專利名稱：分析裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種利用分析用具，進(jìn)行尿等試樣中所含特定成分分析的分析裝置。
背景技術(shù)：
作為分析裝置，有如圖18和圖19所示，使用試驗(yàn)片，半自動(dòng)地分析尿中的多種成分的結(jié)構(gòu)(例如參照專利文獻(xiàn)1)的分析用具。圖示的分析裝置9，通過使用者將在多個(gè)試劑墊90A中含浸尿的試驗(yàn)片90載置在分析裝置9的載置部91上，利用光學(xué)方法，自動(dòng)地進(jìn)行尿的分析。更具體而言，首先用搬送臂92，將載置在載置部91上的試驗(yàn)片90搬送至測光部位93，在該測光部位93上，由測光部94進(jìn)行測光。然后，用搬送臂92移動(dòng)測光結(jié)束后的試驗(yàn)片90，收容在廢棄盒95中。
這里，在分析裝置9中，載置部91設(shè)在左手側(cè)(N1方向側(cè))。這是因?yàn)榫哂邢旅嫠龅膬?yōu)點(diǎn)。即，在使用者慣用右手的情況下，通常用左手拿收容有尿的容器96，或者在將容器96置于分析裝置9的左手側(cè)(N1方向側(cè))或前面?zhèn)?N3方向側(cè))的狀態(tài)下，進(jìn)行試驗(yàn)片90的試劑墊90A的尿含浸。由此，如圖20所示，假設(shè)如果將載置部91′設(shè)定在右手側(cè)，則必需通過分析裝置9′的顯示面板97A′和操作面板97B′的上方，將附著尿的試驗(yàn)片90載置在載置部91′上。結(jié)果，在分析裝置9′中，尿從試驗(yàn)片90撒落，存在該尿附著在顯示面板97A′或操作面板97B′上的可能性，在衛(wèi)生方面存在很大的問題。另一方面，為了在分析裝置9′中，不使尿撒落在顯示面板97A′或操作面板97B′上，使用者必需細(xì)心注意，將試驗(yàn)片90載置在載置部91′上，因此不方便。反之，在圖18和圖19所示的分析裝置9中，由于載置部91設(shè)置在使用者的左手側(cè)(N1方向側(cè))，具有容易將試驗(yàn)片90載置在載置部91上，能夠保持衛(wèi)生的優(yōu)點(diǎn)。
在分析裝置9中，在載置部91和測光部位93之間還設(shè)置有導(dǎo)向壁98。導(dǎo)向壁98，用于在將試驗(yàn)片90從載置部91移動(dòng)至測光部位93時(shí)，糾正試驗(yàn)片90的姿勢，具有離開載置部91(向著N2方向)、位于前面?zhèn)?N3方向)的錐面99。由此，試驗(yàn)片90在移動(dòng)至測光部位93前的過程中，被搬送臂92壓緊，在與導(dǎo)向壁98(錐面99)接觸的狀態(tài)下移動(dòng)，處于與搬送臂92平行的姿勢。結(jié)果，當(dāng)試驗(yàn)片90位于導(dǎo)向壁98的端部98A甚至測光部位93上時(shí)，試驗(yàn)片90處于目的姿勢(多個(gè)試劑墊90A在N3、N4方向排列的姿勢)。因此，分析裝置9具有即使比較粗略地將試驗(yàn)片90載置在載置部91上，也能夠以目的姿勢將試驗(yàn)片90搬送至測光部位93上的優(yōu)點(diǎn)。
另外，在分析裝置9中，測光部94中試驗(yàn)片90的測光，是通過例如在N3、N4方向往復(fù)移動(dòng)測光部94的動(dòng)作中，將光照射在試驗(yàn)片90上，同時(shí)，接受此時(shí)來自試驗(yàn)片90的反射光來進(jìn)行。這樣，在分析裝置9中，可以從試驗(yàn)片90得到試驗(yàn)片90分析所必需的信息。
然而，在分析裝置9中，以慣用右手的人為前提，將載置部91設(shè)定在左側(cè)，因此對于慣用左手的人來說，產(chǎn)生慣用右手的人使用圖20所示的分析裝置9′時(shí)的缺點(diǎn)。
另外，在分析裝置9中，在將尿含浸在試驗(yàn)片90的試劑墊90A中后，必須以試劑墊90A沿前后方向(N3、N4方向)排列的方式將該試驗(yàn)片90載置在載置部91上。即，在尿的含浸和試驗(yàn)片90的載置的一系列動(dòng)作中，必須使試驗(yàn)片90的前端部大幅度轉(zhuǎn)動(dòng)。這樣，為了進(jìn)行試驗(yàn)片90的操作，使用者必須大幅度翻轉(zhuǎn)手腕，將試驗(yàn)片90從容器96載置在載置部91上的作業(yè)也不容易。另外，在附著有尿的試驗(yàn)片90中，在大幅度轉(zhuǎn)動(dòng)其前端部的情況下，尿飛出的可能性增大，在衛(wèi)生方面出現(xiàn)問題。并且，為了抑制尿的飛出，使用者必須過度的注意。
并且，在利用錐面99糾正試驗(yàn)片90的姿勢的結(jié)構(gòu)中，如果增大錐面99的傾斜(如果減小曲率半徑)，則導(dǎo)致移動(dòng)試驗(yàn)片90時(shí)，試驗(yàn)片90的角掛在錐面99上，無法維持試驗(yàn)片90與搬送臂92的平行性。另一方面，為了適當(dāng)?shù)鼐S持試驗(yàn)片90與搬送臂92的平行性，并搬送試驗(yàn)片90，必須減小設(shè)定錐面99的傾斜(增大曲率半徑)。在這種情況下，由于必須增大設(shè)定試驗(yàn)片90的搬送距離，分析裝置9沿N1、N2方向的尺寸增大，導(dǎo)致裝置的大型化。
另外，為了進(jìn)行一個(gè)試驗(yàn)片90的測光，使測光部94在N1、N2方向往復(fù)移動(dòng)的情況下，測光部94的移動(dòng)距離中至少一半無助于試驗(yàn)片90的測光。由此，在分析裝置9中，使測光部94回至初始位置，要徒勞地移動(dòng)測光部94。結(jié)果，在分析裝置9中，在測光時(shí)移動(dòng)測光部94的過程中有時(shí)間的損失。這就意味著在連續(xù)地對多個(gè)試驗(yàn)片90進(jìn)行測光的情況下，測光所必需的時(shí)間間隔增大。此外為了消除該缺點(diǎn)，需要高價(jià)的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，導(dǎo)致制造成本提高。
并且，如果一次測光所必需的測光部94的移動(dòng)距離增大，則用于移動(dòng)測光部94的機(jī)構(gòu)容易劣化，裝置壽命縮短。為了消除這個(gè)缺點(diǎn)，必須提高用于移動(dòng)測光部94的機(jī)構(gòu)的耐久性，制造成本增高。
專利文獻(xiàn)1日本特開2000-55922號(hào)公報(bào)發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于，在分析裝置中，與使用者的慣用手無關(guān)，且不需要使用者大幅度翻轉(zhuǎn)手腕，易于將分析用具載置在載置部上，減輕分析操作時(shí)使用者的負(fù)擔(dān)。
另外，本發(fā)明的目的還在于，不導(dǎo)致分析裝置的大型化，能夠以目的姿勢將分析用具搬送至目的部位。
本發(fā)明的另一目的在于，提供一種不提高制造成本，可確保壽命長，同時(shí)與高速測光(分析)動(dòng)作對應(yīng)的分析裝置。
本發(fā)明的分析裝置，其特征在于利用在基材上設(shè)置有一個(gè)或多個(gè)試劑墊的分析用具，進(jìn)行試樣的分析。包括用于載置上述分析用具的載置部，和用于進(jìn)行上述分析用具的測光的測光部。并且可使上述分析用具沿著從上述載置部向上述測光部的搬送方向移動(dòng)。上述載置部可選擇下述兩種狀態(tài)載置上述分析用具上述基材的設(shè)置有至少一個(gè)試劑墊的第一端部，相對于上述基材的不設(shè)置上述一個(gè)或多個(gè)試劑墊的第二端部，位于與上述搬送方向正交的第一方向側(cè)的狀態(tài)；和上述第一端部相對于上述第二端部，位于與上述第一方向相反方向的第二方向側(cè)的狀態(tài)。
本發(fā)明的分析裝置，使用例如多個(gè)試劑墊包括第一和第二試劑墊的分析用具。在這種情況下，載置部可選擇下述兩種狀態(tài)載置分析用具第一試劑墊位于第二試劑墊的上述第一方向側(cè)的狀態(tài)；和第一試劑墊位于第二試劑墊的上述第二方向側(cè)的狀態(tài)。
本發(fā)明的分析裝置，在例如多個(gè)試劑墊在左右方向排列的狀態(tài)下，從載置部向測光部搬送上述分析用具。
測光部例如設(shè)置在載置部的后側(cè)，在這種情況下，上述分析裝置可從前面向里側(cè)搬送分析用具。
優(yōu)選載置部向上方、上述第一和第二方向開放。
