部的數(shù)據(jù)取出部。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述，前述傳送部是作為串列數(shù)據(jù)輸出前述傳送信號。前述取樣數(shù)據(jù)是為具有預定的位元數(shù)的并行數(shù)據(jù)。前述數(shù)據(jù)取出部具有與前述并行數(shù)據(jù)的各個位元分別對應設(shè)置，并在各不相同的時刻取入前述串列數(shù)據(jù)值，且將所取入的前述值作為在前述并行數(shù)據(jù)中對應的前述位元值，以分別進行輸出的多數(shù)個位元輸出部。前述數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部具有與各個前述位元分別對應設(shè)置，并根據(jù)從對應的前述位元輸出部所接收的前述位元值，以分別產(chǎn)生與該值的變化同步的前述數(shù)據(jù)同步時脈的多數(shù)個位元時脈產(chǎn)生部。前述周期相位差檢測部具有與各個前述位元分別對應設(shè)置，并分別檢測對應的前述位元時脈產(chǎn)生部產(chǎn)生的前述數(shù)據(jù)同步時脈和前述周期時脈的前述周期相位差的多數(shù)個位元相位差檢測部。前述相位變化時脈產(chǎn)生部具有相位各不相同，并藉由使前述周期時脈分別延遲不同時間，而產(chǎn)生與各個前述位元分別對應的多數(shù)個延遲時脈的延遲時脈產(chǎn)生部、與各個前述位元分別對應設(shè)置，且為了使與對應的前述數(shù)據(jù)同步時脈的前述變化相位差達到前述預定的大小，而將使對應的前述延遲時脈的相位，根據(jù)對應的前述位元相位差檢測部所檢測的前述周期相位差進行延遲的信號，以作為前述相位變化時脈分別產(chǎn)生的多數(shù)個延遲部。各個前述位元輸出部也可藉由與對應的前述延遲部產(chǎn)生的前述相位變化時脈同步，取入前述串列數(shù)據(jù)的值，從而取出前述取樣數(shù)據(jù)中的對應的前述位元的值。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述，前述傳送部是作為串列數(shù)據(jù)傳送前述傳送信號。前述相位變化時脈產(chǎn)生部具有藉由使前述周期時脈分別延遲不同時間，從而分別產(chǎn)生相位不同的多數(shù)個延遲時脈的延遲時脈產(chǎn)生部、從前述延遲時脈產(chǎn)生部接收前述多數(shù)個延遲時脈，并依據(jù)來自外部的指示，選擇多數(shù)個延遲時脈的至少一部分的選擇部、藉由將前述選擇部選擇的前述延遲時脈的相位進行延遲，以使前述變化相位差達到前述預定的大小，從而產(chǎn)生與前述選擇部所選擇的前述延遲時脈對應的前述相位變化時脈的延遲部。藉由與前述延遲部產(chǎn)生的前述延遲時脈所對應的前述相位變化時脈，以分別同步并接收前述傳送信號，前述數(shù)據(jù)取出部可產(chǎn)生具有與前述選擇部選擇的前述延遲時脈數(shù)對應的位元數(shù)的并行數(shù)據(jù)，并將該并行數(shù)據(jù)作為前述取樣數(shù)據(jù)來輸出。
前述接收部也可還具有藉由從由前述傳送部所接收的前述傳送信號中再生的前述周期時脈，從而接收前述周期時脈輸出部輸出的前述周期時脈的時脈再生部。
本發(fā)明提供一種接收裝置，是用于接收傳送信號的接收裝置。其包括根據(jù)從與預定周期的周期時脈同步傳送的前述傳送信號中所取出的取樣數(shù)據(jù)，產(chǎn)生與前述取出數(shù)據(jù)值的變化同步的數(shù)據(jù)同步時脈的數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部、對前述周期時脈和前述數(shù)據(jù)同步時脈的周期相位差進行檢測的周期相位差檢測部、使前述周期時脈的相位進行變化的相位變化時脈，為了使該相位變化時脈和前述數(shù)據(jù)同步時脈的變化相位差達到預定的大小，而根據(jù)前述周期相位差進行產(chǎn)生的相位變化時脈產(chǎn)生部、藉由與前述相位變化時脈同步接收前述傳送信號，而從前述傳送信號中取出前述取樣數(shù)據(jù)，并供給到前述數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部的數(shù)據(jù)取出部。
本發(fā)明提供一種測試裝置，其為對電子元件進行測試的測試裝置。包括產(chǎn)生用于測試前述電子元件的測試圖案的測試圖案產(chǎn)生部、輸出預定周期的周期時脈的周期時脈輸出部、將根據(jù)從前述測試圖案產(chǎn)生部所接收的前述測試圖案的傳送信號，與前述周期時脈同步進行傳送的傳送部、接收前述傳送部所傳送的前述傳送信號，并從前述傳送信號中取出取樣數(shù)據(jù)的接收部、從前述接收部所取出的前述取樣數(shù)據(jù)中取出前述測試圖案，并將所取出的前述測試圖案供給至前述電子元件的測試圖案供給部、依據(jù)前述測試圖案，根據(jù)前述電子元件所輸出的輸出信號，對前述電子元件的好壞進行判定的判定部。前述接收部具有根據(jù)從前述傳送部接收的前述傳送信號中所取出的取樣數(shù)據(jù)，產(chǎn)生與前述取樣數(shù)據(jù)值的變化同步的數(shù)據(jù)同步時脈的數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部、對從前述周期時脈輸出部接收的前述周期時脈和前述數(shù)據(jù)同步時脈的周期相位差進行檢測的周期相位差檢測部、將使從前述周期時脈輸出部所接收的前述周期時脈的相位進行變位元的相位變化時脈，為了使該相位變化時脈和前述數(shù)據(jù)同步時脈的變化相位差達到預定的大小，而根據(jù)前述周期相位差進行產(chǎn)生的相位變化時脈產(chǎn)生部、藉由與前述相位變化時脈同步接收前述傳送信號，從而從由前述傳送部所接收的前述傳送信號中取出前述取樣數(shù)據(jù)，并供給到前述數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部的數(shù)據(jù)取出部。
