專利名稱：Tcp處理裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉^于對(duì)作為IC糾的^t的、TCP (Tape Carrier Package, 帶載封裝)、COF (ChipOnFUm、芯片^ji^Ji)進(jìn)行測(cè)試的TCP處S^置， 下面，^Pit過TCP、 COF、其它TAB (Tape Automated Bonding,帶栽自動(dòng) 鍵合)安裝狄制造的IW^為"TCP",
背景絲
在IC M等的電，降的制造#中，必須有對(duì)位于最^"j造的IC H# 和位于中間階段的^ff等的性能、功倉(cāng)feii行測(cè)試的電"Wf測(cè)^^置，在TCP 的情況下，i^TCP用的測(cè)試裝置。
TCP用的測(cè)試裝置J由測(cè)試^i體、測(cè)試頭、TCP處SL^置(下面有時(shí) 稱為"TCP處理器")構(gòu)成。該TCP處理器通iiitill在帶(還包括膜的概念， 下同。)上形成多個(gè)TCP的載帶，將載帶按壓于與測(cè)試頭電連接的柳，J卡的探 測(cè)器上，使TCP的夕MP端子與御'JII^觸，由jtkjym^l"多個(gè)TCP進(jìn)fr測(cè) 試的功能。
另外，如絲測(cè)試中確認(rèn)了 TCP所必需的性能、功能，則判斷為通過(判 斷為合格品)，另一方面，在未確認(rèn)時(shí)則判斷為失敗(判斷為不合格)。但是， 判斷為5U&， ^S^" TCP本身為不合格品的情況，^伴隨TCP相對(duì)i^l寸 卡的定位不,而it^的不良',，另夕卜，^伴隨^^狀態(tài)下的^^電阻大 的不良情形。由于因定位不良等而被判斷為^J&的TCP中具有令格品，如M 行再測(cè)試，能夠發(fā)S /^^ n，則可提高TCP的成品率。
^LiiE，在載帶中，4t"5^各TCP,在一個(gè)或多^NMiiMX位用的^i己(對(duì) ^f封己)，以該對(duì)J^i己為差J^ii行定位。即，；5MI照相機(jī)等以對(duì)準(zhǔn)才射己為基 準(zhǔn)確認(rèn)TCP相對(duì)于鄉(xiāng)'J卡的位置，并JL^4t需要對(duì)位置絲進(jìn)"m務(wù)正，但是， 即使如此，仍有因定位不良判斷為^Jt的情況。
W卜，i經(jīng)于糊，J卡上的多個(gè)探針，通過數(shù)十萬次的測(cè)試，與TCP的夕MP端子接觸的前端部的位置相對(duì)于最初的狀態(tài)^ji變化，產(chǎn)生波動(dòng)。有由*致
的判斷為^ia的情況。而且，還有因灰塵附著于探針的前端或探針的前端的接 觸電l!EJt加，接觸狀態(tài)為不穩(wěn)定的狀態(tài)，由此而判斷為^jt的情況。另夕卜，還 有由于載帶的種類、載帶面的反射條Hs而通it^f目機(jī)無法清楚itk^測(cè)對(duì)準(zhǔn)標(biāo) 記的輪廓的情況。
在TCP被判斷為^t時(shí)，#^者暫時(shí)停止測(cè)^^置，確認(rèn)被判斷為^Jt的
TCP的夕MP端^^!'J器的位置關(guān)系，在該位置關(guān)系;p^適時(shí)，輛過手動(dòng)操 作進(jìn)^J"位使得兩者確實(shí)接觸之后，進(jìn)行再測(cè)試。通過再測(cè)試而判斷為通過的
TCP為合^ 。。雖然通itii樣的辦者的確認(rèn)辦，TCP的成品率可提高，但
是，由于測(cè)試裝置的停止時(shí)間增長(zhǎng)，所以具有測(cè)試的生產(chǎn)4^氐的難題。
為此，有可同時(shí)進(jìn)行兩個(gè)以上的TCP的測(cè)試的、W^P!，hf^測(cè)試頭的 TCP用的測(cè)試<^置。這樣，通過同時(shí)ii行兩個(gè)以上的TCP的測(cè)試，可提高測(cè) 試的生產(chǎn)率
發(fā)明內(nèi)容
(發(fā)明要解決的問題)
但是，如果同時(shí)進(jìn)行測(cè)試的TCP的數(shù)量為多個(gè)，則-^^觸的區(qū)域加寬。 特別是，^i一步M多插腳4沐窄間距化的TCP的測(cè)試中，不容易JE^, 行同時(shí)測(cè)試的4^TCP的定位。如果同時(shí)測(cè)試多個(gè)TCP,則因定位不良而把 合格品的TCP判斷為M的頻率增加。如果判斷為失敗的頻^t加，則暫時(shí)停 止測(cè)試裝置，IMt者確iU^通過手動(dòng)，進(jìn)^^位的頻率增加，由此，測(cè)試的 生產(chǎn)率降低。即，即^^增加同時(shí)測(cè)試的TCP的數(shù)量來提高生產(chǎn)率的情況下， 與W目伴隨，測(cè)^^置的暫時(shí)停止頻^it加，由此，測(cè)^^置的工作時(shí)間減 少，未必^^得充賴提高生產(chǎn)率的絲。
本發(fā)明正是#5^這樣的實(shí)際情況而提出的，其目的在于提供對(duì)于在每次測(cè) 試中可同時(shí)對(duì)兩個(gè)以上的TCP進(jìn)行測(cè)試的TCP處^^置，可進(jìn)一步提高測(cè)試 的生產(chǎn)率的TCP處^^置。
(解決問 的^^方案)
為了實(shí)5Uiii目的，第一，本發(fā)明提^^TCP處ig^置，通it^Ml與同 時(shí)測(cè)試的多個(gè)TCP相對(duì)應(yīng)的糊iJ卡，將載帶上的多個(gè)TCP的夕Np端子與^i51'J卡的接觸端子電接觸，負(fù)&夠同時(shí)對(duì)多個(gè)TCP進(jìn)fr測(cè)試，^#棘于在最初的 測(cè)試中，同時(shí)對(duì)多個(gè)TCP進(jìn)行測(cè)試，在上述同時(shí)測(cè)試中被判斷為不合格的判斷 ^^格TCP移到不同于該判斷不合格TCP所"^觸的^^觸端子的另一接觸端子 的位置之后，再次進(jìn)行測(cè)試(發(fā)明1)。
按照J(rèn)iit^明(發(fā)明l)，可在不停止TCP處3S^置的情況下，自動(dòng)斷 被判斷為;^^糾TCP進(jìn)行再測(cè)試。即，雖然TCP實(shí)際上為合^ -，仍因各 種原因而被判斷為;^"格，但是，按照J(rèn)iifJL明(發(fā)明l)，仍可通過再測(cè)試而 判斷為合^T 。，提高IW^造的成品率。另外，按照J(rèn)ii^明(發(fā)明l)，可在 不停止TCP處S^置的情況下，自動(dòng)iikii行再測(cè)試，由oW高測(cè)試的生產(chǎn)率。
另夕卜，^1￡所說的再測(cè)試不僅指最初測(cè)*^進(jìn)#^第>^測(cè)試，只要 能夠弟^不同的接觸端子組，還包括第三次以后的測(cè)試。例如，"^觸端子組為3 個(gè)時(shí)，可it行兩次再測(cè)試。
