專利名稱：測(cè)試裝置以及測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置以及測(cè)試方法，其對(duì)一由電子裝置所輸出的信號(hào)的輸出圖樣(pattern)和一預(yù)定的期待值圖樣進(jìn)行比較，以判定該電子裝置的良否。就藉由文獻(xiàn)的參照而確認(rèn)可編入的指定國(guó)而言，藉由參照下記的申請(qǐng)案中所記載的內(nèi)容而編入本申請(qǐng)案中，以作為本申請(qǐng)案的記載的一部分。
特愿2004-179857申請(qǐng)日2004年6月17日特愿2004-192195申請(qǐng)日2004年6月29日特愿2004-183067申請(qǐng)日2004年6月21日特愿2004-212234申請(qǐng)日2004年7月20日背景技術(shù)測(cè)試裝置依據(jù)測(cè)試程式來(lái)對(duì)一種作為測(cè)試對(duì)象的被測(cè)試裝置(DUTDeviceUnder Test)進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試程式包含各命令每一周期中測(cè)試裝置應(yīng)執(zhí)行的命令；以及期待值圖樣，其用來(lái)與相對(duì)于被測(cè)試裝置的各端而輸出的測(cè)試圖樣或與被測(cè)試裝置的各端所輸出的輸出圖樣相比較。然后，測(cè)試裝置由記憶體依順序讀出該測(cè)試程式的命令。測(cè)試裝置由記憶體讀出各命令所對(duì)應(yīng)的測(cè)試圖樣，以輸出至被測(cè)試裝置的各端。此種結(jié)果所輸出的輸出圖樣須與被測(cè)試裝置預(yù)定應(yīng)輸出的期待值圖樣相比較。
舉出被測(cè)試裝置的輸出信號(hào)的邊緣(margin)檢查用的測(cè)試以作為被測(cè)試裝置的測(cè)試的一種形態(tài)。在此種測(cè)試中，例如，一方面使被測(cè)試裝置的輸出信號(hào)被該測(cè)試裝置取入時(shí)的時(shí)序或此輸出信號(hào)被取入時(shí)所用的門限(threshold)值電壓等的參數(shù)發(fā)生變化，且一方面使被測(cè)試裝置動(dòng)作，以對(duì)已使用各參數(shù)值的測(cè)試的通過(guò)(pass)或失敗(fail)進(jìn)行記錄。然后，以各參數(shù)作為座標(biāo)軸，在各參數(shù)值所對(duì)應(yīng)的座標(biāo)上作成一種使用該參數(shù)值的測(cè)試的通過(guò)(pass)或失敗(fail)之圖。此種圖稱為Shmoo圖。
現(xiàn)在，由于相關(guān)連的專利文件尚不清楚，因此省略其記載。

發(fā)明內(nèi)容
藉由被測(cè)試裝置，則由測(cè)試圖樣輸入開(kāi)始至對(duì)應(yīng)于該測(cè)試圖樣所輸出的圖樣被輸出為止的周期數(shù)會(huì)存在著不特定的情況或不定的情況。此種被測(cè)試裝置輸出時(shí)的輸出圖樣在與期待值圖樣相比較時(shí)，測(cè)試裝置檢出該被測(cè)試裝置所輸出的已預(yù)定的標(biāo)題圖樣(header pattern)且此測(cè)試裝置較佳是具備一種搜索(hunt)功能，其對(duì)該標(biāo)題圖樣經(jīng)一特定的周期之后所輸出的比較對(duì)象的輸出圖樣以及一種期待值圖樣進(jìn)行比較。
因此，若使用一種具備上述搜索功能的測(cè)試裝置以作成Shmoo圖來(lái)進(jìn)行檢討，則在測(cè)試裝置輸入該比較對(duì)象的輸出圖樣時(shí)，須要使輸入時(shí)的時(shí)序(timing)或門限值電壓等的參數(shù)改變。然而，若使這些參數(shù)變化，則不能正確地輸入上述的標(biāo)題圖樣本身，于是不能檢出該輸出圖樣和期待值圖樣之間的一致或不一致。
又，若藉由搜索功能，則由被測(cè)試裝置中輸出圖樣列所輸出的時(shí)序和與該輸出圖樣列相比較的適合的期待值圖樣由記憶體讀出時(shí)的時(shí)序之間會(huì)有不同的情況存在著。因此，為了適當(dāng)?shù)貙?duì)各圖樣進(jìn)行比較，時(shí)序不同的期待值圖樣列和輸出圖樣列應(yīng)成為同步。
又，藉由被測(cè)試裝置，則輸出圖樣列的輸出開(kāi)始時(shí)的時(shí)序會(huì)有不確定的情況發(fā)生。因此，對(duì)被測(cè)試裝置進(jìn)行輸出所用的方法中須考慮該輸出圖樣列的前頭顯示時(shí)所用的已預(yù)定的標(biāo)題圖樣列。即，若使用該方法，在已檢出該標(biāo)題圖樣列時(shí)，則該標(biāo)題圖樣中所繼續(xù)輸出的輸出圖樣列須與期待值圖樣列相比較。然而，由于被測(cè)試裝置的障礙等理由，在檢出一種與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列時(shí)會(huì)有失敗的情況發(fā)生。此時(shí)，以先前技術(shù)中對(duì)標(biāo)題圖樣列的檢出失敗的原因來(lái)進(jìn)行解析是因難的。
又，先前的測(cè)試裝置中，應(yīng)支援被測(cè)試裝置的障礙解析，可對(duì)成為比較對(duì)象的輸出圖樣和期待值圖樣的范圍所在的比較視窗進(jìn)行指定。即，在比較視窗的范圍以外即使輸出圖樣和期待值圖樣不一致時(shí)，亦不必進(jìn)行障礙的檢出而可繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。然而，在比較視窗的范圍以外在標(biāo)題圖樣列的檢出失敗時(shí)，此種意義的資訊一方面記錄在錯(cuò)誤日記(log)中且另一方面若通知該使用者，則測(cè)試對(duì)象范圍外的不要的資料會(huì)與測(cè)試對(duì)象的比較結(jié)果相混合，于是會(huì)有障礙解析因難的情況發(fā)生。
因此，本發(fā)明的目的是提供一種可解決上述課題的測(cè)試裝置。
依據(jù)本發(fā)明的第1形式以提供一種測(cè)試裝置，此種對(duì)被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出信號(hào)的邊緣進(jìn)行測(cè)試用的測(cè)試裝置，其包括第1信號(hào)比較器，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的第1選通(strobe)時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一預(yù)定的第1門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的第1輸出圖樣列；第2信號(hào)比較器，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的第2選通(strobe)時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一預(yù)定的第2門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的第2輸出圖樣列；標(biāo)題圖樣列檢出部，其檢出第1輸出圖樣列與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列已相一致；以及期待值比較部，在檢出第1輸出圖樣列和標(biāo)題圖樣列已相一致時(shí)，使第2信號(hào)比較器所取得的第2輸出圖樣列和第2輸出圖樣列的期待值圖樣列的比較結(jié)果被輸出。
亦可另外具備一種比較結(jié)果記憶部，其對(duì)應(yīng)于第2選通時(shí)序和第2門限值電壓，以記憶第2輸出圖樣列和期待值圖樣列的比較結(jié)果。
亦可另外具備測(cè)試控制部，其對(duì)使被測(cè)試裝置中與標(biāo)題圖樣列同一的輸出圖樣列以及與期待值圖樣列同一的輸出圖樣列被輸出時(shí)的測(cè)試進(jìn)行復(fù)數(shù)次；以及參數(shù)變更部，其在第2次測(cè)試中，使第2選通時(shí)序和第2門限值電壓此二參數(shù)中至少其中一參數(shù)變更成與第1次測(cè)試不同的值。
測(cè)試控制部亦可在多次各別的測(cè)試中依據(jù)期待值比較部所輸出的比較結(jié)果，使第2輸出圖樣列輸出一種與期待值圖樣列相一致的第2選通時(shí)序以及第2門限值電壓的范圍。
第1選通時(shí)序和第2選通時(shí)序以及第1門限值電壓和第2門限值電壓中的至少一參數(shù)亦可設(shè)定成互相不同的值。
在第1輸出圖樣列與標(biāo)題圖樣列相一致時(shí)，期待值比較部亦可使第1輸出圖樣列取得后一預(yù)定的偏移(offset)時(shí)間之后所取得的第2輸出圖樣列與期待值圖樣列的比較結(jié)果被輸出。
應(yīng)與標(biāo)題圖樣列相一致的第1輸出圖樣列以及應(yīng)與期待值圖樣列相比較的第2輸出圖樣列亦可以是由被測(cè)試裝置的輸出端以同一時(shí)序所輸出的相同的圖樣列。
依據(jù)本發(fā)明的第2形式以提供一種測(cè)試裝置，此種對(duì)被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出信號(hào)的邊緣進(jìn)行測(cè)試用的測(cè)試裝置，其包括測(cè)試圖樣輸出部，其使被測(cè)試裝置的輸出端所預(yù)定的標(biāo)題圖樣列輸出時(shí)所用的測(cè)試圖樣列輸出至被測(cè)試裝置；信號(hào)比較器，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的選通(strobe)時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的輸出圖樣列；標(biāo)題圖樣列檢出部，其檢出第1信號(hào)比較器所取得的第1輸出圖樣列已與標(biāo)題圖樣列相一致；延遲時(shí)間取得部，其在測(cè)試圖樣開(kāi)始輸出之后取得一種與標(biāo)題圖樣列一致的第1輸出圖樣列被檢出為止時(shí)的延遲時(shí)間；參數(shù)變更部，其在取得上述的延遲時(shí)間時(shí)，使選通時(shí)序和門限值電壓中的至少一參數(shù)受到變更；測(cè)試控制部，其在藉由參數(shù)變更部造成參數(shù)變更時(shí)的狀態(tài)下，藉由測(cè)試圖樣輸出部以再度進(jìn)行該測(cè)試圖樣列的輸出；以及期待值比較部，其由測(cè)試圖樣列的輸出再度開(kāi)始而由已經(jīng)過(guò)上述的延遲時(shí)間的時(shí)點(diǎn)所預(yù)定的偏移(offset)時(shí)間之后，使信號(hào)比較器所取得的第2輸出圖樣列與第2輸出圖樣列的期待值圖樣列的比較結(jié)果被輸出。
依據(jù)本發(fā)明的第3實(shí)施形式以提供一種測(cè)試方法，此種對(duì)被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出信號(hào)的邊緣藉由測(cè)試裝置來(lái)進(jìn)行測(cè)試時(shí)所用的測(cè)試方法，其包括第1信號(hào)比較步驟，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的第1選通(strobe)時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一預(yù)定的第1門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的第1輸出圖樣列；第2信號(hào)比較步驟，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的第2選通(strobe)時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一預(yù)定的第2門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的第2輸出圖樣列；標(biāo)題圖樣列檢出步驟，其檢出第1輸出圖樣列與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列已相一致；以及期待值比較步驟，在檢出第1輸出圖樣列和標(biāo)題圖樣列已相一致時(shí)，使第2信號(hào)比較器所取得的第2輸出圖樣列和第2輸出圖樣列的期待值圖樣列的比較結(jié)果被輸出。
依據(jù)本發(fā)明的第4實(shí)施形式以提供一種測(cè)試方法，此種對(duì)被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出信號(hào)的邊緣藉由測(cè)試裝置來(lái)進(jìn)行測(cè)試時(shí)所用的測(cè)試方法，其包括測(cè)試圖樣輸出步驟，其使被測(cè)試裝置的輸出端所預(yù)定的標(biāo)題圖樣列輸出時(shí)所用的測(cè)試圖樣列輸出至被測(cè)試裝置；信號(hào)比較步驟，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的選通(strobe)時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的輸出圖樣列；標(biāo)題圖樣列檢出步驟，其檢出信號(hào)比較步驟所取得的第1輸出圖樣列已與標(biāo)題圖樣列相一致；延遲時(shí)間取得步驟，其在測(cè)試圖樣開(kāi)始輸出之后取得一種與標(biāo)題圖樣列一致的第1輸出圖樣列被檢出為止時(shí)的延遲時(shí)間；參數(shù)變更步驟，上述的延遲時(shí)間已取得時(shí)，使選通時(shí)序和門限值電壓中的至少一參數(shù)受到變更；測(cè)試控制步驟，其在藉由參數(shù)變更步驟造成參數(shù)變更時(shí)的狀態(tài)下，藉由測(cè)試圖樣輸出步驟以再度進(jìn)行該測(cè)試圖樣列的輸出；以及期待值比較步驟，其由測(cè)試圖樣列的輸出再度開(kāi)始時(shí)由已經(jīng)過(guò)上述的延遲時(shí)間的時(shí)點(diǎn)所預(yù)定的偏移(offset)時(shí)間之后，使信號(hào)比較器所取得的第2輸出圖樣列的與第2輸出圖樣列的期待值圖樣列的比較結(jié)果被輸出。
依據(jù)本發(fā)明的第5形式以提供一種測(cè)試裝置，此種依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列以及應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果來(lái)判定被測(cè)試裝置的良否所用的測(cè)試裝置，其包括順序控制部，其依序執(zhí)行被測(cè)試裝置的測(cè)試程式中所含有的多個(gè)命令，且由記憶體中讀出已執(zhí)行的各命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣；標(biāo)題圖樣檢出部，其在指示“與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)，檢出一與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列是否已由被測(cè)試裝置中輸出；期待值比較部，其對(duì)輸出圖樣列和期待值圖樣列進(jìn)行比較；以及時(shí)序調(diào)整部，其在與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，使各別的期待值圖樣和應(yīng)與該期待值圖樣相比較的輸出圖樣成為同步且在同一周期中輸入至期待值比較部中。
順序控制部藉由多個(gè)步驟(其具有對(duì)輸出圖樣和期待值圖樣進(jìn)行比較所用的比較步驟)所構(gòu)成的命令執(zhí)行管線(pipeline)來(lái)執(zhí)行各別的命令。時(shí)序調(diào)整部在比較步驟時(shí)在期待值圖樣輸入時(shí)的時(shí)序中亦可對(duì)該應(yīng)與期待值圖樣比較的輸出圖樣在比較步驟中被輸入時(shí)進(jìn)行調(diào)整。