前述測試裝置包括傳送前述傳送信號的傳送線、產(chǎn)生前述傳送信號，并向前述傳送線輸出的主機、載置前述電子元件，并根據(jù)通過前述傳送線而從前述主機接收的前述傳送信號，向前述電子元件供給前述測試圖案的測試頭。前述主機具有前述測試圖案產(chǎn)生部、前述周期時脈產(chǎn)生部、前述傳送部。前述測試頭具有前述接收部、前述測試圖案供給部。前述接收部也可通過前述傳送線，從前述傳送部接收前述傳送信號。
前述測試裝置也可包括具有可拆卸地被分別固定的第一及第二測試模組的測試頭。前述第一測試模組包括前述測試圖案產(chǎn)生部、前述周期時脈產(chǎn)生部、前述傳送部。前述第二測試模組包括前述接收部、前述測試圖案供給部。
本發(fā)明提供一種測試頭，其是用于載置所測試的電子元件的測試頭。其包括在前述測試頭內(nèi)可拆卸地被分別固定的第一及第二測試模組。前述第一測試模組具有產(chǎn)生用于測試前述電子元件的測試圖案的測試圖案產(chǎn)生部、輸出預定周期的周期時脈的周期時脈輸出部、將根據(jù)從前述測試圖案產(chǎn)生部所接收的前述測試圖案的傳送信號，與前述周期時脈同步進行傳送的傳送部。前述第二測試模組具有接收前述傳送部所傳送的前述傳送信號，并從前述傳送信號中取出取樣數(shù)據(jù)的接收部、從前述接收部所取出的前述取樣數(shù)據(jù)中取出前述測試圖案，并將所取出的前述測試圖案供給至前述電子元件的測試圖案供給部。前述接收部具有根據(jù)從前述傳送部接收的前述傳送信號中所取出的取樣數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生與前述取樣數(shù)據(jù)值的變化同步的數(shù)據(jù)同步時脈的數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部、對從前述周期時脈輸出部接收的前述周期時脈和前述數(shù)據(jù)同步時脈的周期相位差進行檢測的周期相位差檢測部、使從前述周期時脈輸出部所接收的前述周期時脈的相位進行變位元的相位變化時脈，為了使該相位變化時脈和前述數(shù)據(jù)同步時脈的變化相位差達到預定的大小，而根據(jù)前述周期相位差進行產(chǎn)生的相位變化時脈產(chǎn)生部、藉由與前述相位變化時脈同步接收前述傳送信號，從而從由前述傳送部所接收的前述傳送信號中取出前述取樣數(shù)據(jù)，并供給到前述數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部的數(shù)據(jù)取出部。
另外，上述發(fā)明的概要沒有列舉本發(fā)明的必要特征的全部，這些特征群的子集也可形成發(fā)明。
為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，并配合所附圖式，作詳細說明如下。


圖1是繪示依照本發(fā)明一較佳實施例的一種測試裝置的構(gòu)成示意圖。
圖2是繪示依照本發(fā)明一較佳實施例的一種傳送系統(tǒng)的詳細構(gòu)成示意圖。
圖3是繪示依照本發(fā)明一較佳實施例的一種傳送系統(tǒng)的更加詳細的構(gòu)成示意圖。
圖4是繪示依照本發(fā)明一較佳實施例的一種多相時脈產(chǎn)生部的詳細構(gòu)成示意圖。
圖5是繪示依照本發(fā)明一較佳實施例的另一種測試裝置的構(gòu)成示意圖。
圖6是繪示依照本發(fā)明一較佳實施例的另一種傳送系統(tǒng)的詳細構(gòu)成示意圖。
10測試裝置20主機22測試圖案產(chǎn)生部24傳送部
26控制部30傳送系統(tǒng)32、34傳送線40測試頭42接收部43接收部44測試圖案供給部46判定部48介面50電子元件60第一測試模組62第二測試模組240周期時脈輸出部242、244緩沖器250傳送部252邏輯處理電路254串列轉(zhuǎn)換電路256多相時脈產(chǎn)生部420、422緩沖器424數(shù)據(jù)取出部426位元輸出部428數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部430位元時脈產(chǎn)生部432周期相位差檢測部434位元相位差檢測部436相位變化時脈產(chǎn)生部438延遲部440多相時脈產(chǎn)生部500相位比較部502供給泵504低通濾波器506延遲電路部508延遲部510選擇電路600時脈再生部
具體實施例方式
下面通過發(fā)明的實施形態(tài)對本發(fā)明進行說明，但下面的實施形態(tài)并不對關(guān)于權(quán)利要求的發(fā)明進行限定，而且實施形態(tài)中所說明的特征的全部組合未必是發(fā)明的解決方法所必須的。
圖1所示為關(guān)于本發(fā)明的實施形態(tài)的一個例子的測試裝置10的構(gòu)成的一個例子。測試裝置10為對電子元件(DUT)50進行測試的裝置，包括主機20、傳送線32、介面48及測試頭40。主機20產(chǎn)生用于測試電子元件50的測試圖案，并通過例如電纜等傳送線32將測試圖案傳送至測試頭40。介面48為例如執(zhí)行臺等，載置電子元件50并與測試頭40連接。測試頭40藉由載置例如介面48，而載置電子元件50。
