專利名稱：用于電位測量的測量探頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測量探頭和一種進(jìn)行電位測量的裝置，以及一種監(jiān)測該用于電位測量的測量探頭的方法。
背景技術(shù)：
在US2003/0132755A1中，特別是在圖1以及現(xiàn)有技術(shù)評價(jià)部分中描述了一種和本發(fā)明同樣類型的測量探頭。在實(shí)際中將電位測量探頭配備一個(gè)外部的銷形附加電極(英語術(shù)語中稱作“地電位溶液solution gound”)，與其他功能一起用于診斷傳感器狀況，比如來測量或監(jiān)測一個(gè)膜片或一玻璃膜的電阻。此外，探頭浸沒到測量溶液或處理溶液中，該溶液可以被設(shè)為地電位或者通過裝置或者一個(gè)附加電極確定的其它電位。
已知現(xiàn)有技術(shù)中的測量探頭的一個(gè)缺點(diǎn)是該位于殼體底部的附加銷形電極在探頭制造期間需要較昂貴的緊固處理，例如通過將該附加電極熔融在殼體內(nèi)。此外，現(xiàn)有技術(shù)中的這種從殼體伸出的附加電極被設(shè)計(jì)成一個(gè)機(jī)械外露的測量探頭組件，其需要額外的空間且易于損壞。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是改善與上述探頭類型相同的測量探頭，特別是要克服上述缺陷。本發(fā)明的另一個(gè)目的是提出一種用于進(jìn)行電位測量的改進(jìn)裝置。本發(fā)明的目的還要提供一種監(jiān)測測量探頭的改進(jìn)方法。
通過權(quán)利要求1限定的測量探頭、權(quán)利要求14限定的裝置和權(quán)利要求15限定的方法來解決上述任務(wù)。
根據(jù)本發(fā)明的測量探頭具有一個(gè)由電絕緣材料制成的殼體，且具有至少一個(gè)含有半電池元件的中空空間。該測量探頭還具有至少一個(gè)附加電極，其布置在可沒入一種測量溶液或處理溶液中的殼體的可浸沒部分上。該附加電極與布置在該可浸沒部分外側(cè)的測量探頭上的接觸端子相連。通過將該附加電極由施加在殼體外側(cè)上的導(dǎo)電涂層構(gòu)成，來得到該測量探頭的一個(gè)緊湊的設(shè)計(jì)，不帶有突出的或外露的組件。此外，施涂附加電極的過程可以通過涂覆工藝來完成，這種工藝能很好地進(jìn)行控制，且嘗試過并已被證明可行，適于大批量生產(chǎn)，從而還可以提供成本優(yōu)勢。
用于執(zhí)行電位測量的裝置包括一個(gè)根據(jù)本發(fā)明的測量探頭和一個(gè)測量轉(zhuǎn)換器，該測量轉(zhuǎn)換器可以與測量探頭的各半電池元件以及各附加電極的各電接觸端子相連。該測量轉(zhuǎn)換器還包括在附加電極上設(shè)置一個(gè)限定電位的裝置，和/或確定附加電極與該裝置其它部分之間的特征電量的裝置。因此，當(dāng)該測量探頭浸沒到一測量或處理溶液中時(shí)，該裝置一方面可以將該溶液設(shè)為地電位，或者將其設(shè)為前述的限定電位。另一方面，其還可以確定涂層與該裝置其它部分之間的不同類的特征量。這不僅僅包括識別傳感器條件的特征量，特別是膜片電阻和膜電阻，還包括測量例如氧化還原電位，假定該測量探頭包括一個(gè)可用作參考電極的半電池元件。
本發(fā)明的其它優(yōu)選實(shí)施例由從屬權(quán)利要求限定。
涂層與相關(guān)的電接觸端子之間的連接可以通過不同的方式實(shí)現(xiàn)，比如夾具連接。然而，一種優(yōu)選的解決方法是在該接觸端子和涂層之間用焊接連接，其代表了一種簡單的、成本有效的以及可靠的電連接類型。