在Jiii^明(發(fā)明l)中，也可以，晰目對(duì)于栽帶的i^ll^向串行氺剛的多 個(gè)TCP、或晰目對(duì)于載帶的iti^T向并行氺剛的多個(gè)TCP、或晰目對(duì)于載帶的 itilUr向串行朝^'J的TCP輛目對(duì)^J^r向并行氺剛的TCP,同時(shí)iifr測(cè)試 (發(fā)明2)。
在JJ^1明(發(fā)明1)中，也可以，在載帶上iU有4t^各TCP確定各TCP 的位置的定位用的對(duì)^1M^i6，與同時(shí)進(jìn)fr測(cè)試的多個(gè)TCP的夕Np端子相對(duì)應(yīng)的 接觸端子的定^^于至少一個(gè)Ji^^f示記而進(jìn)行(發(fā)明3) o ^mJJiTCP 處S^置，可^^時(shí)間進(jìn)^帶的定位，而J^^發(fā)明的^4JiilTCP處理
處狄明(發(fā)明l)中，也可以，樹Ji^判斷^^格TCP進(jìn)行再次測(cè) 試時(shí)，同時(shí)對(duì)與上述判斷不合格TCP "-^按壓的未檢查的TCP進(jìn)行測(cè)試(發(fā) 明4)。
例如，在進(jìn)行測(cè)試時(shí)有一個(gè)TCP被判斷為:f^格的情況下，在下一次測(cè)試 中進(jìn)行再測(cè)試的TCP為一個(gè)。因此，如^E接觸部中可與TCP接觸的位置為 例如兩個(gè)，那么除了進(jìn)行再測(cè)試的TCP以夕卜，不是再測(cè)試對(duì)象的TCP也與接 觸"#|5#觸。此時(shí)，未進(jìn)^it一次測(cè)試的TCP與接觸^#觸，但是，如^Ji行再 測(cè)試時(shí)對(duì)該TCP進(jìn)"ff^L初的測(cè)試，則可^ii^t再測(cè)試的同時(shí)^ii^:初的測(cè) 試，測(cè)試的生產(chǎn)率進(jìn)一步提高。缺，"狄明(發(fā)明i)中，樹上述判斷;^^格TCP進(jìn)行再次測(cè)試
時(shí)，在測(cè)試的實(shí)施中除去與iJi判斷;r^"格TCP """^按壓的檢查完的TCP(發(fā) 明5)。
M， ^JJ^明(發(fā)明1)中，對(duì)^Lhil同時(shí)測(cè)試中被判斷為不合格的判 斷不合格TCP，通過該判斷不合格TCP所接觸的接觸端子進(jìn)行至少一次的再 測(cè)試(發(fā)明6)。通iUiit再測(cè)試，簡(jiǎn)單ilkii行合^ 。判斷，^EjH^合，無須進(jìn) 行TCP的位置^^IMt就可進(jìn)一步提高測(cè)試的生產(chǎn)率。
也可以，在Ji^L明(發(fā)明l)中，歧JJi判斷;^^格TCP的夕MP端子 和與該夕n5端子接觸的接觸端子的按壓條件，進(jìn)行JJi再測(cè)試(發(fā)明7)。通過 Jiii再測(cè)試，簡(jiǎn)單ilk^行合^ P判斷，^W合，無須進(jìn)行TCP的位置變更操 作就可進(jìn)一步提高測(cè)試的生產(chǎn)率。
也可以，在上狄明(發(fā)明7)中，測(cè)^hii判斷;f^^格TCP的夕陶端子 和與該夕I^P端子接觸的接觸端子的接觸電阻，^r測(cè)到超過可允許的接觸電阻 值的值時(shí)，^Jiii按壓糾，進(jìn)行Jiit再測(cè)試(發(fā)明8)。通itiJi再測(cè)試， 簡(jiǎn)單ilkii^""^^^判斷，4W合，無須進(jìn)行TCP的位置^動(dòng)作就可進(jìn)一步 提高測(cè)試的生產(chǎn)率。
也可以，在J^L明(發(fā)明l)中，利用檢測(cè)TCP的夕NP端子和與該夕NP 端子接觸的接觸端子的電接觸狀態(tài)的接)li^查功能， 一直到檢測(cè)到某個(gè)接觸端 子的接觸不U止，沿X軸方向和/或Y軸方向使移動(dòng)糊，卡的糊，J卡臺(tái)微動(dòng)， 找出可移動(dòng)區(qū)域，確^i可移動(dòng)區(qū)域的中央位置，才條Jiil確定的中央位置， 進(jìn)行TCP的定位(發(fā)明9)。按照該發(fā)明，由于可進(jìn)^^觸端子的最佳定位， 所以判斷為不合格的M頻率減小，提高了成品率^^測(cè)試的生產(chǎn)率。
也可以，在Ji^明(發(fā)明l)中，Ji^TCP處3g^置^同H^及附多個(gè) TCP、將^fe壓于Ji^接觸端子上的吸附按壓部件，上述吸附按壓^pfr對(duì)應(yīng)于 同時(shí)測(cè)試的TCP的氺^'J而分割成至少兩個(gè)，Jiil已分割的吸附按壓部件的相互 的間距能夠調(diào)整成與同時(shí)測(cè)試的TCP的間多財(cái)目對(duì)應(yīng)(發(fā)明10)。按照J(rèn)JiJL
第二，本發(fā)明提^^t可同時(shí)使多個(gè)TCP進(jìn)行測(cè)試的TCP處S^置，其 特征在于在最初的測(cè)試中同時(shí)對(duì)多個(gè)TCP進(jìn)行測(cè)試，釆用與判斷不合格TCP 所接觸的探測(cè)卡的接觸端子不同的另一接觸端子，對(duì)在上述同時(shí)測(cè)試中被判斷為不合格的判斷不合格TCP進(jìn)行再測(cè)試(發(fā)明11)。
按照J(rèn)iii發(fā)明(發(fā)明11)，可在不停止TCP處錄置的情況下，自動(dòng)地 X^皮判斷為不合格的TCP進(jìn)行測(cè)試。由此，^fH，造的成品^:高，并且無須 停止TCP處S^，測(cè)試的生產(chǎn)，高。 (發(fā)明的^)
按照本發(fā)明的TCP處3S^置，可同時(shí)對(duì)兩個(gè)以上的TCP進(jìn)行測(cè)試，可提 高^f^，j造的成品率、測(cè)試的生產(chǎn)率。


圖1為包^^it本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的TCP處理器的TCP用的測(cè)M
圖2為JiitTCP用的測(cè)試裝置的#^卡臺(tái)的#^圖； 圖3為^^fpL^;^發(fā)明的一個(gè)實(shí)^式的TCP處理器的動(dòng)作的琉-呈圖； 圖4為扇^示^i^^發(fā)明的一個(gè)實(shí)^式的TCP處理器的再測(cè)試時(shí)的動(dòng)作的 絲圖5為表甜Nt本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的TCP處理器的再測(cè)試時(shí)的另 一方 式的動(dòng)作的琉程圖。
1表示TCP用的測(cè)"i^X;
2表示TGP處理器；
3表示推動(dòng)單元j
5表示載帶；
7表7 ^測(cè)卡臺(tái)；
8表^M卡；
IO表示測(cè)試頭；
21表示巻出盤；
22表示棘盤；
81表示探測(cè)器("^觸端子)。下面根據(jù)附圖，對(duì)本發(fā)明的實(shí)^^^fi^^i兌明.
