專利名稱：測試裝置及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種設(shè)備的測試裝置及測試方法，特別是一種將用于設(shè)備測試的測試程序壓縮記憶的測試裝置及測試方法。
至于認(rèn)可專利文獻(xiàn)所參照的內(nèi)附的指定國，通過參照而將下述申請案中所揭示的內(nèi)容內(nèi)附在本申請案中，作為本申請案揭示內(nèi)容的一部分。
日本專利特愿2004-242993申請日平成16年8月23日背景技術(shù)測試裝置是基于測試程序而進(jìn)行作為測試對象的待測設(shè)備(DUTDevice Under Test，被測設(shè)備)的測試。測試程序包括每個指令循環(huán)中測試裝置所應(yīng)執(zhí)行的指令，以及將輸出到待測設(shè)備各端子的測試圖像與自待測設(shè)備各端子所輸出的輸出圖像加以比較的期待值圖像。
先前，使用有為減少測試程序的數(shù)據(jù)量，而使用重復(fù)指令壓縮測試程序的測試裝置。圖8表示先前的測試程序的壓縮形式。在圖8的測試程序中，在第1指令循環(huán)中執(zhí)行NOP指令(無作業(yè)指令)，并將各個測試圖像{0、1、1、0}分別輸出到{端子1、端子2、端子3、端子4}中。
同樣，在第2指令循環(huán)中執(zhí)行NOP指令，并將各個測試圖像{1、0、1、0}分別輸出到{端子1、端子2、端子3、端子4}中。繼而，在第3指令循環(huán)中執(zhí)行作為重復(fù)指令的IDXI指令，并100循環(huán)間將各個測試圖像{1、1、1、0}分別輸出到{端子1、端子2、端子3、端子4}。如此般，在先前的測試裝置中，針對全部端子在多數(shù)個指令循環(huán)中連續(xù)使用相同圖像的情形時，使用重復(fù)指令故而將縮小測試程序的大小。
目前，由于尚未清楚是否存在與本發(fā)明相關(guān)聯(lián)的專利文獻(xiàn)所公認(rèn)的發(fā)明，故而省略其相關(guān)揭示。
與此相對，伴隨近年來電子設(shè)備的高速化，由電子設(shè)備所輸入輸出的信號的傳送速度不斷飛躍性提高。如此的電子設(shè)備可在1個循環(huán)中輸入輸出多數(shù)個位元數(shù)據(jù)。
另一方面，近年來電子設(shè)備設(shè)計為預(yù)先搭載有電子設(shè)備的測試功能，以提高測試效率。如此的設(shè)計稱為DFT(Design For Testability，可測試性設(shè)計)，已成為近年來高度電子設(shè)備中不可或缺者。例如某種電子設(shè)備，其在此電子設(shè)備內(nèi)的寄存器中具有設(shè)定測試初始狀態(tài)的電路。
如此的電子設(shè)備的測試具有進(jìn)行初始設(shè)定的測試模式，以及在此初始模式設(shè)定后將圖像列輸入到電子設(shè)備中的普通模式。即，測試裝置首先將初始設(shè)定用的圖像列保存在電子設(shè)備內(nèi)的寄存器中，其后再將測試用圖像列輸入到電子設(shè)備輸入端子中。在如此的測試中，在普通模式中必需在一個指令循環(huán)內(nèi)輸入較多圖像，而另一方面，在測試模式中在一個指令循環(huán)內(nèi)輸入一個圖像即可。
隨之，執(zhí)行所有各自的指令而存儲用于普通模式的多數(shù)個位元的情形時，則存儲器的使用效率較差。而另一方面，當(dāng)為改變每一單位時間中所輸出的位元行長度，而根據(jù)運行模式而改變測試裝置的運行頻率時，則測試裝置的設(shè)計將復(fù)雜化。。

發(fā)明內(nèi)容
因此本發(fā)明的目的在于提供一種可降低存儲圖像列的存儲器的容量并無需使測試裝置設(shè)計復(fù)雜化的測試裝置及測試方法。
為解決上述問題，本發(fā)明的第一形態(tài)提供一種測試裝置，其是測試待測設(shè)備者，此測試裝置包括指令執(zhí)行部，其在每一個指令循環(huán)中依次執(zhí)行待測設(shè)備的測試程序中所含有的指令；測試圖像存儲器，其相應(yīng)于各指令，存儲對執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中所輸出的測試圖像列的圖像長度進(jìn)行識別的圖像長度識別信息，以及此測試圖像列；測試圖像存儲器讀取部，其在執(zhí)行一個指令的情形時，將長度與通過執(zhí)行一個指令而存儲在測試圖像存儲器的圖像長度識別信息相對應(yīng)的測試圖像列自測試圖像存儲器中讀??；以及測試圖像輸出部，其在執(zhí)行一個指令的指令循環(huán)期間，對應(yīng)于一個指令將測試圖像存儲器讀取部所讀取的測試圖像列輸出到待測設(shè)備的端子中。
另外，此測試裝置可通過執(zhí)行一個指令時所輸出的圖像列更短的低速模式，以及圖像列長于低速模式的高速模式中的任一個，而對待測設(shè)備進(jìn)行測試，測試圖像存儲器相應(yīng)于各指令，存儲表示在執(zhí)行此指令的循環(huán)期間中以低速模式及高速模式中任一種運行模式運行此測試裝置的運行模式指示信息，作為圖像長度識別信息，測試圖像輸出部則可通過對應(yīng)于運行模式指示信息的速度，而將測試圖像存儲器讀取部所讀取的測試圖像列的各圖像依次輸出到待測設(shè)備的端子中。
另外，還包括低速模式格式控制部，其執(zhí)行低速模式的各個測試圖像列，并記憶使與此測試圖像列相同的圖像波形的高速模式的測試圖像列，測試圖像輸出部在對應(yīng)于一個指令讀取低速模式的測試圖像列的情形時可將通過低速模式格式控制部并執(zhí)行此測試圖像列而得到記憶的高速模式的測試圖像列輸出到待測設(shè)備的端子中。
