專利名稱：熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測(cè)量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于彩色熒光粉檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種測(cè)量方法，特別涉及彩色顯象管和彩色顯示器用熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測(cè)量方法。
背景技術(shù)：
彩色顯象管使用的紅、綠、藍(lán)三色熒光粉，其顏色是由它們輻射的光譜分布來決定的。對(duì)于生產(chǎn)制造出來的熒光粉，要知道它們的發(fā)光特性，就必須進(jìn)行測(cè)量。另外，為了吸收部分來自熒光屏前的環(huán)境光及熒光粉發(fā)光以外的波長，提高圖象對(duì)比度和改善熒光粉的色純度，對(duì)熒光粉的反射、吸收特性也要進(jìn)行測(cè)量。
現(xiàn)有的發(fā)光特性的測(cè)量方法是用MCPD型分光儀在電子槍的激發(fā)下，測(cè)量放置在其真空樣品室內(nèi)的專用測(cè)量載片上熒光粉的發(fā)光特性(Br、x、y)。由于該測(cè)量儀器測(cè)量光柵的面積為一定值，因此，對(duì)測(cè)量發(fā)光專用測(cè)量載片的高度、寬度就得做出限制，即載片的高度、寬度為固定值。而測(cè)量反射率光譜的方法是用分光光度計(jì)儀器，將裝有熒光粉的專用測(cè)量載片放置在反射光譜載片樣品室內(nèi)，測(cè)量其熒光粉的反射、吸收特性。為了保證激發(fā)光譜對(duì)熒光粉樣品的測(cè)量要求，即保證測(cè)量精度，該儀器的樣品室限定了測(cè)量載片的高度也必須為固定值。因此，現(xiàn)有的兩種儀器在分別測(cè)量熒光粉的發(fā)光特性與反射特性時(shí)，必須分別在兩種不同形狀的熒光粉載片上制作被檢測(cè)熒光粉的測(cè)量載片，從而造成檢測(cè)成本較高，工人勞動(dòng)強(qiáng)度加大。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決測(cè)量發(fā)光特性和反射特性分別制作載片而造成的檢測(cè)成本高、勞動(dòng)強(qiáng)度大的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的是提供了可一體化測(cè)量的熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測(cè)量方法，降低了檢測(cè)成本，減輕了勞動(dòng)強(qiáng)度。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是，熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測(cè)量方法，將熒光粉樣品裝入測(cè)量發(fā)光光譜特性的載片上的凹槽內(nèi)，將其壓平，進(jìn)行發(fā)光特性的測(cè)量，測(cè)量完成后，將載片疊加在測(cè)量反射光譜特性的載片上，蓋上玻璃片，再進(jìn)行反射光譜特性的測(cè)量。
本發(fā)明所采用的另一技術(shù)方案是，熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測(cè)量方法，包括一通用載片，通用載片上開有長方形凹槽，凹槽的四角圓弧過渡，該方法包括先將熒光粉樣品裝入通用載片上的凹槽內(nèi)，將其壓平，進(jìn)行發(fā)光特性的測(cè)量，測(cè)量完成后，蓋上玻璃片，再進(jìn)行反射光譜特性的測(cè)量。
本發(fā)明的特點(diǎn)還在于，通用載片上凹槽的長為45mm，寬為25mm，表面積為1125平方毫米。
本發(fā)明的方法是將制作測(cè)量熒光粉發(fā)光特性用的載片及制作測(cè)量熒光粉反射光譜用的載片，一次完成，從而降低制樣費(fèi)用，減輕了檢測(cè)工的勞動(dòng)量，提高檢測(cè)工作效率，減輕了檢測(cè)廢棄熒光粉對(duì)環(huán)境的污染。


圖1是原有測(cè)量發(fā)光特性的載片示意圖；圖2是原有測(cè)量發(fā)光特性的載片裝樣品后示意圖；圖3是原有測(cè)量反射光譜特性的載片示意圖；圖4是原有測(cè)量反射光譜特性的載片裝樣品后示意圖；
圖5是本發(fā)明的一種測(cè)量方法示意圖；圖6是本發(fā)明的通用載片示意圖；圖7是本發(fā)明使用通用載片測(cè)量發(fā)光特性示意圖；圖8是本發(fā)明使用通用載片測(cè)量反射光譜特性示意圖；圖9是紅粉反射率的測(cè)試對(duì)比曲線圖，橫坐標(biāo)是波長，縱坐標(biāo)是反射率；圖10是藍(lán)粉反射率的測(cè)試對(duì)比曲線圖，橫坐標(biāo)是波長，縱坐標(biāo)是反射率。
圖中1載片，2凹槽，3熒光粉樣品，4載片，5凹槽，6玻璃片，7通用載片，8凹槽。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖1顯示的是原有測(cè)量發(fā)光特性的載片，載片1上開有方形凹槽2。