原則上，涂層可以采用多種不同的幾何形狀。涂層特別可以被設(shè)計(jì)成殼體上的一個(gè)縱向的涂層帶，或者一個(gè)類似于圍繞殼體的環(huán)形。在一個(gè)典型實(shí)施例中，該涂層基本環(huán)繞整個(gè)殼體，從而構(gòu)成了該測量探頭的一個(gè)有效的電屏蔽。當(dāng)然該測量探頭殼體的一些單獨(dú)部件可以保持未涂覆狀態(tài)以實(shí)現(xiàn)其功能。具體地，參考電極的模片和pH電極的玻璃膜需要保持不涂覆?？梢詫⒃撏繉釉O(shè)計(jì)成類似光柵的圖案，盡管有穿孔，其仍能通過法拉第籠的方式提供有效電屏蔽。后一種設(shè)計(jì)應(yīng)用在有電磁干擾的工業(yè)應(yīng)用中特別有優(yōu)勢，因而該電屏蔽可以防止寄生信號的產(chǎn)生，并提高測量信號的穩(wěn)定性。進(jìn)一步的好處是附加電極相對較大的表面也可以進(jìn)行大電阻測量，其對于識別傳感器狀態(tài)具有顯著的優(yōu)勢。
盡管一定厚度以上的導(dǎo)電涂層必然是不透明的，但是如果將涂層厚度保持的相對較小，還是可以保證一定透明度的。保證涂層的透明度具有顯著的優(yōu)點(diǎn)，即該測量探頭的內(nèi)部保持可見，即便在上述涂層在整個(gè)探頭上延展的情況下，因?yàn)榭梢圆槐卦僭谕繉由显O(shè)置一個(gè)檢視窗。探頭內(nèi)部的可見監(jiān)測對于各類探頭都是很重要的，可確定電極的狀態(tài)，比如填充有飽和電解液的參考電極。
盡管該殼體可以使用各種不同的電絕緣材料，但優(yōu)選采用玻璃來制成殼體，這特別是因?yàn)楦郊与姌O的沉積可以通過公知的涂覆技術(shù)來完成。
該涂層優(yōu)選通過氣相沉積的方式來進(jìn)行施涂，該技術(shù)特別包括諸如公知的物理氣相沉積(PVD)以及化學(xué)氣相沉積(CVD)技術(shù)。此外，使用這類沉積技術(shù)并不限制于玻璃殼體。
涂層可從多種公知的可作為電極的材料中選擇。特別優(yōu)選地涂層可由鉑制成。鉑特別適合于焊接，其具有良好的耐化學(xué)、耐熱以及機(jī)械性能，且其還適于進(jìn)行氧化還原電位測量。另一方面，如果探頭用于確定金屬離子濃度，則需要相應(yīng)金屬的涂層。
在測量探頭的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，在殼體和涂層之間設(shè)置一個(gè)粘附增強(qiáng)層，從而可以避免涂層的意外脫落。
與上述準(zhǔn)則一起，粘附增強(qiáng)層材料的選擇取決于涂層，可以在鈦、鉻、鉬、鉭或者鎢中選擇。在某些情況下，金或者鈀可以添加到粘附增強(qiáng)層中。鈦是玻璃與鉑之間的粘附增強(qiáng)層界面特別優(yōu)選的選擇，因?yàn)殁佋谏锕に噷W(xué)中被看作是無危險(xiǎn)的。
用在測量探頭中的半電池元件的類型取決于具體應(yīng)用。該半電池元件可特別設(shè)計(jì)作為一個(gè)測量電極，例如作為用于pH測量的玻璃電極，或者作為離子靈敏ISFET傳感器。該半電池元件還可以作為一個(gè)參考電極。另一種可能性是，該測量探頭可以被設(shè)計(jì)成一種單桿測量鏈(single-rod measuring chain)，包括例如一種pH電極和一種參考電極。
在測量探頭的一個(gè)更優(yōu)選的實(shí)施例中，后者被設(shè)計(jì)成特別用于測量介質(zhì)的導(dǎo)電性。為了完成該功能，該測量探頭具有設(shè)置在探頭浸沒部分不同位置上的兩個(gè)附加電極。該附加電極與相應(yīng)的接觸端子相連，且附加電極之間的距離確定出了一個(gè)測量長度，以測量電阻或?qū)щ娦浴?br> 用于電位測量的探頭的一種監(jiān)測方法涉及利用一測量探頭和一測量轉(zhuǎn)換器，其中該測量探頭包括一由電絕緣材料制成的殼體，其具有至少一個(gè)中空空間用于容納半電池元件，和至少一個(gè)附加電極，該附加電極由施涂在殼體外側(cè)的導(dǎo)電涂層構(gòu)成。所述附加電極設(shè)置在可浸沒在一測量溶液中的殼體的可浸沒部分上。電接觸端子設(shè)置在可浸沒部分外側(cè)并與附加電極相連。測量轉(zhuǎn)換器連接測量探頭的各半電池元件以及各附加電極的相應(yīng)電接觸端子。該方法的特征在于測量附加電極與該裝置的其它部分之間的特征電量。
