專利名稱：分析器具供給裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種從容納多個(gè)分析器具的容納部單個(gè)地取出分析器具并送到目的部位的分析器具供給裝置。
背景技術(shù)：
尿液的檢查是通過例如，用光學(xué)方法觀察將尿液浸透于試片的試劑墊時(shí)的顯色來進(jìn)行的。在試劑墊上顯色的觀察是通過例如，將試片送到在試劑墊上滴加尿液的部位以后，再將試片送到測(cè)光部位來進(jìn)行的。而將試片供給到滴加尿液的部位是使用例如試片供給裝置進(jìn)行的(參照專利文獻(xiàn)1和專利文獻(xiàn)2)。
作為試片供給裝置，有例如圖21和圖22A所示的裝置。如圖所示試片供給裝置9，其結(jié)構(gòu)使得能夠從容納多片試片90A、90B的容納部91中，利用可移動(dòng)體92逐片地取出試片90A并進(jìn)行輸送。在容納部91中設(shè)有檔板93，以使多片試片90A、90B不能同時(shí)從容納部91中被取出。在可移動(dòng)體92上設(shè)有能夠容納一片試片90A的槽92a。
如圖22A所示，在試片供給裝置9中，通過將可移動(dòng)體92的槽92a定位在與容納部91相對(duì)應(yīng)的部位，將試片90A容納在槽92a中。在可移動(dòng)體92從此狀態(tài)下向A方向移動(dòng)的情況下，如圖22B和圖22C所示，從容納部91中取出試片90A。此時(shí)，在容納部91中，位于容納在槽92a中試片90A上方的試片90B，被擋板93擋住，只從容納部91中取出容納在槽92a中的試片90A。如上所述取出的試片90A，通過使可移動(dòng)體92向方向A移動(dòng)，將其供給到目的部位，例如光學(xué)測(cè)量部位。
但是，由于試片90A、90B通常都是許多片同時(shí)保存在瓶子中，因此在保存狀態(tài)較差的情況下，一部分試片90A、90B會(huì)發(fā)生塑性變形而彎曲(參照?qǐng)D23的符號(hào)90A’)。如在圖23中所示，在將彎曲的試片90A’容納在可移動(dòng)體92的槽92a中的情況下，試片90A’不能完全地容納在槽92a中，使試片90A’的一部分從槽92a中突出。在此狀態(tài)下，當(dāng)使可移動(dòng)體92向方向A移動(dòng)的情況下，試片90A’會(huì)在從槽92a突出的部分與擋板93發(fā)生干涉，將試片90A’從槽92a中撬出。因此，用試片供給裝置9，不能將彎曲的試片90A’從容納部91中取出。從而，因在容納部91中混有彎曲的試片90A’，使得在試片供給裝置9中，試片90A、90A’、90B的取出比率(對(duì)于執(zhí)行取出次數(shù)的成功取出次數(shù))降低，產(chǎn)生在單位時(shí)間內(nèi)取出的試片90A、90A’、90B的片數(shù)減少的問題。
專利文獻(xiàn)1特開平11-118808號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)2特開2000-35433號(hào)公報(bào)發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是，在從容納多個(gè)分析器具的容納部逐個(gè)取出分析器具，并將其送到目的部位的分析器具供給裝置中，即使在容納部中含有彎曲的分析器具的情況下，也能夠在單位時(shí)間內(nèi)從容納部取出多個(gè)分析器具而不降低從容納部取出分析器具的效率。
由本發(fā)明提供的分析器具供給裝置，包括用來容納多個(gè)分析器具的容納部和具有用來保持容納在此容納部中的分析器具之一的凹入部分的可移動(dòng)體，且在將分析器具保持在上述凹入部分的狀態(tài)下，通過使上述可移動(dòng)體相對(duì)于上述容納部相對(duì)運(yùn)動(dòng)，從上述容納部中逐一取出上述分析器具，其中，上述容納部具有，用于在使上述可移動(dòng)體相對(duì)于上述容納部進(jìn)行相對(duì)運(yùn)動(dòng)時(shí)，與位于保持在上述凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉，并使上述凹入部分有選擇地保持一片分析器具的干涉部件，上述干涉部件構(gòu)成為，在將彎曲的分析器具保持在上述凹入部分的狀態(tài)下，當(dāng)上述可移動(dòng)體相對(duì)于上述容納部進(jìn)行相對(duì)運(yùn)動(dòng)時(shí)，通過在修正該分析器具的彎曲的狀態(tài)下將改分析器具保持在上述凹入部分中，而將該試片從上述容納部中取出。