另外，還包括停頓點寄存器，其在低速模式中輸出測試圖像列的情形時，設(shè)定表示保存期間的停頓點，此保存期間將輸出此測試圖像列前的循環(huán)中最后的邏輯值加以保存，而低速模式格式控制部可在保存期間輸出前循環(huán)中的最后邏輯值，并可在經(jīng)過保存期間后，開始輸出測試圖像存儲器讀取部所讀取的此測試圖像列。
另外，低速模式格式控制部可相應(yīng)于低速模式的各個測試圖像列，并在高速模式下，對在特定期間中輸出的邏輯值1后輸出邏輯值0的數(shù)據(jù)0圖像列，特定期間中輸出邏輯值0后輸出邏輯值1的數(shù)據(jù)1圖像列，特定期間中輸出邏輯值1后輸出邏輯值0并再次輸出邏輯值1的負(fù)脈沖，以及特定期間中輸出邏輯值0后在特定期間輸出邏輯值1并再次輸出邏輯值0的正脈沖中的任何一個進(jìn)行記憶。
另外，測試圖像存儲器，可執(zhí)行各指令，并存儲于執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中所輸出的低速模式測試圖像列，或者高速模式測試圖像列，而低速模式格式控制部將通過測試圖像存儲器讀取部而讀取的低速模式測試圖像列，轉(zhuǎn)換為輸出通過此低速模式測試圖像列而指定的圖像波形的高速模式測試圖像列，并含有由測試圖像存儲器讀取部所讀取的測試圖像列或者由低速模式格式控制部所變更的測試圖像列，進(jìn)一步含有基于對應(yīng)于經(jīng)過讀取的測試圖像列的圖像長度識別信息而選擇的測試圖像列選擇部，測試圖像輸出部可將由測試圖像列選擇部所選擇的測試圖像列串行輸出到待測設(shè)備端子。
另外，測試圖像輸出部將在測試待測設(shè)備之前，于低速模式中將測試圖像列輸出到待測設(shè)備的掃描輸入端子，由此進(jìn)行此測試中的待測設(shè)備的初始設(shè)定，并可通過在高速模式下輸出測試圖像列，而測試待測設(shè)備。
本發(fā)明第二形態(tài)提供一種測試裝置，其是可對待測設(shè)備進(jìn)行測試，且此測試裝置包含指令執(zhí)行部，其在每一個指令循環(huán)中依次執(zhí)行待測設(shè)備的測試程序中所含有的指令；期待值圖像存儲器，其相應(yīng)于各指令，并存儲與執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中從此待測設(shè)備端子依次輸出的多數(shù)個輸出圖像依次進(jìn)行比較的期待值圖像列，以及識別此期待值圖像列的圖像長度的圖像長度識別信息；期待值圖像存儲器讀取部，其在執(zhí)行一個指令的情形時，將長度與通過執(zhí)行一個指令而存儲在期待值圖像存儲器的圖像長度識別信息相對應(yīng)的期待值圖像列自期待值圖像存儲器中讀??；以及期待值比較部，其在執(zhí)行一個指令的指令循環(huán)期間，將對應(yīng)于一個指令期待值圖像存儲器讀取部所讀取的期待值圖像列和包含從待測設(shè)備端子所輸出的多數(shù)個輸出圖像的輸出圖像列加以比較。
本發(fā)明第三形態(tài)提供一種測試方法，其是測試待測設(shè)備的測試方法，且該測試方法包括指令執(zhí)行階段，其在每一個指令循環(huán)中，依次執(zhí)行包含于待測設(shè)備的測試程序中的指令；進(jìn)行存儲的階段，其相應(yīng)于各指令，而將對在執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中所輸出的測試圖像列的圖像長度加以識別的圖像長度識別信息，以及將該測試圖像列存儲到測試圖像存儲器中；測試圖像存儲器讀取階段，其在執(zhí)行一個指令時，將長度和相應(yīng)于一個指令而存儲在測試圖像存儲器中的圖像長度識別信息相對應(yīng)的測試圖像列，從測試圖像存儲器中讀取出；測試圖像輸出階段，其在執(zhí)行一個指令的指令循環(huán)期間中，對應(yīng)于一個指令，而將測試圖像存儲器讀取階段中所讀取的測試圖像列，輸出到待測設(shè)備端子。
本發(fā)明第四形態(tài)提供一種測試方法，其是測試待測設(shè)備的測試方法，且該測試方法包括指令執(zhí)行階段，其在每一個指令循環(huán)中，依次執(zhí)行包含于待測設(shè)備的測試程序中的指令；進(jìn)行存儲的階段，其相應(yīng)于各指令，而將和執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中從待測設(shè)備端子依次輸出的多數(shù)個輸出圖像依次進(jìn)行比較的期待值圖像列測試圖像列，以及識別該期待值圖像列的圖像長度的圖像長度識別信息存儲到期待值圖像存儲器中；期待值圖像存儲器讀取階段，其在執(zhí)行一個指令時，將長度和相應(yīng)于一個指令而存儲在期待值圖像存儲器中的圖像長度識別信息相對應(yīng)的期待值圖像列，從期待值圖像存儲器中讀取出；期待值圖像比較階段，其在執(zhí)行一個指令的指令循環(huán)期間中，對應(yīng)于一個指令，而將期待值圖像存儲器讀取階段中所讀取的期待值圖像列，以及包含從待測設(shè)備端子所輸出的多數(shù)個輸出圖像的輸出圖像列加以比較。
另外，上述發(fā)明的概要并非是列舉本發(fā)明的所有必要特征，此等特征群的子組合亦可成為本發(fā)明。
根據(jù)本發(fā)明，可有效活用存儲測試圖像的存儲器區(qū)域。


