專利名稱：溫度校正處理裝置的制作方法
技術(shù)區(qū)域本發(fā)明涉及通過由物體放射的熱，例如遠(yuǎn)紅外線等，進(jìn)行熱線圖像檢測、測出火災(zāi)和人的存在等或物體的溫度的溫度校正處理裝置。
背景技術(shù)：
熱電偶是即使對人體產(chǎn)生的微小的遠(yuǎn)紅外線，也可將入射的遠(yuǎn)紅外線變換為熱，采用將熱直接變換為電的賽貝克效應(yīng)，產(chǎn)生直流電壓的裝置。
上述所謂賽貝克效應(yīng)是，連接不同物質(zhì)的不同種金屬線的兩端，若加熱一端接點(diǎn)、冷卻另一端節(jié)點(diǎn)，則產(chǎn)生熱電動(dòng)勢。稱之產(chǎn)生該熱電動(dòng)勢的特性。將利用該效應(yīng)用于由熱電動(dòng)勢的大小測量接點(diǎn)間溫度差的傳感器稱為熱電偶。而將連接多個(gè)熱電偶、輸出更高電壓的稱為熱電堆(thermopile)。
將上述熱電堆縱橫組合，可測量一定區(qū)域熱變化量的情況，稱之為二維熱電堆陣列。
此外，以往的二維熱電堆陣列被裝設(shè)在電子測量儀等的頂部，用作不直接接觸地測量微溫的被測物溫度的裝置。
具體地，電子測量儀以轉(zhuǎn)臺作為二維熱電堆陣列的測量區(qū)域，可以測量放置在轉(zhuǎn)臺上的被測物溫度分布。上述技術(shù)記載在參考文獻(xiàn)1中。
另外，上述二維熱電堆陣列技術(shù)作為人體檢測方法被采用，建議用內(nèi)置有二維熱電堆陣列的照明燈。
熱電堆可根據(jù)熱的變化量檢測出火災(zāi)和人的存在，作為顯示信號處理裝置是有用的。近年來，熱電堆即使作為火災(zāi)報(bào)警器和人體檢測的安全裝置也被寄予很大的期望。人體檢測技術(shù)記載在參考文獻(xiàn)2中。
〖專利文獻(xiàn)1〗特開2001-355853號公報(bào)。
〖專利文獻(xiàn)2〗特開2000-223282號公報(bào)。
但是，在上述背景技術(shù)中，產(chǎn)生了如下問題為了得到被探測區(qū)域的區(qū)域中的溫度信息，需要在由熱電堆產(chǎn)生的被探測區(qū)域的區(qū)域和熱電堆自身的相對溫度差中，加上由熱敏電阻產(chǎn)生的熱敏電阻自身溫度。熱電堆將多個(gè)由在硅基板上以P型和N型為對的多晶硅構(gòu)成的薄膜熱電對串聯(lián)連接的。而熱電堆通過在基板中央部正下方形成空洞部，成為使溫接點(diǎn)部的熱容量非常小的構(gòu)造，在熱電堆中，在制造階段各制品產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)偏差。預(yù)計(jì)在成品中內(nèi)置熱電堆的特性各成品相異。
此外，同樣在溫度傳感器中使用的熱敏電阻由電阻成分而構(gòu)成，在熱敏電阻中，在制造階段各制品產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)偏差。預(yù)計(jì)在成品中內(nèi)置熱敏電阻的特性各成品相異。
而假設(shè)既便使內(nèi)置的熱敏電阻及熱敏電阻均為一致的精度，但因裝配階段的裝配的標(biāo)準(zhǔn)離差等，會對溫度的測量結(jié)果、精度有微妙的影響。因此，將所有成品的溫度測量精度集中在所定的精度范圍內(nèi)是非常困難的。
在進(jìn)行嚴(yán)格的選擇試驗(yàn)時(shí)，產(chǎn)生較多不合格品的產(chǎn)品，引起成品銷售價(jià)格上升，故成為難以提供高精度、低價(jià)格產(chǎn)品的問題。亦即，對價(jià)格低的產(chǎn)品存在難以保證高溫度測量精度這一問題。

發(fā)明內(nèi)容