藉由順序控制部，則在指示“標(biāo)題圖樣列的檢出終了”所用的檢出終了命令被執(zhí)行時(shí)，時(shí)序調(diào)整部亦可使一命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣和一命令執(zhí)行時(shí)所取得的輸出圖樣在同一周期中輸入至期待值比較部中。
更包括多個(gè)標(biāo)題圖樣列儲(chǔ)存時(shí)所用的標(biāo)題圖樣儲(chǔ)存部。順序控制部所執(zhí)行的命令包含一種指示，其指出“由標(biāo)題圖樣儲(chǔ)存部選取該檢出對(duì)象的標(biāo)題圖樣列”以作為檢出開(kāi)始命令。就依據(jù)此檢出開(kāi)始命令所選擇的標(biāo)題圖樣列而言，此標(biāo)題圖樣檢出部亦可檢出與該標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列是否由被測(cè)試裝置所輸出。
亦可另外具備錯(cuò)誤通知部，由標(biāo)題圖樣列開(kāi)始檢出時(shí)所預(yù)定的期間內(nèi)，在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，此錯(cuò)誤通知部可通知“該標(biāo)題圖樣列的檢出已失敗”。
依據(jù)本發(fā)明的第6實(shí)施形式以提供一種測(cè)試裝置，其依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列和應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果，以判定該被測(cè)試裝置的良否，本測(cè)試方法包括順序控制步驟，其依序執(zhí)行被測(cè)試裝置的測(cè)試程式中所含有的多個(gè)命令，由記憶體中讀出已執(zhí)行的各命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣；標(biāo)題圖樣檢出步驟，其在指出“與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)，檢出與該標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列是否由被測(cè)試裝置所輸出；期待值比較步驟，其對(duì)輸出圖樣列和期待值圖樣列進(jìn)行比較；以及時(shí)序調(diào)整步驟，其在與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，使各別的期待值圖樣和應(yīng)與該期待值圖樣相比較的輸出圖樣成為同步且在同一周期中在期待值比較步驟中進(jìn)行比較。
依據(jù)本發(fā)明的第7形式以提供一種測(cè)試裝置，此種依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列以及應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果來(lái)判定被測(cè)試裝置的良否所用的測(cè)試裝置標(biāo)題圖樣檢出部，其檢出一種與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列是否由被測(cè)試裝置所輸出；期待值比較部，其在檢出一種與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列時(shí)，繼續(xù)在此一與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列中對(duì)由被測(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣列和該期待值圖樣列進(jìn)行比較；以及選擇寫(xiě)入部，其在與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，使期待值比較部所得到的比較結(jié)果儲(chǔ)存在失效記憶體中，在與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，被測(cè)試裝置的輸出圖樣列儲(chǔ)存在失效記憶體中。
又，更可具備命令執(zhí)行部，其在每個(gè)命令周期中依序執(zhí)行多個(gè)命令，這些命令含有一種指出“標(biāo)題圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令。在檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)，上述的選擇寫(xiě)入部開(kāi)始進(jìn)行一種輸出圖樣寫(xiě)入處理，其依序?qū)⒈粶y(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣寫(xiě)入該失效記憶體中，在與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，亦可停止上述的輸出圖樣寫(xiě)入處理，開(kāi)始進(jìn)行一種處理使期待值比較部所得到的比較結(jié)果依序儲(chǔ)存在失效記憶體中。
又，在與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，在檢出開(kāi)始命令開(kāi)始執(zhí)行后經(jīng)過(guò)一預(yù)定的命令周期數(shù)為止的期間中，該選擇寫(xiě)入部亦可將被測(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣列儲(chǔ)存在失效記憶體中，在經(jīng)過(guò)一預(yù)定的命令周期數(shù)之后亦可使已輸出的輸出圖樣列不儲(chǔ)存在失效記憶體中。
依據(jù)本發(fā)明的第8形式以提供一種測(cè)試方法，此種依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列以及應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果來(lái)判定被測(cè)試裝置的良否所用的測(cè)試方法，其包括標(biāo)題圖樣檢出步驟，其檢出一種與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列是否由被測(cè)試裝置所輸出；期待值比較步驟，在檢出一種與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列時(shí)，繼續(xù)在此一與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列中對(duì)由被測(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣列和該期待值圖樣列進(jìn)行比較；以及選擇寫(xiě)入步驟，在與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，使期待值比較步驟所得到的比較結(jié)果儲(chǔ)存在失效記憶體中，在與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，被測(cè)試裝置的輸出圖樣列儲(chǔ)存在失效記憶體中。
依據(jù)本發(fā)明的第9形式以提供一種測(cè)試裝置，此種依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列以及應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果來(lái)判定被測(cè)試裝置的良否所用的測(cè)試裝置，其包括順序控制部，其依序執(zhí)行被測(cè)試裝置的測(cè)試程式中所含有的多個(gè)命令，且由記憶體中讀出已執(zhí)行的各命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣；標(biāo)題圖樣檢出部，其在指示“與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)，檢出“一與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列是否已由被測(cè)試裝置中輸出”；期待值比較部，在與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，繼續(xù)在與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列中對(duì)由被測(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣列和上述的期待值圖樣列進(jìn)行比較；標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部，其對(duì)多個(gè)命令中與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列的檢出成為有效時(shí)的有效范圍進(jìn)行設(shè)定；以及錯(cuò)誤判斷通知部，其在檢出開(kāi)始命令開(kāi)始執(zhí)行直至使標(biāo)題圖樣列的檢出終了時(shí)所用的檢出終了命令被執(zhí)行時(shí)為止的期間中，若與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，則在以檢出開(kāi)始命令至檢出終了命令為止的命令是在有效范圍內(nèi)作為條件下通知一種錯(cuò)誤信息，以顯示該標(biāo)題圖樣列的檢出已失敗。
又，更可具備一種標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器，其儲(chǔ)存著使有效范圍開(kāi)始時(shí)所用的命令的位址所在的開(kāi)始位址以及使有效范圍終了時(shí)所用的命令的位址所在的終了位址。標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部藉由使一種儲(chǔ)存在標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器中的值以設(shè)定一種有效范圍。錯(cuò)誤判斷通知部亦可在標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器中所儲(chǔ)存的開(kāi)始位址以及標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器中所儲(chǔ)存的終了位址之間以檢出開(kāi)始命令或檢出終了命令被執(zhí)行作為條件下通知一種錯(cuò)誤信息，以顯示該標(biāo)題圖樣列的檢出已失敗。
又，更可具備一種比較有效范圍設(shè)定部，其對(duì)應(yīng)于至少一命令來(lái)設(shè)定一種比較視窗，此比較視窗顯示“該一命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣和該輸出圖樣的比較已成為有效”。在由檢出開(kāi)始命令至檢出終了命令為止的期間的至少1個(gè)命令中設(shè)定一種比較視窗時(shí)，該標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部亦可在該檢出開(kāi)始命令至檢出終了命令為止的期間中使標(biāo)題圖樣列的檢出成為有效。
依據(jù)本發(fā)明的第10實(shí)施形式以提供一種測(cè)試方法，其依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列和應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果，以判定該被測(cè)試裝置的良否，本測(cè)試方法包括順序控制步驟，其依序執(zhí)行被測(cè)試裝置的測(cè)試程式中所含有的多個(gè)命令，由記憶體中讀出已執(zhí)行的各命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣；標(biāo)題圖樣檢出步驟，其在指出“與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)檢出一與該標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列是否由被測(cè)試裝置所輸出；期待值比較步驟，其在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，繼續(xù)在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列中對(duì)由被測(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣列和該期待值圖樣列進(jìn)行比較；標(biāo)題檢出范圍設(shè)定步驟，其對(duì)多個(gè)命令中使與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列的檢出成為有效時(shí)的有效范圍進(jìn)行設(shè)定；以及錯(cuò)誤判斷通知步驟，其在檢出開(kāi)始命令開(kāi)始執(zhí)行至使標(biāo)題圖樣列的檢出終了所用的檢出終了命令被執(zhí)行為止的期間中，若與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未檢出時(shí)，則以“檢出開(kāi)始命令至檢出終了命令為止的命令是在有效范圍內(nèi)”作為條件，以通知一種錯(cuò)誤信息，其顯示該標(biāo)題圖樣列的檢出已失敗。
又，上述的發(fā)明概要并未列舉本發(fā)明的必要特征的全部，這些特征群的下位組合(sub-combination)亦屬本發(fā)明的范圍。
發(fā)明的效果依據(jù)本發(fā)明，可對(duì)被測(cè)試裝置所輸出的輸出信號(hào)的邊緣適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行測(cè)試。又，即使在輸出圖樣列的輸出時(shí)序不確定時(shí)，輸出圖樣列的輸出仍可與期待值圖樣列的讀出同步以進(jìn)行比較。又，顯示此測(cè)試的開(kāi)始所用的標(biāo)題圖樣未被檢出時(shí)，亦可容易地追究其原因。又，亦可適當(dāng)?shù)卦O(shè)定標(biāo)題圖樣列的檢出成為有效時(shí)的范圍。
為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉較佳實(shí)施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說(shuō)明如下。


圖1是實(shí)施例1的測(cè)試裝置10的構(gòu)成圖。
圖2是實(shí)施例1所屬的比較器180及搜索·比較部148的構(gòu)成。
圖3是實(shí)施例1所屬的測(cè)試裝置10中的測(cè)試動(dòng)作圖。
圖4是實(shí)施例1的變形例所屬的測(cè)試裝置10的構(gòu)成。
圖5是實(shí)施例1的變形例所屬的比較器180以及搜索·比較部148的構(gòu)成。
圖6是實(shí)施例1的變形例所屬的測(cè)試裝置10中的測(cè)試動(dòng)作。
圖7是實(shí)施例2的測(cè)試裝置10的構(gòu)成圖。
圖8是實(shí)施例2所屬的搜索·比較部148的構(gòu)成。
圖9是藉由實(shí)施例2所屬的搜索·比較部148以顯示標(biāo)題圖樣列被檢出時(shí)的處理的時(shí)序圖。
圖10是實(shí)施例3的測(cè)試裝置10的構(gòu)成圖。
圖11是實(shí)施例3所屬的搜索·比較部148的構(gòu)成。
圖12是實(shí)施例3所屬的期待值圖樣列和輸出圖樣列比較時(shí)處理的時(shí)序圖。
圖13是實(shí)施例4的測(cè)試裝置10的構(gòu)成圖。
圖14是實(shí)施例4所屬的搜索·比較部148的構(gòu)成。