圖1為包樹Mt;^發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的TCP處理器的TCP用的測(cè)*
置的整^y^現(xiàn)圖，圖2為^a，j卡臺(tái)的餘現(xiàn)圖，圖3為扇^^Mt^"發(fā)明的一個(gè)實(shí)
^式的TCP處理器的動(dòng)作-旅圖，圖4為表示儲(chǔ)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)^式的 TCP處理器的再測(cè)試時(shí)的動(dòng)作的流程圖，圖5為表^#^本發(fā)明的一個(gè)實(shí)# 式的TCP處理器的再測(cè)試時(shí)的另一方式的動(dòng)作的流程圖。
首先，對(duì)M本發(fā)明的實(shí)施方式的處理器的TCP用的測(cè)試裝置的^結(jié)構(gòu) 進(jìn)械明。
象圖l所示的那樣，TCP用的測(cè)試裝置1由圖中未示出的測(cè)試431A體、與 測(cè)試^Ri體電連接的測(cè)試頭10、 ftri殳置于測(cè)試頭10的上側(cè)的TCP處理器2構(gòu) 成。
TCP處理器2通iW栽帶5進(jìn)"ff^ili，對(duì)在栽帶5上沿其縱向#>"#^列 形成的各TCP^ii行測(cè)試。另外，作為栽帶5，還^"沿其縱向按照兩排或 多排的氺剛形成TCP的類型。例如，在同時(shí)測(cè)試的TCP為4個(gè)時(shí)，有1排4 個(gè)的#^、 2排2個(gè)單^g'J的朝g'J。
象圖2所示的那樣，4W載帶5中的每個(gè)TCP,在TCP附近的M^位置
另夕卜，本實(shí)施方式的TCP處理器2，每次兩^N^TCP進(jìn)，寸試，但是， ;ML明并不限于每次兩個(gè)財(cái)TCP進(jìn)行測(cè)試的裝置，還^N"在栽帶5上沿串 行方向和/或并行方向朝一，J的3個(gè)以上的TCP同時(shí)i^ff測(cè)試的處理器。
TCP處理器2包括巻出盤21和4^盤22。在巻出盤21 JiiU^測(cè)試前的 栽帶5，該載帶5按照M出盤21巻出，^i^行測(cè)^4^于4^盤22上的方
在巻出盤21和4^盤22之間，i5^有將錢帶5剝離的獄帶52錄出 盤21紹!]絲盤22上的3個(gè)間隔輥23a、 23b、 23c。各間隔輥23a、 23b、 23c 按照可調(diào)0護(hù)帶52的張力的方式，分別上下運(yùn)動(dòng)。
在巻出盤21的下倆jiM有帶導(dǎo)向件24a、巻出限制輥2Sa、內(nèi)側(cè)副^25b 和內(nèi)側(cè)導(dǎo)向輥25c， ^出盤21巻出的栽帶5通過帶導(dǎo)向件24a而導(dǎo)向，同時(shí) 經(jīng)由巻出限制輥2Sa、內(nèi)側(cè)副^25b和內(nèi)側(cè)導(dǎo)向輥25c， itiH^推動(dòng)單元3。
在4^盤22的下側(cè)，iU帶導(dǎo)向件24b、 iW艮制輥25f、夕H^副靴25e夕卜側(cè)副賺25e和4W艮制輥25f，通過帶導(dǎo)向件24b而進(jìn)行導(dǎo)向，同時(shí)絲于 棘盤22上。
在內(nèi)倆浮向輥25c和外側(cè)導(dǎo)向輥25d之間i^^推動(dòng)單元3。另夕卜，在推動(dòng)單 元3的前段側(cè)(圖1中的左側(cè))設(shè)置第1照湘機(jī)6a,在推動(dòng)單元3的下側(cè)(后 迷的^!'j卡臺(tái)7的內(nèi)側(cè))iS^第2照^目機(jī)6b，在推動(dòng)單元3的后段側(cè)(圖1中 的右側(cè)HU第3照相機(jī)6c。另外，在推動(dòng)單元3和第3照^目機(jī)6c之間i^X標(biāo) 記沖壓器26a和等外品沖壓器(rejectpunch) 26b。
才封己沖壓器26a根據(jù)測(cè)試的結(jié)果，，該TCP在M^位置^H殳一個(gè)或多個(gè) 孔，等外品沖壓器26b對(duì)判斷為測(cè)微果為;f^^ 口的TCP進(jìn)行沖壓。另夕卜， 才封己沖壓器26a、等外品沖壓器26b也可按照不動(dòng)作的方式分別進(jìn)#制。
各照^目機(jī)6a、 6b、 6c與圖中未示出的圖IMtS^置連接。第l照^目機(jī)6a 和第3照4財(cái)幾6c用于判^#帶5上的TCP的有無、才科己沖壓器26a的孔的 位置、數(shù)量。jH^卜，第2照湘機(jī)6b獲得載帶5上的對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記的位置信息、TCP g測(cè)器的位置偏移的信息，對(duì)已4財(cái)聶的圖象進(jìn)行監(jiān)視，HMt者可:fc&接觸狀 況。本實(shí)M式的第2照湘機(jī)6b可獲4f4WW內(nèi)的多個(gè)對(duì)象的位置偏^ft息。
由于it^iik^得TCP的測(cè)試墊(test pad)械測(cè)器81 (也稱為探針)的 位置關(guān)系的必要性，第2照j目機(jī)6b為較窄的拍攝視野。由此，第2照^庫機(jī)6b 裝栽于照湘機(jī)臺(tái)61上，可通ii^Nl機(jī)臺(tái)61所具有的致動(dòng)器，在平面視圖上沿 ii^r向(X ^-Y軸方向)和上下方向(Z軸方向)移動(dòng)。由此，可在栽帶 的測(cè)試區(qū)域的全部區(qū)^Ji^動(dòng)，可清楚iW TCP的所需的測(cè)試M^測(cè)器81 的位置關(guān)系、對(duì)^^i己51的位置進(jìn)行才嫩。