測試頭40將從主機20通過傳送線32所接收的測試圖案，通過介面48傳給電子元件50，并依據(jù)該測試圖案與電子元件50所輸出的輸出信號來判定電子元件50的好壞。而且，測試頭將電子元件50輸出判定結(jié)果54至主機20。
主機20具有控制部26、測試圖案產(chǎn)生部22及傳送部24?？刂撇?6將用于控制測試的控制信號傳送給測試圖案產(chǎn)生部22。而且，控制部26從測試頭40接收電子元件50的判定結(jié)果?？刂撇?6將所接收的判定結(jié)果顯示在例如是設(shè)于主機20的顯示裝置上。
測試圖案產(chǎn)生部22根據(jù)控制部26發(fā)出的控制信號，以產(chǎn)生用于測試電子元件50的測試圖案。傳送部24接收測試圖案產(chǎn)生部22所產(chǎn)生的測試圖案，并轉(zhuǎn)換為用于傳送測試圖案的傳送信號，且將該傳送信號傳送至測試頭40。
測試頭40具有接收部42、測試圖案供給部44及判定部46。接收部42從傳送部24接收傳送信號，并從所接收的傳送信號中取出取樣數(shù)據(jù)。而且，接收部42將所取出的取樣數(shù)據(jù)供給到測試圖案供給部44。另外，在本實施例中，測試頭40為接收裝置的一個例子。而且，在本實施例中，傳送部24及接收部42構(gòu)成用于將傳送信號進行傳送的傳送系統(tǒng)30。
測試圖案供給部44通過介面48與電子元件50電氣連接，并從所接收的取樣數(shù)據(jù)中取出測試圖案，且供給到電子元件50。判定部46依據(jù)測試圖案，以接收電子元件50所輸出的輸出信號，并藉由將例如所接收的輸出信號和期待值進行比較，以判定電子元件50的好壞。而且，判定部46將判定結(jié)果輸出至控制部26。另外，判定部46也可在主機20內(nèi)。如利用本實施例，可適當?shù)貙﹄娮釉?0進行測試。
圖2所示為傳送系統(tǒng)30的詳細構(gòu)成的一個例子。傳送部24包括周期時脈輸出部240、多數(shù)個傳送部250a～250n、及多數(shù)個緩沖器242a～242n、244a～244n。周期時脈輸出部240產(chǎn)生預定周期的周期時脈，并輸出至各個傳送部250及各個緩沖器244。周期時脈輸出部240為例如水晶振蕩器等低雜音信號源。
各個傳送部250分別從測試圖案產(chǎn)生部22接收測試圖案的一部分，并分別產(chǎn)生根據(jù)所接收的測試圖案的傳送信號，且分別與周期時脈同步傳送。在本實施例中，各個傳送信號為串列數(shù)據(jù)。各個緩沖器242與各個傳送部250對應設(shè)置，并將從對應的傳送部250所接收的傳送信號，分別輸出至接收部42。各個緩沖器244與各個傳送部250對應設(shè)置，并將從周期時脈輸出部240所接收的周期時脈，分別輸出至傳送部42。
接收部42包括與各個傳送部250分別對應設(shè)置的多數(shù)個接收部43a～43n。各個接收部43分別包括多數(shù)個緩沖器420，422、數(shù)據(jù)取出部424、數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部428、周期相位差檢測部432及相位變化時脈產(chǎn)生部436。緩沖器420從對應的緩沖器242接收傳送信號，并輸出至數(shù)據(jù)取出部424。緩沖器422從對應的緩沖器244接收周期時脈，并輸出至周期相位差檢測部432及相位變化時脈產(chǎn)生部436。
數(shù)據(jù)取出部424藉由與相位變化時脈產(chǎn)生部436輸出的相位變化時脈同步接收傳送信號，而從傳送信號取出抽樣數(shù)據(jù)，并供給到測試圖案供給部44及數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部428。數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部428根據(jù)從數(shù)據(jù)取出部424所取出的取樣數(shù)據(jù)，產(chǎn)生與取樣數(shù)據(jù)的值的變化同步的數(shù)據(jù)同步時脈，并供給到周期相位差檢測部432。
周期相位差檢測部432對通過緩沖器244及422從周期時脈輸出部240所接收的周期時脈，和從數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部428所接收的數(shù)據(jù)同步時脈的周期相位差進行檢測，并將該周期相位差供給到相位變化時脈產(chǎn)生部436。
相位變化時脈產(chǎn)生部436根據(jù)周期相位差檢測部432所檢測出的周期相位差，將從周期時脈輸出部240所取得的周期時脈的相位進行變化的時脈作為相位變化時脈輸出。在本實施例中，相位變化時脈產(chǎn)生部436根據(jù)周期相位差產(chǎn)生相位變化時脈，以使相位變化時脈和數(shù)據(jù)同步時脈的變化相位差達到預定的大小。相位變化時脈產(chǎn)生部436產(chǎn)生例如上升邊與傳送信號值的變化點的間隔的中央大約一致這樣的相位變化時脈。相位變化時脈產(chǎn)生部436將產(chǎn)生的相位變化時脈傳送給數(shù)據(jù)取出部424。
另外，測試圖案供給部44分別接收各個傳送部43所輸出的取樣數(shù)據(jù)，并從該取樣數(shù)據(jù)中取出原測試圖案。而且，在本實施例中，周期時脈輸出部240設(shè)于主機20的內(nèi)部，但作為其他例子，也可設(shè)于測試頭40的內(nèi)部或主機20及測試頭40的外部。
