專利名稱：基于二分法的電路連線導(dǎo)通測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及計算機(jī)硬件測試的方法，尤其是對復(fù)雜印刷電路板(PCB)上芯片間連線利用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行高效導(dǎo)通測試的方法。
背景技術(shù)：
隨著大規(guī)模集成電路、超大規(guī)模集成電路技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用，計算機(jī)系統(tǒng)和電路板的結(jié)構(gòu)、功能越來越復(fù)雜，常規(guī)的測試技術(shù)和手段已經(jīng)無法獲取足夠的測試信息來完成對電路的測試。自從IEEE于1990年公布了IEEE1149.1邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)以后，邊界掃描技術(shù)得到了迅速的發(fā)展和應(yīng)用。由于邊界掃描技術(shù)能夠?qū)Υ笠?guī)模集成電路、微電路、復(fù)雜PCB的功能和連線的正確性進(jìn)行有效的測試，并且成本相對較低，得到了計算機(jī)業(yè)界廣泛的支持和應(yīng)用。
利用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行器件間連線導(dǎo)通測試的基本測試方法是在測試控制器控制下，從電路連線網(wǎng)絡(luò)輸入端的邊界掃描單元加載測試碼，同時發(fā)送“外部測試”指令，然后通過電路連線網(wǎng)絡(luò)輸出端的邊界掃描單元讀取輸出值，根據(jù)輸入、輸出結(jié)果判斷連線網(wǎng)絡(luò)內(nèi)電路連線是否存在互連故障。
在利用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行連線導(dǎo)通故障測試時，測試的故障覆蓋率和故障定位精度取決于測試碼的故障診斷能力，測試時間取決于邊界掃描測試的次數(shù)和邊界掃描鏈的長度。對于一定的測試電路，邊界掃描鏈的長度是固定的，測試時間主要取決于測試的次數(shù)。在實(shí)際應(yīng)用中，既要求測試碼有較高的故障診斷能力，又對測試次數(shù)有較高的要求。
利用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行連線導(dǎo)通故障測試的測試方法有多種，如計數(shù)序列法、計數(shù)補(bǔ)償法、移位法、W步自適應(yīng)法等。Kautz最早提出計數(shù)序列法，計數(shù)序列法為連線網(wǎng)絡(luò)中每條連線分配不同的編號，并在測試時將連線編號的二進(jìn)制形式作為測試碼施加到連線測試端。這種方法能夠檢測任何短路故障，但是由于含有全0和全1的測試碼，因此不能檢測固定狀態(tài)故障和開路故障，同時也存在征兆誤判(當(dāng)某一連線的測試碼同某類短路故障的測試響應(yīng)碼相同時，將會導(dǎo)致在故障定位時無法確定此連線是否包含在該短路故障中)和征兆混淆(當(dāng)存在多個相同的測試響應(yīng)碼時，將會導(dǎo)致在故障定位時無法確定這些連線之間是否存在短路)現(xiàn)象。
1982年Goel和McMahon提出了改良計數(shù)序列法，改良計數(shù)序列法在計數(shù)序列法的基礎(chǔ)上去除了全0和全1測試碼，此方法不僅能檢測到所有的橋接故障，還能檢測出計數(shù)序列法不能檢測的固定狀態(tài)故障和開路故障，但與計數(shù)序列法一樣，存在征兆誤判和征兆混淆現(xiàn)象，不能對檢測到的故障準(zhǔn)確定位。