圖1表示本發(fā)明實施形態(tài)的測試裝置10的結(jié)構(gòu)。
圖2表示本發(fā)明實施形態(tài)的連續(xù)圖像生成部142及連續(xù)圖像生成部146的結(jié)構(gòu)。
圖3表示本發(fā)明實施形態(tài)的測試圖像存儲器106及期待值圖像存儲器108中所存儲的測試圖像列的一個示例。
圖4表示本發(fā)明實施形態(tài)的待測設(shè)備100的結(jié)構(gòu)。
圖5表示本發(fā)明實施形態(tài)的既定圖像存儲器154的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖6表示本發(fā)明實施形態(tài)的測試程序的一個示例。
圖7表示其他測試程序的示例。
圖8表示先前的測試程序的壓縮形式。
10測試裝置100待測設(shè)備
102主存儲器 104指令存儲器106測試圖像存儲器108期待值圖像存儲器110數(shù)字截取存儲器112中央圖像控制部114圖像列表存儲器116向量生成控制部120中央截取控制部122圖像結(jié)果存儲器130信道塊140信道圖像生成部142連續(xù)圖像生成部144格式控制部146連續(xù)圖像生成部148搜尋比較部150錯誤截取控制部152錯誤截取存儲器154既定圖像存儲器160時序生成部170驅(qū)動器180比較器200圖像存儲器讀取部 210低速模式格式控制部220圖像列選擇部 230停頓點寄存器300圖像長度識別信息 310圖像列320圖像列400組合電路410寄存器420組合電路430選擇器具體實施方式
以下，通過本發(fā)明實施形態(tài)對本發(fā)明加以說明，以下實施形態(tài)并不限定本發(fā)明，另外實施形態(tài)中所說明的所有特征組合并非是本發(fā)明解決問題方法所必需的。
圖1表示本發(fā)明實施形態(tài)的測試裝置10的構(gòu)成。測試裝置10是對具備一個或者多數(shù)個端子的DUT100進(jìn)行測試的測試裝置，并包括主存儲器102，中央圖像控制部112，以及多數(shù)個信道塊130。
主存儲器102將存儲DUT100的測試程序，且執(zhí)行測試程序的結(jié)果將記錄DUT100所輸出的輸出圖像。主存儲器102包括指令存儲器104、多數(shù)個測試圖像存儲器106、多數(shù)個期待值圖像存儲器108、以及數(shù)字截取存儲器110。
指令存儲器104存儲測試程序中所含有的各指令。多數(shù)個測試圖像存儲器106分別對應(yīng)于DUT100的各端子而設(shè)置，并相應(yīng)于各指令，且將執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中所用的測試圖像列存儲到每一個端子中。
此測試圖像列含有在指令循環(huán)期間中應(yīng)依次輸出到DUT100端子的多數(shù)個測試圖像。例如，當(dāng)測試裝置10于每一個指令循環(huán)中將32位元信號輸出到DUT100時，測試圖像存儲器106將相應(yīng)于各指令，而存儲在一個指令循環(huán)期間中所輸出的32位元信號相對應(yīng)的32個測試圖像的測試圖像列。
另外，測試裝置10具有測試模式及通常模式2個運行模式，測試模式是和本發(fā)明相關(guān)的低速模式的一個示例，在測試模式下執(zhí)行一個指令時所輸出的圖像列將短于通常模式。另外，通常模式是和本發(fā)明相關(guān)的高速模式的一個示例，通常模式下的圖像列長于測試模式。
即，測試圖像存儲器106有時將相應(yīng)于某種指令，而存儲圖像長度和其他指令不同的測試圖像列。為此，測試圖像存儲器106將相應(yīng)于各指令，進(jìn)而對應(yīng)該測試圖像列而存儲對執(zhí)行該指令的指令循環(huán)期間中所輸出的測試圖像列的圖像長度進(jìn)行識別的圖像長度識別信息。
多數(shù)個期待值圖像存儲器108分別對應(yīng)于DUT100各端子而設(shè)置，并相應(yīng)于各指令，對應(yīng)于對該期待值圖像列的圖像長度進(jìn)行識別的圖像長度信息，而存儲執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中所使用的期待值圖像列。于此，期待值圖像列含有應(yīng)該和指令循環(huán)期間中從DUT100端子依次輸出的多數(shù)個輸出圖像進(jìn)行依次比較的多數(shù)個期待值圖像。數(shù)字截取存儲器110，執(zhí)行測試程序的結(jié)果，記錄DUT100所輸出的輸出圖像。
以上，指令存儲器104，多數(shù)個測試圖像存儲器106，多數(shù)個期待值圖像存儲器108，及/或數(shù)字截取存儲器110，既可分開設(shè)于構(gòu)成主存儲器102的各個存儲器模塊上，也可設(shè)置為同一存儲器模塊內(nèi)的不同記憶區(qū)域。
中央圖像控制部112，連接于主存儲器102以及多數(shù)個信道塊130，并在DUT100各端子上進(jìn)行共通處理。中央圖像控制部112具有圖像列表存儲器114，向量生成控制部116，中央截取控制部120，以及圖像結(jié)果存儲器122。
圖像列表存儲器114，分別針對測試程序主例行程序或各子例行程序，存儲指令存儲器104中的此例行程序的開始/結(jié)束地址、測試圖像存儲器106中的測試圖像的開始地址、以及期待值圖像存儲器108中的期待值圖像的開始地址等。向量生成控制部116為本發(fā)明的指令執(zhí)行部的一個示例，并在每一個指令循環(huán)中，依次執(zhí)行DUT100測試程序中所含有的指令。具體而言，向量生成控制部116將針對各個例行程序，依次從圖像列表存儲器114讀取自開始地址到結(jié)束地址為止的各指令，并依次執(zhí)行。
