專利名稱：自動測試裝置校準(zhǔn)因子的遞增產(chǎn)生的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及自動測試裝置的校準(zhǔn)，更具體地說，涉及自動測試裝置的校準(zhǔn)因子的遞增產(chǎn)生。
背景技術(shù)：
在制造和/或銷售電子設(shè)備(包括諸如電路板、集成電路或片上系統(tǒng)(SOC)之類的系統(tǒng)或組件)之前，通常會對設(shè)備進行測試，以判斷該設(shè)備是否按設(shè)計那樣被建造或工作。通常，這種測試由自動測試裝置(ATE，也被稱為“測試器”)來執(zhí)行。
為了使ATE的結(jié)果有意義，ATE需要被校準(zhǔn)。就是說，必須量化在不同條件和測試設(shè)置下的測試期間，ATE可能引起的固有系統(tǒng)誤差。用于量化ATE固有系統(tǒng)誤差的數(shù)據(jù)通常被稱為“校準(zhǔn)數(shù)據(jù)”，并且可以包括一個或多個“校準(zhǔn)因子”。校準(zhǔn)數(shù)據(jù)一旦產(chǎn)生，就被用于從原始測試數(shù)據(jù)中去除ATE的固有系統(tǒng)誤差。
一種刻畫ATE固有系統(tǒng)誤差的方法是直接測量它們。通常，這種校準(zhǔn)包含將各種ATE探針耦合到一個或多個已知良好的“校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)”，執(zhí)行測量，然后將測量結(jié)果與期望的測量結(jié)果相比較。
用于刻畫ATE固有系統(tǒng)誤差的另一種方法是利用數(shù)學(xué)模型對它們建模。然后可以從模型中計算校準(zhǔn)數(shù)據(jù)(盡管可能仍舊需要使用一個或多個校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)來獲取某些測量結(jié)果)。

發(fā)明內(nèi)容
在一個實施例中，用于產(chǎn)生ATE的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的方法包括首先接收對ATE執(zhí)行校準(zhǔn)過程的請求，該請求與校準(zhǔn)參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)。然后，對應(yīng)于校準(zhǔn)參數(shù)集合的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的一個或多個簽名被導(dǎo)出，并且判斷對應(yīng)于所述一個或多個簽名的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)是否已經(jīng)產(chǎn)生。隨后，產(chǎn)生校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合，其中所產(chǎn)生的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)i)對應(yīng)于所述一個或多個簽名，但是ii)還未產(chǎn)生。
在另一實施例中，用于產(chǎn)生ATE的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的方法包括首先接收對ATE執(zhí)行校準(zhǔn)過程的請求，該請求與指定的測試設(shè)置相關(guān)聯(lián)。然后產(chǎn)生對應(yīng)于所述指定的測試設(shè)置的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合。
這里還公開了其他實施例。


在附圖中示出了本發(fā)明的示例性實施例，在附圖中圖1示出了用于產(chǎn)生ATE的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的第一示例性方法；以及圖2示出了用于產(chǎn)生ATE的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的第二示例性方法。
具體實施例方式
除了在首次使用時校準(zhǔn)ATE之外，一般還在以下情況下校準(zhǔn)ATE在每次改變ATE的配置時，在每次將ATE用于測試一種新型設(shè)備時，當(dāng)測試設(shè)置改變時，當(dāng)環(huán)境條件(例如溫度或濕度)改變時，并且還可以周期性地(例如在已經(jīng)測試了許多設(shè)備之后，或者在一定數(shù)量的測試小時數(shù)之后)校準(zhǔn)ATE。
迄今為止，ATE以下述兩種方式之一被校準(zhǔn)“作為整體”被校準(zhǔn)，或者基于當(dāng)前載入的測試設(shè)置被校準(zhǔn)。圖1示出了用于產(chǎn)生ATE的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的示例性備選方法100。方法100從接收(102)對ATE執(zhí)行校準(zhǔn)過程的請求開始。但是，與過去的校準(zhǔn)方法形成對照，該請求與校準(zhǔn)參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)。在某些情況下，校準(zhǔn)參數(shù)集合可以被包含在請求內(nèi)，在其他情況下，校準(zhǔn)參數(shù)集合可以只被該請求所引用。可以被包括在校準(zhǔn)參數(shù)集合中的參數(shù)類型包括一條或多條測試路徑(例如激勵和/或測量路徑，以及一條或多條ATE引線的標(biāo)識)的指示、時間性指示(例如時間戳或齡期(age))、一個或多個測試頻率(例如頻率范圍)、一個或多個調(diào)制格式、一個或多個測量帶寬、一個或多個測試設(shè)置(例如包括少于所有載入的測試設(shè)置的子集)、一個或多個功率或電壓電平，和/或其他參數(shù)。
