專利名稱：用快中子和連續(xù)能譜x射線進行材料識別的方法及其裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及集裝箱等大型客體輻射成像檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是直接測量快中子和加速器等X射線源產(chǎn)生的連續(xù)能譜X射線衰減進行材料識別的方法和裝置。
背景技術(shù)：
隨著反恐形勢的日趨嚴(yán)峻，具有爆炸物、毒品、違禁物自動識別功能的輻射成像集裝箱檢測系統(tǒng)成為緊迫的市場需要?，F(xiàn)有的集裝箱等大型客體的材料識別技術(shù)，包括X射線高能雙能成像技術(shù)、中子活化技術(shù)及集裝箱CT，都越來越受到人們的重視。
X射線高能雙能成像技術(shù)利用康普頓效應(yīng)和電子對效應(yīng)的衰減程度差異，判定被檢物的等效原子序數(shù)，從而區(qū)分不同物質(zhì)。但由于加速器發(fā)出的連續(xù)譜X射線高、低能之間存在干擾，即使加上能量整形也只能減少部分干擾，只能用來區(qū)分有機物、無機物、混合物。同位素源可以提供單能γ射線，但能量差異太小、穿透力太低，不適用于集裝箱等大型客體的檢測和材料識別設(shè)備。
用于集裝箱檢查的中子活化技術(shù)有基于飛行時間法的3維成像PFNA系統(tǒng)，但造價昂貴、檢測速度太慢。熱中子俘獲γ穿透力太低?，F(xiàn)有的Cf-252中子源集裝箱檢查裝置不能做在線實時測量，只能待其它手段檢查出可疑物品后，才能對可疑位置進行中子活化檢測。
集裝箱CT技術(shù)所需設(shè)備過于龐大，且由于速度較慢無法用于實時測量。
澳大利亞CSIRO Minerals研制出一種直接測量單能快中子和單能γ射線的裝置(CSIRO contraband scanner)。這種裝置利用衰減系數(shù)之比來區(qū)分不同材料，用于航空集裝箱的爆炸物、毒品、違禁物檢測。和X射線高能雙能技術(shù)相比，單能快中子和單能γ射線雙能技術(shù)材料分辨能力更強。和中子活化技術(shù)相比，單能快中子和單能γ射線雙能技術(shù)測量的是一次射線，探測校率遠高于中子活化技術(shù)測量的二次射線的探測效率，穿透力遠大于熱中子。和集裝箱CT相比，設(shè)備體積小、造價低、可作實時測量。但這種利用衰減系數(shù)比來區(qū)分不同材料的單色能量雙能技術(shù)最大的缺陷是它只能用同位素源作為它的單能γ射線源。而同位素源用作集裝箱檢查裝置穿透力太低、空間分辨率太差、圖像質(zhì)量差、輻射安全管理困難。這種裝置只能提供低分辨的集裝箱掃描圖像，和LINAC集裝箱檢查系統(tǒng)提供的優(yōu)質(zhì)掃描圖像相比，很難為用戶接受。由于γ射線穿透力太低，在滿集裝箱或被檢物很厚的情況下，不能進行材料識別，這樣也大大限制了它的應(yīng)用范圍。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足，本發(fā)明的目的是提供一種用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別的方法及其裝置。本發(fā)明采用僅和被檢客體的等效原子序數(shù)Z有關(guān)的n-x曲線進行材料識別，利用連續(xù)能譜X射線和快中子具有的高穿透力，在滿集裝箱或被檢物很厚的情況下，也能進行材料識別，具有設(shè)備簡單、成像清晰、檢測準(zhǔn)確率高的特點。
為了達到上述的發(fā)明目的，本發(fā)明的技術(shù)方案以如下方式實現(xiàn)用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別的方法，其主要步驟為①用快中子源和連續(xù)能譜X射線源分別發(fā)射的快中子束和連續(xù)能譜X射線束穿透被檢客體，直接測量快中子束和連續(xù)能譜X射線束并分別掃描成像。
②利用快中子束和連續(xù)能譜X射線束衰減的不同所形成的曲線進行材料識別。
在上述方法中，所述快中子源包括中子發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖快中子源、同位素中子源和光中子源。所述連續(xù)能譜X射線源包括電子直線加速器和X光機。