如上所述，本實施例的傳送系統(tǒng)30將傳送信號和周期時脈由各自的路徑進行傳送。而且，傳送部43利用數(shù)據(jù)周期時脈產(chǎn)生部428及周期相位差檢測部432對傳送信號和周期時脈因獨立的偏差所造成的相位關(guān)系的變動進行監(jiān)視。藉此，接收部43根據(jù)該相位關(guān)系的變動對檢測所接收的傳送信號的值的時刻進行控制。因此，如利用本實施例，傳送系統(tǒng)30可使傳送部250傳送的傳送信號，由對應的接收部43確實地被接收。
圖3所示為傳送系統(tǒng)30的更加詳細的構(gòu)成的一個例子。另外，除了以下所說明之點以外，在圖3中，賦予圖2相同符號的構(gòu)成，與圖2的構(gòu)成相同或具有同樣的機能及構(gòu)成，所以省略說明。
各個傳送部250分別包括邏輯處理電路252、多相時脈產(chǎn)生部256及串列轉(zhuǎn)換電路254。邏輯處理電路252從測試圖案產(chǎn)生部22將測試圖案的一部分作為并行數(shù)據(jù)接收，并根據(jù)從周期時脈輸出部240所接收的周期時脈，進行例如編碼、附加糾錯位元、成幀化等處理，且將處理后的并行數(shù)據(jù)供給到串列轉(zhuǎn)換電路254。
多相時脈產(chǎn)生部256從周期時脈輸出部240接收周期時脈。而且，多相時脈產(chǎn)生部256藉由使接收的周期時脈通過例如多數(shù)個延遲元件，而分別延遲不同時間，從而可產(chǎn)生相位各不相同的多數(shù)個延遲時脈，并供給到串列轉(zhuǎn)換電路254。在這種情況下，各個延遲時脈與邏輯處理電路252輸出的并行數(shù)據(jù)的各個位元是分別對應。在本實施例中，多相時脈產(chǎn)生部256為延遲時脈產(chǎn)生部的一個例子。多相時脈產(chǎn)生部256也可為延遲鎖相環(huán)(PLL)。
串列轉(zhuǎn)換電路254從邏輯處理電路252接收并行數(shù)據(jù)，并從多相時脈產(chǎn)生部256接收多數(shù)個延遲時脈。而且，串列轉(zhuǎn)換電路254將接收的并行數(shù)據(jù)，根據(jù)與并行數(shù)據(jù)的各個位元對應的延遲時脈而進行串列轉(zhuǎn)換，并作為傳送信號，再通過緩沖器242、420輸出至數(shù)據(jù)取出部424。
在本實施例中，多相時脈產(chǎn)生部256產(chǎn)生的各個延遲時脈，與周期時脈例如是在同一周期，只是相位不同。因此，各個延遲時脈在周期時脈的每1周期，分別產(chǎn)生1次上升邊。串列轉(zhuǎn)換電路254將接收的并行數(shù)據(jù)的各個位元，以對應的延遲時脈，例如上升邊進行串列轉(zhuǎn)換。藉此，在本實施例中，串列轉(zhuǎn)換電路254將并行數(shù)據(jù)，轉(zhuǎn)換為例如在周期時脈的每1周期分別含有并行數(shù)據(jù)的1個位元的串列數(shù)據(jù)。
數(shù)據(jù)取出部424具有與邏輯處理電路252輸出的并行數(shù)據(jù)的位元分別對應的多數(shù)個位元輸出部426a～426c。數(shù)據(jù)取出部424可具有與并行數(shù)據(jù)的位元數(shù)相等數(shù)目的位元輸出部426。而且，在本實施例中，數(shù)據(jù)取出部424從相位變化時脈產(chǎn)生部436取出多數(shù)個相位變化時脈。
各個位元輸出部426分別接收多數(shù)個相位變化時脈中的任一。而且，各個位元輸出部426將串列數(shù)據(jù)的值，依據(jù)對應的相位變化時脈，分別在不同的時刻取入。藉此，各個位元輸出部426將所取入的值，作為并行數(shù)據(jù)中對應的位元值，分別向測試圖案供給部44及數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部428輸出。在本實施例中，各個位元輸出部426由例如雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器等構(gòu)成，且由對應的相位變化時脈的邊緣分別取入串列數(shù)據(jù)的值。
另外，測試圖案供給部44分別接收各個接收部43的各個位元輸出部426所輸出的各個位元值。而且，測試圖案供給部44進行例如解碼、糾錯位元的分離、成幀化的解除等處理，并從各個位元的值取出測試圖案，且供給到電子元件50。
數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部428具有多數(shù)個位元時脈產(chǎn)生部430a～430c。各個位元時脈產(chǎn)生部430分別與各個位元輸出部426輸出的各個位元對應設(shè)置。每一位元時脈產(chǎn)生部430根據(jù)從對應的位元輸出部426接收的位元值，分別產(chǎn)生與該值的變化同步的數(shù)據(jù)同步時脈。這樣，位元時脈產(chǎn)生部430從對應的位元值的變化點取出傳送信號的相位資訊。
周期相位差檢測部432具有多數(shù)個位元相位差檢測部434a～434c。各個位元相位差檢測部434分別與各個位元輸出部426對應設(shè)置。各個位元相位差檢測部434是分別進行檢測對應的位元時脈產(chǎn)生部430產(chǎn)生的數(shù)據(jù)同步時脈和通過緩沖器244及緩沖器422從周期時脈輸出部240接收的周期時脈的周期相位差。
相位變化時脈產(chǎn)生部436具有多相時脈產(chǎn)生部440及多數(shù)個延遲部438a～438c。多相時脈產(chǎn)生部440通過對應的緩沖器244及422接收周期時脈。而且，多相時脈產(chǎn)生部440藉由使接收的周期時脈通過例如多數(shù)個延遲元件而分別延遲不同的時間，從而產(chǎn)生相位各不相同的多數(shù)個延遲時脈。在這種情況下，各個延遲時脈與各個位元輸出部426輸出的各個位元是分別對應。