Wagner提出的計數(shù)補(bǔ)償法能夠解決征兆誤判問題，但它仍然存在征兆混淆現(xiàn)象。Hassan提出的移位1法是傳統(tǒng)測試方法中僅有的能夠解決征兆混淆現(xiàn)象的方法，但是由于它的測試次數(shù)與待測試連線網(wǎng)絡(luò)的數(shù)目相同，在實(shí)際的應(yīng)用中很難滿足連線測試對時間的要求。
在實(shí)際的測試中，每個測試碼都包含了一定的測試信息。因此，在測試中，如果能夠利用前面測試碼的測試結(jié)果來生成后面的測試碼，所達(dá)到的測試性能將會更為優(yōu)化。這就是自適應(yīng)測試方法的主要思想。Jarwala和Yau提出的W步自適應(yīng)測試法首先利用改良計數(shù)序列法對連線網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行初級測試；然后對測試響應(yīng)碼進(jìn)行分析，識別出具有相同響應(yīng)測試碼的連線網(wǎng)絡(luò)，最后對這些連線施加移位“1”測試法。這種方法能診斷征兆誤判和征兆混淆故障，具有完備的診斷能力；但在故障連線數(shù)量較多的情況下，W的步數(shù)也會很大，因而測試時間很長。
因此目前利用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行連線導(dǎo)通故障測試的測試方法要么故障覆蓋率低，診斷能力弱，故障定位不準(zhǔn)確；要么測試次數(shù)多，測試時間長。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是克服目前利用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行電路連線導(dǎo)通測試時故障覆蓋率低、診斷能力弱、測試次數(shù)較多、測試時間長的問題，提出了一種基于二分法的電路連線導(dǎo)通測試方法，使得測試高效且具有較高故障覆蓋率。
本發(fā)明也是利用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行電路連線導(dǎo)通測試，技術(shù)方案是將待測電路通過測試電纜連接到測試臺，對待測設(shè)備進(jìn)行測試。測試臺由一臺微機(jī)，一塊邊掃測試卡組成，微機(jī)上安裝有一個基于二分法編制的電路連線導(dǎo)通測試控制程序進(jìn)行接收和轉(zhuǎn)換用戶數(shù)據(jù)、生成測試碼、進(jìn)行測試控制，并對測試結(jié)果進(jìn)行回收與分析。邊掃測試卡是單獨(dú)制作的一塊PCI插卡，主要功能是在測試控制程序的控制下產(chǎn)生相應(yīng)的測試信號。二分法主要思想是在對短路故障進(jìn)行檢測時，將待測的電路連線網(wǎng)絡(luò)當(dāng)成一個集合，并將這個集合劃分為兩個不相交的子集，每個子集中的任一連線網(wǎng)絡(luò)不會同另一個子集中的任一連線網(wǎng)絡(luò)發(fā)生短路故障。然后進(jìn)一步對劃分的子集進(jìn)行劃分，直到子集只含有一條連線或者子集中的所有連線相互之間存在短路故障，不能再劃分為止。此時，若子集中只含有一條連線，則表明此連線沒有同其它任一連線發(fā)生短路故障，是正常的；若子集含有多條連線，則這些連線肯定是短接在一起，因此無法再次劃分。