^it里，就第2照湘機(jī)6b來說，也可在^#所需的^ 率的狀態(tài)下，將可 4*的高^f率的照^EP^應(yīng)用到與用于圖M理的圖^t理區(qū)樹目比寬例如幾 倍以上的4^bW。 ^W合，由于可^f^ 、相機(jī)臺(tái)61移動(dòng)的頻率，所以與照 相機(jī)臺(tái)61的移動(dòng)有關(guān)的處理時(shí)間變短。另夕卜，伴lt^湘機(jī)臺(tái)61的移動(dòng)次數(shù)的 減少，移動(dòng)*^的誘因可減少，于是，對(duì)于更細(xì)微的間距的TCP，可以to 的精度進(jìn)行定位。另外，由于可在維持所需的緒率的狀態(tài)下進(jìn)行數(shù)字變焦， 所以可容易把握而確定所需的測(cè)試墊、探測(cè)器81和對(duì))jM射己51的相對(duì)的位置 關(guān)系，可對(duì)多個(gè)測(cè)試t^^器81的位置^^多進(jìn)^f務(wù)正。另夕卜，由于可容易檢測(cè)多個(gè)對(duì)^f封己51,所以可才緣多^l^的對(duì))^i己51進(jìn)行定位。另夕卜，在過 去，在#^者為了確認(rèn)接觸狀況，滾屏移動(dòng)顯示于監(jiān)視器中的畫面時(shí)，會(huì)將目 標(biāo)的位Mr漏，但是，由于可通過數(shù)字變焦，適當(dāng)^i^械勿縮小顯示，所以 可進(jìn)^IMt者容易利用的監(jiān)視器顯示。
可使圓頭螺栓32旋轉(zhuǎn)的伺服馬達(dá)31經(jīng)由托架361安^^推動(dòng)單元3的支 架(推動(dòng)支架)36上。另外，圓頭螺換32所齡的推動(dòng)主體部33通過沿Z軸 方向延伸的兩個(gè)直錄動(dòng)導(dǎo)向件(在下面稱為"LM導(dǎo)向件"。)37而安t在 驅(qū)動(dòng)祠月艮馬達(dá)31時(shí)，該推動(dòng)主體部33由LM導(dǎo)向件37導(dǎo)向，并沿上下方向(Z 軸方向)移動(dòng)。
在推動(dòng)主體部33的下端部，iM可通過與負(fù)壓源(圖示省略)連接而吸引 TCP^M及附^^帶5，使其處于固定狀態(tài)的吸附板34。
在推動(dòng)主體部33的前段側(cè)(圖1中的左側(cè))設(shè)置張緊鏈洽35a,在推動(dòng)主 體部33的后段側(cè)(圖1中的右側(cè))i5tUL鉍洽35b。
另夕卜，在推動(dòng)單元3的下側(cè)即測(cè)試頭10的上部，象圖2所示的那樣， 絲具有可與兩個(gè)TCP的夕Hp端子(在下面稱為"測(cè)試蟄，)接觸的多個(gè)糊'J器 ("^觸端子)81的探測(cè)卡8的探測(cè)卡臺(tái)7。該探測(cè)卡臺(tái)7經(jīng)由多個(gè)圓頭螺栓與 伺服馬iii^接(圖示省略)，通過伺服馬達(dá)的驅(qū)動(dòng)，可使探測(cè)卡8沿水平方向 (XY平面方向)移動(dòng)，并且可使探測(cè)卡8圍繞垂直旋轉(zhuǎn)軸(圍繞Z軸)旋轉(zhuǎn)。
具有多個(gè)探測(cè)器81的探測(cè)卡8通過銷以可裝卸的方式安裝f"^測(cè)卡臺(tái)7的 卡環(huán)上(圖示省略)。本實(shí)施方式中的探測(cè)卡8具有兩個(gè)^iW器組(前側(cè)的位 置8a的^l，J器^/后側(cè)的位置8b的 3器組)以可同時(shí)對(duì)沿載帶5的itiH方向 串行朝剛的兩個(gè)TCP進(jìn)fr測(cè)試。另外，在載帶5是其上朝剛有兩排TCP的載 帶5時(shí)，對(duì)應(yīng)于此，；^^4個(gè)^^器組的^i!'卡。
前側(cè)的位置8a與后側(cè)的位置8b的間隔，相對(duì)于載帶5的itiil方向，該文 為TCP的一個(gè)間距大小的間隔。由于有時(shí)該TCP的一個(gè)間距大小的間隔隨測(cè) ^象的器件的品質(zhì)、形狀、載帶的種類等而不同，所以最好具有可通過手動(dòng) 方式或自動(dòng)地 _前側(cè)的位置8a和后側(cè)的位置8b的間隔的間多Eit^機(jī)構(gòu)。
探測(cè)卡8中的每個(gè)探測(cè)器81經(jīng)由測(cè)試頭10與測(cè)試^^體電連接，第2照 相機(jī)6b位于^^卡8的下側(cè)即鄉(xiāng)'卡臺(tái)7的內(nèi)側(cè)。
^il樣的裝置中，推動(dòng)單元3在吸附支^i^^探測(cè)卡臺(tái)7的載帶5的同時(shí)，將^fe壓于測(cè)試頭10上的探測(cè)卡8上。于是，載帶5上的兩個(gè)TCP處于 與^l/f探測(cè)卡8上的相應(yīng)的位置8a、 8b處的探測(cè)器81接觸的狀態(tài)。在該狀 態(tài)，首先，將微小的直流電流^于各IC端子上，，^itTCP的內(nèi)部電路 (例如，保護(hù)用的^T^管)的電流的有無、電壓值的測(cè)定，進(jìn)行接)li^r查，確 認(rèn)全部的測(cè)試墊是否與探測(cè)器81接觸、鄰接的插腳之間的有無M。然后，將 來自測(cè)試^i體的測(cè)試信號(hào);^p于TCP上，將從TCP讀出的應(yīng)答信號(hào)通it^J
判;為通過(判斷為合格品)或;;;5U!t (判斷為不合格):'、'
下面對(duì)TCP處理器2的<^方法^^作進(jìn)^i兌明。
在^M1 TCP處理器時(shí)，在使TCP處理器2工作之前，必須預(yù)^^t^刀始 設(shè)定，即，在紋TCP的種類、伴隨它而改變探測(cè)卡8時(shí)，必須確定^ie^ 動(dòng)臺(tái)4 g測(cè)卡臺(tái)7的^i^位置(將該位置稱為"^i娘置")，以使TCP的測(cè) 試1#4目應(yīng)的#^卡8的御'J器81接觸。
例如，通過手動(dòng)辦，^ft人員選擇多^Mi(例如，3^HMi)的鄉(xiāng)'J器 81和與其相對(duì)應(yīng)的測(cè)試墊，確定粗^置，接著，采用第2照^目機(jī)6b和圖象 處S^置，通過手動(dòng)控制或自動(dòng)控制，使推動(dòng)臺(tái)4和/或探測(cè)卡臺(tái)7移動(dòng)，確定 ^iej^位置，以使相應(yīng)的探測(cè)器81盡可食l^于各測(cè)試墊的中央。另外， ##需要，對(duì)于Jii^Hsm置的確定，也可不通過手動(dòng)操怍，而通過自動(dòng)控制 進(jìn)行。
此時(shí)，把第2照湘機(jī)6b的辦內(nèi)的艦的對(duì)象的位置坐標(biāo)一并射己。林 實(shí)^Mr式中，射￡ 載帶5上的對(duì)>|1#記51的位置坐標(biāo)。