干涉部件，具有在例如與垂直方向相交的方向(例如水平方向)上擴(kuò)展，同時(shí)用來與位于容納在凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的板狀部分。
凹入部分形成為在例如與分析器具輸送方向垂直的方向上延伸。在此情況下，用來與位于容納在板狀部分的凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的干涉邊緣，優(yōu)選具有相對(duì)于凹入部分的延伸方向非平行的部分，例如，具有相對(duì)于凹入部分延伸方向傾斜的直線狀部分或曲線狀部分。
干涉部件，也可具有向與垂直方向相交的方向上突出，且用來與位于容納在凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的多個(gè)干涉要素。
多個(gè)干涉要素中的至少一部分干涉要素，例如其突出量不同。凹入部分在與分析器具的輸送方向相垂直的方向上延伸形成的情況下，優(yōu)選多個(gè)干涉要素中的至少一部分干涉要素，從其前端到上述凹入部分的最短距離不同，例如，相對(duì)于凹入部分的延伸方向排列設(shè)置成傾斜的直線狀或大致直線狀，或者排列設(shè)置成曲線狀或大致呈曲線狀。
在干涉部件具有在與上述輸送方向相交的方向(例如水平方向)上擴(kuò)展的板狀部分的情況下，多個(gè)干涉要素通過在上述板狀部分上形成切口來進(jìn)行設(shè)置。
多個(gè)干涉要素也可以通過固定多個(gè)銷釘來進(jìn)行設(shè)置。
干涉部件也可以具有向下突出的多個(gè)銷釘。在此情況下，當(dāng)凹入部分在與上述輸送方向垂直的方向上延伸時(shí)，在此，多個(gè)銷釘中的至少一部分銷釘，從其前端到凹入部分的最短距離不同，例如，相對(duì)于凹入部分的延伸方向排列設(shè)置成傾斜的直線狀或大致直線狀，或者排列設(shè)置成曲線狀或大致呈曲線狀。
可移動(dòng)體通過例如在水平方向上移動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)，從容納部中取出分析器具。


圖1是對(duì)表示涉及本發(fā)明的試片供給裝置一個(gè)例子進(jìn)行透視描述的整體斜視圖。
圖2是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動(dòng)作的主要部分的斷面圖。
圖3A是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動(dòng)作的主要部分的斜視圖，圖3B是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動(dòng)作的主要部分?jǐn)嗝鎴D。
圖4A是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動(dòng)作的主要部分的斜視圖，圖4B是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動(dòng)作的主要部分?jǐn)嗝鎴D。
圖5A是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動(dòng)作的主要部分的斜視圖，圖5B是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動(dòng)作的主要部分?jǐn)嗝鎴D。