在上述方法中，所述光中子源是由電子直線加速器產(chǎn)生的連續(xù)能譜脈沖X射線束分流后打在光中子轉(zhuǎn)換靶上產(chǎn)生，具體的方法步驟為連續(xù)能譜脈沖X射線束經(jīng)分流后，一路通過X射線準(zhǔn)直器形成X射線源，另一路打在光中子轉(zhuǎn)換增強靶上產(chǎn)生光中子，經(jīng)準(zhǔn)直器形成光中子束。
在上述方法中，所述對快中子束和連續(xù)能譜X射線束的測量分別采用對快中子和X射線具有高探測效率的中子探測器和X射線探測器。
在上述方法中，所述由快中子源和中子探測器形成的中子掃描架以及由連續(xù)能譜X射線源和X射線探測器形成的X射線掃描架在掃描方向并排放置，使被檢客體先通過X射線掃描架再通過中子掃描架。
在上述方法中，所述中子發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖快中子源相對于電子直線加速器產(chǎn)生的連續(xù)能譜X射線源的發(fā)射時間有一定的延遲。
在上述方法中，所述步驟②中利用曲線進行材料識別的方法為用中子探測器測量穿透被檢客體的中子強度為Tn，用X射線探測器測量穿透被檢客體的X射線強度為Tx；以c1＝-lnTx*scale為橫坐標(biāo)，以c2＝-lnTn*scale為縱坐標(biāo)，成對的點(c1，c2)構(gòu)成只和等效原子系數(shù)Z有關(guān)的n-x曲線；中子掃描圖像的一個像素的灰度值對應(yīng)于X射線掃描圖像的一個或幾個像素的灰度的均值來查找n-x曲線，用不同顏色在掃描圖像上表示不同的材料。
實現(xiàn)上述用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別方法的一種裝置，它包括檢測通道和可置于其上的被檢客體。其結(jié)構(gòu)特點是，它還包括快中子源、連續(xù)能譜脈沖X射線源、中子探測器和X射線探測器。所述快中子源和連續(xù)能譜脈沖X射線源置于檢測通道的一側(cè)，中子探測器和X射線探測器置于檢測通道的另一側(cè)。使快中子源發(fā)出并通過中子束準(zhǔn)直器準(zhǔn)直的快中子束以及連續(xù)能譜脈沖X射線源發(fā)出并通過X射線束準(zhǔn)直器準(zhǔn)直的連續(xù)能譜X射線束穿透被檢客體后分別正對中子探測器和X射線探測器。
在上述裝置中，所述快中子源采用中子發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖快中子源或者同位素中子源，所述產(chǎn)生連續(xù)能譜脈沖X射線源為電子直線加速器或X光機。
在上述裝置中，所述由快中子源和中子探測器形成的中子掃描架以及由連續(xù)能譜X射線源和X射線探測器形成的X射線掃描架在檢測通道內(nèi)并排放置，使被檢客體先通過X射線掃描架再通過中子掃描架。
實現(xiàn)上述用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別方法的另一種裝置，它包括檢測通道和可置于其上的被檢客體。其結(jié)構(gòu)特點是，它還包括可產(chǎn)生連續(xù)能譜脈沖X射線源和光中子源的加速器、中子探測器和X射線探測器。所述加速器置于檢測通道的一側(cè)，中子探測器和X射線探測器置于檢測通道的另一側(cè)。所述加速器的連續(xù)能譜脈沖X射線源的前端置有雙通道分流準(zhǔn)直器，一路X射線束通過雙通道分流準(zhǔn)直器中的X射線束準(zhǔn)直器形成連續(xù)能譜脈沖X射線束，另一路X射線束通過雙通道分流準(zhǔn)直器中的分流準(zhǔn)直器進入光中子增強腔中并打在光中子轉(zhuǎn)換增強靶上產(chǎn)生光中子。光中子經(jīng)與光中子增強腔相連的光中子通道形成光中子束，光中子束和連續(xù)能譜X射線束穿透被檢客體后分別正對中子探測器和X射線探測器。
在上述裝置中，所述由連續(xù)能譜脈沖X射線源發(fā)出的連續(xù)能譜X射線束和光中子束分別與X射線探測器和中子探測器形成X射線掃描架和中子掃描架，在檢測通道內(nèi)并排放置，使被檢客體先通過X射線掃描架再通過中子掃描架。