涉及本發(fā)明的主要發(fā)明，其特征在于配置為分割監(jiān)視區(qū)域并進(jìn)行監(jiān)視，在具有測量上述監(jiān)視區(qū)域內(nèi)熱量的多個(gè)受光單元的溫度校正處理裝置中，具有受光部，通過非接來觸測量與上述被分割為各受光單元的上述各監(jiān)視區(qū)域之間的相對溫度差；測量電路，測量上述受光部自身溫度的溫度；計(jì)算電路，由該溫度測量電路運(yùn)算溫度與上述相對溫度差，計(jì)算出上述各監(jiān)視區(qū)域的溫度、并輸出計(jì)算結(jié)果；和保持電路，將上述監(jiān)視區(qū)域內(nèi)設(shè)定為已知的基準(zhǔn)溫度，保持來自測量被設(shè)定為該基準(zhǔn)溫度的上述監(jiān)視區(qū)域內(nèi)熱量時(shí)的上述計(jì)算電路的計(jì)算結(jié)果與上述基準(zhǔn)溫度之差的修正信息，其中，測量結(jié)果根據(jù)上述修正信息修正上述計(jì)算結(jié)果。
此外，本發(fā)明的其他特征通過附圖和本說明書的記載能了解。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明，可以抑制所有成品溫度測量結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)離差，可將溫度測量結(jié)果控制在某一定的范圍內(nèi)、保證成品的溫度測量精度。
由于可校正，使以往是不合格品而成為廢棄的產(chǎn)品變成合格品，可以降低造價(jià)，還可提供低價(jià)產(chǎn)品?？膳e出用戶可以同時(shí)利用高測量精度可放心地使用這一優(yōu)點(diǎn)。
此外，還可舉出通過采用熱線探測器可制成精度好的火災(zāi)報(bào)警器或人體檢測的安全裝置這一優(yōu)點(diǎn)。


圖1是表示涉及本發(fā)明的一實(shí)施例的顯示信號處理裝置的構(gòu)成框圖。
圖2是表示涉及本發(fā)明的一實(shí)施例的具體動(dòng)作的圖。
圖3是表示涉及本發(fā)明的一實(shí)施例的具體動(dòng)作的圖。
圖4是表示涉及本發(fā)明的一實(shí)施例的具體動(dòng)作的圖。
圖中1-熱電堆陣列，2-二維熱電堆陣列，3-掃描電路，4-溫度傳感器器件具體實(shí)施方式
按照附圖具體說明本發(fā)明的詳細(xì)情況。圖1為表示本發(fā)明的顯示信號處理裝置框圖。在同圖中所示的顯示信號處理裝置中，熱電堆型遠(yuǎn)紅外線區(qū)域傳感器1，在內(nèi)部具有二維熱電堆陣列2、掃描電路3、溫度傳感器器件4。
被探測區(qū)域5表示進(jìn)行溫度測量并成為目標(biāo)的區(qū)域。被探測區(qū)域5通過透鏡6，縮小并取入熱電堆型遠(yuǎn)紅外線區(qū)域傳感器1的內(nèi)部。二維熱電堆陣列2將由透鏡6縮小的被探測區(qū)域5分割為各32(縱)×32(橫)的區(qū)域，得到按遠(yuǎn)紅外線量比例的微弱電動(dòng)勢。
根據(jù)上述微弱的電動(dòng)勢，二維熱電堆陣列2可以取得被探測區(qū)域5各區(qū)域的溫度信息。
實(shí)際二維熱電堆陣列2得到的被探測區(qū)域5的各區(qū)域的溫度信息，為被探測區(qū)域5和二維熱電堆陣列2自身的溫度差。二維熱電堆陣列2可以僅知各所分割的被探測區(qū)域5的區(qū)域與自身的溫度差。
二維熱電堆陣列2自身的溫度可由溫度傳感器器件4測量。
因此，微型計(jì)算機(jī)9通過由來自溫度傳感器器件4的溫度信息，計(jì)算在二維熱電堆陣列2中得到的被探測區(qū)域5的各區(qū)域的溫度信息，可得到被分割為被探測區(qū)域5的32(縱)×32(橫)各區(qū)域的溫度信息。
內(nèi)置熱電堆型遠(yuǎn)紅外線區(qū)域傳感器1的掃描電路3，從外部輸入時(shí)鐘信號和復(fù)位信號。掃描電路3在每個(gè)復(fù)位信號來時(shí)，將配置于上述掃描電路3內(nèi)部的計(jì)數(shù)器值初始化并回零。
