專利名稱：一種自動(dòng)調(diào)整測(cè)試時(shí)鐘頻率的裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，更確切地說(shuō)，涉及一種自動(dòng)調(diào)整測(cè)試時(shí)鐘頻率的裝置及方法。
背景技術(shù)：
邊界掃描技術(shù)通過在器件輸入輸出管腳與內(nèi)核電路之間置入邊界掃描單元來(lái)提高器件的可控性和可觀察性，革新了器件及其外圍電路的測(cè)試方式。它的提出是為了解決電路板上互連測(cè)試的問題，后來(lái)發(fā)展到應(yīng)用于邏輯芯片的在板編程和FLASH的在板編程等多種場(chǎng)合。目前，絕大多數(shù)芯片都支持邊界掃描測(cè)試。
為便于敘述，將與本發(fā)明有關(guān)的邊界掃描相關(guān)縮略語(yǔ)和術(shù)語(yǔ)列舉如下JTAGJoint Test Action Group，聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組；BSBoundary Scan，邊界掃描；BSCBoundary Scan Cell，邊界掃描單元；TCKTest ClocK，測(cè)試時(shí)鐘；TDITest Data Input，測(cè)試數(shù)據(jù)輸入；TDOTest Data Output，測(cè)試數(shù)據(jù)輸出；TMSTest Mode Select，測(cè)試模式選擇；TRSTTest Reset，測(cè)試復(fù)位；BSDLBoundary-Scan Description Language，邊界掃描描述語(yǔ)言。
在邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)和邊界掃描編程系統(tǒng)中，TCK頻率是一個(gè)很重要的因素，工作的TCK頻率越高，測(cè)試和編程效率越高。但是TCK頻率受到芯片和線路信號(hào)質(zhì)量的限制，不可能無(wú)限制地提高。邊界掃描芯片都會(huì)在BSDL文件中提供它所支持的最高的TCK頻率，軟件系統(tǒng)能讀取這個(gè)TCK頻率。
當(dāng)需對(duì)多個(gè)邊界掃描芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí)，可將它們連成一條邊界掃描鏈，這條邊界掃描鏈理論上能支持的最高的TCK頻率是所在鏈路上各個(gè)芯片所支持的最高TCK頻率的最小值。例如圖1所示的三個(gè)邊界掃描芯片U1、U2和U3串接成的一條邊界掃描鏈路，其中U1支持的最高TCK頻率為10MHz，U2支持的最高TCK頻率為5MHz，U3支持的最高TCK頻率為20MHz，那么這條邊界掃描鏈路理論上所支持的最高TCK頻率就是5MHz。
但是這只是理想的情況，實(shí)際應(yīng)用中，信號(hào)質(zhì)量等因素將影響到邊界掃描鏈上的TCK頻率，有可能需要降低TCK頻率才能保證測(cè)試或編程操作的可靠穩(wěn)定。
目前TCK頻率的調(diào)整都是人工完成的，過程為發(fā)現(xiàn)測(cè)試或編程失敗時(shí)就人工設(shè)置一個(gè)低一點(diǎn)的TCK頻率重復(fù)執(zhí)行一次，再失敗再降低一點(diǎn)TCK頻率，直至成功為止。現(xiàn)有技術(shù)的這種人工干預(yù)方法的缺點(diǎn)是顯而易見的效率低下、使用成本高、不利于大規(guī)模自動(dòng)測(cè)試的實(shí)現(xiàn)。

發(fā)明內(nèi)容
為避免邊界掃描測(cè)試過程中的人工干預(yù)，提高效率，降低測(cè)試人力和時(shí)間成本，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試，本發(fā)明的實(shí)施例創(chuàng)造性地提出了一種自動(dòng)調(diào)整邊界掃描測(cè)試時(shí)鐘頻率的裝置，包括有掃描單元，用于在TCK頻率下使用測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)掃描鏈路進(jìn)行掃描，并根據(jù)掃描結(jié)果判斷掃描過程中TCK頻率是否可靠；調(diào)整單元，用于設(shè)置所述掃描單元的初始TCK頻率，并在掃描單元確定當(dāng)前TCK頻率不可靠時(shí)降低所設(shè)置的TCK頻率；第一判斷單元，用于判斷所述調(diào)整單元設(shè)置的TCK頻率是否低于預(yù)定的頻率下限并在確定TCK頻率不低于預(yù)定頻率下限時(shí)將所述設(shè)置的TCK頻率發(fā)送到掃描單元；第一輸出單元，用于在所述第一判斷單元確定降低后的TCK頻率低于預(yù)定頻率下限時(shí)，輸出測(cè)試失敗信息；第二輸出單元，用于在所述掃描單元確定TCK頻率可靠時(shí)輸出測(cè)試成功信息。