本發(fā)明進(jìn)行連線網(wǎng)絡(luò)集合劃分的原則是發(fā)生短路故障的連線，它們的輸出端輸出的測試響應(yīng)碼肯定相同；輸出不同測試響應(yīng)碼的連線，肯定沒有與它們短接在一起。依據(jù)此原則，本發(fā)明進(jìn)行連線網(wǎng)絡(luò)集合劃分的方法是對連線網(wǎng)絡(luò)集合V進(jìn)行一次測試，根據(jù)輸出的測試響應(yīng)碼將V劃分為兩個子集測試響應(yīng)碼為1的網(wǎng)絡(luò)子集V1和測試響應(yīng)碼為0的網(wǎng)絡(luò)子集V0；然后再對V1和V0分別進(jìn)行測試，進(jìn)一步將它們劃分為更小的子集(V11，V10，V01，V00)，如此進(jìn)行下去，直到子集只含有一條連線或者子集中所有連線的測試響應(yīng)碼相同為止。最壞的情況下，即每次的劃分僅將一條連線從網(wǎng)絡(luò)子集中劃分出來，則測試共需進(jìn)行N次，N為V中含有的測試連線的條數(shù)；最佳情況下，若每次都將連線網(wǎng)絡(luò)子集劃分成大小相等的兩個子集，則只需要 次。
電路板連線網(wǎng)絡(luò)存在的故障主要有固定狀態(tài)故障、開路故障和短路故障。固定狀態(tài)故障包括S-A-1故障(電路狀態(tài)始終為“1”)和S-A-0故障(電路狀態(tài)始終為“0”)。開路故障是指由于電路連線開路導(dǎo)致的故障。在電路板中，依據(jù)不同的電路具體結(jié)構(gòu)，開路故障等價于S-A-1故障或S-A-0故障。短路故障是由于兩個或兩個以上的連線相互短路導(dǎo)致的故障，故障所涉及的連線具有相同的輸出狀態(tài)，即在不同的測試碼激勵下，具有相同的響應(yīng)碼。短路故障主要包括兩類線或邏輯短路和線與邏輯短路。為闡述方便，下述的內(nèi)容主要針對線或邏輯，如果具體的電路結(jié)構(gòu)是線與邏輯，只要將測試碼翻轉(zhuǎn)(即在下述測試方法中，輸入1的連線改為輸入0，輸入0的連線改為輸入1)即可。
本發(fā)明定義了兩個概念從某一連線ni的輸入端輸入1，從另一連線nj的輸入端輸入0，若nj的輸出端輸出為1，則稱ni能夠連接到nj；對于連線網(wǎng)絡(luò)集合V的一個子集R，若R中的連線能夠連接到V中的所有連線，則稱R為V的代表。
由第一個概念可知，若連線ni與nj之間存在短路故障，則ni必定能夠連接到nj，反之亦然；如果n1，n2，…nk這K個連線之間存在短路故障，則任一連線ni(i＝1，…k)能夠連接到這K個連線，從連線ni(i＝1，…k)的輸入端輸入測試碼1，其余的連線輸入端無論輸入0還是1，這k個連線的輸出端都會輸出1。由第二個概念可知，如果R中的連線輸入端輸入測試碼1，則無論V中的其它連線輸入端輸入0或者1，V中的所有連線輸出端輸出的都會是1。因此，V也是自身的代表。
為了能夠檢測出固定狀態(tài)故障和開路故障，本發(fā)明增加兩個隱含的連線電源(VCC)和地(GND)。很明顯，VCC能夠代表所有輸出端狀態(tài)為1的連線，即存在S-A-1故障和開路故障的連線，GND能夠代表所有輸出端狀態(tài)為0的連線網(wǎng)絡(luò)，即存在S-A-0故障的連線。
采用二分法進(jìn)行連線導(dǎo)通測試的具體過程是1、將待測電路通過測試電纜連接到測試臺，確保連接正確，以免影響測試結(jié)果的正確性。
2、將待測連線網(wǎng)絡(luò)以及隱含連線網(wǎng)絡(luò)VCC、GND作為測試連線網(wǎng)絡(luò)集合V，V的代表集合R為V自身。
3、如果R中只含有一條連線，則停止測試，測試結(jié)果如下●如果R中含有的是VCC，則R代表的連線網(wǎng)絡(luò)集合V中的連線存在開路故障或者S-A-1故障；●如果R中含有的是GND，則R代表的連線網(wǎng)絡(luò)集合V中的連線存在S-A-0故障；●否則，R代表的連線網(wǎng)絡(luò)集合V中的連線之間存在橋接短路故障；4、如果連線網(wǎng)絡(luò)代表集R含有一條以上的連線，則將R劃分成R1和R0兩個連線網(wǎng)絡(luò)代表集，R1含有的連線數(shù)目為 R0含有的連線數(shù)目為|R|-|R1|。(|R|表示連線網(wǎng)絡(luò)集R中含有的連線數(shù)目)5、在代表集R1含有的連線網(wǎng)絡(luò)輸入端輸入測試碼1，在R0含有的連線網(wǎng)絡(luò)輸入端輸入測試碼0，在代表集以外的連線網(wǎng)絡(luò)的輸入端輸入測試碼0，對連線網(wǎng)絡(luò)集合V進(jìn)行測試；6、依據(jù)測試結(jié)果將V劃分為兩個連線網(wǎng)絡(luò)測試響應(yīng)值為1的連線網(wǎng)絡(luò)集合V1和測試響應(yīng)值為0的連線網(wǎng)絡(luò)集合V0。