測光部例如沿著多個(gè)試劑墊列，在設(shè)定在上述第一方向側(cè)的第一待機(jī)位置和設(shè)定在上述第二方向側(cè)的第二待機(jī)位置之間沿左右方向進(jìn)行往復(fù)移動(dòng)。在這種情況下，優(yōu)選上述分析裝置還包括控制部，其用于控制測光部的動(dòng)作，使得就一個(gè)分析用具的分析而言，當(dāng)測光部位于第一待機(jī)位置時(shí)，使測光部從第一待機(jī)位置向第二待機(jī)位置移動(dòng)后，使測光部在第二待機(jī)位置待機(jī)；另一方面，當(dāng)測光部位于第二待機(jī)位置時(shí)，使測光部從第二待機(jī)位置向第一待機(jī)位置移動(dòng)后，使測光部在第一待機(jī)位置待機(jī)；和運(yùn)算部，其根據(jù)測光部從第一待機(jī)位置向第二待機(jī)位置移動(dòng)，或者從第二待機(jī)位置向第一待機(jī)位置移動(dòng)時(shí)測光部的測光結(jié)果，對每一個(gè)上述試劑墊進(jìn)行試樣分析必需的運(yùn)算。
在本發(fā)明的分析裝置中，作為分析用具，可使用在多個(gè)試劑墊列的延長上與多個(gè)試劑墊列鄰接，設(shè)有基準(zhǔn)部的分析用具。在這種情況下，運(yùn)算部利用包含下列步驟的方法，進(jìn)行試樣分析必需的運(yùn)算例如，第一步驟，確定使測光部從第一待機(jī)位置向第二待機(jī)位置移動(dòng)，或者從第二待機(jī)位置向第一待機(jī)位置移動(dòng)時(shí)的受光量的時(shí)程；第二步驟，檢測與上述時(shí)程的基準(zhǔn)部對應(yīng)的基準(zhǔn)部數(shù)據(jù)區(qū)域；第三步驟，以基準(zhǔn)部數(shù)據(jù)區(qū)域?yàn)榛鶞?zhǔn)，確定與上述時(shí)程的各試劑墊對應(yīng)的多個(gè)試劑墊數(shù)據(jù)區(qū)域。優(yōu)選在第三步驟中，運(yùn)算部確定測光部從第一待機(jī)位置移動(dòng)至第二待機(jī)位置、或者從第二待機(jī)位置移動(dòng)至第一待機(jī)位置的差別，并且考慮測光部的移動(dòng)方向，確定試劑墊數(shù)據(jù)區(qū)域。在如此構(gòu)成運(yùn)算部的情況下，作為分析用具，優(yōu)選使用與在多個(gè)試劑墊的排列方向的各試劑墊的尺寸相比，上述排列方向的基準(zhǔn)部的尺寸小的用具。
分析裝置的結(jié)構(gòu)為，例如能夠?qū)⒍鄠€(gè)分析用具連續(xù)搬送至測光部，在測光部中，連續(xù)地對分析用具進(jìn)行測光。
測光部的結(jié)構(gòu)例如包括多個(gè)發(fā)光部和一個(gè)受光部。在這種情況下，配置多個(gè)發(fā)光部，例如使得將光傾斜地照射在各試劑墊上，另一方面，配置一個(gè)受光部，例如使得接受從各試劑墊向上方前進(jìn)的反射光。另外，配置多個(gè)發(fā)光部，例如使得從上方觀察時(shí)，呈以一個(gè)受光部為對稱中心的點(diǎn)對稱的位置關(guān)系；或者，從上方觀察時(shí)，與通過個(gè)受光部、且沿著搬送方向延伸的假想直線呈線對稱的位置關(guān)系。
本發(fā)明的分析裝置還包括糾正單元，其用于例如在從載置在載置部之后、至在測光部進(jìn)行測光的過程中，糾正分析用具向上述第一和第二方向的位置偏移。
糾正單元的結(jié)構(gòu)為，例如可以選擇將分析用具限制在第一和第二方向上的狀態(tài)，和不進(jìn)行限制的狀態(tài)。在這種情況下，糾正單元的優(yōu)選結(jié)構(gòu)為，具有一個(gè)以上的、以可以選擇將分析用具限制在第一和第二方向上的狀態(tài)和不進(jìn)行限制的狀態(tài)的方式進(jìn)行搖動(dòng)的搖動(dòng)部件。
一個(gè)以上的搖動(dòng)部件，例如包括用于限制分析用具的限制部可以互相接近或離開的第一和第二搖動(dòng)部件。在這種情況下，糾正單元例如通過以第一和第二搖動(dòng)部件的限制部之間互相接近的方式，使第一和第二搖動(dòng)件轉(zhuǎn)動(dòng)，將分析用具限制在第一和第二方向；另一方面，通過以第一和第二搖動(dòng)部件的限制部之間互相離開的方式，使第一和第二搖動(dòng)部件轉(zhuǎn)動(dòng)，分析用具處于不被限制在第一和第二方向的狀態(tài)。
本發(fā)明的分析裝置還包括移動(dòng)體，其用于例如將分析用具滑動(dòng)移動(dòng)至設(shè)置有第一和第二搖動(dòng)部件的部位或其前面，可在上述搬送方向和與其相反的方向上往復(fù)移動(dòng)。在這種情況下，優(yōu)選第一和第二搖動(dòng)部件與移動(dòng)體的動(dòng)作連動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)。
第一和第二搖動(dòng)部件的結(jié)構(gòu)為，例如當(dāng)從移動(dòng)體不干涉的狀態(tài)變化至移動(dòng)體干涉的狀態(tài)時(shí)，第一和第二搖動(dòng)部件轉(zhuǎn)動(dòng)，使得將分析用具限制在第一和第二方向；另一方面，當(dāng)從移動(dòng)體干涉的狀態(tài)變化至移動(dòng)體不干涉的狀態(tài)時(shí)，第一和第二搖動(dòng)部件轉(zhuǎn)動(dòng)，使得分析用具處于不被限制在第一和第二方向的狀態(tài)。具體而言，第一和第二搖動(dòng)部件，例如具有用于干涉移動(dòng)體的被干涉部，而且當(dāng)被干涉部變位至下方時(shí)，為了限制分析用具，限制部轉(zhuǎn)動(dòng)。與此相對，移動(dòng)體包括例如用于使被干涉部受到干涉的干涉部。在這種情況下，優(yōu)選被干涉部和干涉部中的至少一個(gè)，具有用于在干涉部與被干涉部干涉時(shí)，對于被干涉部作用向下方的力的錐面。被干涉部，例如向與上述搬送方向相反的方向側(cè)突出；干涉部，例如具有錐面，同時(shí)向上述搬送方向側(cè)突出。
糾正單元的優(yōu)選結(jié)構(gòu)為，在將分析用具停止在設(shè)置在載置部和測光部之間的糾正位置的狀態(tài)下，糾正分析用具的上述第一和第二方向上的位置偏移。
本發(fā)明的分析裝置，例如在設(shè)置有糾正單元的位置的前面，糾正分析用具向上述第一和第二方向的位置偏移。更具體而言，分析裝置例如通過在移動(dòng)體和在上述第一、第二方向上延伸的豎起壁之間，插入分析用具，糾正分析用具向上述搬送方向的位置偏移。
本發(fā)明的分析裝置，還可包括用于除去附著在分析用具上的剩余試樣的剩余試樣除去單元。在這種情況下，通過在剩余試樣除去單元和移動(dòng)體之間，插入分析用具，從分析用具除去剩余試樣，同時(shí)糾正分析用具向上述搬送方向的位置偏移。剩余試樣除去單元的結(jié)構(gòu)為，例如利用使分析用具接觸時(shí)的毛細(xì)管力，除去剩余試樣。本發(fā)明的分析裝置的結(jié)構(gòu)也可以為，在分析用具與剩余試樣除去單元接觸后，跨過剩余試樣除去單元，將分析用具移動(dòng)至設(shè)置有糾正單元的位置。
本發(fā)明的分析裝置還包括廢棄盒，其用于例如收容在測光部中測光結(jié)束后的分析用具；和拆毀機(jī)構(gòu)，其用于拆毀堆積在廢棄盒中的分析用具堆。
拆毀機(jī)構(gòu)包括例如用于與堆積在廢棄盒中的分析用具堆接觸的接觸元件。拆毀機(jī)構(gòu)的優(yōu)選結(jié)構(gòu)為，可以選擇接觸元件的至少一部分存在于廢棄盒內(nèi)部、可與分析用具堆接觸的第一狀態(tài)；和接觸元件整體存在于廢棄盒的外部的第二狀態(tài)。
本發(fā)明的分析裝置，還包括例如將載置在載置部上的分析用具搬送至側(cè)光部的搬送機(jī)構(gòu)。具體而言，搬送機(jī)構(gòu)具有例如為了搬送分析用具而轉(zhuǎn)動(dòng)的轉(zhuǎn)動(dòng)動(dòng)作體。在這種情況下，接觸元件的優(yōu)選結(jié)構(gòu)為，與轉(zhuǎn)動(dòng)動(dòng)作體的動(dòng)作連動(dòng)，使得在上述第一狀態(tài)和上述第二狀態(tài)之間反復(fù)。優(yōu)選接觸元件通過轉(zhuǎn)動(dòng)動(dòng)作體進(jìn)行搖動(dòng)。并且為板彈簧結(jié)構(gòu)。


圖1為表示本發(fā)明的分析裝置的整體立體圖。
圖2為說明圖1所示的分析裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的截面圖。
圖3為說明圖1所示的分析裝置的滑動(dòng)搬送機(jī)構(gòu)的主要部分的截面圖。
圖4為表示滑動(dòng)搬送機(jī)構(gòu)的構(gòu)成元件的立體圖。
圖5為表示圖1所示的分析裝置的剩余尿除去部件(block)的整體立體圖。
圖6為沿圖5的VI-VI線的截面圖。
圖7為說明圖1所示的分析裝置的位置糾正機(jī)構(gòu)的主要部分的截面圖。
圖8為表示圖7所示的位置糾正機(jī)構(gòu)的搖動(dòng)部件的立體圖。
圖9為說明圖1所示的分析裝置的間距(pitch)送進(jìn)機(jī)構(gòu)和拆毀機(jī)構(gòu)的立體圖。