圖15是實(shí)施例4所屬的測(cè)試控制裝置195的構(gòu)成。
圖16是實(shí)施例4所屬的搜索視窗的一例。
圖17是實(shí)施例4所屬的比較視窗的一例。
10測(cè)試裝置100被測(cè)試裝置(DUT)102主記憶體 104命令記憶體106測(cè)試圖樣記憶體 108期待值圖樣記憶體110數(shù)位式捕捉(capture)記憶體 112中央圖樣控制部114圖樣表列(list)記憶體 116向量產(chǎn)生控制部
118既定圖樣記憶體120中央捕捉控制部122圖樣結(jié)果記憶體130通道方塊140通道圖樣產(chǎn)生部142順序圖樣產(chǎn)生部144格式化控制部 146順序圖樣產(chǎn)生部148搜索·比較部 150失效捕捉控制部152失效捕捉記憶體160時(shí)序產(chǎn)生部170驅(qū)動(dòng)器180比較器190測(cè)試控制裝置 192測(cè)試控制部194參數(shù)變更部195測(cè)試控制裝置196延遲時(shí)間取得部200a～b電壓比較器210a～b延遲元件 220a～b正反器(FF)230a～b搜索部240a～b對(duì)準(zhǔn)部250a～b比較部260，270開(kāi)關(guān)300標(biāo)題圖樣列305，310比較對(duì)象圖樣列320期待值圖樣列 330比較結(jié)果500a～b測(cè)試圖樣列510a～b既定圖樣列520a～b比較對(duì)象圖樣列530a～b期待值圖樣列600標(biāo)題圖樣儲(chǔ)存部610標(biāo)題圖樣檢出部620對(duì)準(zhǔn)部630期待值比較部640時(shí)序調(diào)整部650選擇器660錯(cuò)誤通知部700標(biāo)題圖樣檢出部710對(duì)準(zhǔn)部720期待值比較部730選擇寫(xiě)入部800標(biāo)題圖樣檢出部810期待值比較部 820標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器830比較有效范圍設(shè)定暫存器840錯(cuò)誤判斷通知部850選擇器900標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部910比較有效范圍設(shè)定部具體實(shí)施方式
以下將依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施形式來(lái)說(shuō)明本發(fā)明，但以下的實(shí)施形式不是用來(lái)限定各項(xiàng)申請(qǐng)專利范圍中所屬的發(fā)明。又，各實(shí)施形式中所說(shuō)明的特征的組合的全部不限于本發(fā)明的解決手段所必需者。
(實(shí)施例1)圖1是實(shí)施例1的測(cè)試裝置10的構(gòu)成圖。測(cè)試裝置10可對(duì)一種具備1個(gè)或多個(gè)端子的DUT(被測(cè)試裝置)100進(jìn)行測(cè)試且具有邊緣測(cè)試功能，其可對(duì)被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出信號(hào)的邊緣進(jìn)行測(cè)試。此測(cè)試裝置10具備主記憶體102、中央圖樣控制部112、多個(gè)通道方塊130以及測(cè)試控制裝置190。
主記憶體102儲(chǔ)存著DUT100的測(cè)試程式且記錄著該測(cè)試程式執(zhí)行后的“結(jié)果DUT100”所輸出的輸出圖樣。主記憶體102具備命令記憶體104、多個(gè)測(cè)試圖樣記憶體106、多個(gè)期待值圖樣記憶體108以及數(shù)位式捕捉記憶體110。
命令記憶體104儲(chǔ)存著該測(cè)試程式中所含有的各命令。多個(gè)測(cè)試圖樣記憶體106中的每一個(gè)都對(duì)應(yīng)于DUT100的各端子而設(shè)置，且對(duì)應(yīng)于各命令使執(zhí)行該命令時(shí)的命令周期中所用的測(cè)試圖樣列分別儲(chǔ)存在每個(gè)端子中。因此，此測(cè)試圖樣列在命令周期中含有一種對(duì)DUT100的端子應(yīng)依序輸出的多個(gè)測(cè)試圖樣。例如，測(cè)試裝置10在1命令的每一周期會(huì)產(chǎn)生32位元的信號(hào)而對(duì)DUT100輸出時(shí)，則測(cè)試圖樣記憶體106對(duì)應(yīng)于各命令以儲(chǔ)存1命令周期中所輸出的32位元的信號(hào)所對(duì)應(yīng)的32個(gè)測(cè)試圖樣所組成的測(cè)試圖樣列。
多個(gè)期待值圖樣記憶體108中的每一個(gè)都對(duì)應(yīng)于DUT100的各端子而設(shè)置，且對(duì)應(yīng)于各命令使執(zhí)行該命令時(shí)的命令周期中所用的期待值圖樣列分別儲(chǔ)存在每個(gè)端子中。因此，此期待值圖樣列在命令周期中含有應(yīng)與DUT100的端子依序輸出的多個(gè)輸出圖樣依序相比較的多個(gè)期待值圖樣。數(shù)位式捕捉記憶體110記錄著該測(cè)試程式執(zhí)行后的結(jié)果DUT100所輸出的輸出圖樣。
在上述的描述中，命令記憶體104，多個(gè)測(cè)試圖樣記憶體106，多個(gè)期待值圖樣記憶體108及/或數(shù)位式捕捉記憶體110亦可進(jìn)行設(shè)計(jì)以分割成構(gòu)成主記憶體102所用的各別的記憶體模組，亦可設(shè)計(jì)成同一記憶體模組內(nèi)的不同記憶體區(qū)域。
中央圖樣控制部112連接至主記憶體102及多個(gè)通道方塊130，以進(jìn)行DUT100的各端子所共通的處理。中央圖樣控制部112具有圖樣表列記憶體114、向量產(chǎn)生控制部116、中央捕捉控制部120以及圖樣結(jié)果記憶體122。
圖樣表列記憶體114就測(cè)試程式的主例行事件(routine)和次例行事件而言儲(chǔ)存著命令記憶體104中該例行事件的開(kāi)始/終了位址，測(cè)試圖樣記憶體106中的測(cè)試圖樣的開(kāi)始位址，期待值圖樣記憶體108中的期待值圖樣的開(kāi)始位址等等。向量產(chǎn)生控制部116在功能上用作順序圖樣產(chǎn)生部146且同時(shí)用作本發(fā)明中所屬的順序控制部，或用作本發(fā)明中的命令執(zhí)行部。然后，向量產(chǎn)生控制部116在每個(gè)命令周期中依序執(zhí)行DUT100的測(cè)試程式中所含有的命令。更具體而言，向量產(chǎn)生控制部116在每個(gè)例行事件中由圖樣表列記憶體114依序讀出由開(kāi)始位址開(kāi)始直至終了位址為止的各命令且依順序執(zhí)行。
中央捕捉控制部120由各通道方塊130接受DUT100的各端子每個(gè)的良否判定結(jié)果，以統(tǒng)計(jì)各例行事件中每個(gè)DUT100的良否判定結(jié)果。圖樣結(jié)果記憶體122儲(chǔ)存著各例行事件中每個(gè)DUT100的良否判定結(jié)果。
多個(gè)通道方塊130中的每一個(gè)都對(duì)應(yīng)于DUT100的各端子而設(shè)置。例如，通道方塊130對(duì)應(yīng)于DUT100的某一端子而設(shè)置，通道方塊130b對(duì)應(yīng)于DUT100的另一端子而設(shè)置。各別的通道方塊130a、b由于互相采用大略相同的構(gòu)成，則除了以下的不同點(diǎn)之外總稱為“通道方塊130”。各通道方塊130具有通道圖樣產(chǎn)生部140，時(shí)序產(chǎn)生部160，驅(qū)動(dòng)器170以及比較器180。即，例如，通道方塊130a具有通道圖樣產(chǎn)生部140a，時(shí)序產(chǎn)生部160a，驅(qū)動(dòng)器170a以及比較器180a。
通道圖樣產(chǎn)生部140產(chǎn)生該端子的測(cè)試用的測(cè)試圖樣列或期待值圖樣列，且進(jìn)行DUT100的輸出圖樣列和期待值圖樣列的比較。通道圖樣產(chǎn)生部140包含既定圖樣記憶體118、順序圖樣產(chǎn)生部142、格式化控制部144、順序圖樣產(chǎn)生部146、搜索·比較部148、失效捕捉控制部150、失效捕捉記憶體152。即，例如，通道圖樣產(chǎn)生部140a包含既定圖樣記憶體118a、順序圖樣產(chǎn)生部142a、格式化控制部144a、順序圖樣產(chǎn)生部146a、搜索·比較部148a、失效捕捉控制部150a、失效捕捉記憶體152a。
既定圖樣記憶體118對(duì)應(yīng)于既定圖樣列識(shí)別用的既定圖樣識(shí)別資訊以儲(chǔ)存著測(cè)試圖樣列及/或期待值圖樣列(以下總稱為“圖樣列”)中已預(yù)先設(shè)定的既定圖樣列。因此，測(cè)試圖樣記憶體106及/或期待值圖樣記憶體108就與既定圖樣列相同的圖樣列而言儲(chǔ)存著該既定圖樣列的既定圖樣識(shí)別資訊以取代該圖樣列本身。
順序圖樣產(chǎn)生部142對(duì)應(yīng)于須執(zhí)行的例行事件而由向量產(chǎn)生控制部116接收應(yīng)輸出的測(cè)試圖樣列的開(kāi)始位址。然后，順序圖樣產(chǎn)生部142對(duì)應(yīng)于各命令周期由該開(kāi)始位址開(kāi)始依序由測(cè)試圖樣記憶體106讀出該測(cè)試圖樣列，且依序輸出至格式化控制部144。此格式化控制部144在功能上用作驅(qū)動(dòng)器170且同時(shí)用作本發(fā)明的測(cè)試圖樣輸出部，且使測(cè)試圖樣列轉(zhuǎn)換成該驅(qū)動(dòng)器170控制用的格式。
順序圖樣產(chǎn)生部146在功能上用作向量產(chǎn)生控制部116且同時(shí)用作本發(fā)明的順序控制部。然后，順序圖樣產(chǎn)生部146對(duì)應(yīng)于須執(zhí)行的例行事件而由向量產(chǎn)生控制部116接收該期待值圖樣列的開(kāi)始位址。然后，順序圖樣產(chǎn)生部146對(duì)應(yīng)于各命令周期由該開(kāi)始位址開(kāi)始而由期待值圖樣記憶體108依序讀出該期待值圖樣，以依序輸出至該搜索·比較部148和失效捕捉控制部150。
搜索·比較部148藉由比較器180以輸入DUT100所輸出的輸出圖樣列且與期待值圖樣列進(jìn)行比較。因此，就由DUT100所輸出的時(shí)序不確定的輸出圖樣列而言，搜索·比較部148亦可在以由DUT100而來(lái)的特定的標(biāo)題圖樣列已被輸出作為條件下具有一種搜索功能，以開(kāi)始進(jìn)行一種與該期待值圖樣列的比較。此時(shí)，搜索·比較部148亦可在以“與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列的檢出開(kāi)始進(jìn)行時(shí)所需的檢出開(kāi)始命令已被執(zhí)行”作為條件下，開(kāi)始進(jìn)行標(biāo)題圖樣列的檢出。藉由搜索功能，則搜索·比較部148例如依據(jù)標(biāo)題圖樣列的檢出開(kāi)始至標(biāo)題圖樣列被檢出為止所需要的時(shí)間，以對(duì)輸出圖樣列與期待值圖樣列相比較時(shí)的時(shí)序進(jìn)行調(diào)整。
失效捕捉控制部150由搜索·比較部148接收DUT100的輸出圖樣列及期待值圖樣列的一致/不一致的資訊，以產(chǎn)生一與該端子有關(guān)的DUT100的良否判定結(jié)果。失效捕捉記憶體152是本發(fā)明所屬的比較結(jié)果記憶部的一例且儲(chǔ)存著失效資訊，其含有一種成為與搜索·比較部148所進(jìn)行的搜索處理的結(jié)果或期待值不一致的輸出圖樣的值等。
時(shí)序產(chǎn)生部160產(chǎn)生該驅(qū)動(dòng)器170在輸出該測(cè)試圖樣列內(nèi)的各測(cè)試圖樣時(shí)所需的時(shí)序且產(chǎn)生該比較器180在取入DUT100的輸出圖樣時(shí)所需的時(shí)序。驅(qū)動(dòng)器170在功能上用作該格式化控制部144且同時(shí)用作本發(fā)明中的測(cè)試圖樣輸出部，在由時(shí)序產(chǎn)生部160所指定的時(shí)序中，藉由通道圖樣產(chǎn)生部140內(nèi)的格式化控制部144使已輸出的各測(cè)試圖樣輸出至DUT100。比較器180在時(shí)序產(chǎn)生部160所指定的時(shí)序中取得由DUT100的端子所輸出的輸出圖樣，以供給至通道方塊130內(nèi)的搜索·比較部148和數(shù)位式捕捉記憶體110中。
又，通道圖樣產(chǎn)生部140亦可采用一種具備共通的順圖樣產(chǎn)生部的構(gòu)成，其具有上述的順序圖樣產(chǎn)生部142和順序圖樣產(chǎn)生部146的功能，以取代如上所示的各別地設(shè)有順序圖樣產(chǎn)生部142和順序圖樣產(chǎn)生部146的構(gòu)成。
測(cè)試控制裝置190具有一測(cè)試控制部192和一參數(shù)變更部194且可控制該測(cè)試裝置10。在邊緣測(cè)試中，測(cè)試控制部192控制該向量產(chǎn)生控制部116，以多次地進(jìn)行測(cè)試，使標(biāo)題圖樣和比較對(duì)象的輸出圖樣輸出至DUT100中。然后，該測(cè)試控制部192由失效捕捉記憶體152取得多次的測(cè)試結(jié)果，以輸出至該測(cè)試裝置10的使用者而成為DUT100的輸出信號(hào)的邊緣測(cè)定結(jié)果。在藉由測(cè)試控制部192所進(jìn)行的各測(cè)試中，參數(shù)變更部194使測(cè)試中的輸出信號(hào)的取入時(shí)序或門限值電壓等的參數(shù)被變更。
圖2是實(shí)施例1所屬的比較器180及搜索·比較部148的構(gòu)成。本實(shí)施例中，為了進(jìn)行DUT100的1個(gè)輸出端所對(duì)應(yīng)的輸出信號(hào)的邊緣測(cè)試，則在標(biāo)題圖樣的檢出中須使用一種具有一比較器180a和一搜索·比較部148a的第1通道方塊130a，在輸出圖樣和期待值圖樣的一致檢出時(shí)須使用一種具有一比較器180b和一搜索·比較部148b的第2通道方塊130b。
比較器180a包含電壓比較器200a，延遲元件210a和正反器220a。在由DUT100的輸出端所輸出的輸出圖樣列中所含有的各別的輸出圖樣中，電壓比較器200a對(duì)輸出信號(hào)的電壓和預(yù)定的第1門限值電壓VT1進(jìn)行比較。更具體而言，電壓比較器200a在輸出信號(hào)的電壓超過(guò)VT1時(shí)輸出邏輯值“1”且在未超過(guò)時(shí)輸出邏輯值“0”以作為該輸出圖樣的值。延遲元件210a使第1通道方塊130內(nèi)的時(shí)序產(chǎn)生部160a所指定的時(shí)序只延遲該參數(shù)變更部194所指定的延遲量，以產(chǎn)生該輸出信號(hào)的周期中已預(yù)定的第1選通時(shí)序的選通信號(hào)。正反器220a在第1選通時(shí)序中取入該電壓比較器200a的輸出信號(hào)。因此，在輸出圖樣列中所含有的各別的輸出圖樣中，正反器220a依據(jù)處于第1選通時(shí)序的輸出信號(hào)的電壓和第1門限值電壓的比較結(jié)果以取得該輸出圖樣的值。藉由上述的構(gòu)成，則比較器180a可取得由輸出端所輸出的第1輸出圖樣列。
比較器180b包含電壓比較器200b，延遲元件210b以及正反器220b。電壓比較器200b采用一種與電壓比較器200a大約相同的功能和構(gòu)成。電壓比較器200b連接至一與連接至電壓比較器200a的DUT100的輸出端相同的輸出端，在由該輸出端所輸出的輸出圖樣列中所含有的各別的輸出圖樣中，電壓比較器200b對(duì)該輸出信號(hào)的電壓和預(yù)定的第2門限值電壓VT2進(jìn)行比較。延遲元件210b采用一種與延遲元件210a大約相同的功能和構(gòu)成，以產(chǎn)生該輸出信號(hào)的周期中已預(yù)定的第2選通時(shí)序的選通信號(hào)。正反器220b采用一種與正反器220a大約相同的功能和構(gòu)成，且在第2選通時(shí)序中取入該電壓比較器200b的輸出信號(hào)。因此，在輸出圖樣列中所含有的各別的輸出圖樣中，正反器220b依據(jù)處于第2選通時(shí)序的輸出信號(hào)的電壓和第2門限值電壓的比較結(jié)果以取得該輸出圖樣的值。藉由上述的構(gòu)成，則比較器180b可取得由輸出端所輸出的第2輸出圖樣列。