該測量轉(zhuǎn)換器特別可以在該附加電極上設(shè)定一個(gè)確定的電位。
通過接觸該測量轉(zhuǎn)換器的相應(yīng)端子，可以在參考電極的接觸端子與附加電極的接觸端子之間進(jìn)行電阻測量，以確定膜片的電阻。另一種可行方案是，在測量電極的接觸端子與附加電極的接觸端子之間進(jìn)行電阻測量，以確定玻璃膜的電阻。


下面將參考附圖詳細(xì)介紹本發(fā)明的實(shí)施方式，附圖中圖1表示了一個(gè)被設(shè)計(jì)成單桿測量鏈的測量探頭的縱剖面圖；圖2表示裝有類似光柵的附加電極的測量探頭的側(cè)視圖；圖3表示裝有兩個(gè)附加電極的測量探頭的側(cè)視圖。
具體實(shí)施例方式
在不同的附圖中相同的特征采用相同的附圖標(biāo)記。為了清楚起見，將附圖中某些部件的涂層厚度被很夸張地放大了。
圖1所示的測量探頭具有一個(gè)玻璃或聚合物管狀殼體2，其下端4浸沒到測量介質(zhì)6中。該探頭殼體2封閉出了一個(gè)中央腔室8和一個(gè)圍繞該中央腔室8同軸布置的環(huán)形腔室10。該中央腔室8包括一個(gè)第一半電池元件，其被設(shè)計(jì)成一玻璃電極，同時(shí)還包括一個(gè)第二半電池元件，其被設(shè)計(jì)成為一個(gè)參考電極，且容納在環(huán)形腔室10中。該環(huán)形腔室10在外側(cè)具有一導(dǎo)電涂層14，該涂層用作一個(gè)附加電極12。
上述兩個(gè)半電池元件的布置大體上是公知的，因此下面僅僅是為了解釋整個(gè)測量探頭而對其進(jìn)行描述。
該中央腔室8的突出下端被構(gòu)形成一個(gè)外凸圓形的玻璃膜16，其用所謂的pH玻璃制成。此外，中央腔室8中包含有內(nèi)部緩沖溶液，比如一種含有氯化鉀的水性乙酸和乙酸酯緩沖溶液，第一導(dǎo)電元件20例如一根銀線浸沒在該緩沖溶液中。該銀線穿過位于中央腔室上端的一個(gè)熔融頂蓋22(未詳細(xì)示出)到達(dá)一個(gè)測量接觸端子K1。
在本文中，措辭“上部”和“下部”是關(guān)于浸沒在測量介質(zhì)中的測量探頭的部分，其中該測量探頭大致被定向成垂直于該測量介質(zhì)的表面，如圖1的示例所示。因此，措辭“上部”和“下部”應(yīng)對應(yīng)于測量探頭的不同部分。
在浸沒區(qū)域4內(nèi)，環(huán)形腔室10具有一個(gè)圓盤形的膜片24，且在最上面的部分上有一個(gè)注入口26。環(huán)形腔室10還包括一種參考電解質(zhì)溶液28，例如一種飽和氯化鉀溶液，其中一根帶有氯化銀涂層的銀絲浸沒在其中，作為第二導(dǎo)電元件30。后者穿過環(huán)形腔室10上部閉合部分32伸到外部，此處，其終止于一參考接觸端子K2。
在圖示實(shí)施例中導(dǎo)電涂層14大致覆蓋了環(huán)形腔室10的整個(gè)外壁面，只留膜片24和注入口26不覆蓋。涂層14的最上部與附加接觸端子K3相連，后者最好焊接到該涂層14上。
應(yīng)理解除了附圖所示的測量探頭外也可以采用其它的構(gòu)形設(shè)計(jì)。具體來說，一個(gè)作為附加電極的導(dǎo)電涂層可以應(yīng)用在一個(gè)單獨(dú)的半電池上，比如應(yīng)用在一個(gè)玻璃電極或者一個(gè)參考電極上，來取代單桿測量鏈。此外，圖示的布局形式也可進(jìn)行多種改變。比如，玻璃膜可以為不同的形狀，例如球形膜或者針形膜，且膜片可以被構(gòu)形成一個(gè)沿著圓環(huán)延伸的環(huán)形膜片。然而，參考電極也可以被設(shè)計(jì)成一個(gè)帶有一開口流體通道的膠電極，即不帶膜片。