圖10為說明圖1所示的分析裝置的間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)和拆毀機(jī)構(gòu)的立體圖。
圖11為說明圖1所示的分析裝置的間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)和驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的截面圖。
圖12為透視表示圖1所示的分析裝置的測光機(jī)構(gòu)的一部分的正視圖。
圖13為透視表示圖12所示的測光機(jī)構(gòu)的一部分的平面圖。
圖14為說明圖1所示的分析裝置的框圖。
圖15為說明圖14所示的運(yùn)算部動(dòng)作的流程圖。
圖16為表示由圖12和圖13所示的測光機(jī)構(gòu)的受光部得到的數(shù)據(jù)例的圖表。
圖17為說明位置糾正機(jī)構(gòu)的另一個(gè)例子的截面圖。
圖18為說明現(xiàn)有的分析裝置的平面圖。
圖19為局部切斷圖18所示的分析裝置的平面圖。
圖20為說明圖18所示的分析裝置的優(yōu)點(diǎn)的平面圖。
具體實(shí)施例方式
圖1和圖2所示的分析裝置1，使用試驗(yàn)片2，半自動(dòng)地分析尿中的多種成分。即，分析裝置1，通過使用者將在試劑墊20中含浸尿的試驗(yàn)片2載置在分析裝置1的試驗(yàn)片載置部11上，利用光學(xué)方法，自動(dòng)地進(jìn)行尿的分析。作為分析裝置1中的使用對象的試驗(yàn)片2，在長方形的基材21的長度方向，保持指示劑的多個(gè)試劑墊20和黑色標(biāo)識(shí)器22呈列狀排列。在該試驗(yàn)片2中，基材21例如由白色樹脂形成，黑色標(biāo)識(shí)器22在基材21的長度方向的尺寸，小于各試劑墊20的基材21的長度方向的尺寸。
如圖2所示，分析裝置1除了筐體10、試驗(yàn)片載置部11和廢棄盒12之外，還包括滑動(dòng)搬送機(jī)構(gòu)3、剩余尿除去機(jī)構(gòu)4、位置糾正機(jī)構(gòu)5、間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)6、測光機(jī)構(gòu)7和拆毀機(jī)構(gòu)8。
如圖1所示，在筐體10中設(shè)置有多個(gè)操作按鈕13和顯示面板14。各操作按鈕13為，為了生成用于進(jìn)行各種動(dòng)作(分析動(dòng)作或打印動(dòng)作等)的信號(hào)，或者進(jìn)行各種設(shè)定(分析條件設(shè)定和被驗(yàn)者ID輸入等)，使用者進(jìn)行操作的部分。顯示面板14為，顯示分析結(jié)果和錯(cuò)誤的主要性能指標(biāo)，同時(shí)顯示設(shè)定時(shí)的操作順序和操作狀況等。
如圖1和圖2所示，試驗(yàn)片載置部11為用于載置在試劑墊20中含浸有作為分析對象的尿的試驗(yàn)片2的部分。該試驗(yàn)片載置部11，由在操作面板13的前面設(shè)置向上方和側(cè)面開放的部分，使工作臺(tái)15的一部分露出于筐體10而規(guī)定。即，試驗(yàn)片載置部11，向工作臺(tái)15的上方和側(cè)面開放，可在試驗(yàn)片2的試劑墊20在左右方向排列的狀態(tài)下載置試驗(yàn)片2。另外，在試驗(yàn)片2的黑色標(biāo)識(shí)器22存在于多個(gè)試劑墊20列在左側(cè)的狀態(tài)(以下稱為“左置”)和存在于右側(cè)的狀態(tài)(以下稱為“右置”)中的任何一種狀態(tài)下，都可載置在試驗(yàn)片載置部11上。
如圖2和圖9所示，廢棄盒12用于收容測光結(jié)束后的試驗(yàn)片2，設(shè)置在間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)6的里側(cè)。如圖9和圖10所示，在該廢棄盒12中，在與后述的拆毀機(jī)構(gòu)8的板彈簧部件80的爪部82的搖動(dòng)軌跡對應(yīng)的部分上，設(shè)有一對切口12a。
如圖2～圖4所示，滑動(dòng)搬送機(jī)構(gòu)3用于將載置在試驗(yàn)片載置部11(工作臺(tái)15)上的試驗(yàn)片2搬送至后述的剩余尿除去機(jī)構(gòu)4的剩余尿除去部件40上，具有滑架(carriage)30和推桿(pusher)31。
如圖3和圖4所示，滑架30的結(jié)構(gòu)為，在工作臺(tái)15下方，由齒條32和導(dǎo)桿33支承，由齒條和小齒輪機(jī)構(gòu)帶動(dòng)自行。進(jìn)一步具體而言，電機(jī)34安裝在滑架30上，該電機(jī)34的驅(qū)動(dòng)力，通過齒輪35，傳遞給固定在筐體10上的齒條32。即，因?yàn)辇X條32固定在筐體10上，電機(jī)34的驅(qū)動(dòng)力，作為使滑架30相對移動(dòng)的力，作用在齒條32上。因此，通過控制電機(jī)34的驅(qū)動(dòng)，滑架30由導(dǎo)桿33導(dǎo)向，并且可在箭頭D1、D2方向往復(fù)移動(dòng)。電機(jī)34的驅(qū)動(dòng)控制利用后述的控制部17(參照圖14)進(jìn)行?；?0還具有向D1方向突出的一對干涉部36。該干涉部36為用于與后述的位置糾正機(jī)構(gòu)5的搖動(dòng)部件50的被干涉部51干涉的部分，具有錐面36a。
另一方面，推桿31以位于工作臺(tái)15的上方的方式與滑架30連接，與滑架30一體地運(yùn)動(dòng)。即，通過控制電機(jī)34的驅(qū)動(dòng)，使滑架30移動(dòng)，推桿31沿箭頭D1、D2方向往復(fù)移動(dòng)。該推桿31具有從主體部37突出形成的一對凸部38。各凸部38具有用于與試驗(yàn)片2直接接觸的接觸片39。各接觸片39，當(dāng)與滑架30一起移動(dòng)推桿31時(shí)，在設(shè)置在臺(tái)面15上的槽15a中移動(dòng)。
如圖3所示，剩余尿除去機(jī)構(gòu)4具有用于與試驗(yàn)片2接觸的剩余尿除去部件40。該剩余尿除去部件40可自由裝拆地保持在設(shè)置在筐體10上的凹部10A中。如圖5所示，剩余尿除去部件40具有多個(gè)槽41、一對第一切口42和一對第二切口43。
如圖3和圖5所示，各槽個(gè)41包含第一槽部41a第二槽部41b。第一槽部41a向上方開放，為使吸引力作用在試驗(yàn)片2的底面23上的部分。第二槽部41b沿上下方向延伸，為使吸引力作用在試驗(yàn)片2的側(cè)面24上，而且使從試驗(yàn)片2除去的尿向下方移動(dòng)的部分。
如圖3所示，一對第一切口42為，利用推桿31將試驗(yàn)片2的剩余尿除去部件40壓緊時(shí)，用于收容推桿31的接觸片39的部分。各第一切口42設(shè)置在與工作臺(tái)15的槽部15a對應(yīng)的位置。
如圖6清楚地所示，一對第二切口43用于容許后述的間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)6的送進(jìn)部件62的載置片65的轉(zhuǎn)動(dòng)運(yùn)動(dòng)。
如圖3和圖7所示，位置糾正機(jī)構(gòu)5通過在一對搖動(dòng)部件50之間插入試驗(yàn)片2，糾正試驗(yàn)片2向D3、D4方向的位置偏移。如圖3、圖7和圖8所示，各搖動(dòng)部件50具有限制部51和被干涉部52，圖中沒有明確表示，它們在互相離開方向被加力。限制部51具有L字形的形態(tài)。該限制部51，在拐角部51a上，通過軸52，大致在D3、D4方向可搖動(dòng)地支承在筐體10上。被干涉部52從限制部51向D2方向突出地形成，可以沿上下方向移動(dòng)。被干涉部52配置在滑架30的干涉部36的移動(dòng)軌跡上。因此，在使滑架30沿D1方向移動(dòng)的情況下，干涉部36與被干涉部52干涉。這時(shí)，由于干涉部36具有錐面36a，干涉部36中與被干涉部52干涉的部分慢慢地向D2方向位移。結(jié)果，在干涉部36與被干涉部52干涉后，通過使滑架30沿D1方向移動(dòng)，對被干涉部52作用向下方的力，被干涉部52向下位移。由此，如圖7清楚地所示，各限制部51在互相接近的方向轉(zhuǎn)動(dòng)。
如圖9所示，間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)6用于將位于剩余尿除去部件40上的試驗(yàn)片2(參照圖3)向廢棄盒12間距送進(jìn)和搬送。如圖9～圖11所示，該間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)6具有搬送臺(tái)60、一對軌道61、送進(jìn)部件62和驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)63。