搜索·比較部148a包含搜索部230a，對(duì)準(zhǔn)部240a以及比較部250a。搜索部230a檢出由比較器180a所取得的第1輸出圖樣列已與預(yù)定的圖樣列所在的標(biāo)題圖樣列相一致。因此，搜索部230a使用1個(gè)或多個(gè)標(biāo)題圖樣所構(gòu)成的圖樣列以作為標(biāo)題圖樣列，其可與由1個(gè)或多個(gè)輸出圖樣所構(gòu)成的第1輸出圖樣列相比較。對(duì)準(zhǔn)部240a以及比較部250a雖然采用一種分別與對(duì)準(zhǔn)部240b以及比較部250b相同的功能和構(gòu)成，但在邊緣測(cè)試中未使用。
搜索·比較部148b包含搜索部230b，對(duì)準(zhǔn)部240b，比較部250b，開(kāi)關(guān)260以及開(kāi)關(guān)270。搜索部230b雖然采用一種與搜索部230a相同的功能和構(gòu)成，但在邊緣測(cè)試中未使用。對(duì)準(zhǔn)部240b使正反器220b所輸出的第2輸出圖樣列可與一種由第2通道方塊130內(nèi)的順序圖樣產(chǎn)生部供給至比較部250b中的期待值圖樣列成為同步。更具體而言，對(duì)準(zhǔn)部240b使第2輸出圖樣列只延遲一種由連接至該對(duì)準(zhǔn)部240的搜索部230所指定的周期數(shù)，以使第2輸出圖樣列可與期待值圖樣列同步。在檢出第1輸出圖樣列和標(biāo)題圖樣列相一致時(shí)，比較部250b對(duì)該比較器180b所取得的第2輸出圖樣列以及由順序圖樣產(chǎn)生部146所供給的第2輸出圖樣列的期待值圖樣列進(jìn)行比較，且使比較結(jié)果輸出。
開(kāi)關(guān)260使搜索部230a和搜索部230b中的一方連接至對(duì)準(zhǔn)部240b。開(kāi)關(guān)270使搜索部230a和搜索部230b中的一方連接至比較部250b。因此，在獨(dú)立地使用該具有搜索·比較部148b的第2通道方塊130時(shí)，開(kāi)關(guān)260和開(kāi)關(guān)270分別連接該搜索部230b，對(duì)準(zhǔn)部240b以及比較部250b。另一方面，第1通道方塊130和第2通道方塊130成為一組以進(jìn)行邊緣測(cè)試時(shí)，則開(kāi)關(guān)260分別連接該搜索部230a，對(duì)準(zhǔn)部240b以及比較部250b。
圖3是實(shí)施例1所屬的測(cè)試裝置10中的測(cè)試動(dòng)作圖。
在可獲得Shmoo圖時(shí)的邊緣測(cè)試中，測(cè)試控制部192進(jìn)行多次測(cè)試，每次測(cè)試都使一與標(biāo)題圖樣列相同的輸出圖樣列和一與期待值圖樣列相同的輸出圖樣列輸出至DUT100中。更具體而言，測(cè)試控制部192藉由向量產(chǎn)生控制部116以重復(fù)地執(zhí)行該測(cè)試的測(cè)試程式。
參數(shù)變更部194在已進(jìn)行多次的各別的測(cè)試中依序使比較器180b中所設(shè)定的第2選通時(shí)序和第2門限值電壓變更。即，第1測(cè)試后在進(jìn)行第2測(cè)試時(shí)，參數(shù)變更部194在第2測(cè)試中使第2選通時(shí)序和第2門限值電壓中的至少一種參數(shù)變更成一種與第1測(cè)試不同的值。另一方面，參數(shù)變更部194在各測(cè)試中使比較器180a中設(shè)定用的第1選通時(shí)序和第1門限值電壓維持在DUT100的輸出信號(hào)可正確地取入時(shí)之值。即，參數(shù)變更部194將第1選通時(shí)序和第1門限值電壓設(shè)定在一種由DUT100的方法所決定的理想值。
在各測(cè)試中，向量產(chǎn)生控制部116，順序圖樣產(chǎn)生部142，格式化控制部144以及驅(qū)動(dòng)器170對(duì)DUT100輸出一種測(cè)試圖樣列，其使一種與標(biāo)題圖樣列相同的輸出圖樣列和一種與期待值圖樣列相同的輸出圖樣列被輸出。DUT100接受該測(cè)試圖樣列以輸出一種標(biāo)題圖樣列300和一種應(yīng)與期待值圖樣列相比較的比較對(duì)象圖樣列305。
比較器180a使用一已設(shè)定成理想值的第1選通時(shí)序和第1門限值電壓，依序取得DUT100所輸出的輸出圖樣D0、D1、…D10且輸出成第1輸出圖樣的系列。又，比較器180b使用第2選通時(shí)序和第2門限值電壓，依序取得DUT100所輸出的輸出圖樣D0、D1、…D10且輸出成第2輸出圖樣的系列。因此，第1選通時(shí)序，第2選通時(shí)序和第1門限值電壓，第2門限值電壓此4種參數(shù)中至少一種是以邊緣測(cè)定作為目的而被設(shè)定成互相不同的值。因此，藉由第2選通時(shí)序和第2門限值電壓的設(shè)定，則比較器180b可能會(huì)錯(cuò)誤地取得DUT100所輸出的輸出圖樣。于是，為了使錯(cuò)誤發(fā)生時(shí)所得到的情況顯示出來(lái)，則比較器180b所取得的輸出圖樣須顯示成D0’、D1’、…D10’。
本例中，搜索部230a中須設(shè)定標(biāo)題圖樣列D1、D2、D3。
因此，若比較器180a輸出第1輸出圖樣列D1、D2、D3時(shí)，則搜索部230a檢出“第1輸出圖樣列已與標(biāo)題圖樣列相一致”。然后，對(duì)準(zhǔn)部240b使比較器180b所輸出的第2輸出圖樣的系列成為與順序圖樣產(chǎn)生部146所供給的期待值圖樣列320同步。
其次，比較部250b對(duì)該比較器180b對(duì)應(yīng)于比較對(duì)象圖樣列305而取得的第2輸出資料列D5、D6、D7以及該第2輸出資料列的期待值圖樣列320所在的ED5、ED6、ED7進(jìn)行比較，以輸出一種比較結(jié)果330，其包含各圖樣中每個(gè)圖樣的一致(TTrue)或不一致(FFalse)。因此，由取得標(biāo)題圖樣列300所對(duì)應(yīng)的第1輸出圖樣列開(kāi)始直至取得該比較對(duì)象圖樣列305所對(duì)應(yīng)的第2輸出圖樣列為止的偏移時(shí)間是由測(cè)試程序所預(yù)先指定。然后，在第1輸出圖樣列與標(biāo)題圖樣列300一致時(shí)，比較部250b使由取得第1輸出圖樣列開(kāi)始而經(jīng)一預(yù)定的偏移時(shí)間之后所取得的第2輸出圖樣列所在的比較對(duì)象圖樣列310與期待值圖樣列320的比較結(jié)果被輸出。
由比較部250b所獲致的比較結(jié)果經(jīng)由第2通道方塊130內(nèi)的失效捕捉控制部150b以供給至第2通道方塊130內(nèi)的失效捕捉記憶體152中。然后，失效捕捉記憶體152對(duì)應(yīng)于第2選通時(shí)序和第2門限值電壓以記憶第2輸出圖樣列和期待值圖樣列的比較結(jié)果。
使第2選通時(shí)序及/或第2門限值電壓改變，以多次進(jìn)行以上所示的測(cè)試，其結(jié)果是第2選通時(shí)序和第2門限值電壓的各設(shè)定值所對(duì)應(yīng)的比較結(jié)果會(huì)儲(chǔ)存在失效捕捉記憶體152b中。測(cè)試控制部192在多次測(cè)試的每一測(cè)試中由失效捕捉記憶體152b取得該比較部250b所輸出的比較結(jié)果，且依據(jù)此比較結(jié)果對(duì)該測(cè)試裝置10的使用者輸出第2輸出圖樣列與期待值圖樣列成為一致時(shí)的第2選通時(shí)序和第2門限值電壓的范圍。此時(shí)，測(cè)試控制部192亦可對(duì)使用者顯示各別與第2選通時(shí)序和第2門限值電壓有關(guān)的通過(guò)/失敗已繪出的Shmoo圖。
依據(jù)以上所示的測(cè)試裝置10，可一方面使用適當(dāng)?shù)倪x通時(shí)序和門限值電壓以檢出標(biāo)題圖樣，且另一方面使選通時(shí)序和門限值電壓改變，以測(cè)試是否正確地取得該輸出信號(hào)。
又，在上述的描述中，標(biāo)題圖樣列300，比較對(duì)象圖樣列305，比較對(duì)象圖樣列310以及期待值圖樣列320亦可包含多種圖樣，但亦可只由單一的圖樣所構(gòu)成而不是由多種圖樣所構(gòu)成。
又，應(yīng)與標(biāo)題圖樣列300一致的第1輸出圖樣列以及應(yīng)與比較結(jié)果330比較的第2輸出圖樣列所在的比較對(duì)象圖樣列305亦可以是由DUT100的輸出端以相同的時(shí)序所輸出的同一圖樣列。此時(shí)，由搜索部230a所進(jìn)行的標(biāo)題圖樣列的檢出和由比較部250b所進(jìn)行的期待值圖樣列的比較是以并行方式而進(jìn)行。然后，比較部250b使標(biāo)題圖樣列被檢出的時(shí)點(diǎn)時(shí)的比較結(jié)果儲(chǔ)存至失效捕捉記憶體152b中。
圖4是實(shí)施例1的變形例所屬的測(cè)試裝置10的構(gòu)成。圖4中符號(hào)與圖1相同的構(gòu)件由于所具備的功能或構(gòu)成與圖1大約相同，則以下除了不同點(diǎn)之外都不再說(shuō)明。又，圖1中所示的通道方塊130a、b、…在本例中由于互相具有大約相同的功能，則這些通道方塊總稱為通道方塊130。
本變形例中所屬的測(cè)試裝置10使用1個(gè)通道方塊130，以進(jìn)行DUT100的1個(gè)輸出端所對(duì)應(yīng)的輸出信號(hào)的邊緣測(cè)試。為了實(shí)現(xiàn)此種邊緣測(cè)試，則搜索·比較部148由順序圖樣產(chǎn)生部142接收一種已使測(cè)試程式為基準(zhǔn)的測(cè)試圖樣的輸出開(kāi)始的時(shí)序，且預(yù)先取得一種由該測(cè)試圖樣的輸出開(kāi)始直至標(biāo)題圖樣列被取得為止時(shí)的延遲時(shí)間。然后，在邊緣測(cè)試時(shí)，搜索·比較部148使用該延遲時(shí)間，以對(duì)該比較對(duì)象圖樣列被輸出時(shí)的時(shí)序作特別限定。
圖5是實(shí)施例1的變形例所屬的比較器180以及搜索·比較部148的構(gòu)成。圖5中，符號(hào)與圖2相同的構(gòu)件由于所具有的功能和構(gòu)成大致上與圖2相同，則以下除了不同點(diǎn)之外不再另外說(shuō)明。
比較器180采用一種與圖2中所示的比較器180a/b相同的功能和構(gòu)成。搜索·比較部148包含搜索部230，對(duì)準(zhǔn)部240，比較部250以及延遲時(shí)間取得部196。搜索部230，對(duì)準(zhǔn)部240和比較部250所采用的功能和構(gòu)成分別與圖2中所示的搜索部230a/b，對(duì)準(zhǔn)部240a/b以及比較部250a/b相同。
延遲時(shí)間取得部196為了測(cè)定上述的延遲時(shí)間以進(jìn)行該測(cè)試程式時(shí)，須由順序圖樣產(chǎn)生部142接收一種在意義上是“已使測(cè)試程式為基準(zhǔn)的測(cè)試圖樣的輸出開(kāi)始”的測(cè)試圖樣輸出開(kāi)始通知。又，延遲時(shí)間取得部196由搜索部230接收一種在意義上是“已檢出該比較器180所取得的輸出圖樣列是與標(biāo)題圖樣列相一致”的標(biāo)題圖樣檢出通知。然后，依據(jù)該測(cè)試圖樣輸出開(kāi)始通知已被接收后的時(shí)序以及標(biāo)題圖樣檢出通知已被接收后的時(shí)序，延遲時(shí)間取得部196在該測(cè)試圖樣的輸出開(kāi)始之后取得一種使與標(biāo)題圖樣列一致時(shí)所用的輸出圖樣列被檢出為止時(shí)的延遲時(shí)間且予以儲(chǔ)存著。
又，為了進(jìn)行邊緣測(cè)試，則在延遲時(shí)間取得部196中該測(cè)試圖樣的輸出開(kāi)始時(shí)，須由順序圖樣產(chǎn)生部142再度接收一種在意義上是“測(cè)試圖樣的輸出已開(kāi)始”的測(cè)試圖樣輸出開(kāi)始通知。然后，延遲時(shí)間取得部196依據(jù)該測(cè)試圖樣輸出開(kāi)始通知已被接收后的時(shí)序以及該延遲時(shí)間，以對(duì)該比較對(duì)象圖樣列被輸出時(shí)的時(shí)序作特別限定，且在比較部250中對(duì)“該比較對(duì)象圖樣列和期待值圖樣列的比較”進(jìn)行指示。
圖6是實(shí)施例1的變形例所屬的測(cè)試裝置10中的測(cè)試動(dòng)作。
首先，為了算出上述的延遲時(shí)間，測(cè)試裝置10依據(jù)該測(cè)試控制部192而來(lái)的指示以執(zhí)行一種在邊緣測(cè)試中所使用的測(cè)試程式。此時(shí)，參數(shù)變更部194使可適當(dāng)?shù)厝〉肈UT100的輸出信號(hào)時(shí)的選通時(shí)序和門限值電壓設(shè)定于比較器180中。
若藉由向量產(chǎn)生控制部116和順序圖樣產(chǎn)生部142來(lái)執(zhí)行上述的測(cè)試程式，則格式化控制部144和驅(qū)動(dòng)器170使由DUT100的輸出端輸出既定圖樣列510a時(shí)所用的測(cè)試圖樣列500a輸出至DUT100。延遲時(shí)間取得部196藉由測(cè)試圖樣輸出開(kāi)始通知以便由順序圖樣產(chǎn)生部142接收一種已使該測(cè)試圖樣列500a的輸出開(kāi)始的時(shí)序。搜索部230若檢出該比較器180所取得的輸出圖樣列和既定圖樣列510a一致時(shí)，則藉由標(biāo)題圖樣檢出通知來(lái)通知該延遲時(shí)間取得部196。此延遲時(shí)間取得部196由測(cè)試圖樣列500a的輸出開(kāi)始后的時(shí)序和既定圖樣列510a已檢出后的時(shí)序中取得該測(cè)試圖樣列500a的輸出開(kāi)始后直至一種與既定圖樣列510a相一致的輸出圖樣列被檢出為止時(shí)的延遲時(shí)間。
在延遲時(shí)間TD已取得的情況下，參數(shù)變更部194使選通時(shí)序和門限值電壓此二種參數(shù)中的至少一種參數(shù)被變更。即，例如，在測(cè)試圖樣列500a輸出用的測(cè)試程式的執(zhí)行已終了之后，參數(shù)變更部194亦可將上述參數(shù)變更。
其次，在參數(shù)變更部194已使參數(shù)變更后的狀態(tài)中，測(cè)試控制部192對(duì)該向量產(chǎn)生控制部116指示一種測(cè)試程式以便再度執(zhí)行。因此，此測(cè)試控制部192藉由格式化控制部144和驅(qū)動(dòng)器170以再度進(jìn)行該測(cè)試圖樣列的輸出。延遲時(shí)間取得部196由順序圖樣產(chǎn)生部142再接收該測(cè)試圖樣輸出開(kāi)始通知以開(kāi)始計(jì)時(shí)，且等待由DUT100以取得該比較對(duì)象圖樣列520b。更具體而言，延遲時(shí)間取得部196由于該測(cè)試圖樣列500b再度開(kāi)始輸出而需由已經(jīng)過(guò)該延遲時(shí)間TD之后的時(shí)點(diǎn)開(kāi)始，以等待一預(yù)先指定的偏移時(shí)間TO后的時(shí)序的到來(lái)。此種偏移時(shí)間TO是一種由既定圖樣列510a或510b被輸出開(kāi)始直至比較對(duì)象圖樣列520a或520b被輸出為止之間的時(shí)間。然后，延遲時(shí)間取得部196由于該測(cè)試圖樣列500b再度開(kāi)始輸出而需對(duì)“由已經(jīng)過(guò)該延遲時(shí)間TD之后的時(shí)點(diǎn)開(kāi)始直至該偏移時(shí)間TO之后該比較對(duì)象圖樣列520b和期待值圖樣列530b的比較”進(jìn)行指示。比較部250接收此種指示且在該測(cè)試圖樣列500b再度開(kāi)始輸出而由已經(jīng)過(guò)該延遲時(shí)間TD之后的時(shí)點(diǎn)開(kāi)始直至該偏移時(shí)間TO之后使比較器180所取得的比較對(duì)象圖樣列520b和比較對(duì)象圖樣列520b的期待值圖樣列530b的比較結(jié)果被輸出。