7、由于發(fā)生開路故障和固定狀態(tài)故障的連線網(wǎng)絡(luò)會包含在代表集中，因此對V劃分后，R1中會含有不屬于V1的連線網(wǎng)絡(luò)，R0中會含有不屬于V0的連線網(wǎng)絡(luò)。若存在這種情況，根據(jù)代表集的含義，則去除R1中不屬于V1的連線，去除R0中不屬于V0的連線。然后對R1所代表的連線網(wǎng)絡(luò)集合V1以及R0所代表的連線網(wǎng)絡(luò)集合V0
分別進(jìn)行測試。
在第4步對網(wǎng)絡(luò)代表集R進(jìn)行劃分時，如果VCC包含在R中，則要保證劃分后VCC包含在R1中，以確保VCC在每次的測試中都隱含發(fā)送1；如果GND包含在R中，則要保證劃分后GND包含在R0中，以確保GND在每次的測試中都隱含發(fā)送0。
對網(wǎng)絡(luò)代表集R劃分時， 由測試執(zhí)行方式以及歸納原理可知，最終網(wǎng)絡(luò)代表集R的大小肯定為1，測試能夠結(jié)束。考慮代表集為R的連線網(wǎng)絡(luò)集V，設(shè)V中含有I條連線，R中含有j條連線，則此測試方法診斷故障所進(jìn)行的測試次數(shù)P(i，j)為 從而 由于在待測連線網(wǎng)絡(luò)集中增加了VCC和GND兩個隱含的連線，因此本發(fā)明測試方法在測試具有N條連線的連線網(wǎng)絡(luò)時所需要的測試次數(shù)為 采用本發(fā)明可以達(dá)到以下技術(shù)效果1)測試次數(shù)很少。對任意的連線導(dǎo)通測試，由于僅僅是對測試網(wǎng)絡(luò)集合的簡單劃分，測試次數(shù)都很少，能夠?qū)Υ罅康倪B線網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行快速有效的測試。
2)故障覆蓋率高。該方法不僅能夠檢測出連線網(wǎng)絡(luò)的短路故障，而且也能夠檢測出固定狀態(tài)故障。
3)故障定位準(zhǔn)確。此方法消除了征兆混淆和征兆誤判現(xiàn)象，能夠?qū)收线M(jìn)行準(zhǔn)確定位。
4)測試方法實(shí)現(xiàn)簡單，只須將待測電路通過測試電纜連接到測試臺，操作十分方便。


圖1是邊界掃描技術(shù)基本原理圖；圖2是采用本發(fā)明進(jìn)行連線導(dǎo)通測試時的電路連接圖；圖3是采用本發(fā)明進(jìn)行連線導(dǎo)通測試的一個實(shí)例；圖4是各種測試方法性能比較圖。
具體實(shí)施例方式圖1是邊界掃描技術(shù)的基本原理圖。邊界掃描技術(shù)的主要思想是通過在芯片管腳和芯片內(nèi)部邏輯電路之間，即芯片的邊界上增加由移位寄存器構(gòu)成的邊界掃描單元，實(shí)現(xiàn)對芯片管腳狀態(tài)的串行設(shè)定和讀取，從而提供芯片級、電路板級以至系統(tǒng)級的標(biāo)準(zhǔn)測試框架。如圖所示，各邊界掃描單元以串行方式連接成掃描鏈，既可以通過掃描輸入端將測試碼以串行的方式輸入，對相應(yīng)的管腳狀態(tài)進(jìn)行設(shè)定，實(shí)現(xiàn)測試碼的加載；也可以通過掃描輸出端將系統(tǒng)的測試響應(yīng)串行輸出，進(jìn)行數(shù)據(jù)的分析與處理。