如圖7和圖10所示，搬送臺(tái)60規(guī)定搬送區(qū)域，同時(shí)支承一對軌道61。在該搬送臺(tái)60上設(shè)置有一對切槽60A和一對切口60B。一對切槽60A容許后述的送進(jìn)部件62的載置片65(參照圖9)的轉(zhuǎn)動(dòng)運(yùn)動(dòng)。在互相隔開一定間隔的狀態(tài)下，沿箭頭D1、D2方向延伸。另一方面，一對切口60B容許位置糾正機(jī)構(gòu)5的搖動(dòng)部件50的搖動(dòng)。
一對軌道61用于支承試驗(yàn)片2，在箭頭D3、D4方向隔開一定間隔，沿D1、D2方向延伸形成。在各軌道61上，設(shè)置有沿圖中的D1、D2方向并列的多個(gè)凹部61A。各軌道61A的多個(gè)凹部61A沿D1、D2方向隔開一定間隔設(shè)置，在一對軌道61上，以平行于D3、D4方向的狀態(tài)支承試驗(yàn)片2。另外，在試驗(yàn)片2支承在位于最靠近D2方向側(cè)的凹部61A上的狀態(tài)下，利用位置糾正機(jī)構(gòu)5糾正試驗(yàn)片2向D3、D4方向的位置偏移。反之，在試驗(yàn)片2支承在位于最靠近D1方向側(cè)的凹部61A上的狀態(tài)下，利用測光機(jī)構(gòu)7進(jìn)行試驗(yàn)片2的測光。
如圖9和圖11所示，送進(jìn)部件62用于將載置在一對軌道61的特定的凹部61A上的試驗(yàn)片2，依次間距送進(jìn)至鄰接的凹部61A上。該送進(jìn)部件62由后述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)63(參照圖11)驅(qū)動(dòng)，可做圓運(yùn)動(dòng)。送進(jìn)部件62具有從支承板64A向下方突出的一對連接板64Ba、64Bb，和從支承板65A向上方突出的一對載置片65。一對載置片65在支承板64A上，以在D3、D4方向上隔開間隔的狀態(tài)，沿D1、D2方向延伸配置。各載置片65具有沿D1、D2方向排列的多個(gè)切口65A。各載置片65的各切口65A由一對傾斜面65Aa、65Ab規(guī)定。在試驗(yàn)片2的底面23與傾斜面65Aa接觸的狀態(tài)下，搬送試驗(yàn)片2。
如圖11所示，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)63用于使送進(jìn)部件62作轉(zhuǎn)動(dòng)運(yùn)動(dòng)。具有電機(jī)66和第一～第四帶輪67A～67D。
電機(jī)66用于向送進(jìn)部件62施加轉(zhuǎn)動(dòng)力。通過齒輪68A、68B，與第一帶輪67A連接。即，由電機(jī)66產(chǎn)生的轉(zhuǎn)動(dòng)力輸入第一帶輪67A，利用電機(jī)66第一帶輪67A轉(zhuǎn)動(dòng)。該電機(jī)66由后述的控制部17(參照圖14)控制。
第一～第四帶輪67A～67D可轉(zhuǎn)動(dòng)地支承在支承支架68C、68D上。第一帶輪67A通過皮帶68E與第二帶輪67B互相連接。因此，當(dāng)利用電機(jī)66使第一帶輪67A轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，第二帶輪67B也在與第一帶輪67A向相同方向轉(zhuǎn)動(dòng)。第一帶輪67A還通過連部件69A與第三帶輪67C連接。連接部件69A具有主軸部69Aa和第一、第二從動(dòng)軸部69Ab、69Ac。
主軸部69Aa不能相對于第一和第三帶輪67A～67C轉(zhuǎn)動(dòng)，作成一體，同時(shí)可轉(zhuǎn)動(dòng)地支承在支承支架68C上。即，當(dāng)?shù)谝粠л?7A轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，第三帶輪67C向與第一帶輪67A向相同方向轉(zhuǎn)動(dòng)。
第一和第二從動(dòng)軸部69Ab、69Ac通過臂部69Ad、69Ae與主軸部69Aa連接。即，從D3或D4方向看時(shí)，第一和第二從動(dòng)軸部69Ab、69A設(shè)置在偏離主軸部69Aa的位置上。因此，第一和第二從動(dòng)軸部69Ab、69Ac可在主軸部69Aa的周圍轉(zhuǎn)動(dòng)。第一和第二從動(dòng)軸部69Ab、69Ac與送進(jìn)部件62的連接板64Ba、64Bb連接。因此，第一帶輪67A和第三帶輪67C的轉(zhuǎn)動(dòng)力可使連接板64Ba、64Bb轉(zhuǎn)動(dòng)運(yùn)動(dòng)。
第四帶輪67D通過皮帶68F與第三帶輪67C連接。即，通過使第一帶輪67A轉(zhuǎn)動(dòng)，第三帶輪67C轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，第三帶輪67C的轉(zhuǎn)動(dòng)力被傳遞至第四帶輪67D。第四帶輪67D再通過連接部件69B與第二帶輪67B連接。連接部件69B與上述的連接部件69A同樣，具有不能相對于第二和第四帶輪67B、67D轉(zhuǎn)動(dòng)，而且可在支承支架68B上轉(zhuǎn)動(dòng)的主軸部69Ba；和與送進(jìn)部件62的連接板64Ba、64Bb連接的第一和第二從動(dòng)軸部69Bb、69Bc。因此，當(dāng)通過使第一帶輪67A轉(zhuǎn)動(dòng)，轉(zhuǎn)動(dòng)第二帶輪67B時(shí)，第二帶輪67B的轉(zhuǎn)動(dòng)力作為使第四帶輪67D轉(zhuǎn)動(dòng)的力發(fā)揮作用。這時(shí)，第二和第四帶輪67B、67D的轉(zhuǎn)動(dòng)力作為使連接板64Ba、64Bb作轉(zhuǎn)動(dòng)運(yùn)動(dòng)的力發(fā)揮作用。
在上述說明的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)63中，通過將電機(jī)66的轉(zhuǎn)動(dòng)力輸入第一帶輪67A，第一～第四帶輪67A～67D向相同方向轉(zhuǎn)動(dòng)，同時(shí)，這些帶輪67A～67D的轉(zhuǎn)動(dòng)力作為使連接板64Ba、64Bb(送進(jìn)部件62)、即載置片65轉(zhuǎn)動(dòng)的力發(fā)揮作用。結(jié)果，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)63通過利用后述的控制部17(參照圖14)控制電機(jī)66的驅(qū)動(dòng)，可使載置片65做圓運(yùn)動(dòng)。
如圖2、圖12和圖13所示，測光機(jī)構(gòu)7接受將光照射在試驗(yàn)片2的各試驗(yàn)墊片20上時(shí)的反射光，得到與各試劑墊20的發(fā)色程度相應(yīng)的信息。該測光機(jī)構(gòu)7，具有固定在座70上的多個(gè)發(fā)光部71和一個(gè)受光部72。如圖2所示，座70通過導(dǎo)桿73和螺桿74支承在筐體10上。螺桿74上形成有螺紋槽，圖中沒有明確表示，與座70螺合。在螺桿74的端部74A上安裝帶輪75。該帶輪75與通過皮帶76連接在與電機(jī)77連接的帶輪78上。即，電機(jī)77的轉(zhuǎn)動(dòng)力，作為用于使螺桿74的轉(zhuǎn)動(dòng)的力被傳遞，通過使螺桿74轉(zhuǎn)動(dòng)，座70可向D3、D4方向移動(dòng)。
如圖12和圖13所示，各發(fā)光部71可以射出例如具有特定峰值波長的光，由LED構(gòu)成。各發(fā)光部71以射出光中心軸71A與水平面(各試劑墊20)呈45度傾斜的狀態(tài)，固定在座70上。另一方面，受光部72用于接受從各試劑墊20反射的光，例如由光電二極管構(gòu)成。該受光部72固定在座70上，使得受光中心軸72A垂直。即，受光部72，在由各發(fā)光部72照射在各試劑墊20上的光中，接受與試劑墊20呈45度散射的反射光。如上所述，多個(gè)發(fā)光部71和一個(gè)受光部72固定在座70上。因此，通過移動(dòng)座70，可使多個(gè)發(fā)光部71和一個(gè)受光部72，與座70一起移動(dòng)。
多個(gè)發(fā)光部71，位于從垂直方向看以受光部72為中心的同一圓周上。進(jìn)一步具體而言，配置多個(gè)發(fā)光部71，使得呈以受光部72為對稱中心的點(diǎn)對稱，和對于沿著通過受光部72的試驗(yàn)片2的搬送方向D1的對稱線7A呈線對稱中的至少一種的位置關(guān)系。圖13表示多個(gè)發(fā)光部71的個(gè)數(shù)為6個(gè)，各發(fā)光部71在同一圓周上以45度的間隔配置的例子。在將多個(gè)發(fā)光部71按這種點(diǎn)對稱或線對稱的位置關(guān)系與受光部72配置的情況下，對于試驗(yàn)片載置部11，試驗(yàn)片2右置和左置的情況下，都可在受光部72上得到同樣的受光數(shù)據(jù)。