配置于上述掃描電路3內(nèi)部的計(jì)數(shù)器與所輸入的時(shí)鐘信號的上升沿同步，一個(gè)一個(gè)地增加計(jì)數(shù)值。
以二維熱電堆陣列2的32(縱)×32(橫)分割的區(qū)域，從左上角起依次所有了地址。掃描電路3利用上述逐個(gè)增加的計(jì)數(shù)值，將分配給二維熱電堆陣列2的地址值依次輸出至二維熱電堆陣列2。
接受上述地址的二維熱電堆陣列2，將依次對應(yīng)的各區(qū)域所取得的溫度差信息作為電位差(電壓)輸出。
上述電位差從熱電堆型遠(yuǎn)紅外線區(qū)域傳感器1的輸出端子P端子、N端子輸出。P端子是P溝道端子，意為正極性；N端子是N溝道端子，意為負(fù)極性。
從熱電堆型遠(yuǎn)紅外線區(qū)域傳感器1輸出的P端子、N端子輸入放大器7。放大器7為差分放大電路，根據(jù)P端子和N端子的電位差，放大電位差并從放大器7作為輸出信號輸出。
由于在二維熱電堆陣列2產(chǎn)生的電動(dòng)勢微弱，故需在放大器7中用高放大倍數(shù)放大。
本實(shí)施例的放大器7，將P端子與N端子的電位差放大約數(shù)千倍，輸出至低通濾波器(LPF)8。
LPF8為由電阻和電容器構(gòu)成的低通濾波器。LPF8將在由放大器7放大后的電位差內(nèi)所包含的信號中急劇變高的噪聲成分平滑化，輸出至微型計(jì)算機(jī)9內(nèi)部的12位A/D轉(zhuǎn)換器10。
12位A/D轉(zhuǎn)換器10將由LPF8輸入的模擬信號變換為12位數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
此外，溫度傳感器器件4將二維熱電堆陣列2自身的溫度信息作為電位差輸出。
二維熱電堆陣列2自身的溫度信息被輸入12位A/D轉(zhuǎn)換器11，由12位A/D轉(zhuǎn)換器11變換為12位數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
CPU12計(jì)算表示來自12位A/D轉(zhuǎn)換器11的二維熱電堆陣列2自身的溫度信息、和來自12位A/D轉(zhuǎn)換器10的各所分割區(qū)域的二維熱電堆陣列2之間的溫度差的電壓輸出，得到被分割為32(縱)×32(橫)的每個(gè)區(qū)域的溫度信息。
其中的溫度信息為表示被探測區(qū)域5的每個(gè)區(qū)域溫度與二維熱電堆陣列2之間的溫度差的相對溫度差。也就是說，被探測區(qū)域5的每個(gè)區(qū)域的溫度如果與二維熱電堆陣列相比較，就可知溫度相對高多少、低多少。
為了得到被探測區(qū)域5的每個(gè)區(qū)域中的溫度信息，CPU12在表示被探測區(qū)域5的每個(gè)區(qū)域的溫度和二維熱電堆陣列2之間的溫度差的相對溫度差中，附加并求出二維熱電堆陣列2自身的溫度信息。
所求得的每個(gè)被探測區(qū)域5的區(qū)域中的溫度信息，由CPU12通過CPU總線記憶到SRAM1(14)中。1次所測量的每個(gè)32×32區(qū)域的溫度信息被稱為1幀，作為1個(gè)信息單位被收集處理。
在本實(shí)施例中，被檢測區(qū)域5的溫度測量定為1秒測量3次，在SRAM1(14)中，記憶了過去3次的測量結(jié)果。SRAM1(14)在每次新測量溫度是隨時(shí)刪除最早的測量結(jié)果并繼續(xù)更新。相關(guān)的一系列處理程序被記憶在PROM13中。PROM13由被稱之為閃爍ROM的非易失性存儲器構(gòu)成。因此，在修正程序時(shí)可重寫、使用方便。