本發(fā)明的實(shí)施例還提供一種自動(dòng)調(diào)整邊界掃描測(cè)試時(shí)鐘頻率的方法，包括以下步驟(a)獲取邊界掃描鏈路上允許的最高TCK頻率，并設(shè)其為當(dāng)前TCK頻率；(b)在當(dāng)前TCK頻率下向被測(cè)鏈路輸入測(cè)試數(shù)據(jù)，執(zhí)行測(cè)試操作并判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定，若當(dāng)前TCK頻率穩(wěn)定，則執(zhí)行步驟(c)；若當(dāng)前TCK頻率不穩(wěn)定，則執(zhí)行步驟(d)；(c)輸出測(cè)試成功消息；(d)降低當(dāng)前TCK頻率，并判斷判斷降低后的當(dāng)前TCK頻率是否低于預(yù)定的下限，若當(dāng)前TCK頻率低于下限則執(zhí)行步驟(e)；若當(dāng)前TCK頻率不低于下限，執(zhí)行步驟(b)；(e)輸出測(cè)試失敗消息。
通過使用本發(fā)明實(shí)施例中的裝置及方法，避免了TCK頻率調(diào)整過程中的人工干預(yù)，提高了應(yīng)用效率，增加了芯片測(cè)試的自動(dòng)化程度；在生產(chǎn)中可以提高生產(chǎn)效率，降低人力投入和人工干預(yù)的時(shí)間成本。


下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明，附圖中圖1是3個(gè)邊界掃描芯片組成的一條邊界掃描鏈路示意圖。
圖2是邊界掃描芯片結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本發(fā)明自動(dòng)調(diào)整TCK頻率的實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖；圖4是圖3中掃描單元的第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖；圖5是圖3中掃描單元的第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖；圖6是圖3中掃描單元的第三實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖；圖7是本發(fā)明自動(dòng)調(diào)整TCK頻率的方法的第一實(shí)施例的流程圖。
具體實(shí)施例方式
測(cè)試中涉及的邊界掃描芯片構(gòu)成的掃描鏈路示意圖如圖1所示，圖1只有3個(gè)芯片，有一個(gè)或多個(gè)芯片的掃描鏈路與此類似，每個(gè)芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)輸出信號(hào)作為鏈路中下一個(gè)芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)輸入(如果下一個(gè)芯片存在的話)。其中每個(gè)芯片的結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示。
從圖2的芯片結(jié)構(gòu)可以看出，測(cè)試數(shù)據(jù)從輸入到輸出可以有兩條路徑一條路徑經(jīng)過指令寄存器，即測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口→指令寄存器→測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口，各芯片均采用此路徑構(gòu)成的鏈路稱為指令寄存器鏈路；另一條路徑經(jīng)過邊界掃描單元(BSC)，即測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口→BSC→……→BSC→測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口，各芯片均采用此路徑構(gòu)成的鏈路稱為邊界掃描單元鏈路。
這兩條路徑的長(zhǎng)度也就是指令寄存器的長(zhǎng)度和BSC的個(gè)數(shù)都可以從BSDL(Boundary-Scan Description Language，邊界掃描描述語(yǔ)言)文件中自動(dòng)獲取。
如圖3所示，是本發(fā)明自動(dòng)調(diào)整測(cè)試時(shí)鐘頻率的裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖。在本實(shí)施例中，自動(dòng)調(diào)整測(cè)試時(shí)鐘頻率的裝置包括有掃描單元33、設(shè)置單元34、第一判斷單元36、第一輸出單元35以及第二輸出單元37。