圖6是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖7是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖8是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖9是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖10是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖11是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖12是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖13是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖14是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖15是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖16是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖17是表示刮平部件另一個(gè)例子的斜視圖。
圖18是圖17沿著XVIII-XVIII直線的斷面圖。
圖19是在圖17和圖18中所示的刮平部件的平面圖。
圖20是表示試片供給裝置另一個(gè)例子的斜視圖。
圖21是表示歷來的試片供給裝置一個(gè)例子的斜視圖。
圖22是用來說明在圖21中所示的試片供給裝置動(dòng)作的斷面圖。
圖23是用來說明在圖21中所示的試片供給裝置課題的斜視圖。
具體實(shí)施例方式
圖1所示的試片供給裝置1是，組裝在例如分析裝置中，或與分析裝置連接使用的，如圖2A～圖2C及圖3A所示，將試片2A、2A’、2B向A1方向輸送，將例如試片2A、2A’、2B供給到光學(xué)測(cè)量部位。此試片供給裝置1供給在短紙條狀的基材20上形成有多個(gè)試劑墊的試片2A、2A’、2B，包括可移動(dòng)體3和容納部4。
如圖1所示，可移動(dòng)體3具有用來容納試片2A、2B的凹入部分30，與容納部4在A1和A2方向上進(jìn)行相對(duì)運(yùn)動(dòng)。凹入部分30形成與試片2A、2B的外觀形狀相對(duì)應(yīng)的尺寸，并在與A1、A2方向垂直的方向B1、B2上延伸。通過使可移動(dòng)體3在A1、A2方向上移動(dòng)，如圖2A所示，使該凹入部分30在如圖2A所示接近容納部4內(nèi)部的狀態(tài)，和如圖2C所示相對(duì)于容納部4露出的狀態(tài)之間進(jìn)行選擇?？梢苿?dòng)體3向A1、A2方向的移動(dòng)，通過例如從圖外的電機(jī)等驅(qū)動(dòng)源供給動(dòng)力來進(jìn)行。
如圖1和圖2A所示，容納部4用來容納多個(gè)試片2A、2B，具有構(gòu)成容納部4側(cè)壁的本體部分40。容納部4還具有刮平部件41和下部開口42。
刮平部件41用于，在從容納部4中取出試片2A、2B時(shí)，不能使多片試片2A、2B同時(shí)取出。此刮平部件41具有使刮平功能片44從與本體部分40接合的安裝片43向A2方向伸出的形態(tài)。刮平功能片44形成A1、A2方向的尺寸趨向B2的方向連續(xù)減小的板狀。即，刮平功能片44具有相對(duì)于可移動(dòng)體3的凹入部分30所延伸的方向非平行的干涉面44a。干涉面44a用于，在使可移動(dòng)體3在A1方向上移動(dòng)而使凹入部分30位于容納部4的外部時(shí)，與位于容納在凹入部分30中的試片2A正上方的試片2B干涉，從其正上方除去試片2B。即，試片供給裝置1，通過將試片2A容納在凹入部分30中，而僅使試片2A從刮平功能片44的下方通過，將試片2A取出到容納部4的外部。
下部開口42用于使容納在容納部4中的試片2A、2B與可移動(dòng)體3接觸，并剛好由可移動(dòng)體3封住。在此下部開口42上，A1方向一側(cè)的邊緣實(shí)質(zhì)上由干涉面44a來限定的。
下面參照?qǐng)D2A～圖2C，對(duì)于在試片供給裝置1中試片的取出和運(yùn)送的動(dòng)作進(jìn)行說明。
如圖2A所示，在試片供給裝置1中，通過使可移動(dòng)體3的凹入部分30位于與容納部4相對(duì)應(yīng)的部位上，將容納試片2A容納在凹入部分30中。如圖2B和圖2C所示，在使可移動(dòng)體3由此狀態(tài)向A1方向移動(dòng)的情況下，位于容納在凹入部分中的試片2A上方的試片2B，與刮平功能片44的干涉面44a相干涉而被刮平。另一方面，容納在凹入部分30中的試片2A不與干涉面44a相干涉，利用可移動(dòng)體3向A1方向的移動(dòng)而從刮平功能片44的下方通過，從容納部4中取出。如此取出的試片2A，通過可移動(dòng)體3進(jìn)一步向A1方向移動(dòng)，供給到目的部位，例如光學(xué)測(cè)量部位。