在上述裝置中，所述光中子轉(zhuǎn)換增強靶的材料為鈹，光中子轉(zhuǎn)換增強靶的形狀為圓弧形、圓柱形、圓錐形或者L形。
在上述裝置中，所述光中子增強腔中的光中子轉(zhuǎn)換增強靶和光中子通道之間設(shè)有鉍濾波片。
在上述裝置中，所述光中子增強腔采用鉛和石墨混合材料制成。
本發(fā)明由于采用了上述的技術(shù)方案，利用快中子和連續(xù)能譜X射線透射衰減強度不同構(gòu)成的和被檢物厚度無關(guān)、只和被檢物的等效原子系數(shù)Z有關(guān)的n-x曲線進行材料識別，設(shè)備簡單、檢測效率高。被檢客體先通過X射線掃描架，后通過中子掃描架，消除了中子活化產(chǎn)生的γ射線對X射線掃描圖像的影響，并控制脈沖中子束的發(fā)射時間相對于脈沖X射線束發(fā)射時間有一定的延遲，這樣可以減少相互干擾、成像更清晰。中子束和X射線束都是窄束，減小了散射影響，易于防護，并能提高空間分辨率。本發(fā)明在滿集裝箱或被檢物很厚的情況下，也能進行材料識別，可用于集裝箱、貨柜車、火車等大型客體的爆炸物、毒品、違禁物、特殊核材料等物品檢測。
下面結(jié)合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明做進一步說明。


圖1為本發(fā)明一種實施裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明另一種實施裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明的中子束和X射線束發(fā)射裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式
實施例一參看圖1，本發(fā)明裝置包括檢測通道32、可置于其上的被檢客體34、快中子源12、連續(xù)能譜脈沖X射線源22、分別對中子和X射線具有高探測效率的中子探測器18和X射線探測器28?？熘凶釉?2采用中子發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖快中子源或者同位素快中子源，連續(xù)能譜脈沖X射線源22為電子直線加速器或X光機?？熘凶釉?2和連續(xù)能譜脈沖X射線源22置于檢測通道32的一側(cè)，中子探測器18和X射線探測器28置于檢測通道32的另一側(cè)。使快中子源12發(fā)出并穿過中子束準(zhǔn)直器的快中子束16以及連續(xù)能譜脈沖X射線源22發(fā)出并穿過X射線束準(zhǔn)直器的連續(xù)能譜X射線束26穿透被檢客體34后分別正對中子探測器18和X射線探測器28。所形成的中子掃描架以及X射線掃描架在檢測通道32內(nèi)并排間隔放置，并使沿被檢客體34運行方向X射線掃描架在前、中子掃描架在后。
本發(fā)明裝置使用時的方法步驟為①將快中子源12和中子探測器18形成的中子掃描架以及由連續(xù)能譜X射線源22和X射線探測器28形成的X射線掃描架在掃描方向并排放置，使被檢客體34先通過X射線掃描架再通過中子掃描架。用中子發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖快中子源12或同位素快中子源12和加速器或X光機產(chǎn)生的連續(xù)能譜X射線源22分別發(fā)射的快中子束16和連續(xù)能譜X射線束26穿透被檢客體34，用中子探測器18和X射線探測器28分別直接測量快中子束16和連續(xù)能譜X射線束26并分別掃描成像。若使用的是中子發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖快中子源12，則要求脈沖快中子源12相對于加速器產(chǎn)生的連續(xù)能譜X射線源22的發(fā)射時間有一定的延遲。
②利用快中子束16和連續(xù)能譜X射線束26衰減的不同所形成的曲線進行材料識別。材料識別的方法為用中子探測器18測量穿透被檢客體34的中子強度為Tn，用X射線探測器28測量穿透被檢客體的X射線強度為Tx；以c1＝-lnTx*scale為橫坐標(biāo)，以c2＝-lnTn*scale為縱坐標(biāo)，成對的點(c1，c2)構(gòu)成只和等效原子系數(shù)Z有關(guān)的n-x曲線。中了掃描圖像的一個像素的灰度值對應(yīng)于X射線掃描圖像的一個或幾個像素的灰度的均值來查找n-x曲線，用不同顏色在掃描圖像上表示不同的材料。