中央截取控制部120，從各信道塊130接受每個DUT100的各端子是否良好的判定結(jié)果，并統(tǒng)計每個例行程序中DUT100是否良好的判定結(jié)果。圖像結(jié)果存儲器122存儲每個例行程序中DUT100是否良好的判定結(jié)果。
多數(shù)個信道塊130，分別對應(yīng)于DUT100的各端子而設(shè)置。各信道塊130具有信道圖像生成部140，時序生成部160，驅(qū)動器170，以及比較器180。
信道圖像生成部140將生成用于此端子測試的測試圖像列或者期待值圖像列，并對DUT100的輸出圖像列以及期待值圖像列加以比較。信道圖像生成部140含有既定圖像存儲器154，連續(xù)圖像生成部142，格式控制部144，連續(xù)圖像生成部146，搜尋比較部148(Hunt compare)，錯誤截取控制部150，以及錯誤截取存儲器152。
既定圖像存儲器154，相應(yīng)于測試模式中各個測試圖像列及/或期待值圖像列(以下總稱為“圖像列”)，并存儲輸出和此圖像列相同的圖像波形的通常模式圖像列。
連續(xù)圖像生成部142，從向量生成控制部116接受對應(yīng)于將要執(zhí)行的例行程序而輸出的測試圖像列的開始地址。并且，連續(xù)圖像生成部142，對應(yīng)于各指令循環(huán)并以從此開始地址開始的順序自測試圖像存儲器106讀取測試圖像列，且依次輸出到格式控制部144。格式控制部144和驅(qū)動器170一起作為本發(fā)明的測試圖像輸出部而起作用，并將測試圖像列轉(zhuǎn)換為用以控制驅(qū)動器170的格式。
連續(xù)圖像生成部146，對應(yīng)于將要執(zhí)行的例行程序，從向量生成控制部116接受期待值圖像列的開始地址。并且，連續(xù)圖像生成部146，對應(yīng)于各指令循環(huán)，以從此開始地址開始的順序自期待值圖像存儲器108讀取期待值圖像，并依次輸出到搜尋比較部148以及錯誤截取控制部150。搜尋比較部48為本發(fā)明中期待值比較部的一個示例，并通過比較器180，輸入DUT100所輸出的輸出圖像列，并且將其和期待值圖像列加以比較。于此，搜尋比較部148可具有如下的搜尋功能以從DUT100輸出特定的標(biāo)題圖像(headerpattern)為條件，開始對從DUT100所輸出的時序并不固定的輸出圖像列與期待值圖像列進(jìn)行比較。
錯誤截取控制部150自搜尋比較部148接受DUT100的輸出圖像列以及期待值圖像列的一致/不一致信息，并生成有關(guān)此端子的DUT100是否良好的判定結(jié)果。錯誤截取存儲器152將存儲包含與搜尋比較部148對搜尋處理結(jié)果或期待值不一致的輸出圖像值等的錯誤信息。
時序生成部160，將生成驅(qū)動器170輸出測試圖像列內(nèi)的各測試圖像的時序，以及比較器180取入DUT100輸出圖像的時序。驅(qū)動器170將和格式控制部144共同作為本發(fā)明的測試圖像輸出部而起作用，并在由時序生成部160所指定的時序中，將從信道圖像生成部140內(nèi)格式控制部144所輸出的各測試圖像輸出到DUT100。其結(jié)果，驅(qū)動器170，以根據(jù)測試模式或者通常模式而定的速度，將測試圖像列各圖像依次輸出到DUT100端子。
比較器180，在時序生成部160所指定的時序中，獲取自DUT100端子所輸出的輸出圖像，并供給至信道塊130內(nèi)的搜尋比較部148以及數(shù)字截取存儲器110。
并且，信道圖像生成部140也可以構(gòu)成為共通的連續(xù)圖像生成部，其具有連續(xù)圖像生成部142以及連續(xù)圖像生成部146的功能，而代替?zhèn)€別設(shè)置以上所示的連續(xù)圖像生成部142以及連續(xù)圖像生成部146的結(jié)構(gòu)。
圖2表示本發(fā)明實施形態(tài)的連續(xù)圖像生成部142以及連續(xù)圖像生成部146的結(jié)構(gòu)。連續(xù)圖像生成部142包括作為本發(fā)明的測試圖像存儲器讀取部的一個示例的圖像存儲器讀取部200、低速模式格式控制部210、圖像列選擇部220、以及停頓點寄存器230(hold point resistor)。圖像存儲器讀取部200，在執(zhí)行一個指令時，從測試圖像存儲器106讀取相應(yīng)于其一個指令而存儲在測試圖像存儲器106的測試圖像列。另外，圖像存儲器讀取部200，從測試圖像存儲器106讀取對測試圖像列的圖像長度進(jìn)行識別的圖像長度識別信息。
低速模式格式控制部210，對應(yīng)于測試模式的各個圖像列(例如，2位元的圖像列)，將輸出有和圖像列相同的圖像波形的通常模式的圖像列(例如，32位元的圖像列)，記憶于既定圖像存儲器154中。繼而，低速模式格式控制部210，使用既定圖像存儲器154，將由圖像存儲器讀取部200所讀取的測試模式圖像列，轉(zhuǎn)換為輸出由此圖像列所指定的圖像波形的通常模式圖像列。
圖像列選擇部220，依據(jù)和所讀取的圖像列相對應(yīng)的圖像長度識別信息而選擇由圖像存儲器讀取部200所讀取的圖像列，或者由低速模式格式控制部210所轉(zhuǎn)換的圖像列，并輸出到格式控制部144。將其接受后，驅(qū)動器170將和格式控制部144共同運行，并將由圖像列選擇部220所選擇的圖像列輸入到待測設(shè)備100中。