多數(shù)個延遲部438a～438c分別與各個位元輸出部426輸出的各個位元對應設(shè)置。各個延遲部438為了使與對應的數(shù)據(jù)同步時脈的變化相位差達到預定的大小，其是藉由根據(jù)對應的位元相位差檢測部434檢測出的周期相位差而延遲對應的延遲時脈的相位，從而分別產(chǎn)生相位變化時脈，并發(fā)給對應的位元輸出部426。
這里，各個位元輸出部426藉由接收對應的相位變化時脈，從而在與周期時脈的1周期對應的每個期間，從串列數(shù)據(jù)中取入對應的位元。在這種情況下，各個延遲部438藉由使對應的延遲時脈的延遲量進行變化，以使對應的相位變化時脈的上升邊與例如串列數(shù)據(jù)中的對應位元間的大致中央保持一致，，從而產(chǎn)生相位變化時脈。
這樣，各個接收部43分別進行比較接收的并行數(shù)據(jù)的各個位元的相位和接收的周期時脈的相位，并對對應的相位變化時脈進行反饋控制，以使各個位元輸出部426在一定的時刻取入位元。
這里，如果與PLL輸出的時脈同步傳送信號，則具PLL的VCO由于有相位雜音，所以在PLL的輸出時脈中，將含有因相位雜音造成的不規(guī)則跳動。因此，有時在所傳送的傳送信號中含有不規(guī)則跳動，使接收傳送信號時的BER(Bit Error Rate；位元誤碼率)增大。而且，雖然藉由將振蕩電路的Q值設(shè)計的較高，可使VCO的相位雜音減少，但在這種情況下，PLL的鎖定范圍變窄。另外，因Q值提高，會使構(gòu)成VCO的構(gòu)件常數(shù)、配線電阻、基板間去耦容量等的參差不齊的影響變大。因此，為了使PLL以所需的頻率振蕩，有時需要挑選該參差不齊的中心，使成本增高。
本實施例的傳送系統(tǒng)30在傳送及接收的參照時脈中使用多相時脈產(chǎn)生部256所產(chǎn)生的多數(shù)個延遲時脈，將信號進行傳送。多相時脈產(chǎn)生部256藉由使周期時脈輸出部240輸出的周期時脈通過多相時脈產(chǎn)生部256內(nèi)的例如多數(shù)個延遲元件，從而產(chǎn)生多數(shù)個延遲時脈。由于傳送部24不需要PLL等振蕩電路，所以在傳送系統(tǒng)30所傳送的傳送信號中，不含有因VCO的相位雜音所造成的不規(guī)則跳動。而且，由于接收部43不需要PLL等振蕩電路，所以在各個位元輸出部426所接收的相位變化時脈，不含有因VCO的相位雜音所造成的不規(guī)則跳動。因此，如利用本實施例，可以小的BER傳送信號。
而且，在利用VCO進行傳送的情況下，當例如要變更傳送速度時，產(chǎn)生使VCO的振蕩頻率變化的需要，需要變更VCO的電路構(gòu)成。但是，本實施例的傳送系統(tǒng)30，其是藉由調(diào)整例如多相時脈產(chǎn)生部256及多相時脈產(chǎn)生部440的延遲量，可在不變更電路的構(gòu)成下，變化傳送速度。
圖4所示為多相時脈產(chǎn)生部440的詳細構(gòu)成的一個例子。多相時脈產(chǎn)生部440包括相位比較部500、供給泵502、低通濾波器(LPF)504、延遲電路部506及選擇電路510。延遲電路部506藉由根據(jù)從低通濾波器504接收的電壓，通過緩沖器422及244，使從周期時脈輸出部240(參照圖3)接收的周期時脈，分別延遲不同的時間，從而產(chǎn)生相位各不相同的多數(shù)個延遲時脈，并輸出至選擇電路510。而且，延遲電路部506產(chǎn)生根據(jù)周期時脈的輸出時脈，并輸出至相位比較部500。
相位比較部500對從延遲電路部506接收的輸出時脈和周期時脈的相位進行比較，并將比較結(jié)果供給到供給泵502。供給泵502根據(jù)所接收的比較結(jié)果產(chǎn)生一電壓，并供給到低通濾波器504。低通濾波器504除去所接收的電壓的高頻，并供給到延遲電路部506。
延遲電路部506包括串聯(lián)連接的多數(shù)個延遲部508a～508d。初級的延遲部508a接收周期時脈，并根據(jù)低通濾波器504的輸出電壓，延遲所接收的周期時脈。藉此，延遲部508a產(chǎn)生1延遲時脈，并輸出至選擇電路510及后一級的延遲部508b。延遲部508b～508c的每一個藉由使從前一級的延遲部508所接收的延遲時脈，根據(jù)低通濾波器504的輸出電壓更加延遲，從而分別產(chǎn)生1延遲時脈，并輸出至選擇電路510及后一級的延遲部508。最后一級的延遲部508d藉由使從前一級的延遲部508c所接收的延遲時脈，根據(jù)低通濾波器504的輸出電壓更加延遲，從而產(chǎn)生輸出時脈，并輸出至相位比較部500。
相位比較部500藉由對供給泵502進行控制，以使從延遲部508d接收的輸出時脈和周期時脈的相位差達到一定的值，從而使延遲電路部506產(chǎn)生多數(shù)個延遲時脈，并輸出至選擇電路510。相位比較部500對供給泵502進行控制，以使例如延遲電路部506的輸出時脈的相位和周期時脈的相位相等。
選擇電路510從延遲電路部506接收多數(shù)個延遲時脈，并依據(jù)作為來自外部的指示的選擇信號，選擇多數(shù)個延遲時脈的至少一部分，且輸出至外部。藉此，可依據(jù)選擇信號，變化選擇電路510所輸出的延遲時脈的數(shù)目。另外，選擇電路510從例如控制部26接收選擇信號。而且，在本實施例中，多相時脈產(chǎn)生部256(參照圖3)與多相時脈產(chǎn)生部440相同或具有同樣的機能及構(gòu)成。