下面參照?qǐng)D3的流程圖，對(duì)TCP處理器2的工作時(shí)的動(dòng)作ii^i兌明'M 里，同時(shí)對(duì)沿載帶5的縱向排成一列的兩個(gè)TCP進(jìn)行測(cè)試。另外，進(jìn)M帶5 的定位的對(duì)準(zhǔn)才封己51，象圖2所示的那樣，相對(duì)于一個(gè)TCP位于上下(Y軸方 向)的兩^S^S位，由此，在同時(shí)測(cè)試的兩個(gè)TCP中，具有共計(jì)4個(gè)對(duì)^i己 51,但是，在本實(shí)施方式中，采用位于前側(cè)的位置8a處的一個(gè)對(duì)^^i己51，進(jìn) 行TCP的定位。
TCP處理器2具有^制機(jī)構(gòu)，如果TCP處理器2處于可工作的狀態(tài)， 首先，推動(dòng)臺(tái)4g測(cè)卡臺(tái)7移動(dòng)到射e^i置(步驟SOl)。接著，巻出盤21 和ipt盤22按照規(guī)定角度旋轉(zhuǎn)，使栽帶5移動(dòng)，將第一個(gè)和第二個(gè)TCP it^L到吸附板34的下側(cè)的規(guī)定位置(步驟S02)。
如果將TCPitilU，J吸附板34的下側(cè)，則驅(qū)動(dòng)推動(dòng)單元3的伺服馬達(dá)31， 吸附板34沿Z軸向下方向移動(dòng)。e^多動(dòng)的吸附板34吸附載帶5，下降到才甜聶 位置(步驟S03) B
在該狀態(tài)下，第2照^目機(jī)6b進(jìn)行才嫩(步驟S04)，將圖象信息送向圖象 處3i^置。圖象處ig^置條e^的圖象信息，獲得預(yù)先躬己的M^的對(duì)象 的位置坐標(biāo)與實(shí)際4喊的對(duì)象的位置坐標(biāo)的位置偏移的信息。例如，林實(shí)施 方式中，獲得與位置8a相對(duì)應(yīng)的登記的對(duì)>|#記的位置坐標(biāo)與和實(shí)際上#^的 位置8a相對(duì)應(yīng)的對(duì);^NH己51的位置的坐標(biāo)的位置偏移的信息。
圖狄^^置#^已獲得的位置旨度息，對(duì)X軸方向、Y軸方向和圍繞 垂直軸的位置偏移量進(jìn)^it算，判斷^i否具有4務(wù)正的必要(步驟S05)。作為 判斷的結(jié)果，在必須修正時(shí)，進(jìn)行必要的修正動(dòng)作(步驟S06)。
如果修正動(dòng)作結(jié)束，則推動(dòng)單元3的伺服馬達(dá)31工作，經(jīng)由推動(dòng)主體部33， 吸附板34進(jìn)一步沿Z軸方向移動(dòng)。吸附了栽帶5的吸附板34下I^iJ接觸位置， 位于載^tili方向A (參照?qǐng)D2)前側(cè)的第一個(gè)TCP按壓于在探測(cè)卡8上的相 應(yīng)的前側(cè)的位置8a處設(shè)置的探測(cè)器81上，位于載fitiH方向A的后側(cè)的第二 個(gè)TCP按壓于在探測(cè)卡8上的相應(yīng)的后側(cè)的位置8b處設(shè)置的探測(cè)器81上(步 驟S07)。
接著，如果各TCP的測(cè)試^^觸探測(cè)器81，則對(duì)各TCP進(jìn)^^初的測(cè)試 (在下面稱為"初測(cè)試")(步驟S08)。在測(cè)試中，首先進(jìn)行接li^r查，確認(rèn) 全部的測(cè)試墊與探測(cè)器81電連接，在即^J^^及附板34的多^Lh下動(dòng)作仍檢 測(cè)為接觸不良時(shí)，判斷為^JBL
在接li^r查正常時(shí)，^TCP上，助'J試"i5li^Mtii^試頭10施加測(cè)試 信號(hào)，從各TCP讀出的應(yīng)答信號(hào)通ii^試頭10id^測(cè)試^i體。在測(cè)"i^i體 中，^^該應(yīng)答信號(hào)進(jìn)行各TCP是否狄的判斷、辨級(jí)等，4i^TCP進(jìn)行 是通過(判斷為^"^ o) i^!Aja (判斷為不^"格品)的判斷(步驟S09)。
作為初測(cè)試的結(jié)果，^_判斷為通過的TCP時(shí)，^f5l僅4i^判斷為通過的TCP 驅(qū)動(dòng)才科己沖壓器26a (步驟SIO)。另夕卜，^i己沖壓器26a還包括^Mc動(dòng)作的控 制方式。
M里，參照前面的初測(cè)試的結(jié)果(步驟Sll)，在任意一個(gè)或兩個(gè)TCP^N皮判斷為組時(shí)，進(jìn)行后述的再測(cè)試動(dòng)作(步驟S21 步驟S36)。另外，在
判斷為組時(shí)，也可才緣需要，在該階^ii^wwi行一次再測(cè)試，看是否變
化成判斷為通過的控制動(dòng)作。
另一方面，在兩個(gè)TCP都判斷為通過時(shí)，推動(dòng)單元3的祠服馬達(dá)31驅(qū)動(dòng)， 經(jīng)由推動(dòng)主體部33,吸附板34沿Z軸的向上方向移動(dòng)，并且推動(dòng)臺(tái)4 器臺(tái)7移動(dòng)到射雄置(步驟S12)。另外，吸附板34停止載帶5的吸附，釋 放載帶5，同時(shí)繼續(xù)沿Z軸的向上方向移動(dòng)(步驟S13)。
接著，判斷進(jìn)行了初測(cè)試的TCP是否為最后的M (步驟S14)，在判斷 為^的糾時(shí)，結(jié)紅動(dòng)作，在判斷不;U^的II^時(shí)，返回到步驟S02, 對(duì)下兩個(gè)TCP進(jìn)行測(cè)試。
下面對(duì)再測(cè)試動(dòng)作進(jìn)^i兌明。^jfc^里，作為Ji^，〗試的結(jié)果，在兩個(gè)TCP 被判斷為M的組合中，僅^5^1載fiiill方向A的前側(cè)的位置8a處的 TCP判斷為M的情形；僅僅后側(cè)的位置8b處的TCP判斷為^Jt的情形；以 及兩^Ni置8a、 8b處的TCP判斷為5UBt的情形，動(dòng)作各自不同。
在再測(cè)試動(dòng)作中，首先，進(jìn)行與前面說明的步驟S12和步驟S13相同的動(dòng) 作，停止吸附板34的栽帶5的吸附，#^載帶5 (步驟S21)。
