專利名稱：硬盤磁頭定位的測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種定位的測試方法，特別是一種硬盤磁頭定位的測試方法。
背景技術(shù)：
隨機尋道/讀取(seek/read)測試，為測試硬盤性能的項目之一，采用隨機的方式對硬盤進行尋道以及讀取測試。現(xiàn)有的技術(shù)為利用偽隨機算法在硬盤的大小范圍內(nèi)，隨機計算出一個測試位置，然后將磁頭移動至該測試位置，進行讀取操作，最后判斷讀取動作是否成功。
這種測試方法重點在于測試硬盤的讀取功能，因為磁頭移動到測試位置后，只是在該點做了讀取操作，是否能夠準確地到達某個位置，尚缺乏一個驗證的機制。
此外，由于測試的算法為偽隨機算法，每次測試的位置都是隨機設(shè)定，因此當測試的次數(shù)比較少時，可能會有重復(fù)測試同一個位置的情況發(fā)生，不停地停留在同一點便失去了測試的意義，因此，如何能提供一種可實時地測試出磁頭尋道功能是否出現(xiàn)偏差的方法，成為研究人員待解決的問題之一。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決地技術(shù)問題在于提供一種硬盤磁頭定位的測試方法，當硬盤磁頭性能存在問題時，進行若干次定位或是經(jīng)過遠距離尋道后，磁頭會出現(xiàn)偏差，此方法便是要及早測試出這些問題，通過偽隨機算法，實時地測試出磁頭定位出現(xiàn)的偏差，以及避免隨機測試的位置集中在某個區(qū)域，以解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的問題。
因此，為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所公開的一種硬盤磁頭定位的測試方法，利用一磁頭對硬盤進行定位以及讀取測試，此硬盤劃分有多個磁扇(Sector)，各個磁扇具有一磁扇地址，此方法包含下列步驟(a)將多個磁扇依等間隔依序選擇一磁扇的磁扇地址，以作為參照磁扇地址；(b)隨機產(chǎn)生一測試磁扇地址；(c)將磁頭移動至測試磁扇地址，讀取測試磁扇地址對應(yīng)的磁扇所儲存的數(shù)據(jù)，并記錄為第一讀取數(shù)據(jù)；(d)將磁頭自測試磁扇地址移動至各個參照磁扇地址，再返回測試磁扇地址，且再次讀取測試磁扇地址對應(yīng)的磁扇所儲存的數(shù)據(jù)，并記錄為第二讀取數(shù)據(jù)；以及(e)對比第一讀取數(shù)據(jù)和第二讀取數(shù)據(jù)。
采用本發(fā)明所要提供地硬盤磁頭定位的測試方法，當硬盤磁頭性能存在問題時，進行若干次定位或是經(jīng)過遠距離尋道后，磁頭會出現(xiàn)偏差，此方法能及早測試出這些問題，通過偽隨機算法，實時地測試出磁頭定位出現(xiàn)的偏差，而且，避免隨機測試的位置集中在某個區(qū)域的問題。


圖1A至圖1C為本發(fā)明的硬盤磁頭定位的測試方法流程圖；以及圖2為本發(fā)明的一較佳實施例示意圖。
具體實施例方式
為使對本發(fā)明的目的、構(gòu)造、特征、及其功能有進一步的了解，茲配合實施例詳細說明如下。以上的關(guān)于本發(fā)明內(nèi)容的說明及以下的實施方式的說明用以示范與解釋本發(fā)明的原理，并且提供本發(fā)明的權(quán)利要求更進一步的解釋。
如圖1A至圖1C所示，為本發(fā)明的硬盤磁頭定位的測試方法流程圖，利用一磁頭對一硬盤進行定位以及讀取測試，此硬盤劃分為多個磁扇(Sector)，各個磁扇的容量為512字節(jié)(byte)，每一磁扇具有一對應(yīng)的磁扇地址。