如圖2所示，進(jìn)行發(fā)光特性測(cè)量時(shí)，將少量熒光粉樣品3裝入載片1上的凹槽2內(nèi)，使粉稍高于載片1的內(nèi)表面，用平面砣將其壓平整，用MCPD型分光儀在電子槍激發(fā)下測(cè)量樣品的發(fā)光特性(Br、x、y)。
圖3顯示的是原有測(cè)量反射光譜特性的載片，載片4上開有圓形凹槽5。
如圖4所示，原來進(jìn)行反射光譜特性測(cè)量時(shí)，將少量熒光粉樣品3裝入載片4上的凹槽5內(nèi)，使粉稍高于載片4的內(nèi)表面，用平面砣將其壓平整，用分光光度計(jì)儀器測(cè)量樣品的反射特性。
圖5顯示用本發(fā)明的方法進(jìn)行測(cè)量，將少量熒光粉樣品3裝入測(cè)量發(fā)光光譜特性的載片1上的凹槽2內(nèi)，使粉稍高于載片1的內(nèi)表面，用平面砣將其壓平整，用MCPD型分光儀在電子槍激發(fā)下測(cè)量樣品的發(fā)光特性，測(cè)量完成后，將載片1疊加在測(cè)量反射光譜特性的載片4上，再用玻璃片6蓋在熒光粉體3上，四周用膠帶將玻璃片6與載片1封嚴(yán)，杜絕粉末外溢，并用衛(wèi)生紙將玻璃面擦凈，最后測(cè)量其反射光譜特性。從而使發(fā)光、反射光譜測(cè)量制片只需一次完成，節(jié)省了單另制作測(cè)量反射率用載片的制片過程。
圖6是本發(fā)明方法使用的通用載片，通用載片7上開有長方形凹槽8，其長為65mm，寬為24mm，表面積為625平方毫米，凹槽8的四角圓弧過渡。
圖7、圖8顯示用本發(fā)明的另一種方法進(jìn)行測(cè)量，先將一定量熒光粉樣品裝入通用載片7上的凹槽8內(nèi)，使粉稍高于載片7的內(nèi)表面，然后用平面砣將粉壓平整，首先用MCPD型分光儀在電子槍激發(fā)下測(cè)量樣品的發(fā)光特性(Br、x、y)，測(cè)量完成后，測(cè)量載片7再利用，用玻璃片6蓋在其熒光粉3上，四周用膠帶將玻璃片6與載片7封嚴(yán)，杜絕粉末外溢，并用衛(wèi)生紙將玻璃面擦凈，最后測(cè)量其反射率特性，從而使發(fā)光測(cè)量、反射光譜測(cè)量制片一次完成。
用本發(fā)明的兩種測(cè)量方法與原來的測(cè)量方法相比，見下表隨機(jī)取樣進(jìn)行兩種制片方法測(cè)試反射光譜測(cè)試點(diǎn)對(duì)比

從上表的測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)比可以看出，其測(cè)試結(jié)果的極差很小，驗(yàn)證了本發(fā)明的可行性。
圖9、圖10是隨機(jī)取樣進(jìn)行的本發(fā)明的制片方法與原有方法測(cè)量出的反射光譜特性對(duì)比曲線，可以看出用本發(fā)明的制片方法測(cè)量出的結(jié)果與原有的反射光譜測(cè)量方法的測(cè)量結(jié)果完全吻合。
權(quán)利要求
1.熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測(cè)量方法，其特征在于，將熒光粉樣品(3)裝入測(cè)量發(fā)光光譜特性的載片(1)上的凹槽(2)內(nèi)，將其壓平，進(jìn)行發(fā)光特性的測(cè)量，測(cè)量完成后，將載片(1)疊加在測(cè)量反射光譜特性的載片(4)上，蓋上玻璃片(6)，再進(jìn)行反射光譜特性的測(cè)量。
2.熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測(cè)量方法，其特征在于，包括一通用載片(7)，所述通用載片(7)上開有長方形凹槽(8)，所述凹槽(8)的四角圓弧過渡，該方法包括先將熒光粉樣品(3)裝入通用載片(7)上的凹槽(8)內(nèi)，將其壓平，進(jìn)行發(fā)光特性的測(cè)量，測(cè)量完成后，蓋上玻璃片(6)，再進(jìn)行反射光譜特性的測(cè)量。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)量方法，其特征在于，所述凹槽(8)的長為45mm，寬為25mm，表面積為1125平方毫米。
全文摘要
熒光粉發(fā)光光譜和反射率光譜的測(cè)量方法，一種方法是將進(jìn)行發(fā)光特性測(cè)量后的載片疊加在測(cè)量反射光譜特性的載片上，蓋上玻璃片，再進(jìn)行反射光譜特性的測(cè)量；另一種方法是將熒光粉樣品裝入通用載片上的凹槽內(nèi)，進(jìn)行發(fā)光特性的測(cè)量，測(cè)量完成后，蓋上玻璃片，再進(jìn)行反射光譜特性的測(cè)量。該方法使發(fā)光特性和反射光譜特性的測(cè)量一次完成，從而降低制樣費(fèi)用，減輕了檢測(cè)工的勞動(dòng)量，提高檢測(cè)工作效率，減輕了檢測(cè)廢棄熒光粉對(duì)環(huán)境的污染。
文檔編號(hào)G01N21/69GK1664565SQ200510041908
公開日2005年9月7日 申請(qǐng)日期2005年4月7日 優(yōu)先權(quán)日2005年4月7日
發(fā)明者傅紅梅, 張東宏 申請(qǐng)人:彩虹集團(tuán)電子股份有限公司