圖2所示的測量探頭包括一個(gè)pH測量探頭，其具有一個(gè)殼體2a，下端4浸沒到測量介質(zhì)6中。由殼體2a構(gòu)成的傳感腔室10a含有一種內(nèi)部緩沖溶液18，一根銀線沒入其內(nèi)作為一個(gè)導(dǎo)電元件20。后者穿過傳感腔室10a的上閉合部分(未詳細(xì)示出)伸到外部，終止于一測量接觸端子K1。如圖2所示，傳感探頭殼體2a配備有一個(gè)附加電極12a，其由一個(gè)類似光柵的、帶有大量小孔34的涂層14a構(gòu)成。涂層14a只留下浸沒區(qū)域4的下部沒有覆蓋，其余的大致包圍住了整個(gè)探頭殼體10a。涂層14a的最上部焊接到一個(gè)附加接觸端子K3上。該類似光柵的涂層14a具有法拉第籠的效果，從而形成一個(gè)有效屏蔽，但還可以目測觀察探頭的內(nèi)部。
圖3所示的測量探頭包括一個(gè)帶有殼體2b的參考電極，其下端4浸沒到測量介質(zhì)6中。由殼體2b構(gòu)成的傳感腔室10b含有一種參考電解質(zhì)溶液28，一根帶有氯化銀涂層的銀線浸沒其內(nèi)，作為一個(gè)第二導(dǎo)電元件30。后者穿過傳感腔室10b的上閉合部分(未詳細(xì)示出)伸到外部，此處，其終止于參考接觸端子K2。在浸沒區(qū)域4中，傳感腔室10b具有一個(gè)圓盤形的膜片24，并在最上部具有一個(gè)注入口(未具體示出)。該測量探頭具有一個(gè)第一附加電極12b和一個(gè)第二附加電極12c，其分別由第一涂層14b(圖3中深色陰影部分)和第二涂層14c(圖3中黑色的部分)構(gòu)成。涂層14b、14c都從浸沒區(qū)域4延伸到探頭殼體2b的上端。第一涂層14b的上端焊接到第一附加接觸端子K3上。類似地，第二涂層14c焊接到第二附加接觸端子K4上。
第一涂層14b包括一個(gè)第一縱向涂層帶34，其從殼體的上部延伸到浸沒部分4，并與帶有一缺口38的上環(huán)形帶36相連。第二涂層14c包括一個(gè)第二縱向涂層帶40，其同樣從殼體的上部延伸到浸沒部分4，并與下環(huán)形帶42相連。從圖3中可以看到，兩個(gè)縱向涂層帶34、40大致相互平行。第二縱向涂層帶40穿過上環(huán)形帶36的缺口38與下環(huán)形帶42相連。一個(gè)未涂覆區(qū)域44僅被該第二縱向涂層帶36打斷，該區(qū)域隔開了兩環(huán)形帶36、42。因而，可以從圖3中看到，第一附加電極12b由第一縱向涂層帶34和斷開了的上環(huán)形帶36形成，而第二附加電極12c由第二縱向涂層帶40和下環(huán)形帶42形成。
下述方法已被證明有利于制造該帶涂層的測量探頭。第一步是清潔探頭殼體，其優(yōu)選由無鉛玻璃組成。然后，用濺鍍技術(shù)沉積一層薄的鈦粘附增強(qiáng)層，其厚度約為5到20mm，優(yōu)選為10mm左右。最后步驟是涂覆該作為附加電極的實(shí)際涂層。使用帶有例如200nm左右厚度涂層的鉑可以得到較好的電化學(xué)及機(jī)械特性。用更薄的大約50nm厚的鉑涂層可以得到一個(gè)部分透明的涂層，同時(shí)不會實(shí)質(zhì)性地破壞其它特性。
為了進(jìn)行電位測量，將前面說明書所述的測量探頭連接到一個(gè)適當(dāng)?shù)臏y量轉(zhuǎn)換器上，具體地將測量探頭的不同接觸端子與該測量轉(zhuǎn)換器相連。下述操作可以用本文圖示及具體描述過的測量探頭來進(jìn)行a)測量K1和K2(圖1)之間的電位測量pH值；b)測量K1和K3(圖1)之間的電阻測量玻璃膜電阻；c)測量K2和K3、或者K2和K4(圖1至3)之間的電阻測量膜片電阻；d)測量K3和K2(圖1至3)之間的電位測量測量溶液中的氧化還原電位(附加鉑電極)，或者測量測量溶液中的金屬離子濃度(相應(yīng)金屬的附加電極)；e)在K3上設(shè)置一給定電位(圖1至3)將所測溶液設(shè)為地電位或者使其等于其它電位；f)測量K3和K4(圖3)之間的電阻確定所測溶液的電導(dǎo)率。