依據(jù)本變形例的測(cè)試裝置10，首先，使用適當(dāng)?shù)倪x通時(shí)序和門限值電壓，以計(jì)測(cè)該測(cè)試圖樣列500a開(kāi)始輸出時(shí)至取得該既定圖樣列510a為止時(shí)的延遲時(shí)間TD。因此，邊緣測(cè)試中即使不能檢出該既定圖樣列510b，則依據(jù)已計(jì)測(cè)的延遲時(shí)間TD和已預(yù)定的偏移時(shí)間TO仍可對(duì)取得該比較對(duì)象圖樣列520b時(shí)的時(shí)序作特別限定。
(實(shí)施例2)圖7是實(shí)施例2之測(cè)試裝置10的構(gòu)成圖。本例中的測(cè)試裝置10亦可未具備圖1等所示的測(cè)試裝置10中的既定圖樣記憶體118。就其它的構(gòu)成而言，具有與圖1相同的符號(hào)的構(gòu)件由于具備一種與圖1大略相同的功能或構(gòu)成，因此以下除了不同點(diǎn)之外其它的說(shuō)明將省略。又，圖1中所示的通道方塊130a、b、…在本例中由于互相具有大略相同的功能，則這些方塊總稱為通道方塊130。
圖8是實(shí)施例2所屬的搜索·比較部148的構(gòu)成。搜索·比較部148具有標(biāo)題圖樣儲(chǔ)存部600，標(biāo)題圖樣檢出部610，對(duì)準(zhǔn)部620，期待值比較部630，時(shí)序調(diào)整部640，選擇器650以及錯(cuò)誤通知部660。標(biāo)題圖樣儲(chǔ)存部600儲(chǔ)存著多個(gè)標(biāo)題圖樣列。標(biāo)題圖樣檢出部610依據(jù)由向量產(chǎn)生控制部116所接收的信號(hào)以判斷指示“與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令是否已執(zhí)行。因此，檢出開(kāi)始命令含有一種“由標(biāo)題圖樣儲(chǔ)存部600選擇該檢出對(duì)象的標(biāo)題圖樣列”時(shí)所用的指示。
在該檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)，標(biāo)題圖樣檢出部610依據(jù)該檢出開(kāi)始命令而由標(biāo)題圖樣儲(chǔ)存部600選擇該檢出對(duì)象的標(biāo)題圖樣。然后，就依據(jù)該檢出開(kāi)始命令所選擇的標(biāo)題圖樣列而言，標(biāo)題圖樣檢出部610檢出與該標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列是否已由被測(cè)試裝置100輸出。具體而言，標(biāo)題圖樣檢出部610由比較器180的輸出信號(hào)中檢出一種與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列。
在與該標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列已被檢出時(shí)，該時(shí)序調(diào)整部640依據(jù)標(biāo)題圖樣列的檢出開(kāi)始時(shí)至標(biāo)題圖樣列已被檢出為止所經(jīng)過(guò)的時(shí)間，使輸出圖樣列的輸出時(shí)序調(diào)節(jié)用的參數(shù)設(shè)定在對(duì)準(zhǔn)部620中。例如，時(shí)序調(diào)整部640亦可使輸出時(shí)序列延遲用的延遲量設(shè)定在對(duì)準(zhǔn)部620中。藉由適當(dāng)?shù)卦O(shè)定該延遲量，則可使輸出圖樣列和期待值圖樣列同步。
對(duì)準(zhǔn)部620由比較器180輸入該被測(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣列。然后，對(duì)準(zhǔn)部620使已輸入的輸出圖樣列只延遲一種由時(shí)序調(diào)整部640所設(shè)定的延遲量，且然后發(fā)送至期待值比較部630和選擇器650中。又，在標(biāo)題圖樣列未檢出時(shí)，對(duì)準(zhǔn)部620亦可使輸出圖樣列未延遲而使其輸出保持原狀。
更具體而言，對(duì)準(zhǔn)部620具有縱向連接的多個(gè)正反器以及選擇器，其可選取多個(gè)正反器的任一個(gè)的輸出且將其輸出。然后，初段的正反器依順序輸入該輸出圖樣列。選擇器依據(jù)時(shí)序調(diào)整部640所設(shè)定的延遲量來(lái)選擇任一正反器的輸出且將其輸出。因此，對(duì)準(zhǔn)部620可使輸出圖樣所通過(guò)的正反器的數(shù)目改變，以使輸出圖樣列和期待值圖樣列的時(shí)序相一致。
在標(biāo)題圖樣列已檢出時(shí)，期待值比較部630對(duì)由該對(duì)準(zhǔn)部620所輸入的輸出圖樣列和由順序圖樣產(chǎn)生部146所輸入的期待值圖樣列進(jìn)行比較，且將該比較結(jié)果依序發(fā)送至選擇器650。在標(biāo)題圖樣列已檢出時(shí)，此選擇器650輸入該期待值比較部630所獲致的比較結(jié)果且發(fā)送至失效捕捉控制部150。另一方面，在標(biāo)題圖樣列未檢出時(shí)，此選擇器650使由對(duì)準(zhǔn)部620所輸入的輸出圖樣列發(fā)送至失效捕捉控制部150。
由標(biāo)題圖樣列的檢出開(kāi)始一預(yù)定的期間內(nèi)，若與該標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，則錯(cuò)誤通知部660將“標(biāo)題圖樣列的檢出已失敗”通知該測(cè)試裝置10的使用者。因此，使用者可適當(dāng)?shù)刂馈皹?biāo)題圖樣列不能檢出”的錯(cuò)誤已發(fā)生，且同時(shí)可容易地藉由調(diào)查該失效捕捉記憶體152中所儲(chǔ)存的至錯(cuò)誤發(fā)生為止時(shí)的輸出圖樣列以追究該錯(cuò)誤的發(fā)生原因。
圖9是實(shí)施例2所屬的期待值圖樣列和輸出圖樣列相比較時(shí)的處理的時(shí)序圖。向量產(chǎn)生控制部116藉由具有命令執(zhí)行步驟(其用來(lái)執(zhí)行命令)和比較步驟(其對(duì)輸出圖樣和期待值圖樣進(jìn)行比較)的多個(gè)步驟所構(gòu)成的命令執(zhí)行管線來(lái)執(zhí)行各別的命令。更具體而言，在命令執(zhí)行步驟中，向量產(chǎn)生控制部116在每個(gè)命令周期中依序執(zhí)行多個(gè)命令，包含PKTST命令，其指示“標(biāo)題圖樣列的檢出已開(kāi)始”；以及PKTEND命令，其指示“該標(biāo)題圖樣列的檢出已終了”。此處，PKTST命令是本發(fā)明的檢出開(kāi)始命令的一例，PKTEND命令是本發(fā)明的檢出終了命令的一例。
就多個(gè)命令的各命令而言，順序圖樣產(chǎn)生部146由期待值圖樣記憶體108中依序讀出該命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣。例如，順序圖樣產(chǎn)生部146讀出PKTST命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣所具有的ED1。又，順序圖樣產(chǎn)生部146讀出PKTST命令的下一NOP命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣所具有的ED2。此處，由于比較步驟是在命令執(zhí)行步驟之后才執(zhí)行，則比較步驟中期待值圖樣列被輸入時(shí)的時(shí)序較命令執(zhí)行步驟中所對(duì)應(yīng)的命令被執(zhí)行時(shí)的時(shí)序更加延后。
在比較步驟中，比較器180取得一種由DUT100的輸出端所輸出的輸出時(shí)序，以供給至搜索·比較部148。例如，比較器180依序取得輸出圖樣列D1、D2、D3、…Dn、Dn+1以及Dn+2，以供給至搜索·比較部148。對(duì)準(zhǔn)部620使該輸出圖樣列只延遲該時(shí)序調(diào)整部640所設(shè)定的延遲量，且使該輸出圖樣輸出至期待值比較部630。
更具體而言，在藉由對(duì)準(zhǔn)部620中設(shè)定適當(dāng)?shù)难舆t量以使比較步驟中期待值圖樣列ED1、ED2以及ED3被輸入時(shí)的時(shí)序中，時(shí)序調(diào)整部640在比較步驟中對(duì)該與ED1、ED2以及ED3進(jìn)行比較的輸出圖樣列D1、D2、D3的輸入進(jìn)行調(diào)整。同樣，在比較步驟中期待值圖樣列EDn、EDn+1以及EDn+2被輸入時(shí)的時(shí)序中，時(shí)序調(diào)整部640在比較步驟中使應(yīng)與EDn、EDn+1以及EDn+2相比較的輸出圖樣列Dn、Dn+1以及Dn+2被輸入。因此，時(shí)序調(diào)整部640使各別的期待值圖樣和應(yīng)與該期待值圖樣相比較的輸出圖樣成為同步，且可在同一周期中輸入至期待值比較部630中。
因此，依據(jù)本實(shí)施例中的測(cè)試裝置10，即使由被測(cè)試裝置100而來(lái)的輸出圖樣的輸出開(kāi)始后的時(shí)序是不確定之時(shí)，仍可使期待值圖樣和輸出圖樣適當(dāng)?shù)赝健?br> 在向量產(chǎn)生控制部116執(zhí)行PKTEND命令時(shí)，時(shí)序調(diào)整部640藉由期待值比較部630來(lái)進(jìn)行一種使“輸出圖樣不會(huì)延遲”的設(shè)定。因此，期待值比較部630使已輸入的輸出圖樣列未被延遲的原來(lái)形式輸出至期待值比較部630中。更具體而言，PKTEND命令執(zhí)行之后，順序圖樣產(chǎn)生部146讀出期待值圖樣列EDm、EDm+1以及EDm+2。此處，由于比較步驟是在該命令執(zhí)行步驟之后才執(zhí)行，則比較步驟中期待值圖樣列被輸入時(shí)的時(shí)序較命令執(zhí)行步驟中相對(duì)應(yīng)的命令被執(zhí)行時(shí)的時(shí)序更加延后。
在比較步驟中，比較器180依序取得此輸出圖樣列Dm、Dm+1以及Dm+2以供給至搜索·比較部148。對(duì)準(zhǔn)部620使該輸出圖樣列未延遲而輸出至期待值比較部630。結(jié)果，期待值比較部630對(duì)該輸出圖樣Dm+1和期待值圖樣EDm進(jìn)行比較，且將該比較結(jié)果Rm寫(xiě)入至失效記憶體中。
如上所述，PKTEND命令已執(zhí)行時(shí)，時(shí)序調(diào)整部640使對(duì)準(zhǔn)部620中已設(shè)定的延遲量返回到標(biāo)題圖樣檢出前的狀態(tài)。結(jié)果，時(shí)序調(diào)整部640可使某一命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣和該命令執(zhí)行時(shí)由被測(cè)試裝置100所取得的輸出圖樣在同一周期中輸入至期待值比較部630中。因此，只能對(duì)該被測(cè)試裝置100的測(cè)試的一部分來(lái)控制“是否使該期待值圖樣和輸出圖樣成為同步”。
(實(shí)施例3)圖10是實(shí)施例3的測(cè)試裝置10的構(gòu)成圖。本例中的測(cè)試裝置10亦可未具備圖1等所示的測(cè)試裝置10中的既定圖樣記憶體118。就其它的構(gòu)成而言，具有與圖1相同的符號(hào)的構(gòu)件由于所具備的功能或構(gòu)成大致與圖1相同，因此以下除了不同點(diǎn)之外都不再說(shuō)明。又，圖1中所示的通道方塊130a、b、…在本例中由于互相之間具有大致相同的功能，則這些通道方塊總稱為通道方塊130。
圖11是實(shí)施例3所屬的搜索·比較部148的構(gòu)成。搜索·比較部148具有標(biāo)題圖樣檢出部700，對(duì)準(zhǔn)部710，期待值比較部720以及選擇寫(xiě)入部730。標(biāo)題圖樣檢出部700由比較器180輸入一種由被測(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣列。然后，標(biāo)題圖樣檢出部700依據(jù)由向量產(chǎn)生控制部116所接收的信號(hào)以判斷一種指示“與標(biāo)題圖樣列成為一致的輸出圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令是否已執(zhí)行。若此檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行，則標(biāo)題圖樣檢出部700檢出“與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列成為一致的輸出圖樣列是否已由被測(cè)試裝置100輸出”。
在標(biāo)題圖樣列已檢出時(shí)，標(biāo)題圖樣檢出部700依據(jù)一種由標(biāo)題圖樣列的檢出開(kāi)始直至標(biāo)題圖樣列已被檢出為止時(shí)所經(jīng)過(guò)的時(shí)間，使輸出圖樣列的輸出時(shí)序在調(diào)節(jié)時(shí)所用的參數(shù)設(shè)定在對(duì)準(zhǔn)部710中。例如，標(biāo)題圖樣檢出部700亦可使輸出圖樣列延遲用的延遲量設(shè)定在對(duì)準(zhǔn)部710中。藉由適當(dāng)?shù)卦O(shè)定此延遲量，則可使輸出圖樣列和期待值圖樣列成為同步。
對(duì)準(zhǔn)部710由比較器180輸入一種由該被測(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣列。然后，對(duì)準(zhǔn)部710使已輸入的輸出圖樣列只延遲一種由該標(biāo)題圖樣檢出部700所設(shè)定的延遲量，以發(fā)送至期待值比較部720和選擇寫(xiě)入部730中。在一種與該標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，期待值比較部720繼續(xù)在該與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列中對(duì)一種由被測(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣列以及該期待值圖樣列進(jìn)行比較。此處，所謂與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列中存續(xù)的輸出圖樣列包括與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列中只連續(xù)地輸出的輸出圖樣，以及與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列輸出之后其它的圖樣被輸出后被輸出的輸出圖樣。
在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，選擇寫(xiě)入部730使一種由期待值比較部720所輸入的比較結(jié)果發(fā)送至失效捕捉控制部150。因此，在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，選擇寫(xiě)入部730可使期待值比較部720所獲致的比較結(jié)果儲(chǔ)存在失效捕捉記憶體152中。
另一方面，在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，選擇寫(xiě)入部730使對(duì)準(zhǔn)部710所輸入的輸出圖樣發(fā)送至失效捕捉控制部150中。因此，在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，選擇寫(xiě)入部730可使被測(cè)試裝置100的輸出圖樣列儲(chǔ)存在失效捕捉記憶體152中。