如上所述，當(dāng)試片2A、2B保存在瓶子中時(shí)會(huì)發(fā)生彎曲，在容納部4中會(huì)混有彎曲的試片2A’。在此情況下，如圖3A和圖3B所示，會(huì)將彎曲的試片2A’容納在凹入部分30中。在試片供給裝置1中，即使有彎曲的試片2A’，也會(huì)如圖3～圖5所示，通過使可移動(dòng)體3向A1方向移動(dòng)，將容納在凹入部分30中的試片2A’從容納部4中取出，可以將該試片2A’供給到光學(xué)測(cè)量部位等目的部位。
更具體說，如圖3A和圖3B所示，在使試片2A’容納在凹入部分30中的狀態(tài)下，例如試片2A’的一部分形成從凹入部分30的上方突出的狀態(tài)。在此狀態(tài)下，當(dāng)使可移動(dòng)體3向A1方向移動(dòng)時(shí)，如圖4A和圖4B所示，試片2A’被容納在凹入部分30中的部分，位于刮平功能片44的下方。在使可移動(dòng)體3從此狀態(tài)向A1方向移動(dòng)的情況下，如圖5A和圖5B所示，利用刮平功能片44向試片2A’施加向下的壓力，使試片2A’上從凹入部分30突出的部分變得平坦并容納在凹入部分30中，可使整個(gè)試片2A’從刮平功能片44的下方通過。由此，即使在試片供給裝置1中含有彎曲的試片2A’，也能夠取出到容納部4的外部。
在如圖所示的例子中，只說明了彎曲的試片2A’在B1方向一側(cè)的端部容納在凹入部分30中，而在B2方向一側(cè)的端部從凹入部分30上方突出的情況。但是，在彎曲的試片2A’在B2方向一側(cè)的端部容納在凹入部分30中，而在B1方向一側(cè)的端部從凹入部分30上方突出的情況下，則由刮平功能片44將試片2A’從凹入部分30中撬出。但是，在反復(fù)地嘗試中，試片2A’內(nèi)外顛倒，形成試片2A’在B1方向一側(cè)的端部容納在凹入部分30中的狀態(tài)。因此，在試片供給裝置1中，無論試片2A’是處于彎曲狀態(tài)還是處于容納在凹入部分30中的狀態(tài)，通過多次嘗試總能夠確實(shí)地將試片2A’取出。另外，在由刮平功能片44將試片2A’從凹入部分30中撬出的結(jié)構(gòu)中，能夠以較高的概率使試片2A’內(nèi)外顛倒。由此，在試片供給裝置1中，能夠減少用來取出彎曲試片2A’的嘗試的次數(shù)。
如上所述，由于即使在試片供給裝置1中含有彎曲試片2A’，也能夠確實(shí)地從容納部4中取出，所以即使在容納部4中混有彎曲試片2A’，也可以極力緩解試片2A、2A’、2B的低下的取出概率，能夠確保在單位時(shí)間內(nèi)從容納部4中取出多片試片2A、2A’、2B。
在試片供給裝置1中，刮平部件41的干涉面44a形成傾斜的平面，但刮平部件的結(jié)構(gòu)可以進(jìn)行各種變更。例如，刮平部件也可以如圖6～圖13所示構(gòu)成。
如圖6所示刮平部件5A，其干涉面50由平行平面50a和傾斜平面50b組合而成。圖7所示刮平部件5B，其干涉面51由兩個(gè)傾斜平面51a組合而成，中間部分向A2方向突出成為一個(gè)彎折面。圖8所示刮平部件5C，其干涉面52由兩個(gè)傾斜平面52a組合而成，其中間部分形成向A1方向凹陷的彎折面。圖9所示刮平部件5D，其干涉面53由多個(gè)傾斜平面53a組合形成波動(dòng)狀的彎折面。圖10所示刮平部件5E的干涉面54形成B1一側(cè)的端部向A2方向突出的曲面。圖11所示刮平部件5F的干涉面55形成中間部分向A2方向突出的凸曲面。圖12所示刮平部件5G的干涉面56形成中間部分向A1方向凹陷的凹曲面。而圖13所示刮平部件5H的干涉面57形成波動(dòng)狀的凹凸曲面。
另外，在容納部中的刮平部件，也可形成如圖14A～圖14E、圖15A～圖15D、圖16A～圖16E和圖17～圖19所示形狀。
圖14A～圖14E和圖15A～圖15D所示刮平部件6A～6I，在刮平功能片60A～60I上，在B1，B2方向上并列地形成向A1、A2方向延伸的多個(gè)切口61A～61I。由此，使刮平部件6A～6I具有向A2方向突出的多個(gè)干涉要素62A～62I。
而且，圖14A～圖14E所示刮平部件6A～6E是，在圖1、圖6～圖9所示形狀的刮平功能片上設(shè)置多個(gè)切口61A～61E形成的，而圖15A～圖15D所示刮平部件6F～6I是，在如圖10～圖13所示形狀的刮平功能片上設(shè)置多個(gè)切口61F～61I形成的。