此外，圖1所示的SRAM1(14)和SRAM2(15)被分開圖示。在CPU中所用的存儲器中，一般將所有存儲器區(qū)分為幾個(gè)并進(jìn)行管理。若由CPU要求向存儲器存取，則根據(jù)存儲器的地址信息等從所區(qū)分的存儲器的集合中選擇1個(gè)區(qū)分對象，執(zhí)行讀出或?qū)懭搿⒋藭r(shí)的存儲器區(qū)分稱之為存儲單元。
采用上述存儲單元將存儲器分為2個(gè)存儲單元，將每個(gè)設(shè)為SRAM1(14)及SRAM2(15)，可將1個(gè)SRAM分為2個(gè)使用。
在利用該存儲單元時(shí)，與單個(gè)設(shè)SRAM1(14)及SRAM2(15)的情況相比，可共有部分內(nèi)置的存儲器地址編碼的一部分，故可減小微型機(jī)9的芯片面積。
另外，被探測區(qū)域5的每個(gè)區(qū)域的溫度信息，因二維熱電堆陣列2及溫度傳感器4的標(biāo)準(zhǔn)離差，有時(shí)每個(gè)完成品在測量精度上具有固有特性。因此，在對完成品保證相同的精度時(shí)，需要通過檢查嚴(yán)格選擇，或通過校正進(jìn)行校正。在通過檢查嚴(yán)格選擇的情況下，成為廢品的成品多，會影響制造成本。因此，為了盡量降低成品的制造成本，可以說通過校正進(jìn)行修正是最好的選擇。
作為通過具體的修正進(jìn)行修正的措施，采用可忠實(shí)地再現(xiàn)設(shè)定的溫度的裝置(黑體爐)，一般試驗(yàn)測量溫度。例如，將圖1的黑體爐19設(shè)定到某設(shè)定溫度，將黑體爐19設(shè)置到被探測區(qū)域5。
采用本實(shí)施例測量黑體爐19的溫度。如果二維熱電堆陣列2及溫度傳感器器件4的精度好的話，溫度測量結(jié)果應(yīng)為設(shè)定了黑體爐19的溫度。
但是，在二維熱電堆陣列2及溫度傳感器器件4中，含有制造階段的標(biāo)準(zhǔn)離差或裝配階段的標(biāo)準(zhǔn)離差，有時(shí)每個(gè)完成品具有不同的溫度特性。如上所述，為了抑制每個(gè)制品的標(biāo)準(zhǔn)離差，有必要進(jìn)行嚴(yán)格的選擇或校正每個(gè)制品。在本實(shí)施例中，通過校正來校正每個(gè)制品的溫度特性，可抑制每個(gè)制品的標(biāo)準(zhǔn)離差、保持納入一定范圍內(nèi)的一致性、低價(jià)向消費(fèi)者提供。
作為具體的每個(gè)制品的溫度特性，可涉及因制品測量結(jié)果為較高的情況、為較低的情況、用測量的溫度低的溫度和測量溫度高的溫度特性不同的情況等多方面。
為了了解每個(gè)完成品的溫度特性，需要從低溫到高溫的范圍內(nèi)，在不同的溫度中，至少進(jìn)行2次以上測量對采用了黑體爐19的溫度試驗(yàn)。例如在低溫范圍內(nèi)設(shè)為攝氏5度，在高溫范圍內(nèi)設(shè)為攝氏40度進(jìn)行試驗(yàn)。根據(jù)試驗(yàn)結(jié)果，當(dāng)實(shí)際測量的值發(fā)生偏移時(shí)，進(jìn)行將實(shí)際值接近實(shí)際黑體爐19的溫度的理想值的校正。
圖2至圖4對具體的校正方法進(jìn)行詳細(xì)說明。
在圖2的(1)、(2)中，從低溫到高溫具體說明以一定比例校正高或低的情況。在低溫、高溫進(jìn)行測量，如果在低溫、高溫范圍為大致相同程度的誤差，則可僅以一定的比例單純地將所有的實(shí)測值進(jìn)行升高或降低而進(jìn)行有效的校正。
在圖2(1)中，在由采用黑體爐19的實(shí)測值的測量結(jié)果中，相對理想的直線高出一定的比例來所測量的。因此，進(jìn)行降低一定數(shù)值的校正。在圖2(1)中，在低溫及高溫的范圍內(nèi)，相對理想的溫度，由于測量出高出5度，故進(jìn)行將由實(shí)測值減5度的值作為測量結(jié)果的校正。此時(shí)，相對理想的溫度，校正的溫度被保持在PROM13中。