圖2是利用本發(fā)明進(jìn)行導(dǎo)通測試的電路連接圖。測試設(shè)備包括一個測試臺，一根測試電纜，待測設(shè)備。測試臺由一臺微機(jī)，一塊邊掃測試卡組成，微機(jī)上安裝有采用基于二分法的方法編制的一個電路連線導(dǎo)通測試程序。電路連線導(dǎo)通測試程序主要功能包括接收和轉(zhuǎn)換用戶數(shù)據(jù)、測試碼生成、測試控制、測試結(jié)果回收與分析。邊掃測試卡是一塊特制的PCI插卡，在測試控制程序的控制下產(chǎn)生相應(yīng)的邊界掃描測試信號。待測設(shè)備上有一個邊界掃描接口(JTAG)，設(shè)備上的邊界掃描器件串聯(lián)成一條邊界掃描鏈。測試卡通過測試電纜與待測設(shè)備的邊界掃描接口連接。
圖3中有三個子圖A、B、C，是采用本發(fā)明進(jìn)行導(dǎo)通測試的一個實(shí)施例，如圖A所示，待測試的連線集合中包含8個連線，連線n1發(fā)生S-A-0故障，連線n2，n4和n5短接，連線n3開路，連線n6存在S-A-1故障，連線n7與n8短接。測試開始時，測試連線集合V為{n1，……，n8，VCC，GND}，V的代表集R為{n1，……n8，VCC，GND}。第1次測試，將R劃分為R1(包含VCC，n1，n2，n3，n4)和R0(包含n5，n6，n7，n8，GND)兩個子集，R1中的連線輸入測試碼1，R0中的連線輸入測試碼0。VCC，n2，n3，n4，n5，n6的測試響應(yīng)碼為1，n1，n7，n8，GND的測試響應(yīng)碼為0。根據(jù)測試響應(yīng)碼為1或0，將V分為兩個子集V1(VCC，n2，n3，n4，n5，n6)和V0(n1，n7，n8，GND)。因?yàn)閚1不在V1中，所以R1調(diào)整為{VCC，n2，n3，n4}。同樣，因?yàn)閚5、n6不在V0中，所以R0調(diào)整為{n7，n8，GND}。如圖B所示，第2次并行對(V1，R1)和(V0，R0)進(jìn)行測試，將R1劃分為R11(VCC，n2)和R10(n3，n4)，R0劃分為R01(n7)和R00(n8，GND)；R11和R01中的連線輸入測試碼1，R10和R00中的連線輸入測試碼0。測試結(jié)果進(jìn)一步將V1分為V11(VCC，n2，n3，n4，n5，n6)和V10，V10為空；將V0分為V01(n7，n8)和V00(n1，GND)；代表集R11進(jìn)一步調(diào)整為{VCC，n2}，R01調(diào)整為{n7}，R00調(diào)整為{GND}，R10不含任何連線，去除掉。因?yàn)镽01、R00只含一條連線，所以對(V01，R01)和(V00，R00)的測試結(jié)束。如圖C，第3次只對(V11，R11)進(jìn)行測試。R11劃分為R111(VCC)和R110(n2)；測試后將V11劃分為V111(VCC，n3，n6)和V110(n2，n4，n5)。最后的測試結(jié)果為{VCC}代表{VCC，n3，n6}，n3，n6開路或固定為1；{n2}代表{n2，n4，n5}，n2，n4，n5橋接短路；{n7}代表{n7，n8}，n7，n8橋接短路；{GND}代表{n1，GND}，n1固定為0。因此，采用本發(fā)明只須3 次測試就將連線網(wǎng)絡(luò)故障正確地檢測并定位。
圖4是各種導(dǎo)通測試方法性能比較。假設(shè)需要測試一個具有1000條連線的連線網(wǎng)絡(luò)，利用每種方法進(jìn)行測試所需要的測試次數(shù)、檢測故障能力及其故障定位精度情況是計數(shù)序列法測試10次，不能檢測固定故障和開路故障，存在征兆混淆和征兆誤判現(xiàn)象，不能對故障進(jìn)行準(zhǔn)確定位；改進(jìn)計數(shù)序列法測試10次，能夠檢測到連線存在的所有故障，但不能對故障進(jìn)行準(zhǔn)確定位；計數(shù)補(bǔ)償法測試20次，能夠檢測到連線存在的所有故障，但不能對故障進(jìn)行準(zhǔn)確定位；移位1(0)法測試1000次，能夠檢測連線存在的所有故障并準(zhǔn)確定位；W步自適應(yīng)法測試次數(shù)多余10次，也能夠檢測連線存在的所有故障并準(zhǔn)確定位；利用本發(fā)明進(jìn)行測試的次數(shù)為10次，并能夠檢測連線存在的所有故障并準(zhǔn)確定位?？