附圖標(biāo)記列表
2，2a，2b 探頭殼體，外殼4 浸沒部分6 測量介質(zhì)8 中央腔室10，10a，10b 傳感腔室12，12a，12b，12c 附加電極14，14a，14b，14c 涂層16 玻璃膜18 內(nèi)部緩沖溶液20 導(dǎo)電元件22 熔融頂蓋24 膜片26 注入口28 參考電解質(zhì)溶液30 導(dǎo)電元件32 上部閉合部分34 第一縱向涂層帶36 上環(huán)形涂層帶38 36上的缺口40 第二縱向涂層帶42 下環(huán)形涂層帶44 未涂覆區(qū)域K1 測量接觸端子K2 參考接觸端子K3 第一附加接觸端子K4 第二附加接觸端子
權(quán)利要求
1.用于電位測量的測量探頭，具有一個(gè)由電絕緣材料制成的殼體(2；2a；2b)，且該殼體具有至少一個(gè)含有半電池元件的中空空間(8，10；10a；10b)，其中該測量探頭具有至少一個(gè)附加電極(12，12a，12b，12c)，其布置在可沒入一種測量溶液(6)中的殼體(2；2a；2b)的可浸沒部分(4)上，并且其中該附加電極(12，12a，12b，12c)與布置在該可浸沒殼體部分(4)外側(cè)的接觸端子(K3；K4)相連，其特征在于至少一個(gè)附加電極(12，12a，12b，12c)由施加在殼體(2；2a)外側(cè)上的導(dǎo)電涂層(14，14a，14b，14c)構(gòu)成。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的測量探頭，其特征在于該電接觸端子(K3；K4)焊接到該涂層(14，14a，14b，14c)上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測量探頭，其特征在于該涂層(14，14a)大致環(huán)繞整個(gè)殼體(2；2a；2b)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的測量探頭，其特征在于該涂層(14，14a，14b，14c)至少局部是是透明的。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任意一項(xiàng)所述的測量探頭，其特征在于該殼體(2；2a；2b)由玻璃形成。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的測量探頭，其特征在于該涂層(14，14a，14b，14c)是通過氣相沉積來施涂的。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任意一項(xiàng)所述的測量探頭，其特征在于該涂層(14，14a，14b，14c)由鉑形成。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任意一項(xiàng)所述的測量探頭，其特征在于在殼體(2；2a；2b)與涂層(14，14a，14b，14c)之間設(shè)有粘附增強(qiáng)層。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測量探頭，其特征在于該粘附增強(qiáng)層由鈦、鉻、鉬、鉭或者鎢形成，其可以與金或者鈀結(jié)合使用。
10.根據(jù)權(quán)利要求1至9中任意一項(xiàng)所述的測量探頭，其特征在于該半電池元件被構(gòu)形成為一個(gè)測量電極(8，16，18，20)。
11.根據(jù)權(quán)利要求1至9中任意一項(xiàng)所述的測量探頭，其特征在于該半電池元件被構(gòu)形成為一個(gè)參考電極(10，24，28，30)。