在圖2(2)中，與圖2(1)相反，因采用黑體爐19的實(shí)測值的測量結(jié)果低，故進(jìn)行升高一定數(shù)值的校正。在圖2(2)中，在低溫及高溫的范圍內(nèi)，相對理想的溫度，由于測量低5度，故進(jìn)行將由實(shí)測值加5度的值作為測量結(jié)果的校正。
在圖2的(1)及(2)中，是通過校正溫度減少誤差的考慮方法，而在圖4中，表示無理想值自身的情況。只測量2點(diǎn)實(shí)測值，之后所測量的結(jié)果以所在連接該實(shí)測值2點(diǎn)的直線上作為過程決定實(shí)際溫度。
在圖3中，在被檢測地區(qū)域5的區(qū)域中設(shè)置黑體爐19，作為不同的2個(gè)已知的第1溫度和第2溫度。第1溫度為低溫的5度，第2溫度為高溫的40度。
將由來自第1溫度、第2溫度中的A/D轉(zhuǎn)換器10及A/D轉(zhuǎn)換器11的輸出得到的測量結(jié)果分別作為第1基準(zhǔn)計(jì)算結(jié)果、第2基準(zhǔn)計(jì)算結(jié)果。
求出連接第1溫度中的第1基準(zhǔn)計(jì)算結(jié)果和第2溫度中的第2基準(zhǔn)計(jì)算結(jié)果的直線。在每次測量被檢測地區(qū)域5的區(qū)域時(shí)，采用線性關(guān)系預(yù)測實(shí)際溫度。
具體為，測量被檢測地區(qū)域5的區(qū)域，將得到的計(jì)算結(jié)果作為y軸的點(diǎn)，由與直線相交的點(diǎn)求出垂直下落到x軸上的點(diǎn)，以比例關(guān)系為基礎(chǔ)預(yù)測實(shí)際溫度。
在圖2及圖3中，是采用黑體爐19對已知的溫度進(jìn)行2點(diǎn)測量，由2點(diǎn)求出直線、并校正與理想直線間的偏差的方法。由2點(diǎn)求出根據(jù)實(shí)測值的直線，進(jìn)行如成為理想直線的校正。
對高溫和低溫2點(diǎn)進(jìn)行試驗(yàn)，由2點(diǎn)求出根據(jù)實(shí)測值的直線、并校正為理想直線時(shí)，在測量2點(diǎn)實(shí)測值的時(shí)刻，有時(shí)包含測量誤差。
所謂該測量誤差，是在每次測量時(shí)每次不同的主要原因，例如，有根據(jù)噪聲影響的大小，在測量結(jié)果中較多包含測量誤差的情況和幾乎不含測量誤差的情況。
在較多包含測量誤差的情況下，其后由于根據(jù)試驗(yàn)時(shí)的結(jié)果進(jìn)行校正，故在校正后所測量的所有測量結(jié)果中，成為追加試驗(yàn)時(shí)的測量誤差的情況。
為了避免較多包含測量誤差的情況，希望對由黑體爐19的試驗(yàn)不是2點(diǎn)，而是進(jìn)行許多試驗(yàn)。
但是，如圖4所示，通過許多試驗(yàn)難以得到近似直線。因此，進(jìn)行利用最小二乘法的溫度校正。
此外，二維熱電堆陣列2自身的溫度特性有時(shí)也不是嚴(yán)格的直線，而是2次曲線。在溫度特性為2次曲線時(shí)，通過利用最小二乘法進(jìn)行的溫度校正，可將測量誤差控制在最小限度內(nèi)。
以下顯示利用最小二乘法的溫度校正方法。對由黑體爐19產(chǎn)生的基準(zhǔn)溫度進(jìn)行攝影，將此時(shí)的數(shù)據(jù)設(shè)為x、測量溫度設(shè)為y，使黑體爐19的溫度依次變化，將7個(gè)采樣的結(jié)果表示為式1。連接實(shí)測值的近似函數(shù)(近似曲線)與理想的直線(近似直線)不能完全吻合的理由是考慮了上述測量誤差的影響等。
若對黑體爐19依次設(shè)定基準(zhǔn)溫度為x1、x2、x3…，將此時(shí)的測量結(jié)果設(shè)為y1、y2、…，則對基準(zhǔn)溫度的每個(gè)變化進(jìn)行N個(gè)采樣的結(jié)果可以表示為式1。