接著，判斷位于載帶iti^r向A的前側(cè)的位置8a處的TCP (M里，為 第一個(gè)TCP)在最初的測(cè)試中是判斷為通過，還是判斷為3U!i (步驟S22)。 ^it里，在位于前側(cè)的位置8a處的TCP在最初的測(cè)試判斷為5Ult時(shí)，進(jìn)行后 述的步驟S28。另一方面，在位于前側(cè)的位置8a處的TCP判斷為jU&時(shí)，將 主鄉(xiāng)35b與張緊條35a -^^按照TCP的一個(gè)間距大小反轉(zhuǎn)，沿相A^向使 載帶5移動(dòng)(步驟S23 ) ， #^于探測(cè)卡8的前側(cè)的位置8a處的TCP移動(dòng)到 后側(cè)的位置8b處。然后，進(jìn)^ff與前面說明的從步驟S03到步驟S07相同的動(dòng)作， 使該TCP的夕MP端子與后側(cè)的位置8b的鄉(xiāng)'J器81接觸(步驟S24)。
接著，對(duì)與后側(cè)的位置8b的探測(cè)器81接觸的TCP進(jìn)行再測(cè)說步驟S25 )， ，該TCP，進(jìn)行是通itii^Ji的判斷(步驟26) 。 ^E， ^it過再測(cè)試 的接^r查檢測(cè)為接觸不良時(shí)，有直接判斷為失敗的第1處理方式；和使載帶5 俯憤史動(dòng)或使it^i卡臺(tái)7 ,'J^動(dòng)，進(jìn)4亍是否具有"^觸不良的位置的^ft^作的第2 處3g^T式，但是，；^d^ft第2處理方式。
作為再測(cè)試的結(jié)果，進(jìn)行再測(cè)試的TCP第4判斷為失敗時(shí)，確^/^格品，驅(qū)動(dòng)等外品沖壓器26b (步驟S27a)。另一方面，在第二次中判斷為通 過時(shí)，對(duì)該TCP確iM;合^ 口，驅(qū)動(dòng)才封己沖壓器26a (步驟S27b)。
接著，在步驟S22或步驟S25，位于最初的前側(cè)的位置8a處的TCP被判 斷為通過，且位于后側(cè)的位置8b處的TCP ^!皮判斷為通過時(shí)，進(jìn)"ff^驟S12 (步驟S28) D
另一方面，在位于后側(cè)的位置8b處的TCP被判斷為5U!t時(shí)，進(jìn)行與前面 說明的步驟S12和步驟S13相同的動(dòng)作，停止吸附板34對(duì)載帶5的吸附， 載帶5 (步驟S29)。接著，將主^35b與張'f^35a ^g^照TCP的一 個(gè)間距大小，使栽帶5前進(jìn)，#^于后側(cè)的位置8b處的TCP移動(dòng)到前側(cè)的位 置8a (步驟S30)。接著，進(jìn)行與前面說明的從步驟S03到步驟S07相同的動(dòng) 作，使該TCP的夕MP端子與前側(cè)的位置8a的糊'J器81接觸(步驟S31)。
然后,對(duì)與前側(cè)的位置8a的^iW器81接觸的TCP進(jìn)行再測(cè)說步驟S32 )， 4W^TCP，進(jìn)行是通iti^lAJ^的判斷(步驟S33)。
作為該再測(cè)試的結(jié)果，進(jìn)行再測(cè)試的TCP第二^C^L判斷為jU!i時(shí)，確U 不合格品，驅(qū)動(dòng)等外品沖壓器26b (步驟S34a)。另一方面，在第二次中判斷 為通過時(shí)，把該TCP確^7合格品，驅(qū)動(dòng)^ii沖壓器26a(步驟S34b)。接著， 進(jìn)樹驟S12。
fii樣，按照本實(shí)施方式的TCP處理器2，針對(duì)在最初的測(cè)試中被判斷為 ^Jt的TCP,可在不停止TCP處理器的情況下自動(dòng)ilk^行再測(cè)試。另外，作 為判斷為5U&的原因，有一個(gè)位置上的探測(cè)器81 U的TCP的接觸不良、定 位不良，但是，^實(shí)財(cái)式的TCP處理器那樣，用與最初的測(cè)試中的糊，J卡 上的位置不同的另"H^置的探測(cè)器81進(jìn)行再測(cè)試，由此，^WA^jytf接觸狀 態(tài)的可能性。由此，本來為合格品的TCP可通過再測(cè)試而判斷為合格品，結(jié)果 TCP的成品率可提高。另外，由于象前面說明的那樣，可在不停止測(cè)^^置的 情況下自動(dòng)JW測(cè)試，所以測(cè)"^X的運(yùn)轉(zhuǎn)械高，結(jié)果測(cè)試的生產(chǎn)械高。
特別是在^實(shí)施方式中，由于采用與其中一個(gè)位置8a相對(duì)應(yīng)的對(duì)^MH己51 進(jìn)行TCP的定位，所以位于另 一位置8b處的TCP容易形^目對(duì)的定位不良。 但是，即^/^ii樣的情況下，在將TCP移動(dòng)到位置8a之后，采月該TCP的對(duì) ^f射己51進(jìn)行TCP的定位，則結(jié)果該TCP獲得ib^iE^的定位狀態(tài)，于是可 有^kA為判斷為通iL另夕卜，判斷為組的原因不僅包括TCP的定位不良的情況，而且包括在各 位置8a， 8b處設(shè)置的多個(gè)探測(cè)器81中的任意一個(gè)產(chǎn)生針尖劣化的情況、伴隨 按壓力不足而接觸電阻值增加的情況，但是，按照本實(shí)施方式的TCP處理器2， 在^f的位置側(cè)進(jìn)行再測(cè)試，由此可有^k^為判斷為通達(dá)于是，消除了把 合;f^&的TCP作為;f^^^而處理的問題，獲得成品械高的絲。另外，操 作者不必暫時(shí)停止測(cè)試，可提高裝置的辦率。
^jfe^里，步驟S32的再測(cè)^對(duì)位i^測(cè)卡8上的前側(cè)的位置8a處的TCP 進(jìn)行再測(cè)試的步驟，但是，此時(shí)，在糊'J卡8上的后側(cè)的位置8b，尚^ii行測(cè) 試的TCP(扭里，為第3個(gè))^M皮接觸。于是，vjfeii械步驟S32的再測(cè)試 時(shí)，也可同時(shí)#(^于探測(cè)卡8上的后側(cè)的位置8b處的TCP進(jìn)^f^初的測(cè)試。
4W合，替換步驟S32-S34即步驟E1，而進(jìn)行在下面說明的步驟E2(步 驟S41 步驟S45，參照?qǐng)D5)。即，不樹進(jìn)行了再測(cè)試的TCP (/jfe^E，為 笫>),而且同時(shí)i^^"位于^!'H"iSi^r向A的后側(cè)且位于^l'J卡8上的后 側(cè)的位置8b處的TCP (在這.審，第3個(gè))，進(jìn)行測(cè)試(步驟S41)。
接著，首先，W進(jìn)行了再測(cè)試的TCP進(jìn)行判斷(步驟S42)。其結(jié)果是，