梢钥闯?，本發(fā)明所采用的基于二分法的測試方法在所有的導(dǎo)通測試方法中測試次數(shù)最少，故障覆蓋率高，故障定位準(zhǔn)確，能夠較好地進(jìn)行電路連線導(dǎo)通測試。
權(quán)利要求
1.一種基于二分法的電路連線導(dǎo)通測試方法，利用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行電路連線導(dǎo)通測試，其特征在于微機(jī)上安裝有一個基于二分法編制的電路連線導(dǎo)通測試控制程序，在對短路故障進(jìn)行檢測時，將待測的電路連線網(wǎng)絡(luò)當(dāng)成一個集合，并將這個集合劃分為兩個不相交的子集，每個子集中的任一連線網(wǎng)絡(luò)不會同另一個子集中的任一連線網(wǎng)絡(luò)發(fā)生短路故障，然后進(jìn)一步對劃分的子集進(jìn)行劃分，直到子集只含有一條連線或者子集中的所有連線相互之間存在短路故障，不能再劃分為止；此時，若子集中只含有一條連線，則表明此連線沒有同其它任一連線發(fā)生短路故障，是正常的；若子集含有多條連線，則這些連線肯定是短接在一起，無法再次劃分。
2.如權(quán)利要求1所述的基于二分法的電路連線導(dǎo)通測試方法，其特征在于進(jìn)行連線網(wǎng)絡(luò)集合劃分的原則是發(fā)生短路故障的連線，它們的輸出端輸出的測試響應(yīng)碼肯定相同；輸出不同測試響應(yīng)碼的連線，肯定沒有與它們短接在一起。依據(jù)此原則，本發(fā)明進(jìn)行連線網(wǎng)絡(luò)集合劃分的方法是對連線網(wǎng)絡(luò)集合V進(jìn)行一次測試，根據(jù)輸出的測試響應(yīng)碼將V劃分為兩個子集測試響應(yīng)碼為1的網(wǎng)絡(luò)子集V1和測試響應(yīng)碼為0的網(wǎng)絡(luò)子集V0；然后再對V1和V0分別進(jìn)行測試，進(jìn)一步將它們劃分為更小的子集(V11，V10，V01，V00)，如此進(jìn)行下去，直到子集只含有一條連線或者子集中所有連線的測試響應(yīng)碼相同為止。
3.如權(quán)利要求1所述的基于二分法的電路連線導(dǎo)通測試方法，其特征在于本發(fā)明定義了兩個概念從某一連線ni的輸入端輸入1，從另一連線nj的輸入端輸入0，若nj的輸出端輸出為1，則稱ni能夠連接到nj；對于連線網(wǎng)絡(luò)集合V的一個子集R，若R中的連線能夠連接到V中的所有連線，則稱R為V的代表；由第一個概念可知，若連線ni與nj之間存在短路故障，則ni必定能夠連接到nj，反之亦然；如果n1，n2，…nk這K個連線之間存在短路故障，則任一連線ni(i＝1，…k)能夠連接到這K個連線，從連線ni(i＝1，…k)的輸入端輸入測試碼1，其余的連線輸入端無論輸入0還是1，這k個連線的輸出端都會輸出1；由第二個概念可知，如果R中的連線輸入端輸入測試碼1，則無論V中的其它連線輸入端輸入0或者1，V中的所有連線輸出端輸出的都會是1，因此，V也是自身的代表。
4.如權(quán)利要求1所述的基于二分法的電路連線導(dǎo)通測試方法，其特征在于為了能夠檢測出固定狀態(tài)故障和開路故障，本發(fā)明增加兩個隱含的連線電源VCC和地GND，VCC代表所有輸出端狀態(tài)為1的連線，即存在S-A-1故障和開路故障的連線，GND代表所有輸出端狀態(tài)為0的連線網(wǎng)絡(luò)，即存在S-A-0故障的連線。