掃描單元33，用于在TCK頻率下使用測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)掃描鏈路進(jìn)行掃描，并根據(jù)掃描結(jié)果判斷掃描過程中TCK頻率是否可靠。在本實(shí)施例中，掃描單元33從調(diào)整單元34獲取TCK頻率，并在獲取的TCK頻率下使用測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)掃描鏈路進(jìn)行多次掃描，并根據(jù)掃描結(jié)果判斷測(cè)試過程中TCK頻率是否可靠，其中TCK頻率值的初始值為掃描鏈路的最高TCK頻率Tmax。若多次掃描鏈路時(shí)每次的輸出數(shù)據(jù)等于輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)，則表示當(dāng)前TCK頻率可靠；若任一次掃描鏈路輸出的數(shù)據(jù)不等于輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)，則表示TCK頻率不可靠。對(duì)于在同一TCK頻率下掃描的次數(shù)可以根據(jù)系統(tǒng)對(duì)穩(wěn)定性的要求和測(cè)試時(shí)間進(jìn)行選擇，例如10次，也可以是其它自然數(shù)。通常穩(wěn)定性要求越高，掃描次數(shù)越多；測(cè)試時(shí)間越長(zhǎng)，進(jìn)行掃描次數(shù)可以越多。
在本實(shí)施例中，掃描單元33通過一個(gè)連接裝置連接到掃描鏈路上的測(cè)試存取接口(Test Access Port，TAP)，從而將測(cè)試數(shù)據(jù)及TCK頻率輸入到掃描鏈路的測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口和測(cè)試時(shí)鐘，并通過該測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口獲得輸出結(jié)果。在實(shí)際應(yīng)用中，連接裝置可以為JTAG控制器。
調(diào)整單元34，用于設(shè)置掃描單元33的初始TCK頻率，并在掃描單元33確定當(dāng)前TCK頻率不可靠時(shí)降低所設(shè)置的TCK頻率。調(diào)整單元34將掃描單元33的TCK頻率的初始值設(shè)置為掃描鏈路的最高TCK頻率Tmax，并在掃描單元33確定TCK頻率不可靠時(shí)，降低設(shè)置的TCK頻率的值，生成新的TCK頻率值，并將新的TCK頻率發(fā)送到第一判斷單元36。
在本實(shí)施例中，調(diào)整單元34通過分析邊界掃描鏈路上各個(gè)邊界掃描芯片的BSDL文件或類似描述各邊界掃描芯片性能參數(shù)的文件獲取掃描鏈路的最高TCK頻率Tmax、總的指令鏈路長(zhǎng)度和總的邊界掃描單元長(zhǎng)度，其中最高TCK頻率Tmax為各個(gè)邊界掃描芯片所支持的最高TCK頻率的最小值，總的指令鏈路長(zhǎng)度為各邊界掃描芯片的指令寄存器的長(zhǎng)度的總和，總的邊界掃描單元長(zhǎng)度為各邊界掃描芯片的BSC個(gè)數(shù)的總和。
在本實(shí)施例中，調(diào)整單元34降低TCK頻率時(shí)的降低幅度是由掃描單元33本身硬件的支持特性確定的，主要是連接裝置的硬件支持特性。通常，在Tmax和預(yù)定的邊界掃描測(cè)試可以接受的頻率下限之間的有效頻率點(diǎn)的個(gè)數(shù)不多，所謂有效頻率點(diǎn)的含義是掃描單元33硬件支持的頻率，例如掃描單元33硬件支持的頻率為6MHz，12MHz，24MHz以及其它6MHz整數(shù)倍的頻率等，則23MHz就不是一個(gè)有效頻率點(diǎn)。由于對(duì)于特定的連接裝置，其有效頻率點(diǎn)的數(shù)量是固定的，因此調(diào)整單元34在TCK頻率不可靠時(shí)，從Tmax開始按由高到低的次序逐步降低TCK頻率。
第一判斷單元36，用于判斷所述調(diào)整單元34設(shè)置的TCK頻率是否低于預(yù)定的頻率下限并在確定TCK頻率不低于預(yù)定頻率下限時(shí)將所述設(shè)置的TCK頻率發(fā)送到掃描單元33。該預(yù)定頻率為預(yù)定的邊界掃描測(cè)試可以接受的頻率下限。
第一輸出單元35，用于在第一判斷單元36確定降低后的TCK頻率低于預(yù)定頻率下限時(shí)，輸出測(cè)試失敗的信息。
第二輸出單元37，用于在掃描單元33確定TCK頻率可靠時(shí)輸出測(cè)試成功信息。
如圖4所示，是圖3中掃描單元33第一實(shí)施例的詳細(xì)結(jié)構(gòu)示意圖。在本實(shí)施例中，掃描單元33用于掃描指令寄存器鏈路，其具體包括第一指令單元41、第二判斷單元42及第三判斷單元43。
第一指令單元41用于在調(diào)整單元設(shè)置34的TCK頻率下掃描指令寄存器鏈路，也就是在TCK頻率下將測(cè)試數(shù)據(jù)由測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口輸入，經(jīng)由指令寄存器，并由測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出。在本實(shí)施例中，第一指令單元41的初始TCK頻率為Tmax。第二判斷單元42用于根據(jù)第一指令單元41的掃描結(jié)果判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定，即測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)是否等于輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)，若不等于，則向調(diào)整單元34發(fā)送信號(hào)，由調(diào)整單元34降低當(dāng)前TCK頻率，并由第一指令單元41在降低后的TCK頻率下掃描指令寄存器鏈路；若等于則由第三判斷單元43進(jìn)一步判斷第一指令單元41在當(dāng)前TCK頻率下掃描的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)定次數(shù)，若達(dá)到則由第二輸出單元37輸出測(cè)試成功信息，否則向第一指令單元41發(fā)送信號(hào)，第一指令單元41繼續(xù)在當(dāng)前TCK頻率下掃描指令寄存器鏈路。