校準(zhǔn)參數(shù)集合的參數(shù)可以在或不在接收到校準(zhǔn)請求時被定義。例如，用戶可以請求執(zhí)行校準(zhǔn)過程，并且同時用戶可以向用戶界面中的一個或多個框提供一個或多個校準(zhǔn)參數(shù)，或者從用戶界面中的一個或多個框中選擇校準(zhǔn)參數(shù)。可替換地，用戶可以在請求校準(zhǔn)之前，預(yù)先指定校準(zhǔn)參數(shù)集合，或者用于導(dǎo)出校準(zhǔn)參數(shù)集合的規(guī)則。例如，用戶可能指定在每次請求校準(zhǔn)時，對所有當(dāng)前輸入的測試設(shè)置執(zhí)行校準(zhǔn)，或者對所有新的測試設(shè)置執(zhí)行校準(zhǔn)?；蛘撸脩艨赡苤付ㄔ诿看握埱笮?zhǔn)時，重新產(chǎn)生某日期之前的所有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。然后，當(dāng)用戶請求校準(zhǔn)時，軟件可以訪問用戶的在先規(guī)范，以確定哪些參數(shù)應(yīng)該被包括到當(dāng)前校準(zhǔn)參數(shù)集合中。
在另一實施例中，軟件可以被配置為周期性地校準(zhǔn)ATE，或者響應(yīng)于某些事件而校準(zhǔn)ATE。在這些情況下，軟件無需任何用戶輸入就可以導(dǎo)出校準(zhǔn)參數(shù)集合。例如，軟件可以每24小時發(fā)起一次與包括時間戳的校準(zhǔn)參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的校準(zhǔn)請求，所述時間戳指示需要重新產(chǎn)生哪些校準(zhǔn)數(shù)據(jù)?；蛘撸浖梢韵駻TE詢問新的測試設(shè)置，然后將校準(zhǔn)請求與標(biāo)識出所有當(dāng)前載入的測試設(shè)置的參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)。
無論產(chǎn)生請求的方式，或者校準(zhǔn)參數(shù)集合中的參數(shù)類型和數(shù)目是怎樣的，方法100都繼續(xù)導(dǎo)出(104)用于對應(yīng)于參數(shù)集合的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的一個或多個簽名。在一個實施例中，通過訪問ATE的一組校準(zhǔn)規(guī)則(例如指示對于ATE可以校準(zhǔn)什么，以及以什么頻率、調(diào)制格式等等的一組規(guī)則)來導(dǎo)出簽名。在與產(chǎn)生簽名相同或大致相同的時刻，可以產(chǎn)生基于校準(zhǔn)參數(shù)集合和校準(zhǔn)規(guī)則的特定校準(zhǔn)任務(wù)，其中每個校準(zhǔn)任務(wù)都與簽名中的一個相應(yīng)簽名相關(guān)聯(lián)。
這時，可以使用所產(chǎn)生的一個或多個簽名來判斷(106)是否已經(jīng)產(chǎn)生了對應(yīng)于所述一個或多個簽名的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。在一個實施例中，通過使用所述一個或多個簽名檢索校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)庫來執(zhí)行該判斷。如果這是對ATE的首次校準(zhǔn)過程，那么數(shù)據(jù)庫可以為空(即，空集)或者不存在。如果數(shù)據(jù)庫不存在，則它被實例化(instantiate)。
在某些情況下，判斷是否已經(jīng)產(chǎn)生校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的步驟可以包括判斷是否曾經(jīng)產(chǎn)生一條特定的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。在其他情況下，判斷是否已經(jīng)產(chǎn)生校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的步驟可以包括判斷與一條特定校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的相關(guān)簽名包括在一起的時間戳是否處于有效范圍內(nèi)。如果不是，那么雖然該校準(zhǔn)數(shù)據(jù)已經(jīng)產(chǎn)生，也要將其看作還未產(chǎn)生(即，因為具有正確時間戳的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)還未產(chǎn)生)。關(guān)于是否已經(jīng)產(chǎn)生校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的判斷也可以依賴于出現(xiàn)在校準(zhǔn)數(shù)據(jù)簽名中的參數(shù)類型，而以其他方式來執(zhí)行。
在判斷對應(yīng)于導(dǎo)出的一個或多個簽名的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)是否已經(jīng)存在之后，產(chǎn)生(108)如下校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合，該遞增集合1)對應(yīng)于所述一個或多個簽名，但是2)還未產(chǎn)生。在一個實施例中，通過執(zhí)行之前產(chǎn)生的校準(zhǔn)任務(wù)來產(chǎn)生校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。在另一實施例中，現(xiàn)在訪問校準(zhǔn)規(guī)則，以確定需要被執(zhí)行的校準(zhǔn)任務(wù)的遞增集合。
在產(chǎn)生校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合期間或者之后，可以將所產(chǎn)生的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)添加到校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的現(xiàn)有數(shù)據(jù)庫中，或者被存儲到遞增數(shù)據(jù)庫中。優(yōu)選地，所產(chǎn)生的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)與其相關(guān)的一個或多個簽名一道被存儲，從而使方法100的后續(xù)執(zhí)行可以檢索校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，以判斷它是否已經(jīng)存在(并且仍舊有效)。
在某些情況下，可以將校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的一個或多個數(shù)據(jù)庫存儲在ATE存儲器內(nèi)。在其他情況下，可以在ATE之外存儲校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的一個或多個數(shù)據(jù)庫，從而釋放ATE的資源。
圖2示出了用于產(chǎn)生ATE的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的第二示例性方法200。與方法100相同，方法200從接收(202)對ATE執(zhí)行校準(zhǔn)過程的請求開始。但是，在方法200中，該請求與指定的測試設(shè)置相關(guān)聯(lián)。然后產(chǎn)生(204)對應(yīng)于所指定的測試設(shè)置的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合。測試設(shè)置可以由用戶指定，或者可替換地，由計算機軟件(例如判斷哪些測試設(shè)置是新的的軟件)指定。在某些情況下，方法200可以與方法100相結(jié)合，從而響應(yīng)于數(shù)據(jù)簽名和指定的測試設(shè)置兩者來產(chǎn)生校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合。
在一個實施例中，圖1、圖2所示的方法或其任意變體可以被實施為存儲于機器可讀介質(zhì)(例如，一種或多種固定盤、諸如壓縮盤(CD)或數(shù)字多功能盤(DVD)之類的可移動介質(zhì)、隨機訪問或只讀存儲器，或其任意組合，無論它們在單個位置中、在單個機器上，或者分布在網(wǎng)絡(luò)中)上的指令序列。當(dāng)這些指令序列被諸如計算機系統(tǒng)之類的機器執(zhí)行時，致使機器執(zhí)行方法100或200的動作。作為示例，執(zhí)行指令序列的機器可以是片上系統(tǒng)(SOC)測試器(例如Agilent 93000 SOC測試器)或者集成電路測試器(例如Agilent 84000射頻(RF)集成電路測試器)。93000和84000都可以從總部位于美國加州Palo Alto的安捷倫科技有限公司獲得。
ATE的成批校準(zhǔn)可能極端耗時。因此遞增校準(zhǔn)的使用可以在設(shè)備測試期間節(jié)省大量時間。
權(quán)利要求
1.一種用于產(chǎn)生自動測試裝置的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的方法，包括接收對所述自動測試裝置執(zhí)行校準(zhǔn)過程的請求，所述請求與校準(zhǔn)參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)；導(dǎo)出用于與所述校準(zhǔn)參數(shù)集合相對應(yīng)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的一個或多個簽名；判斷對應(yīng)于所述一個或多個簽名的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)是否已經(jīng)產(chǎn)生；以及產(chǎn)生以下校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合，所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)i)對應(yīng)于所述一個或多個簽名，但是ii)還未產(chǎn)生。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中通過訪問用于所述自動測試裝置的一組校準(zhǔn)規(guī)則來導(dǎo)出所述一個或多個簽名。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中通過執(zhí)行基于對應(yīng)于所述校準(zhǔn)參數(shù)集合的校準(zhǔn)規(guī)則中的一些校準(zhǔn)規(guī)則的校準(zhǔn)任務(wù)來產(chǎn)生校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述判斷對應(yīng)于一個或多個簽名的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)是否已經(jīng)產(chǎn)生的步驟包括使用所述簽名來檢索校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)庫；所述方法還包括將所產(chǎn)生的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)和相應(yīng)的簽名存儲到所述數(shù)據(jù)庫中。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)庫最初為空集。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述對自動測試裝置執(zhí)行校準(zhǔn)過程的請求還與指定的測試設(shè)置相關(guān)聯(lián)；并且其中所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合被局限于也對應(yīng)于所述指定的測試設(shè)置的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述校準(zhǔn)參數(shù)集合和所述一個或多個簽名包括測試路徑。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述校準(zhǔn)參數(shù)集合和所述一個或多個簽名包括時間性指示。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其中所述時間性指示至少包括以下兩者之一時間戳和齡期。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述校準(zhǔn)參數(shù)集合和所述一個或多個簽名包括測試頻率。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述校準(zhǔn)參數(shù)集合和所述一個或多個簽名包括調(diào)制格式。