圖12是藉由實(shí)施例3所屬的搜索·比較部148使標(biāo)題圖樣列被檢出時(shí)的處理的時(shí)序圖。向量產(chǎn)生控制部116藉由一種包含命令執(zhí)行步驟和比較步驟的多個(gè)步驟的管線(pipeline)來(lái)執(zhí)行多個(gè)命令的各個(gè)命令。更具體而言，在命令執(zhí)行步驟中，向量產(chǎn)生控制部116在每個(gè)命令周期中依序執(zhí)行多個(gè)命令，其包含一種指示“標(biāo)題圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令。
例如，向量產(chǎn)生控制部116依序執(zhí)行上述的檢出開(kāi)始命令，命令2以及命令3，最后執(zhí)行該檢出終了命令。
然后，就多個(gè)命令的各個(gè)命令而言，順序圖樣產(chǎn)生部146由期待值圖樣記憶體108依序讀出該命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣。例如，順序圖樣產(chǎn)生部146依序讀出該檢出開(kāi)始命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣1，命令2所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣2以及命令3所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣3。此處，由于比較步驟是在命令執(zhí)行步驟之后執(zhí)行，則比較步驟中期待值圖樣列被參照時(shí)的時(shí)序較命令執(zhí)行步驟中所對(duì)應(yīng)的命令被執(zhí)行時(shí)的時(shí)序更為延后。
在比較步驟中，比較器180取得一種由DUT100的端子所輸出的輸出圖樣，以供給至搜索·比較部148。例如，搜索·比較部148取得輸出圖樣1，途中一部分被省略，然后依序取得標(biāo)題圖樣列，輸出圖樣N以及輸出圖樣N+1。
由檢出開(kāi)始命令開(kāi)始執(zhí)行直至標(biāo)題圖樣列被檢出為止的期間中，對(duì)準(zhǔn)部710由于未接收一種使輸出圖樣列延遲用的延遲量的設(shè)定，于是使已取得的輸出圖樣列未被延遲而輸出至選擇寫(xiě)入部730中。選擇寫(xiě)入部730接收此輸出圖樣列且在失效捕捉控制部150中作出指示，然后使輸出圖樣列寫(xiě)入至失效捕捉記憶體152中。因此，在檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)，選擇寫(xiě)入部730開(kāi)始進(jìn)行一種輸出圖樣寫(xiě)入處理，以依序?qū)⒃摫粶y(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣寫(xiě)入至失效捕捉記憶體152中。
此處，在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，則在由檢出開(kāi)始命令被執(zhí)行時(shí)直至經(jīng)過(guò)一已預(yù)定的命令周期數(shù)為止時(shí)該選擇寫(xiě)入部730只使被測(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣列儲(chǔ)存在失效捕捉記憶體152中。即，選擇寫(xiě)入部730使經(jīng)過(guò)該命令周期數(shù)之后所輸出的輸出圖樣列未儲(chǔ)存在失效捕捉記憶體152中。因此，只有對(duì)標(biāo)題圖樣列未被檢出的原因追究是有效的圖樣才可有效地保存著。但在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)亦可采用其它方式，此時(shí)，選擇寫(xiě)入部730亦可使檢出開(kāi)始命令被執(zhí)行直至檢出終了命令被執(zhí)行為止的期間中所輸出的全部的輸出圖樣列繼續(xù)儲(chǔ)存在失效捕捉記憶體152中。
另一方面，在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，標(biāo)題圖樣檢出部700應(yīng)使期待值圖樣和輸出圖樣的讀出的時(shí)序成為一致，且將所定的延遲量設(shè)定在對(duì)準(zhǔn)部710中。結(jié)果，對(duì)準(zhǔn)部710繼續(xù)在標(biāo)題圖樣列中使由被測(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣列被延遲而成為與期待值圖樣列的輸出的時(shí)序相一致。
期待值比較部720接收此輸出圖樣列且繼續(xù)在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列中對(duì)由被測(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣列以及期待值圖樣列進(jìn)行比較。此時(shí)，該選擇寫(xiě)入部730在失效捕捉控制部150中作出指示，使期待值比較部720所獲致的比較結(jié)果儲(chǔ)存在失效捕捉記憶體152中。因此，在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，選擇寫(xiě)入部730停止該輸出圖樣的寫(xiě)入處理，以開(kāi)始進(jìn)行一種處理，使期待值比較部720所獲致的比較結(jié)果依序儲(chǔ)存在失效捕捉記憶體152中。
又，即使在標(biāo)題圖樣列被檢出時(shí)，失效捕捉記憶體152亦可使檢出以前所輸出的輸出圖樣列未消去而繼續(xù)保持著，且亦可藉由該比較結(jié)果來(lái)寫(xiě)入該檢出以前所輸出的輸出圖樣列。
以上，依據(jù)圖12，該測(cè)試裝置10在該標(biāo)題圖樣列被檢出為止時(shí)的期間中使輸出圖樣列寫(xiě)入至失效捕捉記憶體152中，在標(biāo)題圖樣列被檢出時(shí)，該輸出圖樣列和期待值圖樣列的比較結(jié)果寫(xiě)入至失效捕捉記憶體152中。因此，在標(biāo)題圖樣列未檢出時(shí)可容易地解析其原因。又，在標(biāo)題圖樣列被檢出時(shí)，可有效地活用該失效捕捉記憶體152的記憶容量。
(實(shí)施例4)圖13是實(shí)施例4的測(cè)試裝置10的構(gòu)成圖。本例中的測(cè)試裝置10具備一種測(cè)試控制裝置195以取代圖1等所示的測(cè)試裝置10中的測(cè)試控制裝置190。又，測(cè)試裝置10亦可不具備一種既定圖樣記憶體118。就其它構(gòu)成而言，具有與圖1同一符號(hào)的構(gòu)件由于所具備的功能和構(gòu)成大約與圖1者相同，因此以下除了不同點(diǎn)之外不再作說(shuō)明。又，圖1中所示的通道方塊130a、b、…在本例中由于互相之間具有大約相同的功能，這些通道方塊于是總稱為通道方塊130。
圖14是實(shí)施例4的搜索·比較部148的構(gòu)成圖。搜索·比較部148具有標(biāo)題圖樣檢出部800，期待值比較部810，標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器820，比較有效范圍設(shè)定暫存器830，錯(cuò)誤判斷通知部840以及選擇器850。在由向量產(chǎn)生控制部116所執(zhí)行的命令已設(shè)定在標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器820中且在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列的檢出成為有效時(shí)的有效范圍的情況下，該標(biāo)題圖樣檢出部800判斷該檢出開(kāi)始命令是否已執(zhí)行。然后，在“檢出開(kāi)始命令”已執(zhí)行時(shí)，標(biāo)題圖樣檢出部800由比較器180取得一種由被測(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣列，以檢出“與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列是否已由被測(cè)試裝置100所輸出”。
期待值比較部810由比較器180取得該被測(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣列，且由順序圖樣產(chǎn)生部146取得該期待值圖樣列。然后，在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，該期待值比較部810繼續(xù)在與標(biāo)題圖樣列一致的該輸出圖樣列中對(duì)由被測(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣列和期待值圖樣列進(jìn)行比較。此時(shí)，期待值比較部810使比較對(duì)象的期待值圖樣設(shè)定在比較有效范圍設(shè)定暫存器830中，亦能與“期待值圖樣列和輸出圖樣列的比較成為有效時(shí)的有效范圍內(nèi)的任何命令”相對(duì)應(yīng)以作為條件，以對(duì)該期待值圖樣與輸出圖樣進(jìn)行比較。
標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器820在由向量產(chǎn)生控制部116所執(zhí)行的多個(gè)命令中對(duì)使與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列的檢出成為有效時(shí)的有效范圍開(kāi)始時(shí)的命令的位址所在的開(kāi)始位址以及使有效范圍終了時(shí)所用的命令的位址所在的終了位址被儲(chǔ)存著。上述的有效范圍稱為搜索視窗。例如，標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器820亦可藉由測(cè)試控制裝置195以接收上述的位址的設(shè)定。
在藉由向量產(chǎn)生控制部116所執(zhí)行的多個(gè)命令中，比較有效范圍設(shè)定暫存器830使一種與輸出圖樣的比較成為有效時(shí)的期待值圖樣所對(duì)應(yīng)的命令的開(kāi)始位址以及使與輸出圖樣的比較成為有效時(shí)的期待值圖樣所對(duì)應(yīng)的命令的終了位址被儲(chǔ)存著。由該開(kāi)始位址至終了位址為止的范圍稱為比較視窗。例如，比較有效范圍設(shè)定暫存器830亦可接收一種藉由測(cè)試控制裝置195來(lái)進(jìn)行的上述位址的設(shè)定。
又，期待值圖樣記憶體108中對(duì)同一命令而言每個(gè)端子對(duì)應(yīng)于多個(gè)期待值圖樣時(shí)，比較有效范圍設(shè)定暫存器830亦可另外儲(chǔ)存一種參數(shù)，其顯示“哪一個(gè)期待值圖樣作為該比較視窗的開(kāi)始點(diǎn)”。同樣，比較有效范圍設(shè)定暫存器830亦可另外儲(chǔ)存一種參數(shù)，其顯示“哪一個(gè)期待值圖樣作為該比較視窗的終了點(diǎn)”。因此，可更詳細(xì)地指定該作為比較視窗用的圖樣的范圍。又，可使用其它方式以取代上述方式，此時(shí)，比較有效范圍設(shè)定暫存器830亦可儲(chǔ)存一種由測(cè)試開(kāi)始直至比較視窗的開(kāi)始為止所經(jīng)過(guò)的命令周期數(shù)以及一種由測(cè)試開(kāi)始直至比較視窗的終了為止所經(jīng)過(guò)的命令周期數(shù)，以作為該比較視窗顯示用的參數(shù)。因此，在比較視窗的指定方法中，由于可使用各種不同的方法，則對(duì)各種障礙而言可進(jìn)行迅速且適當(dāng)?shù)恼系K解析。
在檢出開(kāi)始命令被執(zhí)行時(shí)開(kāi)始直至使標(biāo)題圖樣列的檢出終了時(shí)所用的檢出終了命令被執(zhí)行為止的期間中，若與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，則該錯(cuò)誤判斷通知部840以“檢出開(kāi)始命令至檢出終了命令為止的命令是位于搜索視窗內(nèi)”作為條件，以對(duì)使用者等通知一種錯(cuò)誤，其顯示“標(biāo)題圖樣列的檢出已失敗”。
在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，選擇器850選擇該期待值比較器810所獲致的比較結(jié)果，然后傳送至失效捕捉控制部150，且藉由失效捕捉控制部150而儲(chǔ)存在失效捕捉記憶體152中。另一方面，在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，選擇器850選擇該比較器180所取得的輸出圖樣列，然后傳送至失效捕捉控制部150，且藉由失效捕捉控制部150而儲(chǔ)存在失效捕捉記憶體152中。因此，標(biāo)題圖樣列未被檢出的障礙發(fā)生時(shí)可容易地進(jìn)行障礙的原因追究。
圖15是實(shí)施例4所屬的測(cè)試控制裝置195的構(gòu)成。測(cè)試控制裝置195具有標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部900和比較有效范圍設(shè)定部910。標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部900在命令記憶體104中所儲(chǔ)存的多個(gè)命令中設(shè)定一種使與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列的檢出成為有效時(shí)的有效范圍(即，搜索視窗)。具體而言，標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部900對(duì)應(yīng)于使用者等的指示，使指示“該搜索視窗的開(kāi)始位址和終了位址”所用的值儲(chǔ)存在標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器820中。
又，標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部900在由檢出開(kāi)始命令至檢出終了命令為止的期間中的至少1個(gè)命令中在藉由比較有效范圍設(shè)定部910來(lái)設(shè)定一種比較視窗時(shí)，亦可在檢出開(kāi)始命令至檢出終了命令為止的期間中有效地設(shè)定該標(biāo)題圖樣列的檢出。
具體而言，標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部900亦可在比較視窗每次進(jìn)行新設(shè)定時(shí)進(jìn)行下一個(gè)處理。首先，標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部900藉由掃描該命令記憶體104，以對(duì)檢出開(kāi)始命令和檢出終了命令的全部的組進(jìn)行檢出。其次，標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部900就各別的檢出開(kāi)始命令來(lái)判斷由該檢出開(kāi)始命令至相對(duì)應(yīng)的檢出終了命令為止的至少1個(gè)命令中該比較視窗是否已重新設(shè)定。然后，標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部900在該比較視窗已重新設(shè)定后的檢出開(kāi)始命令和相對(duì)應(yīng)的檢出終了命令為止的期間中使標(biāo)題圖樣列的檢出成為有效。
圖16是實(shí)施例4所屬的搜索視窗的一例。本圖中在由向量產(chǎn)生控制部116所讀出的依序執(zhí)行的多個(gè)各別的命令中，以該命令執(zhí)行時(shí)的時(shí)序使被測(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣對(duì)應(yīng)地顯示出來(lái)。例如，在檢出開(kāi)始命令的一例的PKTST命令執(zhí)行時(shí)的時(shí)序中顯示“該輸出資料D0已輸出”。又，在PKTST命令之后所執(zhí)行的NOP命令被執(zhí)行時(shí)的時(shí)序中顯示“該輸出資料D1已輸出”。