首先，將多個磁扇依照等間隔依序選擇一磁扇對應(yīng)的磁扇地址，以作為參照磁扇地址(步驟110)，此步驟選擇至少一起始磁扇地址以及一終點磁扇地址作為參照磁扇地址。
接著，隨機產(chǎn)生一測試磁扇地址(步驟120)，此測試磁扇地址利用一偽隨機算法獲得，之后，將磁頭移動至測試磁扇地址，讀取測試磁扇地址對應(yīng)的磁扇所儲存的數(shù)據(jù)，并記錄為第一讀取數(shù)據(jù)(步驟130)，可將此第一讀取數(shù)據(jù)儲存于第一硬盤緩沖區(qū)(步驟132)。
然后，將磁頭自測試磁扇地址移動至各個參照磁扇地址，依照每一參照磁扇地址的大小，由小至大依序移動至每一參照磁扇地址，之后再返回測試磁扇地址，且再次讀取測試磁扇地址對應(yīng)的測試磁扇所儲存的數(shù)據(jù)，并記錄為第二讀取數(shù)據(jù)(步驟140)，可將第二讀取數(shù)據(jù)儲存于第二硬盤緩沖區(qū)(步驟142)。
最后，對比第一讀取數(shù)據(jù)和第二讀取數(shù)據(jù)是否相同(步驟150)，當兩者數(shù)據(jù)相同時，判斷磁頭隨機尋道功能無誤(步驟160)，而當兩者數(shù)據(jù)不相同時，判斷磁頭隨機尋道功能有誤(步驟170)。
如圖2所示，為本發(fā)明的一較佳實施例示意圖，此實施例為利用磁頭對一塊容量為80GB的硬盤進行定位以及讀取測試。
由于每個磁扇(sector)的數(shù)據(jù)量為512byte，故一塊80GB的硬盤可分為167772160個磁扇，在此以40GB做為固定間隔，每隔40GB即設(shè)定1參照點，如此可設(shè)定3個參照點，分別為起點、中間點、以及終點；3個參照點的磁扇地址分別為A＝0、B＝83886080，以及C＝167772160。
利用偽隨機算法以得到一個測試磁扇地址為D＝10000，磁頭尋道至磁扇D，并讀取磁扇D的數(shù)據(jù)，且存放至第一硬盤緩沖區(qū)中。
接著，磁頭從D地址依序?qū)さ乐罙、B、C位置，最后再從C回到D位置，并再次讀取磁扇D的數(shù)據(jù)，將數(shù)據(jù)存放至第二硬盤緩沖區(qū)中。
最后對比第一硬盤緩沖區(qū)以及第二硬盤緩沖區(qū)中的數(shù)據(jù)是否一致，若一致則判斷磁頭尋道測試成功，倘若不相同，則判斷磁頭隨機尋道功能有誤。
上述操作利用3個參照點A、B、C，作了離D點距離最遠和相對較近的尋道操作，以測試在極限情況下磁頭是否能夠準確回到原本的位置，判斷是否準確回到原本的位置是根據(jù)第一硬盤緩沖區(qū)以及第二硬盤緩沖區(qū)中的數(shù)據(jù)是否一致來決定。
采用本發(fā)明所要提供地硬盤磁頭定位的測試方法，當硬盤磁頭性能存在問題時，進行若干次定位或是經(jīng)過遠距離尋道后，磁頭會出現(xiàn)偏差，此方法能及早測試出這些問題，通過偽隨機算法，實時地測試出磁頭定位出現(xiàn)的偏差，而且，避免隨機測試的位置集中在某個區(qū)域的問題。
當然，本發(fā)明還可有其它多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種硬盤磁頭定位的測試方法，利用一磁頭對一硬盤進行定位以及讀取測試，該硬盤具有多個磁扇，各該磁扇具有一磁扇地址，其特征在于，該方法包含下列步驟將該多個磁扇依等間隔依序選擇一磁扇的該磁扇地址，以作為一參照磁扇地址；隨機產(chǎn)生一測試磁扇地址；將該磁頭移動至該測試磁扇地址，讀取該測試磁扇地址對應(yīng)的該測試磁扇所儲存的數(shù)據(jù)，并記錄為一第一讀取數(shù)據(jù)；將該磁頭自該測試磁扇地址移動至各該參照磁扇地址，再返回該測試磁扇地址，且再次讀取該測試磁扇地址對應(yīng)的該測試磁扇所儲存的數(shù)據(jù)，并記錄為一第二讀取數(shù)據(jù)；以及對比該第一讀取數(shù)據(jù)和該第二讀取數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測試方法，其特征在于，各該磁扇的容量為512字節(jié)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測試方法，其特征在于，該將該多個磁扇依等間隔依序選擇一磁扇的該磁扇地址，以作為一參照磁扇地址的步驟，是選擇至少一起始磁扇地址以及一終點磁扇地址作為參照磁扇地址。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測試方法，其特征在于，該測試磁扇地址利用一偽隨機算法獲得。
5.根據(jù)權(quán)利要求1項所述的硬盤磁頭定位的測試方法，其特征在于，該讀取該測試磁扇地址對應(yīng)的該測試磁扇所儲存的數(shù)據(jù)，并記錄為一第一讀取數(shù)據(jù)的步驟之后，還包含有一將該第一讀取數(shù)據(jù)儲存于一第一硬盤緩沖區(qū)的步驟。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測試方法，其特征在于，該將該磁頭自該測試磁扇地址移動至各該參照磁扇地址的步驟，依照各該參照磁扇地址的大小，由小至大依序移動至各該參照磁扇地址。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測試方法，其特征在于，該再次讀取該測試磁扇地址對應(yīng)的該測試磁扇所儲存的數(shù)據(jù)，并記錄為一第二讀取數(shù)據(jù)的步驟之后，還包含有一將該第二讀取數(shù)據(jù)儲存于一第二硬盤緩沖區(qū)的步驟。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測試方法，其特征在于，該對比該第一讀取數(shù)據(jù)和該第二讀取數(shù)據(jù)的步驟，是當兩者數(shù)據(jù)相同時，判斷該磁頭隨機尋道功能無誤，當兩者數(shù)據(jù)不相同時，判斷該磁頭隨機尋道功能有誤。
全文摘要
本發(fā)明公開一種硬盤磁頭定位的測試方法，通過磁頭對硬盤進行定位以及讀取測試，此硬盤具有多個磁扇，各個磁扇具有一磁扇地址，首先將各個磁扇依等間隔依序選擇一參照磁扇地址，接著隨機產(chǎn)生一測試磁扇地址，將磁頭移動至測試磁扇地址，讀取其對應(yīng)的磁扇所儲存的數(shù)據(jù)，并記錄為第一讀取數(shù)據(jù)，之后將磁頭自測試磁扇地址移動至各個參照磁扇地址，再返回測試磁扇地址，且再次讀取測試磁扇地址對應(yīng)的磁扇所儲存的數(shù)據(jù)，并記錄為第二讀取數(shù)據(jù)，最后比對第一讀取數(shù)據(jù)和第二讀取數(shù)據(jù)，以判斷磁頭尋道功能是否出現(xiàn)偏差。因此，當硬盤磁頭性能存在問題時，進行若干次定位或是經(jīng)過遠距離尋道后，磁頭會出現(xiàn)偏差，能避免隨機測試的位置集中在某個區(qū)域的問題。
文檔編號G01R33/00GK1917042SQ20051009077
公開日2007年2月21日 申請日期2005年8月16日 優(yōu)先權(quán)日2005年8月16日
發(fā)明者焦學(xué)蓮, 陳玄同, 劉文涵 申請人:英業(yè)達股份有限公司