^ii行了再測(cè)試的TCP被判斷為^t時(shí)，確U;f^格品，驅(qū)動(dòng)等外品沖壓器
26b (步驟S43a)。另一方面，在進(jìn)行了再測(cè)試的TCP被判斷為通過時(shí)，確定 為合^^口，驅(qū)動(dòng)才科i沖壓器26a (步驟S43b)。
然后，看進(jìn)行了與再測(cè)試同時(shí)進(jìn)^t^最初的測(cè)試的TCP (^jfcil里為第3個(gè) TCP)是否被判斷為通過(步驟S44)。在該TCP被判斷為通過時(shí)，確定為合 ^t 口，驅(qū)動(dòng)銜己沖壓器26a (步驟S45)，接著進(jìn)^^驟S12。另一方面，在該 TCP被判斷為狄時(shí)，進(jìn)妙驟S29。
如果象這樣，與再測(cè)試同時(shí)進(jìn)^:初的測(cè)試，則可進(jìn)一步提高測(cè)試的生產(chǎn)率。
以上說明的實(shí)^ri(A為了容易3W本發(fā)明而記載的，并不;l^了限狄 發(fā)明。于是，在上述實(shí)施方式中^5iHf的^"素還包括^^發(fā)明的^^范圍內(nèi) 的4^j5設(shè)計(jì)變更、等同物。
例如，在上鈔'J試動(dòng)作中，同時(shí)進(jìn)4沐測(cè)卡8上的兩個(gè)位置8a、 8b中的 TCP的判斷，在兩個(gè)位置8a、 8b處的TCP均判斷為失敗時(shí)，也可交#^替換 前后位置8a、 8b處的TCP，進(jìn)行再測(cè)試動(dòng)作。另夕卜，在兩個(gè)位置8a、 8b處的TCP辦'斷為5U!i的階段，^it行上述替換之前，4吏推動(dòng)單元3多:^Ji 下動(dòng)作，再次進(jìn)行測(cè)試，由此成為判斷為通&
另夕卜，也可以，在修正位置偏移時(shí)，獲得與后側(cè)的位置8b相對(duì)應(yīng)的射己的 對(duì)^#^的位置坐標(biāo)與和實(shí)際上^敏的后側(cè)的位置8b相對(duì)應(yīng)的對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記51的 位置坐標(biāo)之間的位置絲的信息。另外，也可iM與前側(cè)的位置8a相對(duì)應(yīng)的對(duì) JjM射己Sl的位置^l多J^r與后側(cè)的位置8b相對(duì)應(yīng)的對(duì)^i己51的位置偏移量 的平均值。
W卜，^jliiii實(shí);^r式中，由于利用與一*置8a相對(duì)應(yīng)的對(duì);^f朽己51 進(jìn)行TCP的定位，所以位于另 一位置8b處的TCP容易相對(duì)地產(chǎn)生定位不良， 但是，在必要時(shí)也可利用與另一位置8b相對(duì)應(yīng)的另一對(duì)^f射己51。例如，有 時(shí)，4^側(cè)的位置8b處的TCP被斷為^Jt時(shí)，也可以基于后側(cè)的對(duì)>^#^51 進(jìn)行定位之后，在不移動(dòng)TCP的狀態(tài)下進(jìn)行再測(cè)試，由此而成為判斷為通i^ ^^照該方式，可大;k3W動(dòng)照3目機(jī)臺(tái)61，大幅度減少到達(dá)兩^HP位的對(duì)JN^i己 51的位置的移動(dòng)動(dòng)作，#^隨第2照湘機(jī)6b的移動(dòng)時(shí)間導(dǎo)致的生產(chǎn)率的降低 抑制到最小，所以是實(shí)用的。
另外，由于伴隨妙次的按壓應(yīng)力，多個(gè)鄉(xiāng)，J器81變形，所以與TCP的 測(cè)試^^觸的全部的探測(cè)器81處于^M目應(yīng)的各測(cè)試墊的中:fe^偏離的狀態(tài)。 ^it里，^itit^探測(cè)器81檢測(cè)到接觸不良之前，使探測(cè)卡臺(tái)7沿X軸方向和 Y軸方向^L^t動(dòng)，尋找可移動(dòng)的區(qū)域，確定5W的探測(cè)器81的最佳的中央位 置?；诖?，進(jìn)行TCP的定位，由此，可進(jìn)"fm^的探測(cè)器81的最佳定位。 另外，棘需要，##獲得的可移動(dòng)區(qū)域信息和中央位置信息，在實(shí)施測(cè)試時(shí)， 利用這些信息進(jìn)行位置修正，由此可:^#*佳的定位。由此，判斷為^Ji的發(fā) 生頻率減小，成品率和測(cè)試的生產(chǎn)^:高。
射卜，伴隨妙次的按壓應(yīng)力、糊，〗器81的前端部的位置^f多、形狀變化、 舉14特性的變化、電接觸*的狀態(tài)等，各測(cè)試墊與和該測(cè)試t^觸的^^H 器81之間產(chǎn)生的接觸電阻值產(chǎn)生偏差或增大。于是，也可以，4^判斷為3Ult 的TCP的探測(cè)器81，在該探測(cè)器81的ybi午范圍內(nèi)，^t^推動(dòng)單元3的吸附板 34的按壓方向的高度條降，進(jìn)行再測(cè)試。^it過該再測(cè)試成為判斷為通過時(shí)， 可將該TCP確U合H
還有，財(cái)在實(shí)用中可通過接)lfc^查測(cè)定接觸電P且值的TCP，也可以，在判斷成^Jt^， ^#艦的按壓狀態(tài)，進(jìn)行接)l^r查，測(cè)定各自的接觸電阻 值。然后，^^對(duì)TCP的各IC端子的種類(輸入插腳、輸出插腳、電源插腳) 不同的可允許的最大電阻值，進(jìn)行接觸電P且^bi否^的判斷，第一，在檢測(cè) 到異常的接觸電阻值的鄉(xiāng)'J器81時(shí)，使推動(dòng)單元3上下動(dòng)作，再次測(cè)定該糊，J 器81的接觸電阻，在^^到正常狀態(tài)時(shí)，在該狀態(tài)下進(jìn)行再測(cè)試。第二，在接 觸電阻值為正常時(shí)，由于該TCP為不合格品的可能性高，所以向另一探測(cè)器 81移動(dòng)，進(jìn)行再測(cè)試。再有，吸附板34也可以是對(duì)應(yīng)于TCP的朝^ij方向(X軸方向、Y軸方向) 分割而成的結(jié)構(gòu)，而J還可以具有使已分割的吸附板食M目對(duì)移動(dòng)的微動(dòng)機(jī)構(gòu)(圖 示省略)。