如圖5所示，是圖3中掃描單元33第二實(shí)施例的詳細(xì)結(jié)構(gòu)示意圖。在本實(shí)施例中，掃描單元33用于掃描邊界掃描單元鏈路，其具體包括第一數(shù)據(jù)單元51、第四判斷單元52及第五判斷單元53。
第一數(shù)據(jù)單元51用于在調(diào)整單元34設(shè)置的TCK頻率下進(jìn)行邊界掃描鏈路掃描，也就是在TCK頻率下將測(cè)試數(shù)據(jù)由測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口輸入，依次經(jīng)由各個(gè)邊界掃描單元，并由測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出。在本實(shí)施例中，第一數(shù)據(jù)單元51的初始TCK頻率為Tmax。第四判斷單元52用于根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)單元51的掃描結(jié)果判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定，即判斷測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)是否等于輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)，若不等于，則向調(diào)整單元34發(fā)送信號(hào)，由調(diào)整單元34降低當(dāng)前TCK頻率，并由第一數(shù)據(jù)單元51在降低后的TCK頻率下掃描邊界掃描鏈路鏈路；若等于由第五判斷單元53進(jìn)一步判斷第一數(shù)據(jù)單元51在當(dāng)前TCK頻率掃描的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)定次數(shù)，若達(dá)到則由第二輸出單元37輸出測(cè)試成功信息，否則向第一數(shù)據(jù)單元51發(fā)送信號(hào)，第一數(shù)據(jù)單元51繼續(xù)在當(dāng)前TCK頻率下掃描邊界掃描單元鏈路。
如圖6所示，是圖3中掃描單元33第三實(shí)施例的詳細(xì)結(jié)構(gòu)示意圖。在本實(shí)施例中，掃描單元33用于掃描指令寄存器鏈路及邊界掃描單元鏈路，其具體包括第二指令單元61、第六判斷單元62、第七判斷單元63、第二數(shù)據(jù)單元65、第八判斷單元64及第九判斷單元66。
第二指令單元61用于在調(diào)整單元34設(shè)置的TCK頻率下掃描指令寄存器鏈路，也就是將測(cè)試數(shù)據(jù)由測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口輸入，經(jīng)由指令寄存器，并由測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出。在本實(shí)施例中，第二指令單元61的初始TCK頻率為Tmax。第六判斷單元62根據(jù)第二指令單元61的掃描結(jié)果判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定，即判斷測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)是否等于輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)，若不等于，則向調(diào)整單元34發(fā)送信號(hào)，由調(diào)整單元34降低當(dāng)前TCK頻率，并由第二指令單元61在降低后的TCK頻率下掃描指令寄存器鏈路；若等于則由第七判斷單元43進(jìn)一步判斷第二指令單元61在當(dāng)前TCK頻率下掃描的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)定次數(shù)，若達(dá)到則通知第二數(shù)據(jù)單元65進(jìn)行邊界掃描單元鏈路掃描；否則向第二指令單元61發(fā)送信號(hào)，第二指令單元61繼續(xù)在當(dāng)前TCK頻率下掃描指令寄存器鏈路。