即，在制造分析裝置時(shí)，產(chǎn)生各零件的尺寸公差或裝配公差等。因此，分析裝置1中，不必一定以水平姿勢搬送試驗(yàn)片2，當(dāng)試驗(yàn)片2位于測光機(jī)構(gòu)7的對應(yīng)部分上時(shí)，不限于水平姿勢。在對于一個(gè)受光部組裝一個(gè)發(fā)光部的測光機(jī)構(gòu)中，在將試驗(yàn)片2右置和左置的情況下，這種姿勢的偏移(傾斜)可作為反的誤差發(fā)揮作用。因此，在左置和右置兩種載置方式均可的分析裝置中，在采用對于一個(gè)受光部組裝一個(gè)發(fā)光部的測光機(jī)構(gòu)的情況下，由于試驗(yàn)片2的姿勢(傾斜)，產(chǎn)生測定誤差。另外，在測光機(jī)構(gòu)7中，當(dāng)使座70移動(dòng)時(shí)，有時(shí)發(fā)光部71或受光部72的中心軸偏移，一般這種偏移在使移動(dòng)座70向右方向移動(dòng)時(shí)和向左方向移動(dòng)時(shí)不同。在這種情況下，與產(chǎn)生試驗(yàn)片2的姿勢偏移(傾斜)的情況相同，在右置和左置兩種載置均可的分析裝置中，在采用對于一個(gè)受光部組裝一個(gè)發(fā)光部的測光機(jī)構(gòu)的情況下，會(huì)產(chǎn)生測定誤差。從以上例子中可看出，在存在試驗(yàn)片2和發(fā)光部71、受光部72的中心軸位置關(guān)系產(chǎn)生偏差或偏移的主要原因的狀態(tài)下，會(huì)產(chǎn)生上述測定誤差。
反之，分析裝置1的測光機(jī)構(gòu)7，對于一個(gè)受光部72組裝多個(gè)發(fā)光部71，并且以多個(gè)發(fā)光部71呈上述的點(diǎn)對稱或線對稱關(guān)系的方式配置。因此，當(dāng)同時(shí)點(diǎn)亮全部發(fā)光部71，使受光部72接受此時(shí)的反射光量的情況下，正誤差和負(fù)誤差抵消，與試驗(yàn)片2和發(fā)光部71、受光部72的中心軸的位置關(guān)系的偏差或偏移沒有關(guān)系，右置和左置時(shí)均可接收同樣光量的光。結(jié)果，在測光機(jī)構(gòu)7中，能夠避免因右置和左置的差別而得到不同的結(jié)果。換言之，在測光機(jī)構(gòu)7中，由于難以受到試驗(yàn)片2和發(fā)光部71、受光部72的中心軸的位置關(guān)系的偏差或偏移的影響，向右方向移動(dòng)座70時(shí)得到的結(jié)果和向左方向移動(dòng)座70時(shí)得到的結(jié)果相同。
在不同的分析裝置相互之間，也可能產(chǎn)生的試驗(yàn)片2和發(fā)光部71、受光部72的中心軸的位置關(guān)系的偏差或偏移的影響。即，由于各零件的尺寸公差或裝配公差，在多個(gè)分析裝置相互之間，會(huì)產(chǎn)生試驗(yàn)片2和發(fā)光部71、受光部72的中心軸的位置關(guān)系的偏差或偏移。另外，在使用相同的分析裝置1的情況下，假定每一次測定試驗(yàn)片2的姿勢均不同。即便在這些情況下，根據(jù)與右置和左置的情況相同的理由，能夠抑制分析裝置相互的測定精度的偏差或同一個(gè)分析裝置每次測定的偏差。
圖13表示多個(gè)發(fā)光部71的個(gè)數(shù)為6個(gè)，各發(fā)色部71在同一圓周上以45度的間隔配置的例子，但多個(gè)發(fā)光部71的配置例可根據(jù)發(fā)光部71的數(shù)目進(jìn)行選擇。例如，在多個(gè)發(fā)光部71的個(gè)數(shù)為3個(gè)的情況下，在同一圓周上，以120度間隔配置多個(gè)發(fā)光部71；在多個(gè)發(fā)光部71的個(gè)數(shù)為4個(gè)的情況下，在同一圓周上，以90的間隔配置多個(gè)發(fā)光部71即可。
如圖9和圖10所示，拆毀機(jī)構(gòu)8用于抑制收容在廢棄盒12中的多個(gè)試驗(yàn)片2在同一個(gè)位置堆積，其具有板彈簧部件80。該板彈簧部件80具有一對爪部82從T字形部分81向D1方向突出的形態(tài)。如圖9所示，板彈簧部件80在D2方向受到附加力的作用，而且與送進(jìn)部件62的支承板64A貼緊的狀態(tài)下，在T字形部分81的下端部，固定在筐體10上。即，當(dāng)送進(jìn)部件62做圓運(yùn)動(dòng)時(shí)，板彈簧部件80也維持與支承板64A貼緊的狀態(tài)，由于送進(jìn)部件62的圓運(yùn)動(dòng)而搖動(dòng)。如上所述，在廢棄盒12中，在與爪部82的搖動(dòng)軌跡對應(yīng)的部分上設(shè)置有一對切口12a。因此，在送進(jìn)部件62(支承板64)在D1方向側(cè)位移，板彈簧部件80在D1方向轉(zhuǎn)動(dòng)的情況下，爪部82處于通過切口12a，向廢棄盒12的內(nèi)部突出的狀態(tài)(在圖9中，用實(shí)線表示板彈簧部件80的狀態(tài))。與此相對，在送進(jìn)部件62(支承板64A)在D2方向側(cè)位移，板彈簧部件80在D2方向轉(zhuǎn)動(dòng)的情況下，爪部82處于不向廢棄盒12內(nèi)部突出的狀態(tài)(在圖9中，用雙點(diǎn)劃線表示板彈簧部件80的狀態(tài))。即，在拆毀機(jī)構(gòu)8中，根據(jù)送進(jìn)部件62(支承板64A)的圓運(yùn)動(dòng)，選擇爪部82向廢棄盒12內(nèi)部突出的狀態(tài)和不突出的狀態(tài)。
如圖14所示，分析裝置除了上述各元件外，還具有運(yùn)算部16和控制部17。這些元件可以組合例如CPU、RAM和ROM構(gòu)成。
運(yùn)算部16根據(jù)測光機(jī)構(gòu)7的受光部72的接收光的結(jié)果，按后述的順序(參照圖15)，運(yùn)算尿中特定成分的濃度。
控制部17用于控制各元件的動(dòng)作。典型的是，控制部17控制電機(jī)34的驅(qū)動(dòng)，限制滑架30(推桿31(參照圖3))的往復(fù)運(yùn)動(dòng)；控制電機(jī)66的驅(qū)動(dòng)，限制送進(jìn)部件62(載置片65(參照圖11))的圓運(yùn)動(dòng)；控制電機(jī)77的驅(qū)動(dòng)，限制座70(發(fā)光部71和受光部72(參照圖12))的往復(fù)運(yùn)動(dòng)。
然后，以連續(xù)地將試驗(yàn)片2載置在試驗(yàn)片載置部11上，連續(xù)地進(jìn)行試驗(yàn)片2的分析情況為例，說明分析裝置1的分析動(dòng)作。
在分析裝置1中，例如通過操作特定的操作按鈕13，根據(jù)控制部17的控制，驅(qū)動(dòng)各電機(jī)34、66，使滑架30(推桿31)往復(fù)運(yùn)動(dòng)，使送進(jìn)部件62(載置片65)做圓運(yùn)動(dòng)。
如圖2和圖3清楚地所示，在滑動(dòng)送進(jìn)機(jī)構(gòu)3中，推桿31在D1方向，從D2方向側(cè)的待機(jī)位置移動(dòng)至與剩余尿除去部件40對應(yīng)的位置后，在D2方向移動(dòng)，回到待機(jī)位置。推桿61在待機(jī)位置停止一定時(shí)間。即，通過控制部17(參照圖14)控制電機(jī)34的驅(qū)動(dòng)，控制推桿31反復(fù)進(jìn)行間歇的往復(fù)運(yùn)動(dòng)。
另一方面，當(dāng)推桿31在待機(jī)位置上待機(jī)時(shí)，使用者可將試驗(yàn)片2載置在試驗(yàn)片載置部11上。如上所述，由于試驗(yàn)片載置部11向上方和左右方向開放(參照圖1)，可以在右置和左置任何一種狀態(tài)下，將試驗(yàn)片2載置在試驗(yàn)片載置部11上。因此，在分析裝置1中，在使用者用右手和左手的任何一種情況下，與使用的手無關(guān)，都可以容易地將試驗(yàn)片2載置在試驗(yàn)片載置部11上。因此，在分析裝置1中，與使用者慣用的手或載置收容有尿的容器的位置無關(guān)，可以簡單地將試驗(yàn)片2載置在試驗(yàn)片載置部11上。另外，使用者可以以多個(gè)試劑墊20在D3、D4方向排列的方式將試驗(yàn)片2載置在試驗(yàn)片載置部11上。因此，與以多個(gè)試劑墊20在D1、D2方向排列的方式載置試驗(yàn)片2的情況相比，由于使用者載置試驗(yàn)片2的必要?jiǎng)幼餍?，將試?yàn)片2載置在試驗(yàn)片載置部11上的動(dòng)作容易。
當(dāng)推桿31在D1方向移動(dòng)時(shí)，載置在試驗(yàn)片載置臺(tái)11上的試驗(yàn)片2壓緊在推桿31的接觸片39上，移動(dòng)至與剩余尿除去部件40對應(yīng)的部分，利用推桿31(接觸片39)壓緊在剩余尿除去部件40上。這樣，試驗(yàn)片2向D1、D2方向位置偏移被糾正，形成與搬送方向D1正交的姿勢。