接著該NOP命令以依序執(zhí)行多個(gè)命令之后，另又執(zhí)行NOP命令。以該NOP命令執(zhí)行時(shí)的時(shí)序以輸出該輸出資料Dn。其次，執(zhí)行該檢出終了命令的一例的PKTEND命令。此處，即使在由PKTST命令至PKTEND命令為止的任一命令中亦未設(shè)定上述的搜索視窗。因此，在由PKTST命令至PKTEND命令為止的各別的命令被執(zhí)行時(shí)，標(biāo)題圖樣列未檢出。而且，在由PKTST命令至PKTEND命令為止的各別的命令被執(zhí)行時(shí)，即使標(biāo)題圖樣列未被檢出，錯(cuò)誤判斷通知部840亦不通知一種顯示“標(biāo)題圖樣列未被檢出”所用的錯(cuò)誤信息。
然后，向量產(chǎn)生控制部116在PKTEND命令執(zhí)行后依序執(zhí)行其它命令，然后再執(zhí)行PKTST命令，以該P(yáng)KTST命令被執(zhí)行時(shí)的時(shí)序，使輸出資料Dm由被測(cè)試裝置100輸出。其次，執(zhí)行NOP命令，以此NOP命令執(zhí)行時(shí)的時(shí)序使輸出資料Dm+1被輸出。接著該NOP命令以依序執(zhí)行多個(gè)命令之后，更執(zhí)行NOP命令。以此NOP命令執(zhí)行時(shí)的時(shí)序使輸出資料D1被輸出。其次，執(zhí)行PKTEND命令，以該P(yáng)KTEND命令被執(zhí)行時(shí)的時(shí)序，使此輸出資料D1+1被輸出。
此處，顯示“搜索視窗的開(kāi)始位址”所用的參數(shù)HUNT_ST顯示該P(yáng)KTST命令中先開(kāi)始執(zhí)行的命令的位址。然后，此搜索視窗的終了位址顯示用的參數(shù)HUNT_END顯示較該P(yáng)KTEND命令更后才執(zhí)行的命令的位址。即，此二種PKTST命令和PKTEND命令是在搜索視窗的范圍中。因此，在由PKTST命令至PKTEND命令為止的各別的命令被執(zhí)行時(shí)，標(biāo)題圖樣檢出部800檢出一種與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列。而且，在由PKTST命令至PKTEND命令為止的各別的命令被執(zhí)行時(shí)，即使未檢出該標(biāo)題圖樣列時(shí)，錯(cuò)誤判斷通知部840亦會(huì)通知一種顯示“標(biāo)題圖樣列未被檢出”所用的錯(cuò)誤信息。
因此，即使向量產(chǎn)生控制部116執(zhí)行PKTST命令和PKTEND命令的多個(gè)組時(shí)，藉由使適當(dāng)?shù)闹祪?chǔ)存在標(biāo)題檢出范圍暫存器820中，亦可將“標(biāo)題圖樣列是否已檢出”獨(dú)立地設(shè)定在PKTST命令和PKTEND命令的各組中。因此，測(cè)試程式不能改寫(xiě)的被測(cè)試裝置100的障礙解析可容易地實(shí)現(xiàn)。
圖17是實(shí)施例4所屬的比較視窗的一例。本圖中在由向量產(chǎn)生控制部116所讀出的依序執(zhí)行的多個(gè)各別的命令中，以該命令執(zhí)行時(shí)的時(shí)序使被測(cè)試裝置100所輸出的輸出圖樣對(duì)應(yīng)地顯示出來(lái)。例如，在檢出開(kāi)始命令的一例的PKTST命令執(zhí)行時(shí)的時(shí)序中顯示“該輸出資料D0已輸出”。又，在PKTST命令之后所執(zhí)行的NOP命令被執(zhí)行時(shí)的時(shí)序中顯示“該輸出資料D1已輸出”。其它命令和輸出資料的對(duì)應(yīng)關(guān)系由于與圖16大致相同而不再說(shuō)明。
此處，由最初已執(zhí)行的PKTST命令開(kāi)始至相對(duì)應(yīng)的PKTEND命令為止的任一命令中亦未設(shè)定一種比較視窗。因此，標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部900在由PKTST命令至PKTEND命令為止的期間中使標(biāo)題圖樣列的檢出成為無(wú)效。另一方面，由隨后所執(zhí)行的PKTST命令開(kāi)始直至相對(duì)應(yīng)的PKTEND命令為止的期間的任一命令中未設(shè)定一種比較視窗。具體而言，CPEW_ST是一種顯示該比較視窗的開(kāi)始位址所用的參數(shù)，其顯示較該P(yáng)KTST命令更后執(zhí)行的命令的位址。又，CPEW_END是一種顯示該比較視窗的終了位址所用的參數(shù)，其顯示該P(yáng)KTEND命令中先執(zhí)行的命令的位址。
因此，由該P(yáng)KTST命令開(kāi)始至PKTEND命令為止的各別的命令已執(zhí)行時(shí)，該標(biāo)題圖樣檢出部800檢出一種與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列。然后，在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，錯(cuò)誤判斷通知部840通知一種顯示“標(biāo)題圖樣列的檢出已失敗”所用的錯(cuò)誤信息。結(jié)果，只就比較對(duì)象中所設(shè)定的命令部分而言，由于已通知“標(biāo)題圖樣列的檢出失敗”，則被測(cè)試裝置100的障礙解析中除了不要的資訊以外可使障礙解析的效率提高。
以上，雖然使用各實(shí)施形式來(lái)說(shuō)明本發(fā)明，但本發(fā)明的技術(shù)范圍不限于上述各實(shí)施形式。上述各實(shí)施形式中可施加各種改良。施加此種變更或改良后的形式亦包含在本發(fā)明的技術(shù)所可得到的范圍中。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性如以上所示，依據(jù)本發(fā)明可適當(dāng)?shù)貙?duì)被測(cè)試裝置所輸出的輸出信號(hào)的邊緣作適當(dāng)?shù)臏y(cè)試。又，輸出圖樣列的輸出時(shí)序即使不確定之時(shí)，輸出圖樣列的輸出仍可與期待值圖樣列的讀出成為同步且進(jìn)行比較。又，顯示此測(cè)試的開(kāi)始所用的標(biāo)題圖樣未被檢出時(shí)，可容易地追究其原因。此外，亦可適當(dāng)?shù)卦O(shè)定一種使標(biāo)題圖樣列的檢出成為有效時(shí)的范圍。
雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟習(xí)此技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤(rùn)飾，均屬于本發(fā)明的技術(shù)方案的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試裝置，是一種對(duì)被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出信號(hào)的邊緣進(jìn)行測(cè)試用的測(cè)試裝置，其特征在于包括第1信號(hào)比較器，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的第1選通時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一預(yù)定的第1門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的第1輸出圖樣列；第2信號(hào)比較器，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的第2選通時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一預(yù)定的第2門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的第2輸出圖樣列；標(biāo)題圖樣列檢出部，其檢出第1輸出圖樣列已與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致；以及期待值比較部，其輸出在檢出第1輸出圖樣列已和標(biāo)題圖樣列相一致時(shí)，使第2信號(hào)比較器所取得的第2輸出圖樣列和第2輸出圖樣列的期待值圖樣列的比較結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中另外具備比較結(jié)果記憶部，其對(duì)應(yīng)于第2選通時(shí)序和第2門限值電壓，以記憶第2輸出圖樣列和期待值圖樣列的比較結(jié)果。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中另外具備測(cè)試控制部，其對(duì)使被測(cè)試裝置中與標(biāo)題圖樣列同一的輸出圖樣列以及與期待值圖樣列同一的輸出圖樣列被輸出時(shí)的測(cè)試進(jìn)行多次；以及參數(shù)變更部，其在第2次測(cè)試中，使第2選通時(shí)序和第2門限值電壓的至少其中一參數(shù)變更成與第1次測(cè)試不同的值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中測(cè)試控制部可在多次各別的測(cè)試中依據(jù)期待值比較部所輸出的比較結(jié)果，使第2輸出圖樣列輸出一種與期待值圖樣列相一致的第2選通時(shí)序以及第2門限值電壓的范圍。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中第1選通時(shí)序和第2選通時(shí)序以及第1門限值電壓和第2門限值電壓中的至少一參數(shù)可設(shè)定成互相不同的值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中在第1輸出圖樣列與標(biāo)題圖樣列相一致時(shí)，期待值比較部可使第1輸出圖樣列取得后一預(yù)定的偏移時(shí)間之后所取得的第2輸出圖樣列的與期待值圖樣列的比較結(jié)果被輸出。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中應(yīng)與標(biāo)題圖樣列相一致的第1輸出圖樣列以及應(yīng)與期待值圖樣列相比較的第2輸出圖樣列，可以是由被測(cè)試裝置的輸出端以同一時(shí)序所輸出的相同的圖樣列。
8.一種測(cè)試裝置，是一種對(duì)被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出信號(hào)的邊緣進(jìn)行測(cè)試用的測(cè)試裝置，其特征在于包括測(cè)試圖樣輸出部，其使被測(cè)試裝置的輸出端所預(yù)定的標(biāo)題圖樣列輸出時(shí)所用的測(cè)試圖樣列輸出至被測(cè)試裝置；信號(hào)比較器，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的選通時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的輸出圖樣列；標(biāo)題圖樣列檢出部，其檢出第1信號(hào)比較器所取得的第1輸出圖樣列已與標(biāo)題圖樣列相一致；延遲時(shí)間取得部，其在測(cè)試圖樣開(kāi)始輸出之后取得一種與標(biāo)題圖樣列一致的第1輸出圖樣列被檢出為止時(shí)的延遲時(shí)間；參數(shù)變更部，其在取得上述的延遲時(shí)間時(shí)，使選通時(shí)序和門限值電壓此二參數(shù)的至少一參數(shù)受到變更；測(cè)試控制部，其在藉由參數(shù)變更部造成參數(shù)變更時(shí)的狀態(tài)下，藉由測(cè)試圖樣輸出部以再度進(jìn)行該測(cè)試圖樣列的輸出；以及期待值比較部，其由測(cè)試圖樣列的輸出再度開(kāi)始，而由已經(jīng)過(guò)上述的延遲時(shí)間的時(shí)點(diǎn)所預(yù)定的偏移時(shí)間之后，使信號(hào)比較器所取得的第2輸出圖樣列的與第2輸出圖樣列的期待值圖樣列的比較結(jié)果被輸出。
9.一種測(cè)試方法，是一種對(duì)被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出信號(hào)的邊緣藉由測(cè)試裝置來(lái)進(jìn)行測(cè)試時(shí)用的測(cè)試方法，其特征在于包括第1信號(hào)比較步驟，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的第1選通時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一預(yù)定的第1門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的第1輸出圖樣列；第2信號(hào)比較步驟，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的第2選通時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一預(yù)定的第2門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的第2輸出圖樣列；標(biāo)題圖樣列檢出步驟，其檢出第1輸出圖樣列已與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致；以及期待值比較步驟，在檢出第1輸出圖樣列和標(biāo)題圖樣列已相一致時(shí)，使在第2信號(hào)比較步驟所取得的第2輸出圖樣列和第2輸出圖樣列的期待值圖樣列的比較結(jié)果被輸出。
10.一種測(cè)試方法，其特征在于包括測(cè)試圖樣輸出步驟，其使被測(cè)試裝置的輸出端所預(yù)定的標(biāo)題圖樣列輸出時(shí)所用的測(cè)試圖樣列輸出至被測(cè)試裝置；信號(hào)比較步驟，其由被測(cè)試裝置的輸出端所輸出的輸出圖樣列所含有的各別的輸出圖樣中，依據(jù)處于預(yù)定的選通時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得該輸出圖樣的值，且因此亦取得由輸出端所輸出的輸出圖樣列；標(biāo)題圖樣列檢出步驟，其檢出在信號(hào)比較步驟所取得的第1輸出圖樣列已與標(biāo)題圖樣列相一致；延遲時(shí)間取得步驟，其在測(cè)試圖樣開(kāi)始輸出之后，取得一種與標(biāo)題圖樣列一致的第1輸出圖樣列被檢出為止時(shí)的延遲時(shí)間；參數(shù)變更步驟，上述的延遲時(shí)間已取得時(shí)，使選通時(shí)序和門限值電壓此二參數(shù)中的至少一參數(shù)受到變更；測(cè)試控制步驟，其在藉由參數(shù)變更步驟造成參數(shù)變更時(shí)的狀態(tài)下，藉由測(cè)試圖樣輸出步驟以再度進(jìn)行該測(cè)試圖樣列的輸出；以及期待值比較步驟，其由測(cè)試圖樣列的輸出再度開(kāi)始時(shí)由已經(jīng)過(guò)上述的延遲時(shí)間的時(shí)點(diǎn)所預(yù)定的偏移時(shí)間之后，使信號(hào)比較器所取得的第2輸出圖樣列的與第2輸出圖樣列的期待值圖樣列的比較結(jié)果被輸出。
