專利名稱:顯示面板的非接觸式檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明是關(guān)于一種顯示面板的非接觸式檢測裝置,尤指一種適用于檢測薄膜晶體管陣列基板的柵極/源極配線的非接觸式檢測裝置。
背景技術(shù):
圖1顯示一平面顯示器的面板1的示意圖。在顯示面板1上具有多條水平線110與多條垂直線120,其中水平線110又稱為柵極配線(Gate Lines),垂直線120又稱為源極配線(Source Lines)。然而,在顯示面板1的制造過程中,顯示面板1上的垂直線110或水平線120有可能會發(fā)生斷線(Open)或短路(Short)的情形。因此,通常會對柵極/源極配線進行檢測。
目前平面顯示器的面板的檢測方法主要有兩種接觸式檢測法與非接觸檢測法。
圖2顯示已知的接觸式檢測法的示意圖。已知的接觸式檢測法是利用探針卡21來對顯示面板22進行檢測,其中探針卡21上具有多個探針2111,2112,2113,2114,2115,2116,且所述探針的數(shù)量是固定的。當顯示面板22的水平線221,222,223進行檢測時,探針卡21的探針2111,2112,2113,2114,2115,2116分別對準所述水平線221,222,223的兩側(cè)。也即,探針2111,2112對準水平線221的兩側(cè),探針2113,2114對準水平線222的兩側(cè),探針2115,2116對準水平線223的兩側(cè)。接著,探針卡21上的探針2111,2112,2113,2114,2115,2116與所述水平線221,222,223接觸,且探針卡21在所述水平線221,222,223的兩側(cè)間分別提供電位差,以供探針卡21能測量出水平線221,222,223的電阻值。若其中一條水平線222的電阻測量值超出柵極配線電阻值一設(shè)定范圍時,則代表該水平線222可能斷線。若其中一條水平線223的電阻值接近為零時,則代表該水平線223可能短路。
然而,采用探針卡檢測顯示面板非常耗時。例如探針卡其中一側(cè)的探針數(shù)為384個,待檢測顯示面板的分辨率為768×1024(768條水平線×1024條垂直線),則探針卡上的探針必須先對準顯示面板上的水平線,接著探針卡上的探針與顯示面板上的水平線接觸,并在檢測完畢后探針卡再離開顯示面板。由于探針卡的探針數(shù)為384個,是顯示面板水平線(768條)的一半,因此探針卡必須對顯示面板檢測兩次才能完成水平線部分的檢測。所以探針卡必須再重復(fù)上述步驟(對準、接觸、檢測、及離開)才能完成顯示面板的水平線的檢測,如此將非常耗時。
此外,探針卡的探針數(shù)是固定的,而顯示面板的分辨率可能會有許多種,所以需要非常多的探針卡來檢測不同分辨率的顯示面板,因此會造成生產(chǎn)成本提高。例如探針卡其中一側(cè)的探針數(shù)為384個,待檢測顯示面板的分辨率可能為768×1024(768條水平線×1024條垂直線)、1088×612、或1280×1024等各種不同的分辨率,所以必須準備多種不同探針數(shù)的探針卡,以檢測不同分辨率的顯示面板。
圖3a與圖3b顯示已知非接觸式檢測裝置的示意圖。在圖3a中,是利用輸入傳感器31與接收傳感器32來對顯示面板的其中一條水平線33進行檢測,上述輸入傳感器31可以提供高電壓,以對水平線33釋放出電壓,以供水平線33能夠感應(yīng)而產(chǎn)生電荷,使得接收傳感器32能接收水平線33所產(chǎn)生的感應(yīng)電荷。因此,接收傳感器32可通過接收感應(yīng)電荷來判斷被檢測的水平線33是否有缺陷。
圖3b顯示已知非接觸式檢測裝置30檢測顯示面板3的示意圖,非接觸式檢測裝置30的兩側(cè)分別組設(shè)有輸入傳感器31與接收傳感器32。由于非接觸檢測裝置30采用感應(yīng)電荷方式來檢測顯示面板3,所以非接觸式檢測裝置30的探針與顯示面板3的距離(Gap)必須非常小,例如100微米(mm)。此外,非接觸式檢測裝置30每次檢測時只能檢測一條水平線(或垂直線),所以非接觸式檢測裝置30必須采用掃描方式,例如由上往下,對顯示面板3進行檢測。因為非接觸式檢測裝置30與顯示面板3的間距非常小,當顯示面板3上存有微粒子(Particle)的情形時,非接觸式檢測裝置30在顯示面板3上移動時容易括傷顯示面板3。