第二數(shù)據(jù)單元65用于自第七判斷單元獲得當(dāng)前的TCK頻率，并在當(dāng)前的TCK頻率下掃描邊界掃描單元鏈路。該第二數(shù)據(jù)單元65在第七判斷單元63判斷指令掃描達(dá)到預(yù)定次數(shù)后，在當(dāng)前TCK頻率下將測(cè)試數(shù)據(jù)由測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口輸入，經(jīng)由各個(gè)邊界掃描單元，并由測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出。第八判斷單元64根據(jù)第二數(shù)據(jù)單元65的掃描結(jié)果判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定，即判斷測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)是否等于輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)，若不等于，則由調(diào)整單元34降低當(dāng)前TCK頻率，并由第二指令單元61在降低后的TCK頻率下掃描指令寄存器鏈路；若等于則由第九判斷單元66進(jìn)一步判斷第二數(shù)據(jù)單元65在當(dāng)前TCK頻率下掃描的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)定次數(shù)，若達(dá)到則由第二輸出單元37輸出測(cè)試成功信息，否則向第二數(shù)據(jù)單元65發(fā)送信號(hào)，第二數(shù)據(jù)單元65繼續(xù)在當(dāng)前TCK頻率下掃描邊界掃描單元鏈路。
同樣地，在上述實(shí)施例中第一、第二指令單元41、61，第一、第二數(shù)據(jù)單元51、65對(duì)于同一TCK頻率下掃描的次數(shù)可以根據(jù)系統(tǒng)對(duì)穩(wěn)定性的要求和測(cè)試時(shí)間進(jìn)行選擇。
如圖7所示，是本發(fā)明自動(dòng)調(diào)整測(cè)試時(shí)鐘頻率方法的第一實(shí)施例的流程圖。在本實(shí)施例中，聯(lián)合使用指令掃描和數(shù)據(jù)掃描對(duì)TCK頻率是否穩(wěn)定可靠進(jìn)行判斷，具體包括以下步驟步驟701，獲取邊界掃描鏈路允許的最高TCK頻率Tmax以及總的指令鏈路長(zhǎng)度和總的邊界掃描單元長(zhǎng)度。在該步驟中，可通過分析邊界掃描鏈路上各個(gè)邊界掃描芯片的BSDL文件或類似描述各邊界掃描芯片性能參數(shù)的文件實(shí)現(xiàn)，其中最高TCK頻率Tmax為各邊界掃描芯片所支持的最高TCK頻率的最小值，總的指令鏈路長(zhǎng)度為各邊界掃描芯片的指令寄存器的長(zhǎng)度的總和，總的邊界掃描單元長(zhǎng)度為各邊界掃描芯片的BSC個(gè)數(shù)的總和。
步驟702，將TCK頻率設(shè)置為Tmax。
步驟703，在當(dāng)前TCK頻率下使用測(cè)試數(shù)據(jù)執(zhí)行m次指令掃描，并判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定，即判斷測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口輸入的數(shù)據(jù)是否一致，其中輸入的掃描用數(shù)據(jù)可以是特定的數(shù)據(jù)如0x55AA等，也可以是隨機(jī)數(shù)據(jù)。如果任一次結(jié)果不一致則判定當(dāng)前TCK頻率不穩(wěn)定，執(zhí)行步驟707；如果m次結(jié)果都一致則執(zhí)行步驟704。
上述的m次指令掃描可通過以下步驟實(shí)現(xiàn)(b11)在當(dāng)前TCK頻率下將測(cè)試數(shù)據(jù)從測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口輸入，經(jīng)指令寄存器鏈路從測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出；(b12)判斷所述輸出數(shù)據(jù)與所述輸入數(shù)據(jù)是否一致，如果輸出數(shù)據(jù)與輸入數(shù)據(jù)不一致，則確定當(dāng)前TCK頻率不穩(wěn)定，執(zhí)行步驟707；否則執(zhí)行步驟(b13)；(b13)將當(dāng)前TCK頻率下使用測(cè)試數(shù)據(jù)掃描的次數(shù)加1，并判斷當(dāng)前TCK頻率下掃描的次數(shù)是否達(dá)到m次，如果當(dāng)前TCK頻率下的掃描次數(shù)達(dá)到m次，則確定當(dāng)前TCK頻率穩(wěn)定，執(zhí)行步驟704；否則執(zhí)行步驟(b11)。
步驟704，在當(dāng)前TCK頻率下使用測(cè)試數(shù)據(jù)執(zhí)行n次數(shù)據(jù)掃描操作，并對(duì)從測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)與從測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口數(shù)據(jù)是否一致進(jìn)行判斷，其中輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)可以是特定的數(shù)據(jù)如0x55AA等，也可以是隨機(jī)數(shù)據(jù)。如果n次結(jié)果都一致則執(zhí)行步驟705；如果任一次結(jié)果不一致，則確定當(dāng)前TCK頻率不穩(wěn)定，執(zhí)行步驟707。