〖式1〗(xn，yn)，n＝0，1，…，N-1另外，由式2表示求出的近似函數(shù)〖式2〗f(x)＝c0+c1x+c2x2+…cnxn在理想的直線中，將測量1中的x座標(biāo)設(shè)為x1，此時(shí)的y座標(biāo)為a(x1)+b。用測量1在實(shí)測值中，x座標(biāo)為x1，y座標(biāo)為y1。理想值與實(shí)測值的差被稱為預(yù)測誤差，可用S1＝y(tǒng)1-{a(x1)+b}表示。
正如由式2所示的近似函數(shù)(近似曲線)的預(yù)測誤差為最小，式2的系數(shù)c0～cn采用平方誤差，可表示為式3。
〖式3〗
S=Σn=0N-1(yn-f(xn))2]]>在式3中，如果忽略x的系數(shù)比3次大的情況，則可表示為式4。
〖式4〗Sn＝(yn-c0-c1xn-c2xn2)2在式4中，有關(guān)系數(shù)c0～cn，在成為最小的點(diǎn)中，偏微分的值為零。有關(guān)系數(shù)c0～c2在成為最小的點(diǎn)中，偏微分的值為零，故可導(dǎo)出式5、式6、式7。
〖式5〗dSdc0=0→Σn=0N-1(yn-c0-c1xn-c2xn2)=0]]>〖式6〗dSdc1=0→Σn=0N-1(yn-c0-c1xn-c2xn2)xn=0]]>〖式7〗c0N+c1Σn=0N-1xn+c2Σn=0N-1xn2=Σn=0N-1yn]]>而且，若解式5則為式8，若解式6則為式9，若解式7則為式10。
〖式8〗c0Σn=0N-1xn+c1Σn=0N-1xn2+c2Σn=0N-1xn3=Σn=0N-1xnyn]]>〖式9〗c0Σn=0N-1xn2+c1Σn=0N-1xn3+c2Σn=0N-1xn4=Σn=0N-1xn2yn]]>
〖式10〗NΣxnΣxn2ΣxnΣxn2Σxn3Σxn2Σxn3Σxn4c0c1c2=ΣynΣxnynΣxn2yn]]>若用矩陣變換表示式8、式9、式10則成為式11。
〖式11〗(Ai，j)(ci)＝(Bi)由式11可得到以c0～c2為未知數(shù)的連立方程式。若設(shè)系數(shù)矩陣為Aij、未知數(shù)向量為ci、常數(shù)向量為Bi，則式11表示為式12。
〖式12〗(Ai，j)(ci)＝(Bi)當(dāng)式12時(shí)，近似函數(shù)的最高次數(shù)為n次時(shí)，A、B的要素可表示為式13。
〖式13〗Ai,j=Σn=0N-1xni+j,Bi=Σn=0N-1xniyn(i=0,1,···,n,j=0,1,···,n)]]>由基準(zhǔn)輸入數(shù)據(jù)式1求出二次最小平方多項(xiàng)式、導(dǎo)出連立方程式，若解其便可得到ci。通過將ci代入式2，將新輸入的數(shù)據(jù)作為x代入，可計(jì)算出溫度。
由于熱電堆的輸出特性取二次曲線，故由采樣的數(shù)點(diǎn)構(gòu)成連立方程式，通過將所得到的c0～c2登錄到ROM，可從輸入數(shù)據(jù)得到還包含并校正熱電堆特性的溫度。
由于不需要這樣多次校正用采樣，故可進(jìn)行高精度的高速變換。但是，為了提高精度，需要在每個(gè)像素單位進(jìn)行上述處理，得到校正后的溫度。通過采用最小2除法，可將實(shí)際測得的溫度更接近理想值。
以上針對本發(fā)明的實(shí)施方式，根據(jù)其實(shí)施方式進(jìn)行了具體的說明，但并不限定于此，在不脫離其主要意思的范圍內(nèi)可作種種變更。
權(quán)利要求