上述用Tn和Tx得到被檢物34的等效原子序數(shù)Z的方法為窄束單能中子束在被檢物中的衰減遵守指數(shù)規(guī)律In=In0e-μnx---(1)]]>式中In透射中子束強度，In0入射中子束強度，μn被檢物對入射中子的衰減系數(shù)總和，x被檢物厚度，窄束連續(xù)能譜中子束在被檢物中的衰減公式In=∫0EnbIno(E)e-μn(E,Z)xdE---(2)]]>式中In0(E)能量為E的入射中子束強度，
μn(E，Z)等效原子系數(shù)為Z的被檢物對能量為E的中子的衰減系數(shù)和，Enb中子束的邊界能量，窄束連續(xù)能譜X射線在被檢物體中的衰減公式Ix=∫0ExbIx0(E)e-μx(E,Z)xdE---(3)]]>式中Ix透射X射線束強度，Ix0(E)能量為E的入射X射線束強度，μx(E，Z)等效原子系數(shù)為Z的被檢物對能量為E的X射線束的衰減系數(shù)和，ExbX射線束的邊界能量，在中子束16和X射線束26同為連續(xù)能譜的情況下，用下列非線性積分方程組對材料進行識別Tn(E,x,Z)=∫0EnbIn0(E)e-μn(E,Z)xdE∫0EnbIn0(E)dETx(E,x,Z)=∫0ExbIx0(E)e-μx(E,Z)xdE∫0ExbIx0(E)dE---(4)]]>式中Tn(E，x，Z)表示等效原子序數(shù)為Z、厚度為x的物質(zhì)對邊界能量為Enb的中子束的透明度，
Tx(E，x，Z)表示等效原子序數(shù)為Z、厚度為x的物質(zhì)對邊界能量為Exb的X射線束的透明度，在中子束16為單能En，而X射線束26為連續(xù)能譜的情況下，用下列非線性積分方程組對材料進行識別Tn(En,x,Z)=In0e-μn(En,Z)xTx(E,x,Z)=∫0ExbIx0(E)e-μx(E,Z)xdE∫0ExbIx0(E)dE---(5)]]>通過求解非線性積分方程組(4)或(5)，消去被檢物34厚度x，推出被檢物34的等效原子序數(shù)Z。
本發(fā)明在進行材料檢測時，可通過同時移動中子掃描架和X射線掃描架對放置在檢測通道32上的集裝箱或其它大型客體進行掃描檢測，也可固定中子掃描架和X射線掃描架，而使被檢集裝箱或其它大型客體在檢測通道32上移動完成掃描檢測。
實施例二參看圖2和圖3，本發(fā)明包括檢測通道32、可置于其上的被檢客體34、可產(chǎn)生連續(xù)能譜脈沖X射線源和光中子源的加速器42、中子探測器18和X射線探測器28。加速器42置于檢測通道32的一側(cè)，中子探測器18和X射線探測器28置于檢測通道32的另一側(cè)。加速器42的連續(xù)能譜脈沖X射線源22的前端置有雙通道分流準(zhǔn)直器52，一路X射線束通過雙通道分流準(zhǔn)直器52中的X射線束準(zhǔn)直器形成連續(xù)能譜脈沖X射線束26，另一路X射線束58通過雙通道分流準(zhǔn)直器52中的分流準(zhǔn)直器進入采用鉛和石墨混合材料制成的光中子增強腔50中并由L形的光中子轉(zhuǎn)換增強靶56產(chǎn)生光中子。光中子經(jīng)光中子增強腔50中的鉍濾波片60和光中子通道51形成光中子束16，光中子束16和連續(xù)能譜X射線束26穿透被檢客體34后正對中子探測器18和X射線探測器28。由連續(xù)能譜脈沖X射線源22發(fā)出的連續(xù)能譜X射線束26和光中子束16分別與X射線探測器28和中子探測器18形成X射線掃描架和中子掃描架，在檢測通道32內(nèi)并排放置，沿被檢客體運行方向X射線掃描架在前，中子掃描架在后并相隔一定距離。
本發(fā)明裝置使用時的方法步驟與實施例一相同，在此不再贅述。
權(quán)利要求