通itil樣的分割移動(dòng)結(jié)構(gòu)，可進(jìn)^f吏多個(gè)TCP之間的間距與相應(yīng)的 糊i器組的間距一致的調(diào)整。另外，載帶5的薄J^t于由于間距調(diào)整而彎曲的 狀態(tài)，但是，由于該調(diào)^tl^幾十徵牝的私復(fù)，所以可以it行實(shí)際應(yīng)用。然 而，泉盱，糊'J卡側(cè)的探測(cè)器81的TCP之間的間距以例如幾十M的^1較 窄地形成.如果形^Ji^樣的分割移動(dòng)結(jié)構(gòu)，則在同時(shí)測(cè)試多個(gè)(2、 4、 8、 16個(gè)) TCP時(shí)，可確實(shí)地應(yīng)對(duì)伴l熱膨脹的TCP的間距的變化、窄間多E^要求位置 精度的TCP、多插腳大型TCP的TCP之間的間多E^加的',、載帶5的膜的 伸縮變化等.其結(jié)果是，由于可進(jìn)一步減小伴隨位置偏移造成的判斷為不合格 的^A頻率，所以可同時(shí)對(duì)更多個(gè)(4、 8、 16個(gè))TCP進(jìn)行測(cè)試，于是，可提 高測(cè)試的可靠'1^生產(chǎn)率。產(chǎn)業(yè)上應(yīng)用的可能性本發(fā)明的TCP處^^t于提高器^^造的成品率和測(cè)試的生產(chǎn)率、有效 誠(chéng)行TCP測(cè)狄有效的。
權(quán)利要求
1.一種TCP處理裝置，其通過采用與同時(shí)測(cè)試的多個(gè)TCP相對(duì)應(yīng)的探測(cè)卡，將載帶上的多個(gè)TCP的外部端子與探測(cè)卡的接觸端子電接觸，能同時(shí)對(duì)多個(gè)TCP進(jìn)行測(cè)試，其特征在于在最初的測(cè)試中同時(shí)對(duì)多個(gè)TCP進(jìn)行測(cè)試，針對(duì)在上述同時(shí)測(cè)試中被判斷為不合格的判斷不合格TCP，在將其移到與該判斷不合格TCP所接觸的接觸端子不同的另一接觸端子的位置之后進(jìn)行再次測(cè)試。
2. 才^5U，J^求1所述的tcp處3S^A, ^ft棘于晰目對(duì)于載帶的運(yùn) 送方向串行排列的多個(gè)tcp、或?qū)ο鄬?duì)于載帶的運(yùn)送方向并行排列的多個(gè)tcp,同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
3. 條妙漆求1所述的tcp處3S^，絲絲于 在載帶上^i:有41^各tcp確定各tcp的位置的定位用的對(duì)^i^ 與同時(shí)進(jìn)#"測(cè)試的多個(gè)tcp的夕MP端子相對(duì)應(yīng)的^^觸端子的定^:A^于至少一個(gè)JJ^t^f科iii，。
4 WW漆求1所述的tcp處3SW:，鰣棘于 ^ttii判斷^^格tcp ii^t再次測(cè)試時(shí)，對(duì)與Jiii判斷^^"格tcp —起被按壓的^^查的tcp同時(shí)ii^"測(cè)試。
5. 條妙漆求1所述的tcp處S^i，鰣絲于 ^j"Jiii判斷不合格tcp進(jìn)行再次測(cè)試時(shí)，在測(cè)試的實(shí)施中除去與上述判斷;t^^格tcp ^"^被按壓的檢查結(jié)束了的tcp。
6. ##擬']^求1所述的tcp處^ ， ^#棘于W^Ji^同時(shí)測(cè) 試中被判斷為^"格的判斷^"格tcp，通過該判斷不合格tcp所接觸的接 觸端子，進(jìn)"ft至少一次再測(cè)試。
7. 條W慎求6所述的tcp處錄置，膽絲于 上述判斷不合 格tcp的夕h^端伸與該夕NP端子接觸的接觸端子的按壓糾，進(jìn)行-tii再測(cè) 試。
8. 才Mt^'J^求7所述的tcp處^^置，^W^于測(cè)^iJi判斷不合 格tcp的夕NP端子和與該夕MP端子接觸的接觸端子的接觸電阻，^"測(cè)到超過可允許的接觸電阻值的值時(shí)，按壓，進(jìn)行上述再測(cè)試。
9. 條W怯求1所述的TCP處錄置，絲絲于利用對(duì)TCP的夕MP端子和與該夕MP端子接觸的接觸端子的電接觸狀態(tài)進(jìn) ^"測(cè)的接li^查功能，沿X軸方向和/或Y軸方向使移動(dòng)^^卡的^il，J卡臺(tái)微 動(dòng)，尋找可移動(dòng)區(qū)域， 一直到檢測(cè)到某個(gè)接觸端子的接觸不U止；可移動(dòng)區(qū)域的中央位置；基于JJi被確定的中央位置進(jìn)行TCP的定位。
10. 條似慎求1所述的TCP處錄置，M減于上述TCP處3g置包括同時(shí)吸附多個(gè)TCP并將它們按壓于上述"^觸端子 的吸附按壓耕；吸附按壓fr對(duì)應(yīng)于同時(shí)測(cè)試的TCP的名W而分割成至少兩個(gè)； 上述已分割的吸附按壓部件的相互間距能被調(diào)整，以能夠與同時(shí)測(cè)試的 TCP的間J 財(cái)目; t應(yīng)。
11. "-TCP處3S^置，能同時(shí)對(duì)多個(gè)TCP進(jìn)行測(cè)試，其特征在于 在最初的測(cè)試中同時(shí)對(duì)多個(gè)TCP進(jìn)行測(cè)試，4H"在Ji^同時(shí)測(cè)試中被判斷為不格的判斷不^"格TCP,利用與該判斷不^^格TCP接觸的探測(cè)卡的接觸 端子不同的另 一接觸端子進(jìn)行再次測(cè)試。
全文摘要
一種TCP處理器(2)，如果使在初次進(jìn)行的測(cè)試中被判斷為不合格的TCP與不同于在被判斷為不合格時(shí)接觸外部端子的探測(cè)器(81)的另一探測(cè)器(81)接觸，再次進(jìn)行測(cè)試，則可通過再測(cè)試而揀出合格品，提高TCP的成品率，且可在不停止TCP處理器(2)的情況下自動(dòng)地進(jìn)行再測(cè)試，由此提高測(cè)試的生產(chǎn)率。
文檔編號(hào)G01R31/26GK101292170SQ200580051390
公開日2008年10月22日 申請(qǐng)日期2005年8月25日 優(yōu)先權(quán)日2005年8月25日
發(fā)明者今泉?jiǎng)俨? 大西武士, 村野壽, 近藤雅史 申請(qǐng)人:株式會(huì)社愛德萬測(cè)試