停頓點寄存器230，在測試模式下輸出圖像列時，將對表示出保存輸出圖像列的前循環(huán)中的最后邏輯值的保存期間的停頓點進(jìn)行設(shè)定。即，低速模式格式控制部210，在經(jīng)過此保存期間為止的期間，輸出前循環(huán)中的最后邏輯值，并在經(jīng)過此保存期間后，開始輸出圖像存儲器讀取部200所讀取的圖像列。
如此般，圖像存儲器讀取部200，將針對各指令，從測試圖像存儲器106中，讀取長度和相應(yīng)于此指令而存儲在測試圖像存儲器106中的圖像長度識別信息相對應(yīng)的測試圖像列。并且，驅(qū)動器170，在執(zhí)行各指令的指令循環(huán)期間中，相應(yīng)于此指令，將圖像存儲器讀取部200所讀取的測試圖像列，輸出到待測設(shè)備100的端子中。由此，測試圖像存儲器106，由于根據(jù)測試裝置10的運行模式僅存儲適當(dāng)大小的圖像列即可，因此可有效利用主存儲器102。
連續(xù)圖像生成部146，由于采用和連續(xù)圖像生成部142相同的結(jié)構(gòu)，因此除了以下相異之處外，省略相同的說明。連續(xù)圖像生成部146內(nèi)的圖像存儲器讀取部200是本發(fā)明的期待值圖像存儲器讀取部的一個示例，并在測試裝置10執(zhí)行一個指令時，讀取長度和相應(yīng)于此一個指令而存儲在期待值圖像存儲器108中的圖像長度識別信息相對應(yīng)的期待值圖像列。低速模式格式控制部210，和連續(xù)圖像生成部142內(nèi)的低速模式格式控制部210同樣，在圖像存儲器讀取部200讀取測試模式的圖像列時，將此測試模式的圖像列，轉(zhuǎn)換為對應(yīng)于此測試模式圖像列的通常模式的圖像列。
圖像列選擇部220，與連續(xù)圖像生成部142內(nèi)圖像列選擇部220同樣，在執(zhí)行此一個指令的指令循環(huán)期間中，對應(yīng)于此一個指令，選擇圖像存儲器讀取部200從期待值圖像存儲器108中所讀取的期待值圖像列，或者由低速模式格式控制部210所轉(zhuǎn)換的期待值圖像列，并將其輸出到格式控制部144。將其接受后，作為本發(fā)明期待值比較部的一個示例的搜尋比較部148，將對由圖像列選擇部220所選擇的期待值圖像列，和含有自DUT100端子所輸出的多數(shù)個輸出圖像的輸出圖像列加以比較。
圖3表示存儲在本發(fā)明實施形態(tài)的測試圖像存儲器106以及期待值圖像存儲器108中的測試圖像列的一個示例。使用圖3，就圖像長度識別信息的一個示例加以說明。在本圖的說明中，將測試圖像存儲器106以及期待值圖像存儲器108總稱為「圖像存儲器」。圖像存儲器將存儲對圖像列的圖像長度進(jìn)行識別的圖像長度識別信息300及圖像列。
例如，圖像存儲器對應(yīng)于測試模式圖像列310，存儲表明此圖像列的圖像長度為2位元的圖像長度識別信息300a。另一方面，圖像存儲器，對應(yīng)于通常模式下的圖像列320，存儲表明此圖像列的圖像長度為32位元的圖像長度識別信息300b。
當(dāng)圖像存儲器讀取部200讀取圖像長度識別信息300a時，驅(qū)動器170將在執(zhí)行相對應(yīng)的指令的循環(huán)期間中，輸出2位元的圖像。即此時，測試裝置10將以測試模式運行。而另一方面，當(dāng)圖像存儲器讀取部200讀取圖像長度識別信息300b時，驅(qū)動器170將在執(zhí)行相對應(yīng)的指令的循環(huán)期間中，輸出32位元的圖像。即此時，測試裝置10將以通常模式運行。如此般，圖像長度識別信息可實現(xiàn)如下作為運行模式指示信息的作用，其對應(yīng)于各指令，在執(zhí)行此指令的循環(huán)期間中，指示出測試裝置10將以測試模式及通常模式的何種運行模式而運行。
圖4表示本發(fā)明實施形態(tài)的待測設(shè)備100的結(jié)構(gòu)。待測設(shè)備100具有組合電路400，寄存器410-1～N，組合電路420，以及選擇器430。組合電路400，通過通常輸入端子從驅(qū)動器170依次輸入測試圖像，并使寄存器410-1～N所保存的值產(chǎn)生變化。寄存器410-1～N，將根據(jù)來自組合電路400的輸入而使值變化。組合電路420，將以保存在寄存器410-1～N中的值為依據(jù)的信號發(fā)送到選擇器430。
于此，組合電路400是相對復(fù)雜的邏輯電路。因此，為了通過組合電路400將所期望之值設(shè)定于寄存器410-1～N中，有時必需具有相對較深的邏輯深度。為此，有時直至設(shè)定出測試初始狀態(tài)需要較長期間。因此，待測設(shè)備100具有用于將值設(shè)定在寄存器410-1～N中的掃描輸入端子。由此，寄存器410-1～N可自驅(qū)動器170依次輸入任意測試圖像并將其加以保存。
同樣，由于組合電路420為相對復(fù)雜的邏輯電路，因此為了通過待測設(shè)備100輸出保存在寄存器410-1～N中的值，有時需要較多時間。因此，選擇器430，將選擇寄存器410-1～N的值或者組合電路420的輸出，并將其輸出到外部。由此，例如可易于輸出測試結(jié)果保存在寄存器410-1～N的值。
圖5表示本發(fā)明實施形態(tài)的既定圖像存儲器154的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。低速模式格式控制部210，相應(yīng)于測試模式的各個圖像列，而將輸出和此圖像列相同的圖像波形的通常模式的測試圖像列記憶到既定圖像存儲器154中。例如，低速模式格式控制部210，相應(yīng)于表示邏輯值1的測試模式的圖像列(CODE L0)，于通常模式下，存儲在特定期間輸出邏輯值0后輸出邏輯值1的數(shù)據(jù)1圖像列。