1.一種溫度校正處理裝置，其特征在于，配置為分割監(jiān)視區(qū)域并監(jiān)視，在具有測量上述監(jiān)視區(qū)域內(nèi)熱量的多個(gè)受光單元的溫度校正處理裝置中，具有受光部，通過非接觸測量與上述各被分割為受光單元的上述各監(jiān)視區(qū)域相對之間的溫度差；測量電路，測量上述受光部自身溫度的溫度；計(jì)算電路，由該溫度測量電路運(yùn)算溫度與上述相對溫度差，計(jì)算出上述各監(jiān)視區(qū)域的溫度、并輸出計(jì)算結(jié)果；和保持電路，將上述監(jiān)視區(qū)域內(nèi)設(shè)定為已知的基準(zhǔn)溫度，保持來自測量被設(shè)定為該基準(zhǔn)溫度的上述監(jiān)視區(qū)域內(nèi)熱量時(shí)的上述計(jì)算電路的計(jì)算結(jié)果與上述基準(zhǔn)溫度之差的校正信息；其中，測量結(jié)果根據(jù)上述修正信息校正上述計(jì)算結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的溫度校正處理裝置，其特征在于利用連接來自上述計(jì)算電路的第1計(jì)算結(jié)果及來自上述計(jì)算電路的第2計(jì)算結(jié)果的直線進(jìn)行溫度校正。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的溫度校正處理裝置，其特征在于作為各自不同的2個(gè)已知的第1溫度和第2溫度，在上述監(jiān)視區(qū)域內(nèi)設(shè)定為已知的基準(zhǔn)溫度，將來自上述計(jì)算電路的計(jì)算結(jié)果作為第1基準(zhǔn)計(jì)算結(jié)果、第2基準(zhǔn)計(jì)算結(jié)果，在每次求出連接上述第1基準(zhǔn)計(jì)算結(jié)果和上述第2基準(zhǔn)計(jì)算結(jié)果的直線的斜率并測量上述受光部的溫度時(shí)，利用上述線性關(guān)系預(yù)測上述監(jiān)視區(qū)域的溫度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的溫度校正處理裝置，其特征在于進(jìn)行多次溫度測量，根據(jù)來自上述計(jì)算電路的結(jié)果，求出表示溫度特性的函數(shù)，根據(jù)該函數(shù)校正來自上述計(jì)算電路的溫度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的溫度校正處理裝置，其特征在于上述函數(shù)采用了最小2乘法。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5所述的溫度校正處理裝置，其特征在于采用了熱線探測器。
全文摘要
熱電堆及熱敏電阻在制造階段，在每個(gè)產(chǎn)品中產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)離差。預(yù)想內(nèi)置于完成品中的熱電堆及熱敏電阻的特性因每個(gè)產(chǎn)品而異。而且，在組裝階段的組裝也存在標(biāo)準(zhǔn)離差等的影響，如果保障完成品的測量精度，則存在不能廉價(jià)提供的問題。本發(fā)明提供的溫度校正處理裝置，具有測量相對溫度差的受光部；測量上述受光部溫度的溫度測量電路；和在上述受光部中加上與上述每個(gè)監(jiān)視區(qū)域之間的相對溫度差、計(jì)算出該每個(gè)監(jiān)視區(qū)域的溫度、并輸出計(jì)算結(jié)果的計(jì)算電路；其中在每次測量時(shí)，根據(jù)上述受光部的溫度校正上述計(jì)算結(jié)果。
文檔編號G01J1/02GK1734242SQ20051008355
公開日2006年2月15日 申請日期2005年7月11日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月11日
發(fā)明者竹井洋次, 月澤正雄 申請人:三洋電機(jī)株式會社