如圖3清楚地所示，在利用推桿31將試驗(yàn)片2壓緊在剩余尿除去部件40上的狀態(tài)下，剩余尿除去部件40的第一槽部41a被試驗(yàn)片2的底面23塞住。這樣，第一槽部41a使吸引力作用在試驗(yàn)片2的底面23上，剩余尿可以從試驗(yàn)片2的底面23除去。另外，剩余尿除去部件40的第二槽部41b使吸引力作用在試驗(yàn)片2的側(cè)面24上，可以從試驗(yàn)片2的側(cè)面24除去剩余尿。
另一方面，如圖9所示，在間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)6中，如上所述，使送進(jìn)部件62乃至載置片65做圓運(yùn)動(dòng)。如從圖9和圖10預(yù)想的那樣，控制載置片65的圓運(yùn)動(dòng)。使得先將試驗(yàn)片2移動(dòng)至剩余尿除去部件40，至再次將試驗(yàn)片移動(dòng)至剩余尿除去部件40的過程中，將與剩余尿除去部件40接觸的試驗(yàn)片2移動(dòng)至搬送臺(tái)60上(正確的是位于一對軌道61最靠近D2方向上的凹部61A)。因此，在間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)6中，在連續(xù)地將試驗(yàn)片2供給剩余尿除去部件40的情況下，可連續(xù)地將這些試驗(yàn)片2移動(dòng)至搬送臺(tái)60(凹部61A)上。
如圖7清楚所示，利用位置糾正機(jī)構(gòu)5，糾正移動(dòng)至搬送臺(tái)60(凹部61A)上的試驗(yàn)片2向D3、D4方向上的位置偏移。如圖3和圖7所示，在位置糾正機(jī)構(gòu)5中，使滑架30在D1方向移動(dòng)時(shí)，滑架30的干涉部36與位置糾正機(jī)構(gòu)5的搖動(dòng)部件50的被干涉部52干涉，使一對搖動(dòng)部件50的限制部51在互相接近的方向地轉(zhuǎn)動(dòng)。因此，當(dāng)滑架30在D1方向移動(dòng)時(shí)，通過搖動(dòng)部件50的限制部51在互相接近的方向上轉(zhuǎn)動(dòng)，可將位于凹部61A的試驗(yàn)片2插入限制部51之間，糾正向D3、D4方向的位置偏移。
在分析裝置1中，通過搖動(dòng)位置糾正機(jī)構(gòu)5的一對搖動(dòng)部件50，可反復(fù)地糾正試驗(yàn)片2向D3、D4方向的位置偏移。即，在位置糾正機(jī)構(gòu)5中，不是在使試驗(yàn)片2移動(dòng)一定距離的過程中，糾正試驗(yàn)片2向D3、D4方向的位置偏移，而是在特定部位上，糾正試驗(yàn)片2向D3、D4方向的位置偏移。因此，在分析裝置1中，作為用于糾正試驗(yàn)片2向D3、D4方向的位置偏移的區(qū)域，不必確保在D1、D2方向的距離大。結(jié)果，在分析裝置1中，不會(huì)使裝置在D1、D2方向的尺寸增大，可以糾正試驗(yàn)片2向D3、D4方向的位置偏移。
如從圖9預(yù)想的那樣，通過在間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)6的載置片65的每一個(gè)周期的圓運(yùn)動(dòng)中，移載至鄰接的凹部65上，可以進(jìn)行糾正了D3、D4方向的位置的試驗(yàn)片2的間距送進(jìn)。
進(jìn)一步具體而言，首先，當(dāng)載置片65的切口65A從搬送臺(tái)62的下方向上方，通過軌道61的凹部61A時(shí)，利用切口65A，抬起凹部61A中的試驗(yàn)片2。此時(shí)，試驗(yàn)片2由于自重，位于切口65A的最深部，并且在與傾斜面65Aa貼緊的狀態(tài)下被抬起。因此，試驗(yàn)片2在維持與D3、D4方向的平行性的狀態(tài)下被抬起。其次，在載置片65的切口65A描繪圓弧軌跡，并通過軌道61的上方后，當(dāng)載置片65的切口65A從軌道61的上方，向下方通過對應(yīng)的凹部61A時(shí)，試驗(yàn)片2從切口65A移送至凹部61A。利用載置片65的多個(gè)周期的圓運(yùn)動(dòng)，可反復(fù)進(jìn)行這種從凹部61A抬起試驗(yàn)片2和將試驗(yàn)片2從切口65A向凹部61A的移載。于是，位于軌道61最靠近D1方向側(cè)的凹部61A的試驗(yàn)片2，在利用測光機(jī)構(gòu)7進(jìn)行測光后，可通過載置片65的下一周期的圓運(yùn)動(dòng)，移動(dòng)至廢棄盒12中。
將測光結(jié)束后的試驗(yàn)片2陸續(xù)收容在廢棄盒12中，但由于利用間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)6中的載置片65的圓運(yùn)動(dòng)，進(jìn)行試驗(yàn)片2的廢棄，因此在廢棄盒12中，堆積在同一個(gè)位置。
與此相對，分析裝置1發(fā)置有拆毀機(jī)構(gòu)8。即，對應(yīng)于載置片65的圓運(yùn)動(dòng)，搖動(dòng)板彈簧部件80，板彈簧部件80反復(fù)處于爪部82向廢棄盒12的內(nèi)部突出的狀態(tài)和不突出狀態(tài)。由此，在試驗(yàn)片2大量堆積在廢棄盒12中的情況下，當(dāng)爪部82處于向廢棄盒12內(nèi)部突出的狀態(tài)時(shí)，與大量堆積的試驗(yàn)片2干涉。結(jié)果，在廢棄盒12中，利用拆毀機(jī)構(gòu)8，試驗(yàn)片2堆被拆毀。于是，因?yàn)槔幂d置片65的圓運(yùn)動(dòng)，反復(fù)進(jìn)行爪部82向廢棄盒12中的突出，因此，在廢棄盒12中，多個(gè)試驗(yàn)片2不會(huì)堆積得超過一定高度。由此，堆積的試驗(yàn)片不會(huì)與測光機(jī)構(gòu)7等其他元件干涉而產(chǎn)生分析誤差。另外，在對堆積的試驗(yàn)片2堆進(jìn)行拆毀的情況下，存在于被拆毀的部分中的試驗(yàn)片2被收容在廢棄盒12的空的空間中。結(jié)果，能夠有效地利用廢棄盒12中的收容空間。由此，在分析裝置1中，以有效地利用廢棄盒12中的收容空間為目的，不必確保廢棄盒12的上下方向的大的尺寸，或者對搬送機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)想辦法，再或者設(shè)置復(fù)雜結(jié)構(gòu)的廢棄機(jī)構(gòu)。因此，在分析裝置1中，不會(huì)導(dǎo)致裝置的大型化和制造成本增加，能夠抑制試驗(yàn)片在廢棄盒12中大量堆積。
另一方面，如從圖2預(yù)想的那樣，在測光機(jī)構(gòu)7中，在D3方向或D4方向上移動(dòng)座70，并進(jìn)行試驗(yàn)片2的測光。將測光機(jī)構(gòu)7的受光部72(參照圖12和圖13)的受光結(jié)果送至圖14所示的運(yùn)算部16，在運(yùn)算部14中進(jìn)行尿的特定成分的分析。這種測光和運(yùn)算的一系列的試樣分析處理，按照例如圖15所示的流程圖進(jìn)行。
在利用分析裝置1的試樣分析處理中，首先，圖14所示的運(yùn)算部16確認(rèn)座70的位置(S1)。即，識(shí)別座70是在左側(cè)待機(jī)位置(圖2中用實(shí)線表示的位置)待機(jī)，還是在右側(cè)待機(jī)位置(圖2中用雙點(diǎn)劃線表示的位置)待機(jī)。這種位置的識(shí)別，可通過例如在左待機(jī)位置和右待機(jī)位置兩者上均設(shè)置光斷續(xù)器等傳感器，確認(rèn)座70的存在，或者在座70位于現(xiàn)在的位置之前，確認(rèn)座70在右方向或左方向中任何一個(gè)方向移動(dòng)來進(jìn)行。
其次，圖14所示的控制部17，當(dāng)座70位于右待機(jī)位置時(shí)，使座70向左方向移動(dòng)至左待機(jī)位置；當(dāng)座70位于左待機(jī)位置時(shí)，使座70向右方向移動(dòng)至右待機(jī)位置(S2)。座70的移動(dòng)方向存儲(chǔ)在例如運(yùn)算部16中。當(dāng)送進(jìn)部件62的載置片65位于軌道61的多個(gè)切口61A的下方時(shí)，進(jìn)行座70的移動(dòng)(參照圖9)。此時(shí)，在運(yùn)算部16中，通過多個(gè)發(fā)光部71，將光照射在試驗(yàn)片2的試劑墊20上，并且在受光部72中通過接收光，得到試樣分析所必需的數(shù)據(jù)(S3)。在運(yùn)算部16中得到的數(shù)據(jù)例如如圖16所示。即，當(dāng)將光照射在與試驗(yàn)片2的黑色標(biāo)識(shí)器22對應(yīng)的部分上時(shí)，得到反射率(受光率)小于閾值、而且有一定寬度的峰值波形區(qū)域。當(dāng)將光照射在各試劑墊20上時(shí)，得到與試劑墊20的發(fā)色程度對應(yīng)的反射率(受光量)的有一定寬度的峰值波形區(qū)域。