在本實施例中，延遲電路部506具有的多數(shù)個延遲部508a～508c被設(shè)定為與數(shù)據(jù)取出部424(參照圖3)可輸出的并行數(shù)據(jù)的最大位元數(shù)相同的數(shù)目。各個位元輸出部426(參照圖3)在接收選擇電路510輸出的延遲時脈時，輸出對應的位元。而且，當選擇電路510分別輸出延遲時脈時，對應的相位變化時脈產(chǎn)生部436(參照圖3)將相位變化時脈發(fā)給對應的位元輸出部426。
而且，各個位元輸出部436分別與對應于各個延遲部438產(chǎn)生的延遲時脈的相位變化時脈同步，并接收傳送信號。藉此，各個位元輸出部426產(chǎn)生具有與選擇電路510所選擇的延遲時脈的數(shù)目對應的位元數(shù)的并行數(shù)據(jù)，并將該并行數(shù)據(jù)作為抽樣數(shù)據(jù)輸出。因此，依據(jù)被輸入選擇電路510的選擇信號，選擇電路510可使變換為并行數(shù)據(jù)的位元數(shù)變化一次。如利用本實施例，可在每單位時間使接收的傳送信號的位元數(shù)變化。
這樣，藉由對應傳送信號的傳送速度，對被輸入選擇電路510的選擇信號進行控制，可在不變更電路構(gòu)成下而變更傳送速度。另外，多相時脈產(chǎn)生部256及多相時脈產(chǎn)生部440也可不使用選擇電路510，而輸出與多數(shù)個延遲部508a～508c相等數(shù)目的延遲時脈。
圖5所示為測試裝置10的另一構(gòu)成的一個例子。另外，除了以下所說明之點以外，在圖5中，是賦予圖1相同符號的構(gòu)成，與圖1的構(gòu)成相同或具有同樣的機能及構(gòu)成，所以省略說明。測試裝置10包括主機20、傳送線32及測試頭40。主機20具有控制部26，將用于控制測試的控制信號，通過傳送線32供給到測試頭40。
測試頭40包括介面48、第一測試模組60、傳送線34及第二測試模組62。第一測試模組60及第二測試模組62分別在測試頭40內(nèi)部可拆卸地被固定。第一測試模組60具有測試圖案產(chǎn)生部22及傳送部24。測試圖案產(chǎn)生部22根據(jù)從主機20所供給的控制信號產(chǎn)生測試圖案，并供給到傳送部24。傳送部24將所供給的測試圖案轉(zhuǎn)換為傳送信號，并通過傳送線34傳送至第二測試模組62。另外，在本例中，傳送線34可包括將第一測試模組60及第二測試模組62連接的電纜、連接器等。
第二測試模組62具有接收部42、測試圖案供給部44及判定部46。接收部42從第一測試模組60所接收的傳送信號中取出抽樣數(shù)據(jù)，并通過介面48供給到電子元件50。判定部46依據(jù)測試圖案接收電子元件50所輸出的信號，并與期望值進行比較。而且，判定部46對電子元件50的好壞進行判定，并將判定結(jié)果通過傳送線32輸出至主機20。另外，判定部46也可處于主機20內(nèi)。
在本實施例中，傳送部24及接收部42構(gòu)成用于將傳送信號進行傳送的傳送系統(tǒng)30。如利用本實施例，可將第一測試模組60輸出的傳送信號，通過傳送線34以小BER傳送至第二測試模組62。
圖6所示為傳送系統(tǒng)30的詳細構(gòu)成的另一例子。在圖6中，與圖2一樣賦予相同符號的構(gòu)成，由于與圖2中的構(gòu)成相同或具有相同的機能及構(gòu)成，所以除了以下不同點以外，其余省略說明。本例的接收部43是取代通過緩沖器244及緩沖器422接收從周期時脈輸出部240所輸出的周期時脈，并藉由對傳送信號進行再生，而接收周期時脈。
本例中的各個接收部43分別還包括時脈再生部600。時脈再生部600利用對應的緩沖器420，從接收的傳送信號中再生周期時脈。藉此，時脈再生部600可將周期時脈輸出部240所輸出的周期時脈，通過傳送部250、緩沖器242及緩沖器420接收。而且，時脈再生部600將再生的周期時脈輸出至周期相位差檢測部432及相位變化時脈產(chǎn)生部436。接收此周期時脈后，周期相位差檢測部432將再生的周期時脈和數(shù)據(jù)周期時脈的相位差，作為周期相位差檢測。而且，相位變化時脈產(chǎn)生部436根據(jù)周期相位差檢測部432所檢測的周期相位差，將使所再生的周期時脈的相位進行變化的時脈作為相位變化時脈輸出。
如利用本例的傳送系統(tǒng)，可不從傳送部24對接收部42將周期時脈與傳送信號并行供給，而以高精度將傳送信號進行傳送。
上面利用實施的形態(tài)對本發(fā)明進行了說明，但是本發(fā)明的技術(shù)范圍并不限定于上述實施形態(tài)所記述的范圍。在上述實施形態(tài)上，可加以多種多樣的變更或改良，這一點對本行業(yè)者而言是顯而易見的。由權(quán)利要求的說明可知，這種加以變更或改良的形態(tài)也可包含在本發(fā)明的技術(shù)范圍中。
例如，周期時脈輸出部240也可將利用不同的時脈振蕩器所振蕩的周期時脈，供給到傳送部250及接收部43。即，周期時脈輸出部240也可具有作為傳送部24的一部分被設(shè)置的傳送側(cè)周期時脈輸出部、作為接收部的一部分被設(shè)置的接收側(cè)周期時脈輸出部。在這種情況下，傳送側(cè)周期時脈輸出部根據(jù)利用第1時脈振蕩器所振蕩的時脈產(chǎn)生傳送側(cè)的周期時脈，并輸出至傳送部250。而且，傳送側(cè)周期時脈輸出部根據(jù)利用第2時脈振蕩器所振蕩的時脈，產(chǎn)生與傳送側(cè)的周期時脈實質(zhì)上具有相同的頻率的接收側(cè)的周期時脈，并輸出至接收部43內(nèi)的周期相位差檢測部432及相位變化時脈產(chǎn)生部436。