另外，低速模式格式控制部210，相應(yīng)于表示邏輯值0的測試模式圖像列(CODE L1)，在通常模式下，存儲在特定期間輸出邏輯值1后輸出邏輯值0的數(shù)據(jù)0圖像列。進(jìn)一步，低速模式格式控制部210，相應(yīng)于表示正脈沖的測試模式的圖像列(CODE L2)，在通常模式下，存儲在特定期間輸出邏輯值0后于特定期間輸出邏輯值1并再次輸出邏輯值0的正脈沖圖像列。
低速模式格式控制部210，相應(yīng)于表示負(fù)脈沖的測試模式圖像列(CODEL3)，在通常模式下，存儲在特定期間輸出邏輯值1后于特定期間輸出邏輯值0并再次輸出邏輯值1的負(fù)脈沖圖像列。另外，低速模式圖像列例如為2位元，而CODE L0、L1、L2、以及L 3分別表示{0、1}、{1、0}、{1、1}、以及{0、0}。
圖6表示本發(fā)明實施形態(tài)的測試程序的一個示例。圖6中所例示的測試程序含有應(yīng)依次執(zhí)行的多數(shù)個指令，相應(yīng)于各指令以及各端子(從CH12到CH14)在執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中輸出到DUT100的測試圖像列。指令存儲器104將存儲圖6所示的各指令。另外，多數(shù)個測試圖像存儲器106，分別相應(yīng)于各指令，存儲執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中所輸出的測試模式下的測試圖像列或者通常模式下的測試圖像列。
例如，相應(yīng)于第1行指令“IDXI 31”，端子CII1的測試圖像存儲器106將存儲測試模式的測試圖像列(CODE L1)。另一方面，相應(yīng)于第6行指令“NOP”，端子CH1的測試圖像存儲器106存儲{001…110}作為通常模式的測試圖像列。更具體而言，測試圖像存儲器106，也可以相應(yīng)于表示此測試圖像列為測試模式及通常模式中何種運行模式下的測試圖像列的運行模式指示信息，而存儲這些測試圖像列。
另外，指令“IDXI 31”是表示重復(fù)執(zhí)行此指令的指令。為此，第1行指令重復(fù)執(zhí)行31次的結(jié)果，測試模式的測試圖像列也將會重復(fù)31次輸出。
根據(jù)以上所示的測試程序的存儲格式，則可對應(yīng)于相同端子，在每個指令中獨立規(guī)定存儲通常模式的測試圖像列，或者存儲測試模式的測試圖像列，因此可以更加有效減少測試程序的數(shù)據(jù)量。
更加具體而言，和DUT100第1端子相對應(yīng)的第1測試圖像存儲器106可以相應(yīng)于第1行指令存儲測試模式的測試圖像列，和DUT100第1端子相對應(yīng)的第1測試圖像存儲器106也可以第6行指令存儲通常模式的測試圖像列。此時，在執(zhí)行第1行指令的循環(huán)期間中，和第1端子相對應(yīng)的第1圖像存儲器讀取部200，將讀取相應(yīng)于此指令而存儲在第1測試圖像存儲器106中的圖像長度識別信息以及測試圖像列。此圖像長度識別信息表示測試模式的圖像長度。
為此，低速模式格式控制部210，將測試模式的測試圖像列，轉(zhuǎn)換為輸出由該測試圖像列所指定的圖像波形的通常模式的測試圖像列。圖像列選擇部220，基于圖像長度識別信息，選擇由低速模式格式控制部210所轉(zhuǎn)換的測試圖像列。將其接受后，驅(qū)動器170將選擇測試圖像列串行輸出到待測設(shè)備100。
另一方面，在執(zhí)行第9行指令的循環(huán)期間中，和第1端子相對應(yīng)的第1圖像存儲器讀取部200，讀取相應(yīng)于此指令而存儲在第1測試圖像存儲器106中的圖像長度識別信息以及測試圖像列。此圖像長度識別信息表示通常模式的圖像長度。為此，圖像列選擇部220，基于圖像長度識別信息，選擇由圖像存儲器讀取部200所讀取的測試圖像列。將其接受后，驅(qū)動器170將測試圖像列串行輸出到待測設(shè)備100中。
根據(jù)以上所示的測試裝置10，可對應(yīng)于相同的端子針對每個指令獨立將測試模式的測試圖像列或者通常模式的測試圖像列存儲到測試圖像存儲器106。其結(jié)果，例如，驅(qū)動器170在測試待測設(shè)備100前，將測試模式下的測試圖像列輸出到待測設(shè)備100的掃描輸入端子中，由此可對此測試中的待測設(shè)備100進(jìn)行初始設(shè)定。另一方面，驅(qū)動器170通過在通常模式下輸出待測設(shè)備100，而可以對應(yīng)于待測設(shè)備100性能的高速運行頻率測試待測設(shè)備100。由此，可將格式適合于待測設(shè)備100運行模式的圖像列存儲到測試圖像存儲器106，因此可保持測試中所要求的運行頻率，并可有效壓縮測試程序。
另外，圖6中以將測試圖像列存儲在測試圖像存儲器106為例加以說明，由于將期待值圖像列存儲在期待值圖像存儲器108時情形相同故而省略說明。
圖7表示測試程序的其他示例。本例中也和圖6相同，測試程序含有依次執(zhí)行的多數(shù)個指令，以及相應(yīng)于各指令以及各端子(從CH1到CH4)在執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中輸出到DUT100的測試圖像列。指令存儲器104存儲圖7所示的各指令。然而，和圖6不同，多數(shù)個測試圖像存儲器106，相應(yīng)于各指令，僅存儲在執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中輸出的32位元測試圖像列。