上述的n次數(shù)據(jù)掃描可通過以下步驟實(shí)現(xiàn)(b21)在當(dāng)前TCK頻率下將測(cè)試數(shù)據(jù)從測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口輸入，經(jīng)邊界掃描單元鏈路從測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出；(b22)判斷所述輸出數(shù)據(jù)與所述輸入數(shù)據(jù)是否一致，如果輸出數(shù)據(jù)與輸入數(shù)據(jù)不一致，則確定當(dāng)前TCK頻率不穩(wěn)定，執(zhí)行步驟707；否則執(zhí)行步驟(b23)；(b23)將當(dāng)前TCK頻率下使用測(cè)試數(shù)據(jù)掃描的次數(shù)加1，并判斷掃描的次數(shù)是否達(dá)到n次，如果當(dāng)前TCK頻率下的掃描次數(shù)達(dá)到n次，則確定當(dāng)前TCK頻率穩(wěn)定，執(zhí)行步驟705；否則執(zhí)行步驟(b21)。
步驟705，確定當(dāng)前TCK頻率為穩(wěn)定可靠，報(bào)告調(diào)整成功并以當(dāng)前TCK頻率為測(cè)試時(shí)鐘；步驟707，降低當(dāng)前TCK頻率，然后執(zhí)行步驟708；步驟708，判斷降低后的TCK頻率是否已經(jīng)低于預(yù)定的頻率下限，如果低于則說(shuō)明在設(shè)定范圍內(nèi)沒有穩(wěn)定可靠的TCK頻率，報(bào)告失敗并結(jié)束調(diào)整過程；如果降低調(diào)整后的TCK頻率不低于預(yù)定下限則執(zhí)行步驟703。
上述的m和n是預(yù)先設(shè)定的循環(huán)次數(shù)，根據(jù)對(duì)穩(wěn)定性的要求和測(cè)試時(shí)間進(jìn)行選擇，例如m＝n＝10，也可以是其它自然數(shù)。通常穩(wěn)定性要求較高越高，m、n的值越大；測(cè)試時(shí)間越長(zhǎng)，m、n的值越大。
在本發(fā)明自動(dòng)調(diào)整TCK頻率的方法的第二實(shí)施例中，只使用指令掃描判斷TCK頻率是否穩(wěn)定。與上述實(shí)施例類似，本實(shí)施例中，在獲取邊界掃描鏈路允許的最高TCK頻率Tmax以及總的指令鏈路長(zhǎng)度后，將Tmax作為當(dāng)前TCK頻率進(jìn)行指令掃描，并判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定可靠。若當(dāng)前TCK頻率穩(wěn)定可靠，即在m次指令掃描中每次測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口輸入的數(shù)據(jù)一致，則報(bào)告成功；否則依次降低當(dāng)前TCK頻率，并使用降低后的TCK頻率進(jìn)行指令掃描，直到降低后TCK頻率的低于下限，報(bào)告失敗。
在本發(fā)明自動(dòng)調(diào)整TCK頻率的方法的第三實(shí)施例中，只使用數(shù)據(jù)掃描判斷TCK頻率是否穩(wěn)定。與上述實(shí)施例類似，本實(shí)施例中，在獲取邊界掃描鏈路允許的最高TCK頻率Tmax以及總的邊界掃描單元長(zhǎng)度后，將Tmax作為當(dāng)前TCK頻率進(jìn)行數(shù)據(jù)掃描，并判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定可靠。若當(dāng)前TCK頻率穩(wěn)定可靠，即在n次數(shù)據(jù)掃描中每次測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出的數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口輸入的數(shù)據(jù)一致，則報(bào)告成功；否則依次降低當(dāng)前TCK頻率，并使用降低后的TCK頻率進(jìn)行數(shù)據(jù)掃描，直到降低后TCK頻率的低于下限，報(bào)告失敗。
上述實(shí)施例中的指令掃描和數(shù)據(jù)掃描是所有支持邊界掃描的芯片都支持的操作，因此具有通用性，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)調(diào)整TCK頻率，從而提高了測(cè)試效率，并減少了測(cè)試過程中的人力投入。
以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式