當(dāng)然，在刮平功能片上設(shè)置切口的位置、個(gè)數(shù)和大小以及設(shè)置切口之前刮平功能片的形狀，并不限于如上所述的例子，在能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明目的的范圍內(nèi)可以進(jìn)行各種各樣的變更。
圖16A～圖16E所示的刮平部件7A～7E為，在安裝片71A～71E上，向A2方向突出，且在B1、B2方向上并排固定多個(gè)銷釘70A～70E。多個(gè)銷釘70A～70E的前端形成半球狀。
在圖所示刮平部件7A～7E中，多個(gè)銷釘70A～70E中的至少一部分銷釘70A～70E在A1、A2方向上的前端的位置不同。多個(gè)銷釘70A～70E的配置大致與圖14A～圖14E所示干涉要素62A～62E的配置一致。
當(dāng)然，多個(gè)銷釘?shù)呐渲靡部梢圆捎门c圖15A～圖15D所示多個(gè)干涉要素62F～62I的前端同樣或類似的布局，在能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明目的的范圍內(nèi)也可以采用其它的配置。
如圖17～圖19所示刮平部件8，將多個(gè)銷釘80從安裝片81向下突出固定。
多個(gè)銷釘80與位于容納在可移動(dòng)體3的凹入部分30中的試片正上方的試片相干涉，用來從其正上面除去試片。安裝片81用來將多個(gè)銷釘80固定在容納部4的本體部分40上，具有固定在容納部4的本體部分40中壁45上的直立部分82和用來固定多個(gè)銷釘83的水平部分83。
水平部分83與圖1所示刮平部件41的刮平功能片44是同樣的，形成使A1、A2方向上的尺寸趨向B2方向連續(xù)減小的板狀。在此水平部分83上，沿著A2方向一側(cè)的邊緣設(shè)有多個(gè)銷釘82。即，如圖19中所明確顯示的那樣，將多個(gè)銷釘80配置成，在B1、B2方向上傾斜的直線。
當(dāng)然，也可以將多個(gè)銷釘設(shè)置成，沿如圖6～圖13所示刮平部件5A～5H中A2方向一側(cè)的邊緣的布局，在能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明目的的范圍內(nèi)，也可以采用其它的配置。
如圖20所示，本發(fā)明也可以適用于，通過轉(zhuǎn)動(dòng)旋轉(zhuǎn)體3’從容納部4中取出試片的試片供給裝置1’。在圖20中，試片供給裝置1’的刮平部件的干涉面形成傾斜平面，但干涉面的形狀可以采用參照?qǐng)D6～圖13進(jìn)行說明的形狀，而作為刮平部件也可以采用參照?qǐng)D14～圖19進(jìn)行說明的形狀。當(dāng)然，作為在試片供給裝置1’中的刮平部件，在能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明目的的范圍內(nèi)，也可以采用其它的形狀。
權(quán)利要求
1.一種分析器具供給裝置，其特征在于，包括用來容納多個(gè)分析器具的容納部和具有用來保持容納在此容納部中的分析器具中之一的凹入部分的可移動(dòng)體，且在將分析器具保持在所述凹入部分的狀態(tài)下，通過使所述可移動(dòng)體相對(duì)于所述容納部相對(duì)運(yùn)動(dòng)，從所述容納部中逐一取出所述分析器具；其中，所述容納部具有，用于在使所述可移動(dòng)體相對(duì)于所述容納部進(jìn)行相對(duì)運(yùn)動(dòng)時(shí)，與位于保持在所述凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉，并使所述凹入部分有選擇地保持一片分析器具的干涉部件；所述干涉部件構(gòu)成為，在將彎曲的分析器具保持在所述凹入部分的狀態(tài)下，當(dāng)所述可移動(dòng)體相對(duì)于所述容納部進(jìn)行相對(duì)運(yùn)動(dòng)時(shí)，通過在修正該分析器具的彎曲的狀態(tài)下將該分析器具保持在所述凹入部分中，而將該試片從所述容納部中取出。
2.如權(quán)利要求1所述分析器具供給裝置，其特征在于所述干涉部件具有在與垂直方向相交的方向上擴(kuò)展，同時(shí)用來與位于容納在所述凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的板狀部分。