在圖14所示的運(yùn)算部16中，考慮座70的移動(dòng)方向，并且根據(jù)S3中的受光結(jié)果，識(shí)別試驗(yàn)片2的黑色標(biāo)識(shí)器22的位置(S4)。進(jìn)一步具體而言，首先從得到的數(shù)據(jù)，特別指定反射率(受光量)在閾值以下的峰值部分，識(shí)別黑色標(biāo)識(shí)器存在于該部分。閾值設(shè)定為例如小于假定作為試劑墊20的反射率(受光量)的最小值的小值。通過掌握峰值波形的寬度，識(shí)別黑色標(biāo)識(shí)器22的位置。即，在圖示的試驗(yàn)片2中，因?yàn)楹谏珮?biāo)識(shí)器的尺寸小于各試劑墊20的寬度尺寸，因此通過掌握寬度尺寸小的峰值波形，能夠識(shí)別黑色標(biāo)識(shí)器22的位置。
然后，運(yùn)算部16特別指定試驗(yàn)片2的方向(S5)。試驗(yàn)片2的方向，例如通過考慮座70的移動(dòng)方向，且在得到的數(shù)據(jù)隨時(shí)間變化中與黑色標(biāo)識(shí)器22對應(yīng)的峰值波形區(qū)域比與試劑墊20對應(yīng)的多個(gè)峰值波形區(qū)域先得到或者后得到，進(jìn)行識(shí)別。
再在運(yùn)算部16中，特別指定與各個(gè)試劑墊20對應(yīng)的數(shù)據(jù)區(qū)域(峰值波形區(qū)域)(S6)。數(shù)據(jù)區(qū)域的特別指定，通過根據(jù)在S3～S5中得到的信息，使試驗(yàn)片2的黑色標(biāo)識(shí)器22和各試劑墊20的位置關(guān)系與得到的數(shù)據(jù)隨時(shí)間變化對應(yīng)來進(jìn)行。
然后，運(yùn)算部16對每個(gè)試劑墊均進(jìn)行試樣分析所必需的運(yùn)算，進(jìn)行與試劑墊20對應(yīng)的成分的分析(S7)。進(jìn)一步具體而言，運(yùn)算部16，通過將S6中對每個(gè)試劑墊20特別指定的數(shù)據(jù)區(qū)域中的反射率(受光量)的峰值，用于預(yù)先決定的檢量線中，進(jìn)行試樣中的特定成分的濃度運(yùn)算。運(yùn)算結(jié)果顯示在例如顯示面板14中，使用者可以確認(rèn)分析結(jié)果。
在分析裝置1中，不使座70在D3、D4方向往復(fù)移動(dòng)，使座70從一個(gè)待機(jī)位置向另一個(gè)待機(jī)位置的一個(gè)方向移動(dòng)，進(jìn)行試驗(yàn)片2的測光，根據(jù)該測光結(jié)果，在運(yùn)算部16中進(jìn)行試樣分析所必需的運(yùn)算。即，在分析裝置1中，可以使一次測光所必需的座70的移動(dòng)距離為使座70往復(fù)移動(dòng)進(jìn)行測光時(shí)的一半。因此，在分析裝置1中，可以縮短測光時(shí)間，使試樣分析的速度提高，還可以通過減小一次測光所必需的座70的移動(dòng)距離，抑制用于驅(qū)動(dòng)座70的機(jī)構(gòu)的劣化，可確保增長壽命。
本發(fā)明不限于上述實(shí)施方式，可以進(jìn)行各種變更。例如，位置糾正機(jī)構(gòu)5不一定需要包含一對搖動(dòng)部件50。即，如圖17所示，也可以使位置糾正機(jī)構(gòu)5′包含一個(gè)搖動(dòng)部件50′，通過在該搖動(dòng)部件50′和壁面59′之間插入試驗(yàn)片2，糾正試驗(yàn)片2在D3、D4方向位置。另外，用于使間距送進(jìn)機(jī)構(gòu)6的送進(jìn)部件做圓運(yùn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，可以采用凸輪機(jī)構(gòu)等其他機(jī)構(gòu)。另外，從位置糾正機(jī)構(gòu)至測光機(jī)構(gòu)的試驗(yàn)片的搬送，不一定必須采用對試驗(yàn)片進(jìn)行間距送進(jìn)的機(jī)構(gòu)，也可以采用例如使試驗(yàn)片進(jìn)行滑動(dòng)移動(dòng)的機(jī)構(gòu)。并且，拆毀機(jī)構(gòu)8的結(jié)構(gòu)為，通過送進(jìn)部件62的載置片65的圓運(yùn)動(dòng)而被搖動(dòng)的板彈簧件80，拆毀收容在廢棄盒12中的多個(gè)試驗(yàn)片堆，但拆毀機(jī)構(gòu)只要可以作用拆毀收容在廢棄盒中的多個(gè)試驗(yàn)片堆的力即可。即，拆毀機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)也可以為，使與送進(jìn)部件分別驅(qū)動(dòng)的元件，和試驗(yàn)片堆進(jìn)行干涉的結(jié)構(gòu)；對廢棄盒給予振動(dòng)的結(jié)構(gòu)；或向試驗(yàn)片堆上吹空氣等的結(jié)構(gòu)。
權(quán)利要求
1.一種分析裝置，其特征在于利用在基材上設(shè)置有一個(gè)或多個(gè)試劑墊的分析用具，進(jìn)行試樣的分析，所述分析裝置包括用于載置所述分析用具的載置部和用于進(jìn)行所述分析用具的測光的測光部，并且可使所述分析用具沿著從所述載置部向所述測光部的搬送方向移動(dòng)，所述載置部可選擇下述兩種狀態(tài)載置所述分析用具所述基材的設(shè)置有至少一個(gè)試劑墊的第一端部，相對于所述基材不設(shè)置所述一個(gè)或多個(gè)試劑墊的第二端部，位于與所述搬送方向正交的第一方向側(cè)的狀態(tài)；和所述第一端部相對于所述第二端部，位于與所述第一方向相反方向的第二方向側(cè)的狀態(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述的分析裝置，其特征在于所述多個(gè)試劑墊包括第一和第二試劑墊，所述載置部可選擇下述兩種狀態(tài)載置所述分析用具所述第一試劑墊相對地位于所述第二試劑墊的所述第一方向側(cè)的狀態(tài)；和所述第一試劑墊位于所述第二試劑墊的所述第二方向側(cè)的狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求2所述的分析裝置，其特征在于在所述多個(gè)試劑墊在左右方向排列的狀態(tài)下，從所述載置部向所述測光部搬送所述分析用具。
4.如權(quán)利要求3所述的分析裝置，其特征在于所述測光部設(shè)置在所述載置部的里側(cè)，并且可從前面向里側(cè)搬送所述分析用具。
5.如權(quán)利要求1所述的分析裝置，其特征在于所述載置部向上方、所述第一和第二方向開放。
6.如權(quán)利要求1所述的分析裝置，其特征在于所述測光部，可沿著所述多個(gè)試劑墊列，在設(shè)定在所述第一方向側(cè)的第一待機(jī)位置和設(shè)定在所述第二方向側(cè)的第二待機(jī)位置之間進(jìn)行往復(fù)移動(dòng)，還包括控制部，其用于控制所述測光部的動(dòng)作，使得就一個(gè)分析用具的分析而言，當(dāng)所述測光部位于所述第一待機(jī)位置時(shí)，使所述測光部從所述第一待機(jī)位置向所述第二待機(jī)位置移動(dòng)后，使所述測光部在所述第二待機(jī)位置待機(jī)；另一方面，當(dāng)所述測光部位于所述第二待機(jī)位置時(shí)，使所述測光部從所述第二待機(jī)位置向所述第一待機(jī)位置移動(dòng)后，使所述測光部在所述第一待機(jī)位置待機(jī)；和運(yùn)算部，其根據(jù)所述測光部從所述第一待機(jī)位置向所述第二待機(jī)位置移動(dòng)，或者從所述第二待機(jī)位置向所述第一待機(jī)位置移動(dòng)時(shí)所述測光部的測光結(jié)果，對每一個(gè)所述試劑墊進(jìn)行試樣分析必需的運(yùn)算。
7.如權(quán)利要求6所述的分析裝置，其特征在于作為所述分析用具，使用在所述多個(gè)試劑墊列的延長上與所述多個(gè)試劑墊列鄰接，設(shè)有基準(zhǔn)部的分析用具，所述運(yùn)算部，利用包含下列步驟的方法，進(jìn)行試樣分析必需的運(yùn)算第一步驟，確定使所述測光部從所述第一待機(jī)位置向所述第二待機(jī)位置，或者從所述第二待機(jī)位置向所述第一待機(jī)位置移動(dòng)時(shí)的受光量的時(shí)程；第二步驟，檢測與所述時(shí)程的所述基準(zhǔn)部對應(yīng)的基準(zhǔn)部數(shù)據(jù)區(qū)域；第三步驟，以所述基準(zhǔn)部數(shù)據(jù)區(qū)域?yàn)榛鶞?zhǔn)，確定與所述時(shí)程的所述各試劑墊對應(yīng)的多個(gè)試劑墊數(shù)據(jù)區(qū)域。