例如，相應(yīng)于第1行的指令“NOP”，端子CH1的測試圖像存儲器106存儲{000…001}作為低速模式的測試圖像列。另外，相應(yīng)于第6行的指令“NOP”，端子1的測試圖像存儲器106存儲{001…110}作為通常模式的測試圖像列。
根據(jù)以上所示的測試程序的存儲形式，則無論何種DUT100運行模式，測試圖像存儲器106，將于每一個指令中存儲32位元的圖像列。即，即使DUT100以測試模式運行輸入測試模式的圖像列則已充分時，測試圖像存儲器106，也將存儲測試模式的圖像列作為通常模式的圖像列。其結(jié)果，將導(dǎo)致測試圖像存儲器106中所需要的記憶容量增大。
與此相對，根據(jù)本實施例的測試裝置10，測試圖像存儲器106，可對應(yīng)于相同端子，并針對每個指令單獨存儲測試模式的測試圖像列或者通常模式的測試圖像列。其結(jié)果，由于可存儲格式適合于待測設(shè)備100運行模式的圖像列存，既可以保持測試中所要求的運行頻率，又可以有效壓縮測試程序。
以上，使用實施形態(tài)說明本發(fā)明，但是本發(fā)明技術(shù)性范圍并非局限于上述實施形態(tài)所揭示的范圍。上述實施形態(tài)，可進(jìn)行多種變更或改良。附加有如此變更或改良的形態(tài)也可以包含于本發(fā)明的技術(shù)性范圍中。
如上所述可明確了解到，根據(jù)本發(fā)明，可有效利用存儲測試圖像的存儲器區(qū)域。
權(quán)利要求
1.一種測試裝置，其特征在于，其是測試待測設(shè)備的測試裝置，并且包括指令執(zhí)行部，其在每個指令循環(huán)中，依次執(zhí)行上述待測設(shè)備的測試程序中所含有的指令；測試圖像存儲器，其相應(yīng)于各指令，存儲對執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中所輸出的測試圖像列的圖像長度加以識別的圖像長度識別信息，以及此測試圖像列；測試圖像存儲器讀取部，其在執(zhí)行一個指令時，從上述測試圖像存儲器中讀取長度和相應(yīng)于上述一個指令而存儲在上述測試圖像存儲器中的上述圖像長度識別信息相對應(yīng)的長度測試圖像列；以及測試圖像輸出部，其在執(zhí)行上述一個指令的指令循環(huán)期間中，將相應(yīng)于上述一個指令由上述測試圖像存儲器讀取部所讀取的上述測試圖像列，輸出到上述待測設(shè)備的端子中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該測試裝置在執(zhí)行一個指令時，通過所輸出的圖像列更短的低速模式，以及圖像列長于上述低速模式的高速模式中任一個，測試上述待測設(shè)備，上述測試圖像存儲器，相應(yīng)于各指令，存儲表示在執(zhí)行此指令的循環(huán)期間中以上述低速模式及上述高速模式中任一種運行模式運行此測試裝置的運行模式指示信息，作為上述圖像長度識別信息，上述測試圖像輸出部，以對應(yīng)于上述運行模式指示信息的速度，將上述測試圖像存儲器讀取部所讀取的上述測試圖像列的各圖像，依次輸出到上述待測設(shè)備的端子中。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于其還包括低速模式格式控制部，其相應(yīng)于上述低速模式的各個測試圖像列，而記憶和此測試圖像列相同的圖像波形輸出的上述高速模式的測試圖像列，上述測試圖像輸出部，在對應(yīng)于上述一個指令讀取上述低速模式的測試圖像列時，通過上述低速模式格式控制部，而將相應(yīng)于此測試圖像列而記憶的上述高速模式的測試圖像列，輸出到上述待測設(shè)備的端子中。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試裝置，其特征在于其還包括停頓點寄存器，其在上述低速模式中輸出測試圖像列時，設(shè)定表示輸出此測試圖像列的前循環(huán)中最后邏輯值加以保存的保存期間的停頓點，上述低速模式格式控制部，在上述保存期間中，輸出前循環(huán)的最后邏輯值，并在經(jīng)過上述保存期間后，開始輸出上述測試圖像存儲器讀取部所讀取的此測試圖像列。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試裝置，其特征在于其中所述的低速模式格式控制部是相應(yīng)于上述低速模式的各個測試圖像列，在上述高速模式下，記憶如下者中的任一個，在特定期間輸出邏輯值1后輸出邏輯值0的數(shù)據(jù)0圖像列，在特定期間輸出邏輯值0后輸出邏輯值1的數(shù)據(jù)1圖像列，在特定期間輸出邏輯值1后于特定期間輸出邏輯值0并再次輸出邏輯值1的負(fù)脈沖，以及在特定期間輸出邏輯值0后于特定期間輸出邏輯值1并再次輸出邏輯值0的正脈沖。