，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種自動(dòng)調(diào)整邊界掃描測(cè)試時(shí)鐘頻率的裝置，其特征在于，包括有掃描單元，用于在TCK頻率下使用測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)掃描鏈路進(jìn)行掃描，并根據(jù)掃描結(jié)果判斷掃描過程中TCK頻率是否可靠；調(diào)整單元，用于設(shè)置所述掃描單元的初始TCK頻率，并在掃描單元確定當(dāng)前TCK頻率不可靠時(shí)降低所設(shè)置的TCK頻率；第一判斷單元，用于判斷所述調(diào)整單元設(shè)置的TCK頻率是否低于預(yù)定的頻率下限并在確定TCK頻率不低于預(yù)定頻率下限時(shí)將所述設(shè)置的TCK頻率發(fā)送到掃描單元；第一輸出單元，用于在所述第一判斷單元確定降低后的TCK頻率低于預(yù)定頻率下限時(shí)，輸出測(cè)試失敗信息；第二輸出單元，用于在所述掃描單元確定TCK頻率可靠時(shí)輸出測(cè)試成功信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)調(diào)整邊界掃描測(cè)試時(shí)鐘頻率的裝置，其特征在于，所述掃描單元包括第一指令單元，用于在調(diào)整單元設(shè)置的TCK頻率下掃描指令寄存器鏈路；第二判斷單元，用于根據(jù)第一指令單元的掃描結(jié)果判斷TCK頻率是否穩(wěn)定，并在確定TCK頻率不穩(wěn)定時(shí)由所述調(diào)整單元降低TCK頻率；第三判斷單元，用于判斷在當(dāng)前TCK頻率下，第一指令單元掃描的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)定次數(shù)，并在未達(dá)到預(yù)定次數(shù)時(shí)由第一指令單元繼續(xù)在當(dāng)前TCK頻率下掃描指令寄存器鏈路、在達(dá)到預(yù)定次數(shù)時(shí)由第二輸出單元輸出測(cè)試成功信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)調(diào)整邊界掃描測(cè)試時(shí)鐘頻率的裝置，其特征在于，所述掃描單元包括第一數(shù)據(jù)單元，用于在調(diào)整單元設(shè)置的TCK頻率下掃描邊界掃描單元鏈路；第四判斷單元，用于根據(jù)第一數(shù)據(jù)單元的掃描結(jié)果判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定，并在確定TCK頻率不穩(wěn)定時(shí)由所述調(diào)整單元降低TCK頻率；第五判斷單元，用于判斷在當(dāng)前TCK頻率下，第一數(shù)據(jù)單元掃描的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)定次數(shù)，并在未達(dá)到預(yù)定次數(shù)時(shí)由第一數(shù)據(jù)單元繼續(xù)在當(dāng)前TCK頻率下掃描邊界掃描單元鏈路、在達(dá)到預(yù)定次數(shù)時(shí)由第二輸出單元輸出測(cè)試成功信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)調(diào)整邊界掃描測(cè)試時(shí)鐘頻率的裝置，其特征在于，所述掃描單元包括第二指令單元，用于在調(diào)整單元設(shè)置的TCK頻率下掃描指令寄存器鏈路；第六判斷單元，用于根據(jù)第二指令單元的掃描結(jié)果判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定，并在確定TCK頻率不穩(wěn)定時(shí)由所述調(diào)整單元降低TCK頻率；第七判斷單元，用于判斷在當(dāng)前TCK頻率下，第二指令單元掃描的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)定次數(shù)，并在未達(dá)到預(yù)定次數(shù)時(shí)由第二指令單元繼續(xù)在當(dāng)前TCK頻率下掃描指令寄存器鏈路、在達(dá)到預(yù)定次數(shù)時(shí)，由第二數(shù)據(jù)單元在當(dāng)前頻率下掃描邊界掃描單元鏈路；第二數(shù)據(jù)單元，用于自第七判斷單元獲得當(dāng)前的TCK頻率，并在當(dāng)前的TCK頻率下掃描邊界掃描單元鏈路；第八判斷單元，用于根據(jù)第二數(shù)據(jù)單元的掃描結(jié)果判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定，并在確定當(dāng)前TCK頻率不穩(wěn)定時(shí)由所述調(diào)整單元降低TCK頻率；第九判斷單元，用于判斷第二數(shù)據(jù)單元在當(dāng)前TCK頻率下掃描的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)定次數(shù)，并在未達(dá)到預(yù)定次數(shù)時(shí)由第二數(shù)據(jù)單元繼續(xù)在當(dāng)前TCK頻率下掃描邊界掃描單元鏈路、在達(dá)到預(yù)定次數(shù)時(shí)由第二輸出單元輸出測(cè)試成功信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的自動(dòng)調(diào)整邊界掃描測(cè)試時(shí)鐘頻率的裝置，其特征在于，所述掃描單元包括有連接裝置，所述連接裝置連接到掃描鏈路上的測(cè)試存取接口。