8.如權(quán)利要求7所述的分析裝置，其特征在于在所述第三步驟中，所述運(yùn)算部確定所述測光部從所述第一待機(jī)位置移動(dòng)至所述第二待機(jī)位置、或者從所述第二待機(jī)位置移動(dòng)至所述第一待機(jī)位置的差別，并且考慮所述測光部的移動(dòng)方向，確定所述試劑墊數(shù)據(jù)區(qū)域。
9.如權(quán)利要求7所述的分析裝置，其特征在于作為所述分析用具，使用與在所述多個(gè)試劑墊的排列方向的所述各試劑墊的尺寸相比，所述排列方向的所述基準(zhǔn)部的尺寸小的用具。
10.如權(quán)利要求1所述的分析裝置，其特征在于將多個(gè)分析用具連續(xù)搬送至所述測光部，在所述測光部，能夠連續(xù)地對分析用具進(jìn)行測光。
11.如權(quán)利要求6所述的分析裝置，其特征在于所述測光部包括多個(gè)發(fā)光部和一個(gè)受光部，配置所述多個(gè)發(fā)光部，使得將光傾斜地照射在所述各試劑墊上，配置所述一個(gè)受光部，使得接受從所述各試劑墊向上方前進(jìn)的反射光。
12.如權(quán)利要求11所述的分析裝置，其特征在于配置所述多個(gè)發(fā)光部，使得從上方觀察時(shí)，呈以所述一個(gè)受光部為對稱中心的點(diǎn)對稱的位置關(guān)系。
13.如權(quán)利要求11所述的分析裝置，其特征在于所述一個(gè)受光部配置在沿著所述搬送方向延伸的假想直線上，配置所述多個(gè)發(fā)光部，使得從上方觀察時(shí)，與所述假想直線呈線對稱的位置關(guān)系。
14.如權(quán)利要求1所述的分析裝置，其特征在于還包括糾正單元，其用于在從將所述分析用具載置在所述載置部之后、至在所述測光部進(jìn)行測光的過程中，糾正所述分析用具向所述第一和第二方向的位置偏移。
15.如權(quán)利要求14所述的分析裝置，其特征在于所述糾正單元，可以選擇將所述分析用具限制在所述第一和第二方向上的狀態(tài)，和不進(jìn)行限制的狀態(tài)。
16.如權(quán)利要求15所述的分析裝置，其特征在于所述糾正單元具有一個(gè)以上的、可以選擇將所述分析用具限制在所述第一和第二方向上的狀態(tài)和不進(jìn)行限制的狀態(tài)的方式進(jìn)行搖動(dòng)的搖動(dòng)部件。
17.如權(quán)利要求16所述的分析裝置，其特征在于所述一個(gè)以上的搖動(dòng)部件，包括用于限制所述分析用具的限制部可以互相接近或離開的第一和第二搖動(dòng)部件，所述糾正單元，通過以所述第一和第二搖動(dòng)部件的限制部之間互相接近的方式，使所述第一和第二搖動(dòng)件轉(zhuǎn)動(dòng)，將所述分析用具限制在所述第一和第二方向；另一方面，通過以所述第一和第二搖動(dòng)部件的限制部之間互相離開的方式，使所述第一和第二搖動(dòng)部件轉(zhuǎn)動(dòng)，使所述分析用具處于不被限制在所述第一和第二方向的狀態(tài)。
18.如權(quán)利要求17所述的分析裝置，其特征在于還包括移動(dòng)體，其用于將所述分析用具滑動(dòng)移動(dòng)至設(shè)置有所述第一和第二搖動(dòng)部件的部位或其前面，可在所述搬送方向和與其相反的方向上往復(fù)移動(dòng)，所述第一和第二搖動(dòng)部件與所述移動(dòng)體的動(dòng)作連動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)。
19.如權(quán)利要求18所述的分析裝置，其特征在于當(dāng)從所述移動(dòng)體不干涉的狀態(tài)變化至所述移動(dòng)體干涉的狀態(tài)時(shí)，所述第一和第二搖動(dòng)部件轉(zhuǎn)動(dòng)，使得將所述分析用具限制在所述第一和第二方向；另一方面，當(dāng)從所述移動(dòng)體干涉的狀態(tài)變化至所述移動(dòng)體不干涉的狀態(tài)時(shí)，所述第一和第二搖動(dòng)部件轉(zhuǎn)動(dòng)，使得所述分析用具處于不被限制在所述第一和第二方向的狀態(tài)。
20.如權(quán)利要求19所述的分析裝置，其特征在于所述第一和第二搖動(dòng)部件，具有用于干涉所述移動(dòng)體用的被干涉部，而且當(dāng)所述被干涉部變位至下方時(shí)，為了限制所述分析用具，所述限制部轉(zhuǎn)動(dòng)，所述移動(dòng)體包括用于使所述被干涉部受到干涉的干涉部，而且所述被干涉部和所述干涉部中的至少一個(gè)，具有用于在所述干涉部與所述被干涉部干涉時(shí)，對于所述被干涉部作用向下方的力的錐面。
21.如權(quán)利要求20所述的分析裝置，其特征在于所述被干涉部，向與所述搬送方向相反的方向側(cè)突出，所述干涉部，具有所述錐面，同時(shí)向所述搬送方向側(cè)突出。
22.如權(quán)利要求14所述的分析裝置，其特征在于所述糾正單元，在將所述分析用具停止在設(shè)置在所述載置部和所述測光部之間的糾正位置的狀態(tài)下，糾正所述分析用具的所述第一和第二方向上的位置偏移。
23.如權(quán)利要求14所述的分析裝置，其特征在于在設(shè)置有所述糾正單元的位置的前面，糾正所述分析用具向所述第一和第二方向的位置偏移。
24.如權(quán)利要求23所述的分析裝置，其特征在于通過在所述移動(dòng)體和在所述第一、第二方向上延伸的豎起壁之間，插入所述分析用具，糾正所述分析用具向所述搬送方向的位置偏移。
25.如權(quán)利要求24所述的分析裝置，其特征在于還包括用于除去附著在所述分析用具上的剩余試樣的剩余試樣除去單元，通過在所述剩余試樣除去單元和所述移動(dòng)體之間，插入所述分析用具，從所述分析用具除去剩余試樣，同時(shí)糾正所述分析用具向所述搬送方向的位置偏移。
26.如權(quán)利要求25所述的分析裝置，其特征在于所述剩余試樣除去單元，利用使所述分析用具接觸時(shí)的毛細(xì)管力，除去剩余試樣。
27.如權(quán)利要求25所述的分析裝置，其特征在于在所述分析用具與所述剩余試樣除去單元接觸后，跨過所述剩余試樣除去單元，將所述分析用具移動(dòng)至設(shè)置有所述糾正單元的位置。
28.如權(quán)利要求1所述的分析裝置，其特征在于，還包括廢棄盒，其用于收容在所述測光部中測光結(jié)束后的分析用具；和拆毀機(jī)構(gòu)，其用于拆毀堆積在所述廢棄盒中的分析用具堆。
29.如權(quán)利要求28所述的分析裝置，其特征在于所述拆毀機(jī)構(gòu)包括用于與堆積在所述廢棄盒中的分析用具堆接觸的接觸元件。
30.如權(quán)利要求29所述的分析裝置，其特征在于所述拆毀機(jī)構(gòu)可以選擇所述接觸元件的至少一部分存在于所述廢棄盒內(nèi)部、可與所述分析用具堆接觸的第一狀態(tài)；和所述接觸元件整體存在于所述廢棄盒的外部的第二狀態(tài)。
31.如權(quán)利要求30所述的分析裝置，其特征在于還包括搬送機(jī)構(gòu)，其在從所述載置部向著所述測光部的所述分析用具的搬送路徑的至少一部分區(qū)間上，用于在所述搬送方向上搬送所述分析用具，所述搬送機(jī)構(gòu)具有為了搬送所述分析用具而轉(zhuǎn)動(dòng)的轉(zhuǎn)動(dòng)動(dòng)作體，所述接觸元件與所述轉(zhuǎn)動(dòng)動(dòng)作體的動(dòng)作連動(dòng)，使得在所述第一狀態(tài)和所述第二狀態(tài)之間反復(fù)。
32.如權(quán)利要求31所述的分析裝置，其特征在于所述接觸元件通過所述轉(zhuǎn)動(dòng)動(dòng)作體進(jìn)行搖動(dòng)。
33.如權(quán)利要求32所述分析裝置，其特征在于所述接觸元件作為板彈簧構(gòu)成。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種分析裝置(1)，其包括用于載置分析用具(2)的載置部(11)，和用于進(jìn)行分析用具(2)的測光的測光部(7)。在該分析裝置(1)中，載置部(11)以分析用具(2)的試劑墊(20)的列朝向左右方向(D3、D4)的方式，載置分析用具(1)。測光部(7)設(shè)置在載置部(11)的里側(cè)。而且，在多個(gè)試劑墊(20)在左右方向(D3、D4)上排列的狀態(tài)下，向著測光部(7)，從前面將載置在載置部(11)上的分析用具(2)搬送至里側(cè)(D1方向)。
文檔編號(hào)G01N21/86GK1950705SQ20058001487
公開日2007年4月18日 申請日期2005年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2004年5月10日
發(fā)明者高木康光, 杉江久和, 大槻俊之, 西田憲正, 本鄉(xiāng)義清 申請人:愛科來株式會(huì)社