因此,如何提供一種顯示面板的檢測裝置已成為一亟需解決的課題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種顯示面板的非接觸式檢測裝置,以便能降低檢測時間(Tact-Time),并有效地增加顯示面板產(chǎn)能。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種顯示面板的非接觸式檢測裝置,以便能大幅降低檢測設(shè)備成本。
本發(fā)明的再一目的在于提供一種顯示面板的非接觸式檢測裝置,以便能在檢測面板時降低括傷顯示面板的幾率。
依據(jù)本發(fā)明的一特色,是提出一種顯示面板的非接觸式檢測裝置,用以對一包括有多條金屬線的顯示面板進行檢測,顯示面板的非接觸式檢測裝置包括第一檢測長條、第二檢測長條以及控制電路。上述第一檢測長條組設(shè)有多個信號輸入傳感器。上述第二檢測長條組設(shè)有多個信號偵測傳感器,且所述信號輸入傳感器與所述信號偵測傳感器可以組成多組檢測單元。上述控制電路分別與所述信號輸入傳感器及所述信號偵測傳感器電性連接。當非接觸式檢測裝置對顯示面板檢測時,每一組檢測單元能對應(yīng)一條金屬線,以供控制電路控制至少一組檢測單元對至少一條金屬線進行檢測。
依據(jù)本發(fā)明的另一特色,是提出一種顯示面板的非接觸式檢測裝置,用以對一包括有多條金屬線的顯示面板進行檢測,該非接觸式檢測裝置包括第一檢測長條、信號偵測傳感器以及控制電路。上述第一檢測長條組設(shè)有多個信號輸入傳感器。上述信號偵測傳感器可以與信號輸入傳感器組成一檢測單元。上述控制電路分別與所述信號輸入傳感器及信號偵測傳感器電性連接。當非接觸式檢測裝置對顯示面板檢測時,檢測單元能對應(yīng)一金屬線,以供控制電路可以控制檢測單元對金屬線進行檢測,欲使檢測單元檢測下一條金屬線時,信號偵測傳感器可以機械式位移,以使得其與另一信號輸入傳感器能對應(yīng)及檢測下一條金屬線。
依據(jù)本發(fā)明的又一特色,是提出一種顯示面板的非接觸式檢測裝置,用以對一包括有多條金屬線的顯示面板進行檢測,該非接觸式檢測裝置包括信號輸入傳感器、第二檢測長條以及控制電路。上述第二檢測長條組設(shè)有多個信號偵測傳感器,且信號輸入傳感器能與至少一信號偵測傳感器組成一檢測單元。上述控制電路分別與信號輸入傳感器及所述信號偵測傳感器電性連接。當非接觸式檢測裝置對顯示面板檢測時,檢測單元能對應(yīng)一金屬線,以供控制電路控制檢測單元對金屬線進行檢測,且檢測單元檢測下一條金屬線時,信號輸入傳感器可以機械式位移,以使得其與至少一信號偵測傳感器能對應(yīng)及檢測下一條金屬線。
上述控制電路在控制檢測單元對金屬線進行檢測時,控制電路控制檢測單元的信號輸入傳感器提供偵測信號,且控制電路控制檢測單元的信號偵測傳感器同步偵測信號。在另一實施中,控制電路可以控制多組檢測單元來對金屬線進行檢測。
此外,控制電路控制檢測單元的信號輸入傳感器提供電壓,以使得金屬線能夠產(chǎn)生感應(yīng)電荷,且控制電路控制檢測單元的信號偵測傳感器通過接收感應(yīng)電荷來檢測金屬線。
上述控制電路是依序地控制檢測單元對金屬線進行檢測,以達成電子掃描方式對金屬線進行檢測,以能加速檢測時間與避免刮傷顯示面板。
上述檢測單元可以包括一信號輸入傳感器與一信號偵測傳感器,也可以包括一信號輸入傳感器與多個信號偵測傳感器。
上述待檢測的顯示面板可以為一還未切割的薄膜晶體管陣列基板,或者為一經(jīng)過切割的薄膜晶體管陣列基板。
圖1是一平面顯示器的面板的示意圖。
圖2是已知接觸式檢測法的示意圖。
圖3a是已知非接觸檢測的示意圖。
圖3b是已知非接觸檢測裝置檢測面板的示意圖。
