專利名稱：Pcb板通用測試機軟板測試夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種PCB板通用測試機上使用夾具，特別是一種用來對PCB多單元軟板進行測試的夾具。
背景技術(shù)：
PCB板一般根據(jù)其基板的材質(zhì)分為軟板及硬板兩種。如

圖1所示，現(xiàn)有測試機在對軟板1進行測試時一般用夾具3、5將軟板1的四角進行定位，然后同時對其上的多個單元2進行測試；軟板1基板材料經(jīng)常收縮變形，從造成線路板長度上的變化，軟板1一般都會分出很多個測試單元2，每個單元2之間的距離d會因收縮變形而變得不等。如圖2所示，現(xiàn)有的測試夾具3、5上的PCB板測試機夾具3、5上的定位銷釘4位置是固定不變的，當變形嚴重時，定位必然不準，使測試點與探針偏移，產(chǎn)生很多開路點，嚴重時不能測試。因此，一般情況下整塊線路板要逐個單元2進行測試，即每次只測試約兩個單元2，這樣整個線路板需多次測試，效率很低。

發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的目的是提供一種可以有效克服上述問題發(fā)生的新型PCB板通用測試機軟板測試夾具，它可以一次測試多個單元，減少整個線路測試次數(shù)，提高測試效率。
本實用新型的目的是這樣實現(xiàn)的它包括上夾具體、下夾具體，其特征是上、下夾具體相對一側(cè)表面上分設(shè)有微調(diào)層；微調(diào)層由基架和滑塊構(gòu)成，基架與待測試軟板單元布局相應(yīng)的位置設(shè)有開口，其內(nèi)卡夾可相對活動的滑塊，滑塊上設(shè)有用于穿套測試探針的針孔；上、下微調(diào)層上設(shè)有對應(yīng)的定位套和定位銷；上述結(jié)構(gòu)中，基架開口面向測試板一側(cè)邊緣設(shè)有突沿；上述結(jié)構(gòu)中，滑塊針孔直徑小于夾具針孔直徑；上述結(jié)構(gòu)中，基架開口為兩個以上；
上述結(jié)構(gòu)中，微調(diào)層的四角上設(shè)有通孔。
使用時，夾具上定位柱與微調(diào)層四角上的通孔配合將其固定在上、下夾具體相對表面，上夾具體固定帶有定位套的上微調(diào)層，下夾具體固定設(shè)有定位銷的下微調(diào)層，并保證測試探針穿套于對應(yīng)的滑塊針孔上；測試時，將待測軟板四角的定位孔穿套于定位柱上，形成對待測軟板的總限位，然后，根據(jù)軟板上測試單元之間的變形量調(diào)整下微調(diào)層滑塊的位置，使對應(yīng)滑塊上定位銷的位置剛好可以穿過測試單元定位孔，調(diào)整上微調(diào)層滑塊定位套，使其與下微調(diào)層上的定位銷相配合，從而實現(xiàn)微調(diào)過程；上述過程中，滑塊相對運動時，其上探針會在夾具針孔間隙范圍內(nèi)適度位移，從而克服測試單元間變形量不同造成測試不準確或不能測試現(xiàn)象的產(chǎn)生，可以有效同時測試多個單元，大大提高測試效率，適宜被應(yīng)用在現(xiàn)有產(chǎn)品被廣泛使用。
以下結(jié)合附圖詳述本實用新型的具體結(jié)構(gòu)圖1為現(xiàn)有測試機用夾具的結(jié)構(gòu)示意圖圖2為待測PCB軟板結(jié)構(gòu)示意圖圖3為本實用新型結(jié)構(gòu)立體示意圖圖4為本實用新型安裝結(jié)構(gòu)剖視圖具體實施方式
如圖3所示，本實用新型包括上夾具體10、下夾具體11，上、下夾具體10、11相對一側(cè)表面上分設(shè)有微調(diào)層12；微調(diào)層12由基架13和滑塊14構(gòu)成，基架13與待測試軟板15單元布局相應(yīng)的位置設(shè)有開口，開口形狀為方形，也可根據(jù)具體情況為其他形狀，開口面向測試板一側(cè)邊緣設(shè)有突沿16，用來防止限位于其中的滑塊14脫離，滑塊14上設(shè)有用于穿套測試探針17的針孔18，為方便對探針17的調(diào)整，其直徑小于上、下夾具體10、11上針孔19的直徑；下微調(diào)層12上設(shè)有與待測試軟板15單元定位孔相對應(yīng)的定位銷20，上微調(diào)層12上設(shè)有與定位銷20相配合的定位套21；微調(diào)層12的四角上設(shè)有定位通孔；根據(jù)測試單元數(shù)量的不同，基架13上可以設(shè)有兩組以上的開口22和滑塊14。
在實際測試時，由于微調(diào)層12滑塊14上針孔18的直徑小于上、下夾具體10、11上針孔19的直徑，根據(jù)不同的變形量，滑塊14可帶動插入其針孔19內(nèi)的探針17在針孔19的間隙范圍內(nèi)移動，從而克服單元之間變形不等影響測試問題的發(fā)生。
權(quán)利要求1.一種PCB板通用測試機軟板測試夾具，它包括上夾具體、下夾具體，其特征是上、下夾具體相對一側(cè)表面上分設(shè)有微調(diào)層；微調(diào)層由基架和滑塊構(gòu)成，基架與待測試軟板單元布局相應(yīng)的位置設(shè)有開口，其內(nèi)卡夾可相對活動的滑塊，滑塊上設(shè)有用于穿套測試探針的針孔；上、下微調(diào)層上設(shè)有對應(yīng)的定位套和定位銷。
2.如權(quán)利要求1所述的PCB板通用測試機軟板測試夾具，其特征是基架開口面向測試板一側(cè)邊緣設(shè)有突沿。
3.如權(quán)利要求1所述的PCB板通用測試機軟板測試夾具，其特征是滑塊針孔直徑小于夾具針孔直徑。
4.如權(quán)利要求1所述的PCB板通用測試機軟板測試夾具，其特征是微調(diào)層的四角上設(shè)有通孔。
5.如權(quán)利要求1所述的PCB板通用測試機軟板測試夾具，其特征是基架開口為兩個以上。
專利摘要本實用新型提供一種PCB板通用測試機軟板測試夾具，它包括上夾具體、下夾具體，在上、下夾具體相對一側(cè)表面上分設(shè)有微調(diào)層；微調(diào)層由基架和滑塊構(gòu)成，基架與待測試軟板單元布局相應(yīng)的位置設(shè)有開口，其內(nèi)卡夾可相對活動的滑塊，滑塊上設(shè)有用于穿套測試探針的針孔；上、下微調(diào)層上設(shè)有對應(yīng)的定位套和定位銷。探針不僅可針對整張測試板移動，而且可以相對具體測試單元進行微調(diào)，從而克服測試單元間變形量不同造成測試不準確或不能測試現(xiàn)象的產(chǎn)生，可以有效同時測試多個單元，大大提高測試效率，適宜在現(xiàn)有產(chǎn)品中廣泛使用。
文檔編號G01R1/067GK2831123SQ200520005890
公開日2006年10月25日 申請日期2005年3月15日 優(yōu)先權(quán)日2005年3月15日
發(fā)明者張利雄 申請人:深圳麥遜電子有限公司