3.如權(quán)利要求2所述分析器具供給裝置，其特征在于所述板狀部分在水平方向上擴(kuò)展。
4.如權(quán)利要求2所述分析器具供給裝置，其特征在于所述凹入部分形成為在與所述分析器具輸送方向相垂直的方向上延伸，用來與位于容納在所述板狀部分的所述凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的干涉邊緣，具有相對(duì)于所述凹入部分的延伸方向非平行的部分。
5.如權(quán)利要求4所述分析器具供給裝置，其特征在于所述干涉邊緣具有相對(duì)于所述凹入部分的延伸方向傾斜的直線狀部分或曲線狀部分。
6.如權(quán)利要求1所述分析器具供給裝置，其特征在于所述干涉部件具有向與垂直方向相交的方向上突出，且用來與位于容納在所述凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的多個(gè)干涉要素。
7.如權(quán)利要求6所述分析器具供給裝置，其特征在于所述多個(gè)干涉要素中的至少一部分干涉要素，其突出量不同。
8.如權(quán)利要求6所述分析器具供給裝置，其特征在于所述凹入部分形成為在與所述分析器具的輸送方向垂直的方向上延伸；所述多個(gè)干涉要素中的至少一部分干涉要素配置為從其前端到所述凹入部分的最短距離不同。
9.如權(quán)利要求8所述分析器具供給裝置，其特征在于所述至少一部分的干涉要素配置成相對(duì)于所述凹入部分延伸的方向呈傾斜的直線狀或大致直線狀，或者曲線狀或大致呈曲線狀排列。
10.如權(quán)利要求6所述分析器具供給裝置，其特征在于所述干涉部件具有在與所述輸送方向相交的方向上擴(kuò)展的板狀部分，所述多個(gè)干涉要素通過在所述板狀部分上形成多個(gè)切口進(jìn)行設(shè)置。
11.如權(quán)利要求10所述分析器具供給裝置，其特征在于所述板狀部分形成為在水平方向上擴(kuò)展。
12.如權(quán)利要求6所述分析器具供給裝置，其特征在于所述多個(gè)干涉要素通過固定多個(gè)銷釘進(jìn)行設(shè)置。
13.如權(quán)利要求1所述分析器具供給裝置，其特征在于所述凹入部分在與所述分析器具的輸送方向垂直的方向上延伸，所述干涉部件具有向下突出的多個(gè)銷釘，而且，所述多個(gè)銷釘中的至少一部分銷釘配置為從其前端到所述凹入部分的最短距離不同。
14.如權(quán)利要求13所述分析器具供給裝置，其特征在于所述至少一部分的銷釘配置成相對(duì)于所述凹入部分延伸的方向呈傾斜的直線狀或大致直線狀，或者曲線狀或大致呈曲線狀排列。
15.如權(quán)利要求1所述分析器具供給裝置，其特征在于所述可移動(dòng)體構(gòu)成為通過在水平方向上移動(dòng)從所述容納部中取出分析器具。
16.如權(quán)利要求1所述分析器具供給裝置，其特征在于所述可移動(dòng)體構(gòu)成為通過轉(zhuǎn)動(dòng)從所述容納部中取出分析器具。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種分析器具供給裝置(1)，包括用來容納多個(gè)分析器具的容納部(4)和用來在將分析器具保持在凹入部分(30)的狀態(tài)下，通過使其相對(duì)于容納部(4)進(jìn)行相對(duì)運(yùn)動(dòng)，而將分析器具從容納部(4)中取出的可移動(dòng)體(3)。容納部(4)具有在使可移動(dòng)體(3)相對(duì)于容納部(4)相對(duì)運(yùn)動(dòng)時(shí)用來與被保持在容納部(4)的凹入部分(30)中的分析器具上方的分析器具相干涉的干涉部件(41)。干涉部件(41)構(gòu)成為，在分析器具被保持在凹入部分(30)中的狀態(tài)下，通過相對(duì)于容納部(4)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)，能夠在將該分析器具的彎曲糾正的狀態(tài)下，將處于被保持在凹入部分(30)中狀態(tài)下的該分析器具從容納部(4)中取出。
文檔編號(hào)G01N1/00GK1871520SQ20048003117
公開日2006年11月29日 申請(qǐng)日期2004年10月19日 優(yōu)先權(quán)日2003年10月22日
發(fā)明者村田康人 申請(qǐng)人:愛科來株式會(huì)社