12.根據(jù)權(quán)利要求1至9中任意一項(xiàng)所述的測量探頭，其特征在于該測量探頭被構(gòu)形成一個(gè)單桿測量鏈(8，16，18，20；10，24，28，30)。
13.根據(jù)權(quán)利要求1至12中任意一項(xiàng)所述的測量探頭，其特征在于該測量探頭包括兩個(gè)附加電極(12b，12c)，其布置在浸沒部分(4)的不同區(qū)域上，且分別與相關(guān)的接觸端子(K3，K4)相連。
14.用于進(jìn)行電位測量的裝置，具有一個(gè)根據(jù)權(quán)利要求1至13中任意一項(xiàng)所述的測量探頭和一個(gè)測量轉(zhuǎn)換器，該測量轉(zhuǎn)換器可以與測量探頭的各半電池元件以及各附加電極(12，12a，12b，12c)的各電接觸端子(K3，K4)相連，其中該測量轉(zhuǎn)換器還包括在附加電極(12，12a，12b，12c)上設(shè)置一個(gè)限定電位的裝置，和/或用于確定附加電極(12，12a，12b，12c)與該裝置其它部分(K1，K2，K3，K4)之間的特征電量的裝置。
15.監(jiān)測一用于電位測量的測量探頭的方法，包括一測量探頭和一測量轉(zhuǎn)換器，其中該測量探頭包括一由電絕緣材料制成的殼體(2；2a；2b)，其具有至少一個(gè)中空空間(8，10；10a，10b)用于容納半電池元件，其中該測量探頭還包括至少一個(gè)附加電極(12，12a，12b，12c)，其由施涂在殼體(2；2a)外側(cè)的導(dǎo)電涂層(14，14a，14b，14c)構(gòu)成，所述附加電極(12，12a，12b，12c)設(shè)置在可浸沒在一測量溶液(6)中的殼體(2；2a；2b)的可浸沒部分(4)上，且所述附加電極(12，12a，12b，12c)與設(shè)置在可浸沒部分(4)外側(cè)的接觸端子(K3；K4)相連，其中該測量轉(zhuǎn)換器連接測量探頭的各半電池元件以及各附加電極(12，12a，12b，12c)的相應(yīng)電接觸端子(K3；K4)，其特征在于測量附加電極(12，12a，12b，12c)與該裝置的其它部分(K1，K2，K3，K4)之間的特征電量。
16.根據(jù)權(quán)利要求15的方法，其特征在于通過測量轉(zhuǎn)換器的方式可以在該附加電極(12，12a，12b，12c)上設(shè)定一個(gè)限定電位。
17.根據(jù)權(quán)利要求15或16的方法，其特征在于該測量轉(zhuǎn)換器與測量探頭的接觸端子(K1，K2)相連，且在參考電極的接觸端子(K2)與附加電極的接觸端子(K3，K4)之間進(jìn)行電阻測量，以確定膜片的電阻。
18.根據(jù)權(quán)利要求15或16的方法，其特征在于該測量轉(zhuǎn)換器與測量探頭的接觸端子(K1，K2)相連，且在測量電極的接觸端子(K1)與附加電極(12，12a，12b，12c)的接觸端子(K3)之間進(jìn)行電阻測量，以確定玻璃膜的電阻。
全文摘要
用于電位測量的測量探頭，具有一個(gè)由電絕緣材料制成的殼體(2)，且該殼體封閉出至少一個(gè)含有半電池元件的中空空間(8，10)。此外，有至少一個(gè)附加電極(12)，其布置在可沒入一種測量溶液(6)中的可浸沒殼體部分(4)上，并且其與布置在該可浸沒殼體部分(4)外側(cè)的接觸端子(K3)相連。附加電極(12)由施加在殼體(2)外側(cè)上的導(dǎo)電涂層(14)構(gòu)成。
文檔編號G01N27/30GK1721847SQ20051007899
公開日2006年1月18日 申請日期2005年6月22日 優(yōu)先權(quán)日2004年6月22日
發(fā)明者瓊-尼古拉斯·阿達(dá)米, 菲利普·埃里斯曼, 馬庫斯·貝爾納斯科尼 申請人:梅特勒-托萊多有限公司