以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當可利用上述揭示的方法及技術(shù)內(nèi)容作出些許的更動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種傳送系統(tǒng)，是用于傳送傳送信號，該傳送系統(tǒng)包括用以輸出預定周期的周期時脈的周期時脈輸出部、用以同步傳送該傳送信號與該周期時脈的傳送部、用以接收該傳送部所傳送的該傳送信號的接收部，其特征在于該接收部具有數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部，是根據(jù)從該傳送部接收的該傳送信號中所取出的取樣數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生與該取樣數(shù)據(jù)之值的變化同步的數(shù)據(jù)同步時脈；周期相位差檢測部，是對從該周期時脈輸出部接收的該周期時脈和該數(shù)據(jù)同步時脈的相位差即周期相位差進行檢測；相位變化時脈產(chǎn)生部，是使從該周期時脈輸出部所接收的該周期時脈的相位進行變位元的相位變化時脈，且根據(jù)該周期相位差使該相位變化時脈和該數(shù)據(jù)同步時脈的變化相位差達到預定的大??；以及數(shù)據(jù)取出部，是藉由與該相位變化時脈同步接收該傳送信號，從而從該傳送部所接收的該傳送信號中取出該取樣數(shù)據(jù)，并供給到該數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的傳送系統(tǒng)，其特征在于該傳送部以一串列數(shù)據(jù)輸出該傳送信號；該取樣數(shù)據(jù)為具有預定的位元數(shù)的并行數(shù)據(jù)；該數(shù)據(jù)取出部具有與該并行數(shù)據(jù)的各位元分別對應設(shè)置，并在各不相同的時刻取入該串列數(shù)據(jù)之值，且將所取入的值作為在該并行數(shù)據(jù)中對應的該位元值分別進行輸出的多數(shù)個位元輸出部；該數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部具有與各該位元分別對應設(shè)置，并根據(jù)從對應的該位元輸出部所接收的該位元值，分別產(chǎn)生與該位元值的變化同步的該數(shù)據(jù)同步時脈的多數(shù)個位元時脈產(chǎn)生部；該周期相位差檢測部具有與各該位元分別對應設(shè)置，并分別檢測對應的該位元時脈產(chǎn)生部產(chǎn)生的該數(shù)據(jù)同步時脈和該周期時脈的該周期相位差的多數(shù)個位元相位差檢測部；以及該相位變化時脈產(chǎn)生部包括延遲時脈產(chǎn)生部，是藉由使該周期時脈分別延遲不同時間，而產(chǎn)生與各該位元分別對應的相位各不相同的多數(shù)個延遲時脈；以及多數(shù)個延遲部，是與各該位元分別對應設(shè)置，且為了使與對應的該數(shù)據(jù)同步時脈的該變化相位差達到該預定的大小，而將使對應的該延遲時脈的相位根據(jù)對應的該位元相位差檢測部所檢測的該周期相位差進行延遲的信號，以分別產(chǎn)生該相位變化時脈；其中，各該位元輸出部也可藉由與對應的該延遲部產(chǎn)生的該相位變化時脈同步，取入該串列數(shù)據(jù)的值，從而取出該取樣數(shù)據(jù)中的對應的該位元的值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的傳送系統(tǒng)，其特征在于該傳送部以一串列數(shù)據(jù)傳送該傳送信號；該相位變化時脈產(chǎn)生部具有藉由使該周期時脈分別延遲不同時間，從而產(chǎn)生相位分別不同的多數(shù)個延遲時脈的延遲時脈產(chǎn)生部，且該延遲時脈產(chǎn)生部接收該多數(shù)個延遲時脈，并依據(jù)來自外部的指示選擇多數(shù)個延遲時脈的至少一部分的選擇部；延遲部，是藉由將該選擇部選擇的該延遲時脈的相位進行延遲，以使該變化相位差達到該預定的大小，從而產(chǎn)生與該選擇部所選擇的該延遲時脈對應的該相位變化時脈；以及藉由與該延遲部產(chǎn)生的該延遲時脈所對應的該相位變化時脈分別同步并接收該傳送信號，該數(shù)據(jù)取出部可產(chǎn)生具有與該選擇部選擇的該延遲時脈數(shù)對應的位元數(shù)的并行數(shù)據(jù)，并將該并行數(shù)據(jù)作為該取樣數(shù)據(jù)輸出。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的傳送系統(tǒng)，其特征在于該接收部還具有藉由從由該傳送部所接收的該傳送信號中再生該周期時脈，從而接收該周期時脈輸出部輸出的該周期時脈的時脈再生部。
5.一種接收裝置，是用于接收傳送信號，其特征在于包括根據(jù)從與預定周期的周期時脈同步傳送的該傳送信號中所取出的取樣數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生與該取出數(shù)據(jù)值的變化同步的數(shù)據(jù)同步時脈的數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部；對該周期時脈和該數(shù)據(jù)同步時脈的周期相位差進行檢測的周期相位差檢測部；使該周期時脈的相位進行變化的相位變化時脈，且為使該相位變化時脈和該數(shù)據(jù)同步時脈的變化相位差達到預定的大小，而根據(jù)該周期相位差進行產(chǎn)生的相位變化時脈產(chǎn)生部；以及藉由與該相位變化時脈同步接收該傳送信號，而從該傳送信號中取出該取樣數(shù)據(jù)，并供給到該數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部的數(shù)據(jù)取出部。