5.如權(quán)利要求1所述的基于二分法的電路連線導(dǎo)通測試方法，其特征在于采用二分法進(jìn)行連線導(dǎo)通測試的具體過程是5.1將待測電路通過測試電纜連接到測試臺，確保連接正確，以免影響測試結(jié)果的正確性；5.2將待測連線網(wǎng)絡(luò)以及隱含連線網(wǎng)絡(luò)VCC、GND作為測試連線網(wǎng)絡(luò)集合V，V的代表集合R為V自身；5.3如果R中只含有一條連線，則停止測試，測試結(jié)果如下●如果R中含有的是VCC，則R代表的連線網(wǎng)絡(luò)集合V中的連線存在開路故障或者S-A-1故障；●如果R中含有的是GND，則R代表的連線網(wǎng)絡(luò)集合V中的連線存在S-A-0故障；●否則，R代表的連線網(wǎng)絡(luò)集合V中的連線之間存在橋接短路故障；5.4如果連線網(wǎng)絡(luò)代表集R含有一條以上的連線，則將R劃分成R1和R0兩個連線網(wǎng)絡(luò)代表集，R1含有的連線數(shù)目為 R0含有的連線數(shù)目為|R|-|R1|；5.5在代表集R1含有的連線網(wǎng)絡(luò)輸入端輸入測試碼1，在R0含有的連線網(wǎng)絡(luò)輸入端輸入測試碼0，在代表集以外的連線網(wǎng)絡(luò)的輸入端輸入測試碼0，對連線網(wǎng)絡(luò)集合V進(jìn)行測試；5.6依據(jù)測試結(jié)果將V劃分為兩個連線網(wǎng)絡(luò)測試響應(yīng)值為1的連線網(wǎng)絡(luò)集合V1和測試響應(yīng)值為0的連線網(wǎng)絡(luò)集合V0；5.7由于發(fā)生開路故障和固定狀態(tài)故障的連線網(wǎng)絡(luò)會包含在代表集中，因此對V劃分后，R1中會含有不屬于V1的連線網(wǎng)絡(luò)，R0中會含有不屬于V0的連線網(wǎng)絡(luò)，若存在這種情況，根據(jù)代表集的含義，則去除R1中不屬于V1的連線，去除R0中不屬于V0的連線，然后對R1所代表的連線網(wǎng)絡(luò)集合V1以及R0所代表的連線網(wǎng)絡(luò)集合V0分別進(jìn)行測試；在第4步對網(wǎng)絡(luò)代表集R進(jìn)行劃分時，如果VCC包含在R中，則要保證劃分后VCC包含在R1中，以確保VCC在每次的測試中都隱含發(fā)送1；如果GND包含在R中，則要保證劃分后GND包含在R0中，以確保GND在每次的測試中都隱含發(fā)送0。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種基于二分法的電路連線導(dǎo)通測試方法，要解決的技術(shù)問題是克服目前電路連線導(dǎo)通測試方法故障覆蓋率低、測試次數(shù)較多的問題，技術(shù)方案是微機(jī)上安裝一個基于二分法編制的電路連線導(dǎo)通測試控制程序，在對短路故障進(jìn)行檢測時，將待測的電路連線網(wǎng)絡(luò)當(dāng)成一個集合，并將這個集合劃分為兩個不相交的子集，每個子集中的任一連線網(wǎng)絡(luò)不會同另一個子集中的任一連線網(wǎng)絡(luò)發(fā)生短路故障。然后進(jìn)一步對劃分的子集進(jìn)行劃分，直到子集只含有一條連線或者子集中的所有連線相互之間存在短路故障，不能再劃分為止。采用本發(fā)明故障覆蓋率高、測試次數(shù)很少，故障定位準(zhǔn)確。
文檔編號G01R31/28GK1664600SQ20051003139
公開日2005年9月7日 申請日期2005年3月30日 優(yōu)先權(quán)日2005年3月30日
發(fā)明者蔣句平, 田寶華, 蘇湘玉, 肖立權(quán), 劉勇鵬, 屈晚霞, 徐榮生, 羅煜峰 申請人:中國人民解放軍國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)