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試裝置，其特征在于其中所述的測試圖像存儲器是相應(yīng)于各指令，而存儲在執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中所輸出的上述低速模式的測試圖像列，或者上述高速模式的測試圖像列，上述低速模式格式控制部，將由上述測試圖像存儲器讀取部所讀取的低速模式的測試圖像列，轉(zhuǎn)換為輸出由此低速模式的測試圖像列所指定的圖像波形的高速模式測試圖像列，并且，還包括測試圖像列選擇部，其基于和所讀取的上述測試圖像列相對應(yīng)的圖像長度識別信息，選擇由上述測試圖像存儲器讀取部所讀取的測試圖像列，或者由上述低速模式格式控制部所轉(zhuǎn)換的測試圖像列，上述測試圖像輸出部，將由上述測試圖像列選擇部所選擇的測試圖像列串行輸出到上述待測設(shè)備的端子中。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于其中所述的測試圖像輸出部在測試上述待測設(shè)備之前，通過在上述低速模式下將上述測試圖像列輸出到上述待測設(shè)備的掃描輸入端子中，而對此測試中的上述待測設(shè)備進(jìn)行初始設(shè)定，并在上述高速模式下通過將上述測試圖像列輸出到上述待測設(shè)備的掃描輸入端子中，而測試上述待測設(shè)備。
8.一種測試裝置，其特征在于，其是測試待測設(shè)備的測試裝置，并且包括指令執(zhí)行部，其在每個指令循環(huán)中，依次執(zhí)行上述待測設(shè)備的測試程序所含有的指令；期待值圖像存儲器，其相應(yīng)于各指令，存儲與執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中從上述待測設(shè)備的端子中依次輸出的多數(shù)個輸出圖像依次進(jìn)行比較的期待值圖像列，以及識別此期待值圖像列之圖像長度的圖像長度識別信息；期待值圖像存儲器讀取部，其在執(zhí)行一個指令的情形時，將長度與通過執(zhí)行上述一個指令而存儲在上述期待值圖像存儲器中的上述圖像長度識別信息相對應(yīng)的期待值圖像列自期待值圖像存儲器中讀??；以及期待值比較部，其在執(zhí)行上述一個指令的指令循環(huán)期間，將對應(yīng)于上述一個指令由上述期待值圖像存儲器讀取部所讀取的期待值圖像列，和從上述待測設(shè)備的端子所輸出的多數(shù)個上述輸出圖像的輸出圖像列加以比較。
9.一種測試方法，其特征在于，其是測試待測設(shè)備的測試方法，并且包括指令執(zhí)行階段，其在每一個指令循環(huán)中，依次執(zhí)行包含于上述待測設(shè)備的測試程序中的指令；進(jìn)行存儲的階段，其相應(yīng)于各指令，而將對在執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中所輸出的測試圖像列的圖像長度加以識別的圖像長度識別資訊，以及該測試圖像列存儲到測試圖像存儲器中；測試圖像存儲器讀取階段，其在執(zhí)行一個指令時，將長度和相應(yīng)于上述一個指令而存儲在上述測試圖像存儲器中的上述圖像長度識別信息相對應(yīng)的測試圖像列，從上述測試圖像存儲器中讀取出；以及測試圖像輸出階段，其在執(zhí)行上述一個指令的指令循環(huán)期間中，對應(yīng)于上述一個指令，而將上述測試圖像存儲器讀取階段中所讀取的上述測試圖像列，輸出到上述待測設(shè)備的端子中。
10.一種測試方法，其特征在于，其是測試待測設(shè)備的測試方法，并且包括指令執(zhí)行階段，其在每一個指令循環(huán)中，依次執(zhí)行包含于上述待測設(shè)備的測試程序中的指令；進(jìn)行存儲的階段，其相應(yīng)于各指令，而將和執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中從上述待測設(shè)備的端子依次輸出的多數(shù)個輸出圖像依次進(jìn)行比較的期待值圖像列，以及將識別該期待值圖像列的圖像長度的圖像長度識別信息存儲到期待值圖像存儲器中；期待值圖像存儲器讀取階段，其在執(zhí)行一個指令時，將長度和相應(yīng)于上述一個指令而存儲在上述期待值圖像存儲器中的上述圖像長度識別信息相對應(yīng)的期待值圖像列，從上述期待值圖像存儲器中讀取出；以及期待值圖像比較階段，其在執(zhí)行上述一個指令的指令循環(huán)期間中，對應(yīng)于上述一個指令，而將上述期待值圖像存儲器讀取階段中所讀取的期待值圖像列，以及從上述待測設(shè)備的端子所輸出的多數(shù)個上述輸出圖像的輸出圖像列加以比較。
全文摘要
本發(fā)明的測試待測設(shè)備的測試裝置包括指令執(zhí)行部，其在每個指令循環(huán)中依次執(zhí)行待測設(shè)備的測試程序中所含有的指令；測試圖像存儲器，其執(zhí)行各指令，存儲對執(zhí)行此指令的指令循環(huán)期間中所輸出的測試圖像列的圖像長度進(jìn)行識別的圖像長度識別信息以及此測試圖像列；測試圖像存儲器讀取部，其在執(zhí)行一個指令的情形時，將長度與通過執(zhí)行一個指令而存儲在測試圖像存儲器的圖像識別信息相對應(yīng)的測試圖像長度自測試圖像存儲器中讀取；以及測試圖像輸出部，其在執(zhí)行一個指令的指令循環(huán)期間中，對應(yīng)于一個指令將測試圖像存儲器讀取部所讀取的測試圖像列輸出到待測設(shè)備的端子中。
文檔編號G01R31/28GK1842716SQ20058000029
公開日2006年10月4日 申請日期2005年7月12日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月23日
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