6.一種測試裝置，是對電子元件進行測試，包括產(chǎn)生用于測試該電子元件的測試圖案的測試圖案產(chǎn)生部、輸出預定周期的周期時脈的周期時脈輸出部、根據(jù)從該測試圖案產(chǎn)生部所接收的該測試圖案的傳送信號，與該周期時脈同步進行傳送的傳送部、接收該傳送部所傳送的該傳送信號，并從該傳送信號中取出取樣數(shù)據(jù)的接收部、從該接收部所取出的該取樣數(shù)據(jù)中取出該測試圖案，并將所取出的該測試圖案供給至該電子元件的測試圖案供給部、依據(jù)該測試圖案與該電子元件所輸出的輸出信號，對該電子元件的好壞進行判定的判定部，其特征在于該接收部包括根據(jù)從該傳送部接收的該傳送信號中所取出的取樣數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生與該取樣數(shù)據(jù)之值的變化同步的數(shù)據(jù)同步時脈的數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部；對從該周期時脈輸出部接收的該周期時脈和該數(shù)據(jù)同步時脈的周期相位差進行檢測的周期相位差檢測部；將從該周期時脈輸出部所接收的該周期時脈的相位進行變位元的相位變化時脈，且為使該相位變化時脈和該數(shù)據(jù)同步時脈的變化相位差達到預定的大小，而根據(jù)該周期相位差進行產(chǎn)生的相位變化時脈產(chǎn)生部；以及藉由與該相位變化時脈同步接收該傳送信號，從而從由該傳送部所接收的該傳送信號中取出該取樣數(shù)據(jù)，并供給到該數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部的數(shù)據(jù)取出部。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于該測試裝置包括傳送該傳送信號的傳送線；產(chǎn)生該傳送信號并輸出至該傳送線的主機；以及載置該電子元件，并根據(jù)通過該傳送線而從該主機接收的該傳送信號，供給該測試圖案至該電子元件的測試頭；其中，該主機具有該測試圖案產(chǎn)生部、該周期時脈產(chǎn)生部、該傳送部；該測試頭具有該接收部、該測試圖案供給部；該接收部通過該傳送線，從該傳送部接收該傳送信號。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于該測試裝置包括具有可拆卸地被分別固定的第一及第二測試模組的該測試頭；該第一測試模組包括該測試圖案產(chǎn)生部、該周期時脈產(chǎn)生部、該傳送部；該第二測試模組包括該接收部、該測試圖案供給部。
9.一種測試頭，是用于載置所測試的電子元件，包括在該測試頭內(nèi)可拆卸地被分別固定的第一及第二測試模組，其特征在于該第一測試模組包括產(chǎn)生用于測試該電子元件的測試圖案的測試圖案產(chǎn)生部；輸出預定周期的周期時脈的周期時脈輸出部；以及將根據(jù)從該測試圖案產(chǎn)生部所接收的該測試圖案的傳送信號，與該周期時脈同步進行傳送的傳送部；該第二測試模組包括接收該傳送部所傳送的該傳送信號，并從該傳送信號中取出取樣數(shù)據(jù)的接收部；以及從該接收部所取出的該取樣數(shù)據(jù)中取出該測試圖案，并將所取出的該測試圖案供給至該電子元件的測試圖案供給部；該接收部包括根據(jù)從該傳送部接收的該傳送信號中所取出的取樣數(shù)據(jù)，產(chǎn)生與該取樣數(shù)據(jù)之值的變化同步的數(shù)據(jù)同步時脈的數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部；對從該周期時脈輸出部接收的該周期時脈和該數(shù)據(jù)同步時脈的周期相位差進行檢測的周期相位差檢測部；將使從該周期時脈輸出部所接收的該周期時脈的相位進行變位元的相位變化時脈，為了使該相位變化時脈和該數(shù)據(jù)同步時脈的變化相位差達到預定的大小，而根據(jù)該周期相位差進行產(chǎn)生的相位變化時脈產(chǎn)生部；以及藉由與該相位變化時脈同步接收該傳送信號，從而從由該傳送部所接收的該傳送信號中取出該取樣數(shù)據(jù)，并供給到該數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部的數(shù)據(jù)取出部。
全文摘要
一種傳送系統(tǒng)，包括輸出預定周期的周期時脈的周期時脈輸出部、將傳送信號與周期時脈同步傳送的傳送部、及接收傳送信號的接收部。此接收部具有數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部，根據(jù)來自傳送信號的取樣數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生與取樣數(shù)據(jù)值的變化同步的數(shù)據(jù)同步時脈；周期相位差檢測部，對周期時脈和數(shù)據(jù)同步時脈的周期相位差進行檢測；相位變化時脈產(chǎn)生部，根據(jù)周期相位差產(chǎn)生使周期時脈的周期改變的相位變化時脈，使相位變化時脈和數(shù)據(jù)同步時脈的相位差，即相位變化差，變成預定大??；以及藉由與相位變化時脈同步接收傳送信號，從而從傳送信號中取出取樣數(shù)據(jù)，并供給到數(shù)據(jù)同步時脈產(chǎn)生部的數(shù)據(jù)取出部。
文檔編號G01R31/3183GK1802811SQ20048001593
公開日2006年7月12日 申請日期2004年6月8日 優(yōu)先權(quán)日2003年6月9日
發(fā)明者渡邊大輔, 岡安俊幸 申請人:愛德萬測試株式會社