1.用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別的方法，其主要步驟為①用快中子源和連續(xù)能譜X射線源分別發(fā)射的快中子束和連續(xù)能譜X射線束穿透被檢客體，直接測量快中子束和連續(xù)能譜X射線束并分別掃描成像；②利用快中子束和連續(xù)能譜X射線束衰減的不同所形成的曲線進行材料識別。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別的方法，其特征在于，所述快中子源包括中子發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖快中子源、同位素中子源和光中子源，所述連續(xù)能譜X射線源包括電子直線加速器和X光機。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別的方法，其特征在于，所述光中子源是由電子直線加速器產(chǎn)生的連續(xù)能譜脈沖X射線束分流后打在光中子轉(zhuǎn)換靶上產(chǎn)生，具體的方法步驟為電子直線加速器產(chǎn)生的連續(xù)能譜脈沖X射線束經(jīng)分流后，一路通過X射線準(zhǔn)直器形成X射線束，另一路打在光中子轉(zhuǎn)換增強靶上產(chǎn)生光中子，經(jīng)準(zhǔn)直器形成光中子束。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別的方法，其特征在于，所述對快中子束和連續(xù)能譜X射線束的測量分別采用對快中子和X射線具有高探測效率的中子探測器和X射線探測器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別的方法，其特征在于，所述由快中子源和中子探測器形成的中子掃描架以及由連續(xù)能譜X射線源和X射線探測器形成的X射線掃描架在掃描方向并排放置，使被檢客體先通過X射線掃描架再通過中子掃描架。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別的方法，其特征在于，所述中子發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖快中子源相對于電子直線加速器產(chǎn)生的連續(xù)能譜X射線源的發(fā)射時間有一定的延遲。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別的方法，其特征在于，所述步驟②中利用曲線進行材料識別的方法為用中子探測器測量穿透被檢客體的中子強度為Tn，用X射線探測器測量穿透被檢客體的X射線強度為Tx；以c1＝-lnTx*scale為橫坐標(biāo)，以c2＝-lnTn*scale為縱坐標(biāo)，成對的點(c1，c2)構(gòu)成只和等效原子系數(shù)Z有關(guān)的n-x曲線；中子掃描圖像的一個像素的灰度值對應(yīng)于X射線掃描圖像的一個或幾個像素的灰度的均值來查找n-x曲線，用不同顏色在掃描圖像上表示不同的材料。
8.實現(xiàn)權(quán)利要求1所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別方法的裝置，它包括檢測通道(32)和可置于其上的被檢客體(34)，其特征在于，它還包括快中子源(12)、連續(xù)能譜脈沖X射線源(22)、中子探測器(18)和X射線探測器(28)，所述快中子源(12)和連續(xù)能譜脈沖X射線源(22)置于檢測通道(32)的一側(cè)，中子探測器(18)和X射線探測器(28)置于檢測通道(32)的另一側(cè)，使快中子源(12)發(fā)出并通過中子束準(zhǔn)直器準(zhǔn)直的快中子束(16)以及連續(xù)能譜脈沖X射線源(22)發(fā)出并通過X射線束準(zhǔn)直器準(zhǔn)直的連續(xù)能譜X射線束(26)穿透被檢客體(34)后分別正對中子探測器(18)和X射線探測器(28)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別方法的裝置，其特征在于，所述快中子源(12)采用中子發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖快中子源或者同位素中子源，所述產(chǎn)生連續(xù)能譜脈沖X射線源(22)為電子直線加速器或X光機。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別方法的裝置，其特征在于，所述由快中子源(12)和中子探測器(18)形成的中子掃描架以及由連續(xù)能譜X射線源(22)和X射線探測器(28)形成的X射線掃描架在檢測通道(32)內(nèi)并排放置，使被檢客體(34)先通過X射線掃描架再通過中子掃描架。