6.一種自動(dòng)調(diào)整邊界掃描測(cè)試時(shí)鐘頻率的方法，其特征在于，包括以下步驟(a)獲取邊界掃描鏈路上允許的最高TCK頻率，并設(shè)其為當(dāng)前TCK頻率；(b)在當(dāng)前TCK頻率下向被測(cè)鏈路輸入測(cè)試數(shù)據(jù)，執(zhí)行測(cè)試操作并判斷當(dāng)前TCK頻率是否穩(wěn)定，若當(dāng)前TCK頻率穩(wěn)定，則執(zhí)行步驟(c)；若當(dāng)前TCK頻率不穩(wěn)定，則執(zhí)行步驟(d)；(c)輸出測(cè)試成功消息；(d)降低當(dāng)前TCK頻率，并判斷判斷降低后的當(dāng)前TCK頻率是否低于預(yù)定的下限，若當(dāng)前TCK頻率低于下限則執(zhí)行步驟(e)；若當(dāng)前TCK頻率不低于下限，執(zhí)行步驟(b)；(e)輸出測(cè)試失敗消息。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動(dòng)調(diào)整邊界掃描測(cè)試時(shí)鐘頻率的方法，其特征在于，所述步驟(b)包括步驟(b11)在當(dāng)前TCK頻率下將測(cè)試數(shù)據(jù)從測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口輸入，經(jīng)指令寄存器鏈路從測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出；(b12)判斷所述輸出數(shù)據(jù)與所述輸入數(shù)據(jù)是否一致，如果輸出數(shù)據(jù)與輸入數(shù)據(jù)不一致，則確定當(dāng)前TCK頻率不穩(wěn)定，執(zhí)行步驟(d)；否則執(zhí)行步驟(b13)；(b13)判斷當(dāng)前TCK頻率下的掃描次數(shù)是否達(dá)到預(yù)定次數(shù)，如果當(dāng)前TCK頻率下的掃描次數(shù)達(dá)到預(yù)定次數(shù)，則確定當(dāng)前TCK頻率穩(wěn)定，執(zhí)行步驟(c)；否則執(zhí)行步驟(b11)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動(dòng)調(diào)整邊界掃描測(cè)試時(shí)鐘頻率的方法，其特征在于，所述步驟(b)包括步驟(b21)在當(dāng)前TCK頻率下將測(cè)試數(shù)據(jù)從測(cè)試數(shù)據(jù)輸入接口輸入，經(jīng)邊界掃描單元鏈路從測(cè)試數(shù)據(jù)輸出接口輸出；(b22)判斷所述輸出數(shù)據(jù)與所述輸入數(shù)據(jù)是否一致，如果輸出數(shù)據(jù)與輸入數(shù)據(jù)不一致，則確定當(dāng)前TCK頻率不穩(wěn)定，執(zhí)行步驟(d)；否則執(zhí)行步驟(b23)；(b23)判斷當(dāng)前TCK頻率下掃描的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)定次數(shù)，如果當(dāng)前TCK頻率下的掃描次數(shù)達(dá)到預(yù)定次數(shù)，則確定當(dāng)前TCK頻率穩(wěn)定，執(zhí)行步驟(c)；否則執(zhí)行步驟(b21)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種自動(dòng)調(diào)整邊界掃描測(cè)試時(shí)鐘頻率的裝置，包括有掃描單元，用于在TCK頻率下對(duì)掃描鏈路進(jìn)行掃描并判斷TCK頻率是否可靠；調(diào)整單元，用于設(shè)置所述掃描單元的初始TCK頻率并在設(shè)置的TCK頻率不可靠時(shí)降低所述當(dāng)前TCK頻率；第一判斷單元，用于判斷所述調(diào)整單元設(shè)置的TCK頻率是否低于預(yù)定的頻率下限并在不低于預(yù)定頻率下限時(shí)將TCK頻率發(fā)送到掃描單元；第一輸出單元，用于在降低后的TCK頻率低于下限時(shí)輸出測(cè)試失敗信息；第二輸出單元，用于在TCK頻率可靠時(shí)輸出測(cè)試成功信息。本發(fā)明避免了人工干預(yù)，提高了應(yīng)用效率，增加了芯片測(cè)試的自動(dòng)化程度；在生產(chǎn)中可以提高生產(chǎn)效率，降低人力投入和人工干預(yù)的時(shí)間成本。
文檔編號(hào)G01R31/28GK1948983SQ200610063569
公開日2007年4月18日 申請(qǐng)日期2006年11月9日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月9日
發(fā)明者滑思真, 李穎悟, 徐光曉 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司