11.一種測(cè)試裝置，其依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列以及應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果來(lái)判定被測(cè)試裝置的良否，其特征在于包括順序控制部，其依序執(zhí)行被測(cè)試裝置的測(cè)試程式中所含有的多個(gè)命令，且由記憶體中讀出已執(zhí)行的各命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣；標(biāo)題圖樣檢出部，其在指示“與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)，檢出一與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列是否已由被測(cè)試裝置中輸出；期待值比較部，其對(duì)輸出圖樣列和期待值圖樣列進(jìn)行比較；以及時(shí)序調(diào)整部，其在與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，使各別的期待值圖樣和應(yīng)與該期待值圖樣相比較的輸出圖樣成為同步且在同一周期中輸入至期待值比較部中。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中順序控制部藉由多個(gè)步驟所構(gòu)成的命令執(zhí)行管線來(lái)執(zhí)行各別的命令，其中上述的多個(gè)步驟具有對(duì)輸出圖樣和期待值圖樣進(jìn)行比較所用的比較步驟，以及時(shí)序調(diào)整部在比較步驟時(shí)在期待值圖樣輸入時(shí)的時(shí)序中可對(duì)該應(yīng)與期待值圖樣比較的輸出圖樣在比較步驟中被輸入時(shí)進(jìn)行調(diào)整。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中藉由順序控制部，在指示“標(biāo)題圖樣列的檢出終了”所用的檢出終了命令被執(zhí)行時(shí)，時(shí)序調(diào)整部使一命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣和一命令執(zhí)行時(shí)所取得的輸出圖樣在同一周期中輸入至期待值比較部中。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測(cè)試裝置，其特征在于更包括多個(gè)標(biāo)題圖樣列儲(chǔ)存時(shí)所用的標(biāo)題圖樣儲(chǔ)存部，順序控制部所執(zhí)行的命令包含一種指示，其指出“由標(biāo)題圖樣儲(chǔ)存部選取該檢出對(duì)象的標(biāo)題圖樣列”以作為檢出開(kāi)始命令，以及就依據(jù)此檢出開(kāi)始命令所選擇的標(biāo)題圖樣列而言，此標(biāo)題圖樣檢出部亦可檢出與該標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列是否由被測(cè)試裝置所輸出。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中可另外具備錯(cuò)誤通知部，由標(biāo)題圖樣列開(kāi)始檢出時(shí)所預(yù)定的期間內(nèi)，在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，此錯(cuò)誤通知部可通知“該標(biāo)題圖樣列的檢出已失敗”。
16.一種測(cè)試方法，其依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列和應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果，以判定該被測(cè)試裝置的良否，其特征在于包括順序控制步驟，其依序執(zhí)行被測(cè)試裝置的測(cè)試程式中所含有的多個(gè)命令，由記憶體中讀出已執(zhí)行的各命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣；標(biāo)題圖樣檢出步驟，其在指出“與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)檢出與該標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列是否由被測(cè)試裝置所輸出；期待值比較步驟，其對(duì)輸出圖樣列和期待值圖樣列進(jìn)行比較；以及時(shí)序調(diào)整步驟，其在與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，使各別的期待值圖樣和應(yīng)與該期待值圖樣相比較的輸出圖樣成為同步且在同一周期中在期待值比較步驟中進(jìn)行比較。
17.一種測(cè)試裝置，其依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列以及應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果來(lái)判定被測(cè)試裝置的良否，其特征在于包括標(biāo)題圖樣檢出部，其檢出一種與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列是否由被測(cè)試裝置所輸出；期待值比較部，其在檢出一種與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列時(shí)，繼續(xù)在此一與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列中對(duì)由被測(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣列和該期待值圖樣列進(jìn)行比較；以及選擇寫(xiě)入部，其在與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，使期待值比較部所得到的比較結(jié)果儲(chǔ)存在失效記憶體中，在與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，被測(cè)試裝置的輸出圖樣列儲(chǔ)存在失效記憶體中。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的測(cè)試裝置，其特征在于更包括命令執(zhí)行部，其在每個(gè)命令周期中依序執(zhí)行多個(gè)命令，這些命令含有一種指出“標(biāo)題圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令，其中在檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)，該選擇寫(xiě)入部開(kāi)始進(jìn)行一種輸出圖樣寫(xiě)入處理，其依序?qū)⒈粶y(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣寫(xiě)入該失效記憶體中，在與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，停止上述的輸出圖樣寫(xiě)入處理，開(kāi)始進(jìn)行一種使期待值比較部所得到的比較結(jié)果依序儲(chǔ)存在失效記憶體中的處理。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，在檢出開(kāi)始命令開(kāi)始執(zhí)行后經(jīng)過(guò)一預(yù)定的命令周期數(shù)為止的期間中，該選擇寫(xiě)入部將被測(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣列儲(chǔ)存在失效記憶體中，在經(jīng)過(guò)一預(yù)定的命令周期數(shù)之后使已輸出的輸出圖樣列不儲(chǔ)存在失效記憶體中。
20.一種測(cè)試方法，其依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列以及應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果來(lái)判定被測(cè)試裝置的良否，其特征在于包括標(biāo)題圖樣檢出步驟，其檢出一種與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列是否由被測(cè)試裝置所輸出；期待值比較步驟，在檢出一種與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列時(shí)，繼續(xù)在此一與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列中對(duì)由被測(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣列和該期待值圖樣列進(jìn)行比較；以及選擇寫(xiě)入步驟，在與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，使期待值比較步驟所得到的比較結(jié)果儲(chǔ)存在失效記憶體中，在與該標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，被測(cè)試裝置的輸出圖樣列儲(chǔ)存在失效記憶體中。
21.一種測(cè)試裝置，其依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列以及應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果來(lái)判定被測(cè)試裝置的良否，其特征在于包括順序控制部，其依序執(zhí)行被測(cè)試裝置的測(cè)試程式中所含有的多個(gè)命令，且由記憶體中讀出已執(zhí)行的各命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣；標(biāo)題圖樣檢出部，其在指示“與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)，檢出“一與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列是否已由被測(cè)試裝置中輸出”；期待值比較部，在與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，繼續(xù)在與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列中對(duì)由被測(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣列和上述的期待值圖樣列進(jìn)行比較；標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部，其對(duì)多個(gè)命令中與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列的檢出成為有效時(shí)的有效范圍進(jìn)行設(shè)定；以及錯(cuò)誤判斷通知部，其在檢出開(kāi)始命令開(kāi)始執(zhí)行直至使標(biāo)題圖樣列的檢出終了時(shí)所用的檢出終了命令被執(zhí)行時(shí)為止的期間中，若與標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列未被檢出時(shí)，則在以檢出開(kāi)始命令至檢出終了命令為止的命令是在有效范圍內(nèi)作為條件下通知一種錯(cuò)誤信息，以顯示該標(biāo)題圖樣列的檢出已失敗。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的測(cè)試裝置，其特征在于其中更包括一種標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器，其儲(chǔ)存著使有效范圍開(kāi)始時(shí)所用的命令的位址所在的開(kāi)始位址以及使有效范圍終了時(shí)所用的命令的位址所在的終了位址，標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部，藉由使一種儲(chǔ)存在標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器中的值以設(shè)定一種有效范圍，以及錯(cuò)誤判斷通知部，亦可在標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器中所儲(chǔ)存的開(kāi)始位址以及標(biāo)題檢出范圍設(shè)定暫存器中所儲(chǔ)存的終了位址之間以“檢出開(kāi)始命令或檢出終了命令被執(zhí)行”作為條件下通知一種錯(cuò)誤信息，以顯示該標(biāo)題圖樣列的檢出已失敗。
23.根據(jù)權(quán)利要求21所述的測(cè)試裝置，其特征在于更包括比較有效范圍設(shè)定部，其對(duì)應(yīng)于至少一命令來(lái)設(shè)定一種比較視窗，此比較視窗顯示“該一命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣和該輸出圖樣的比較已成為有效”，其中在由檢出開(kāi)始命令至檢出終了命令為止的期間的至少1個(gè)命令中設(shè)定一種比較視窗時(shí)，該標(biāo)題檢出范圍設(shè)定部可在該檢出開(kāi)始命令至檢出終了命令為止的期間中使標(biāo)題圖樣列的檢出成為有效。
24.一種測(cè)試方法，其依據(jù)由被測(cè)試裝置的輸出端依序輸出的輸出圖樣列和應(yīng)與此輸出圖樣列相比較的期待值圖樣列的比較結(jié)果，以判定該被測(cè)試裝置的良否，其特征在于包括順序控制步驟，其依序執(zhí)行被測(cè)試裝置的測(cè)試程式中所含有的多個(gè)命令，由記憶體中讀出已執(zhí)行的各命令所對(duì)應(yīng)的期待值圖樣；標(biāo)題圖樣檢出步驟，其在指出“與預(yù)定的標(biāo)題圖樣列相一致的輸出圖樣列的檢出開(kāi)始”所用的檢出開(kāi)始命令已執(zhí)行時(shí)檢出一與該標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列是否由被測(cè)試裝置所輸出；期待值比較步驟，其在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列被檢出時(shí)，繼續(xù)在與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列中對(duì)由被測(cè)試裝置所輸出的輸出圖樣列和該期待值圖樣列進(jìn)行比較；標(biāo)題檢出范圍設(shè)定步驟，其對(duì)多個(gè)命令中使與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列的檢出成為有效時(shí)的有效范圍進(jìn)行設(shè)定；以及錯(cuò)誤判斷通知步驟，其在檢出開(kāi)始命令開(kāi)始執(zhí)行至使標(biāo)題圖樣列的檢出終了所用的檢出終了命令被執(zhí)行為止的期間中，若與標(biāo)題圖樣列一致的輸出圖樣列未檢出時(shí)，則以“檢出開(kāi)始命令至檢出終了命令為止的命令是在有效范圍內(nèi)”作為條件，以通知一種錯(cuò)誤信息，其顯示該標(biāo)題圖樣列的檢出已失敗。
全文摘要
一種測(cè)試裝置，包括第1信號(hào)比較器、第2信號(hào)比較器、標(biāo)題圖樣列檢出部、以及期待值比較部。1信號(hào)比較器依據(jù)處于第1選通時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一第1門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得一輸出圖樣的值，且因此亦取得第1輸出圖樣列；第2信號(hào)比較器依據(jù)處于第2選通時(shí)序中的輸出信號(hào)的電壓和一第2門限值電壓進(jìn)行比較后的結(jié)果以取得一輸出圖樣的值，且因此亦取得第2輸出圖樣列；標(biāo)題圖樣列檢出部檢出第1輸出圖樣列已與標(biāo)題圖樣列相一致；期待值比較部在檢出第1輸出圖樣列已和標(biāo)題圖樣列相一致時(shí)，使第2信號(hào)比較器所取得的第2輸出圖樣列和期待值圖樣列的比較結(jié)果被輸出。
文檔編號(hào)G01R31/30GK1820206SQ20058000028
公開(kāi)日2006年8月16日 申請(qǐng)日期2005年6月14日 優(yōu)先權(quán)日2004年6月17日
發(fā)明者大空聡, 中川哲郎, 角田慎, 高巖伸賢 申請(qǐng)人:愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試株式會(huì)社