11.實現(xiàn)權(quán)利要求1所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別方法的裝置，它包括檢測通道(32)和可置于其上的被檢客體(34)，其特征在于，它還包括可產(chǎn)生連續(xù)能譜脈沖X射線源和光中子源的加速器(42)、中子探測器(18)和X射線探測器(28)，所述加速器(42)置于檢測通道(32)的一側(cè)，中子探測器(18)和X射線探測器(28)置于檢測通道(32)的另一側(cè)，所述加速器(42)的連續(xù)能譜脈沖X射線源(22)的前端置有雙通道分流準(zhǔn)直器(52)，一路X射線束通過雙通道分流準(zhǔn)直器(52)中的X射線束準(zhǔn)直器準(zhǔn)直形成連續(xù)能譜脈沖X射線束(26)，另一路X射線束(58)通過雙通道分流準(zhǔn)直器(52)中的分流準(zhǔn)直器進入光中子增強腔(50)中并打在光中子轉(zhuǎn)換增強靶(56)上產(chǎn)生光中子，光中子經(jīng)與光中子增強腔(50)相連的光中子通道(51)形成光中子束(16)，光中子束(16)和連續(xù)能譜X射線束(26)穿透被檢客體(34)后分別正對中子探測器(18)和X射線探測器(28)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別方法的裝置，其特征在于，所述由連續(xù)能譜脈沖X射線源(22)發(fā)出的連續(xù)能譜X射線束(26)和光中子束(16)分別與X射線探測器(28)和中子探測器(18)形成X射線掃描架和中子掃描架，在檢測通道(32)內(nèi)并排放置，沿使被檢客體(34)先通過X射線掃描架再通過中子掃描架。
13.根據(jù)權(quán)利要求11或12所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別方法的裝置，其特征在于，所述光中子轉(zhuǎn)換增強靶(56)的材料為鈹，光中子轉(zhuǎn)換增強靶(56)的形狀為圓弧形、圓柱形、圓錐形或者L形。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別方法的裝置，其特征在于，所述光中子增強腔(50)中的光中子轉(zhuǎn)換增強靶(56)和光中子通道(51)之間設(shè)有鉍濾波片(60)。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別方法的裝置，其特征在于，所述光中子增強腔(50)采用鉛和石墨混合材料制成。
全文摘要
用快中子和連續(xù)能譜X射線進行材料識別的方法及其裝置，涉及大型客體輻射成像檢測技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明方法的主要步驟為①用快中子源和連續(xù)能譜X射線源分別發(fā)射的快中子束和連續(xù)能譜X射線束穿透被檢客體，直接測量快中子束和連續(xù)能譜X射線束并分別掃描成像。②利用快中子束和連續(xù)能譜X射線束衰減的不同所形成的曲線進行材料識別。本發(fā)明采用僅和被檢客體的等效原子序數(shù)Z有關(guān)的n－x曲線進行材料識別，利用連續(xù)能譜X射線具有的高穿透力，在滿集裝箱或被檢物很厚的情況下，也能進行材料識別，具有設(shè)備簡單、成像清晰、實時檢測準(zhǔn)確率高的特點。
文檔編號G01N23/08GK1959387SQ20051008676
公開日2007年5月9日 申請日期2005年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2005年11月3日
發(fā)明者康克軍, 胡海峰, 謝亞麗, 苗齊田, 楊袆罡, 李元景, 陳志強, 王學(xué)武 申請人:清華大學(xué), 清華同方威視技術(shù)股份有限公司