專利名稱：一種光譜解析校正的積分式光輻射度測量系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于光和輻射測量技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種光譜解析校正的積分式光輻射度測量系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
光輻射度的測量方法一般可分為分光式和積分式兩種。使用光譜分析儀測量光源的光譜功率分布，從而得到光度量的分光式方法，適用范圍廣且精度高，但這種方法存在的一個(gè)普遍的問題就是光譜分析儀的響應(yīng)線性范圍一般都較窄。
使用帶濾色片的探頭直接測量光度量的積分式方法，比分光法簡單易行，而且由于探頭的響應(yīng)線性范圍一般都較寬，所以用這種方法可以實(shí)現(xiàn)很寬的光度測量范圍。但精確的積分式測量對(duì)于探頭濾色片的要求很高，探頭的相對(duì)光譜靈敏度與國際照明委員會(huì)(CIE)的V(λ)曲線必須嚴(yán)格一致，但實(shí)現(xiàn)這樣的要求難度很高，且成本高。比如在藍(lán)光LED的光度測量中，即使一些實(shí)驗(yàn)室級(jí)的光度探頭也會(huì)產(chǎn)生較大的測量誤差，原因就在于探頭的相對(duì)光譜靈敏度在短波段與V(λ)曲線存在較大偏離。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型為解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題，提供一種光譜解析校正的積分式光輻射度測量系統(tǒng)的技術(shù)方案，其光度測量范圍寬，且可以在探頭的相對(duì)光譜靈敏度為非V(λ)曲線的情況下，實(shí)現(xiàn)光度量的精確測量。
所述的一種光譜解析校正的積分式光輻射度測量系統(tǒng)，其特征在于積分球上分別設(shè)置探頭安裝孔和光纖耦合孔，通過探頭、光纖分別與光譜分析儀相連，光譜分析儀與計(jì)算機(jī)連接。
所述的一種光譜解析校正的積分式光輻射測量系統(tǒng)，其特征在于探頭的感光元件為硅光電池，硅光電池前設(shè)置濾色片。
所述的一種光譜解析校正的積分式光輻射測量系統(tǒng)，其特征在于探頭的相對(duì)光譜靈敏度s(λ)rel在(360nm，830nm)范圍外為零，且在此范圍內(nèi)與CIE標(biāo)準(zhǔn)光譜光效率函數(shù)V(λ)的誤差均為正誤差。
上述的一種光譜解析校正的積分式光輻射測量系統(tǒng)，可以在探頭的相對(duì)光譜靈敏度為非V(λ)曲線的情況下，實(shí)現(xiàn)測量系統(tǒng)中寬線性范圍、高精度的光度測量。


圖1是本實(shí)用新型測量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型中探頭相對(duì)光譜靈敏度曲線圖。
具體實(shí)施方式
如圖所示，積分球4上分別設(shè)置探頭安裝孔和光纖耦合孔，通過探頭3、光纖5分別與光譜分析儀2相連，光譜分析儀2與計(jì)算機(jī)1連接。探頭3的感光元件為硅光電池，硅光電池前設(shè)置濾色片。探頭3的相對(duì)光譜靈敏度s(λ)rel在(360nm，830nm)范圍外為零，且在此范圍內(nèi)與CIE標(biāo)準(zhǔn)光譜光效率函數(shù)V(λ)的誤差均為正誤差。探頭3的相對(duì)光譜靈敏度曲線圖，如圖2所示。光譜分析儀2可采用杭州遠(yuǎn)方光電信息有限公司生產(chǎn)的PMS-50型光譜分析儀。
利用該測量系統(tǒng)的測量方法如下所述上述的探頭3用已知相對(duì)光譜功率分布P(λ)A的A光源進(jìn)行了定標(biāo)，測量待測光源的光度值；光譜分析儀2所測得待測光源的相對(duì)光譜功率分布P(λ)t，輸入計(jì)算機(jī)1中，計(jì)算機(jī)1按以下公式K=∫360830P(λ)V(λ)dλ∫360830P(λ)s(λ)reldλ∫360830P(λ)As(λ)reldλ∫360830P(λ)AV(λ)dλ,]]>計(jì)算出光譜解析校正系數(shù)K，光譜解析校正系數(shù)K乘以探頭3所測得的待測光源的光度值，即得到待測光源的精確光度值，公式中V(λ)為CIE標(biāo)準(zhǔn)光譜光效率函數(shù)，s(λ)rel為已知探頭3的相對(duì)光譜靈敏度。
權(quán)利要求1.一種光譜解析校正的積分式光輻射度測量系統(tǒng)，其特征在于積分球(4)上分別設(shè)置探頭安裝孔和光纖耦合孔，通過探頭(3)、光纖(5)分別與光譜分析儀(2)相連，光譜分析儀(2)與計(jì)算機(jī)(1)連接。
2.如權(quán)利要求1所述的一種光譜解析校正的積分式光輻射度測量系統(tǒng)，其特征在于探頭(3)的感光元件為硅光電池，硅光電池前設(shè)置濾色片。
3.如權(quán)利要求1所述的一種光譜解析校正的積分式光輻射度測量系統(tǒng)，其特征在于探頭(3)的相對(duì)光譜靈敏度s(λ)rel在(360nm，830nm)范圍外為零，且在此范圍內(nèi)與CIE標(biāo)準(zhǔn)光譜光效率函數(shù)V(λ)的誤差均為正誤差。
專利摘要一種光譜解析校正的積分式光輻射度測量系統(tǒng)，屬于光和輻射測量技術(shù)領(lǐng)域。其特征在于積分球上分別設(shè)置探頭安裝孔和光纖耦合孔，通過探頭、光纖分別與光譜分析儀相連，光譜分析儀與計(jì)算機(jī)連接。上述的一種光譜解析校正的積分式光輻射測量系統(tǒng)，可以在探頭的相對(duì)光譜靈敏度為非V(λ)曲線的情況下，實(shí)現(xiàn)測量系統(tǒng)中寬線性范圍、高精度的光度測量。
文檔編號(hào)G01J3/28GK2861990SQ200520013559
公開日2007年1月24日 申請日期2005年7月26日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月26日
發(fā)明者潘建根, 沈海平 申請人:潘建根