12.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述校準(zhǔn)參數(shù)集合和所述一個或多個簽名包括測量帶寬。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)包括射頻校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
14.在其上存儲有指令序列的多種機器可讀介質(zhì)，當(dāng)所述指令序列被機器執(zhí)行時致使所述機器執(zhí)行以下動作接收對自動測試裝置執(zhí)行校準(zhǔn)過程的請求，所述請求與校準(zhǔn)參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)；導(dǎo)出用于與所述校準(zhǔn)參數(shù)集合相對應(yīng)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的一個或多個簽名；判斷對應(yīng)于一個或多個簽名的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)是否已經(jīng)產(chǎn)生；以及產(chǎn)生以下校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合，所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)i)對應(yīng)于所述一個或多個簽名，但是ii)還未產(chǎn)生。
15.如權(quán)利要求14所述的機器可讀介質(zhì)，其中所述指令序列還致使所述機器向用戶呈現(xiàn)用戶界面，所述用戶界面至少提供用于接收所述請求的一個框。
16.如權(quán)利要求14所述的機器可讀介質(zhì)，其中通過訪問用于所述自動測試裝置的一組校準(zhǔn)規(guī)則來導(dǎo)出所述一個或多個簽名。
17.如權(quán)利要求16所述的機器可讀介質(zhì)，其中通過執(zhí)行基于對應(yīng)于所述校準(zhǔn)參數(shù)集合的校準(zhǔn)規(guī)則中的一些校準(zhǔn)規(guī)則的校準(zhǔn)任務(wù)來產(chǎn)生校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
18.如權(quán)利要求14所述的機器可讀介質(zhì)，其中所述判斷對應(yīng)于一個或多個簽名的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)是否已經(jīng)產(chǎn)生的動作包括使用所述一個或多個簽名來檢索校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)庫；所述指令序列還致使所述機器將所產(chǎn)生的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)和相應(yīng)的簽名存儲到所述數(shù)據(jù)庫中。
19.如權(quán)利要求14所述的機器可讀介質(zhì)，其中所述校準(zhǔn)參數(shù)集合和所述一個或多個簽名包括以下各項中的至少一種測試路徑、時間性指示、測試頻率、調(diào)制格式以及測量帶寬。
20.一種用于產(chǎn)生自動測試裝置的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的方法，包括接收對所述自動測試裝置執(zhí)行校準(zhǔn)過程的請求，所述請求與指定的測試設(shè)置相關(guān)聯(lián)；以及產(chǎn)生與所述指定的測試設(shè)置相對應(yīng)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合。
全文摘要
本發(fā)明公開了用于產(chǎn)生自動測試裝置的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的方法。在一個實施例中，接收到對自動測試裝置(ATE)執(zhí)行校準(zhǔn)過程的請求。該請求與校準(zhǔn)參數(shù)集合相關(guān)聯(lián)。在接收到該請求之后，對應(yīng)于校準(zhǔn)參數(shù)集合的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的一個或多個簽名被導(dǎo)出，并且判斷對應(yīng)于所述一個或多個簽名的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)是否已經(jīng)產(chǎn)生。隨后，產(chǎn)生校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合，其中所產(chǎn)生的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)i)對應(yīng)于所述一個或多個簽名，但是ii)還未產(chǎn)生。在另一實施例中，接收到對ATE執(zhí)行校準(zhǔn)過程的請求，并且該請求與指定的測試設(shè)置相關(guān)聯(lián)。然后產(chǎn)生對應(yīng)于所述指定的測試設(shè)置的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的遞增集合。
文檔編號G01R31/28GK1804648SQ20061000118
公開日2006年7月19日 申請日期2006年1月13日 優(yōu)先權(quán)日2005年1月14日
發(fā)明者周正容, 麥克·米歐赫姆 申請人:安捷倫科技有限公司