圖4是本發(fā)明一較佳實施例的非接觸式面板檢測裝置的功能方塊圖。
圖5是本發(fā)明一較佳實施例的非接觸式面板檢測裝置檢測面板的示意圖。
圖6a、圖6b是本發(fā)明第二較佳實施例的示意圖。
圖7是本發(fā)明第三較佳實施例的示意圖。
圖8是本發(fā)明第四較佳實施例的示意圖。
主要組件符號說明面板 1,22,3,40,60,70,80水平線110,221,222,223,33垂直線120探針卡21探針 2111,2112,2113,2114,2115,2116非接觸檢測裝置30輸入傳感器31接收傳感器33金屬線401,402,403,404,601控制電路 41第一檢測長條 42,62,72第二檢測長條 43,63,83信號輸入傳感器421,422,423,621,721,722,821信號偵測傳感器431,432,433,6311,6312,6313,731,831,832顯示單元 44
具體實施例方式
本發(fā)明是將多個信號輸入傳感器(Signal Input Sensor)組設(shè)于第一檢測長條(Detecting Bar),將多個信號偵測傳感器(Signal Detecting Sensor)組設(shè)于第二檢測長條,當對顯示面板進行檢測時,可以直接通過第一檢測長條與第二檢測長條來對顯示面板上的金屬線進行檢測,其中第一檢測長條中的每一個信號輸入傳感器可以對準顯示面板上的待檢測金屬線,第二檢測長條中的每一個信號偵測傳感器也可以相對于第一檢測長條中的信號輸入傳感器而位于顯示面板的待檢測金屬線的另一側(cè)。因此,在檢測顯示面板時,只要通過電子方式控制所述信號輸入傳感器提供偵測信號,并同時控制所述信號偵測傳感器同步偵測信號便能快速完成檢測,以大幅降低檢測時間。
有關(guān)本發(fā)明顯示面板的非接觸式檢測裝置的第一較佳實施例,請一并參照圖4與圖5,其中圖4顯示非接觸式檢測裝置的功能方塊圖,圖5顯示非接觸式檢測裝置檢測顯示面板的示意圖。在圖4中,非接觸式檢測裝置包括控制電路41、多個信號輸入傳感器421,422,423以及多個信號偵測傳感器431,432,433。
上述控制電路41分別與所述信號輸入傳感器421,422,423以及所述信號偵測傳感器431,432,433電性連接。
非接觸式檢測裝置檢測顯示面板的一較佳實施例如圖5所示,是以檢測顯示面板40的水平線401,402,403為例。所述信號輸入傳感器421,422,423組設(shè)于第一檢測長條42中,所述信號偵測傳感器431,432,433組設(shè)于第二檢測長條43中。在本實施例中,非接觸式檢測裝置所檢測的顯示面板40可以為未切割的薄膜晶體管陣列基板。在其它實施例中,待檢測的顯示面板40也可為經(jīng)過切割的薄膜晶體管陣列基板。
此外,每一信號輸入傳感器421,422,423可以分別對準顯示面板40的每一條金屬線401,402,403的一側(cè),每一信號偵測傳感器431,432,433可以分別對準顯示面板40的每一條金屬線401,402,403的另一側(cè),且上述信號輸入傳感器421可以與信號偵測傳感器431組成一組檢測單元,以使得信號輸入傳感器421所提供的偵測信號能夠被信號偵測傳感器431接收。相類似地,信號輸入傳感器422可以與信號偵測傳感器432組成一組檢測單元,信號輸入傳感器423可以與信號偵測傳感器433組成一組檢測單元。故,第一檢測長條42與第二檢測長條43中的所述信號輸入傳感器421,422,423與所述信號偵測傳感器431,432,433可以組成多組檢測單元。
在檢測時,控制電路41可以一次控制一組檢測單元來對顯示面板40上的其中一條金屬線401,402,403進行檢測。例如控制電路41控制信號輸入傳感器421對金屬線401提供電壓,以使得金屬線401產(chǎn)生感應(yīng)電荷,且與信號輸入傳感器421屬于同一組檢測單元的信號偵測傳感器431可以接收金屬線401所產(chǎn)生的感應(yīng)電荷,以判斷該金屬線401是否斷線或短路。
接著,控制電路41持續(xù)控制信號輸入傳感器422提供電壓偵測信號,以使得信號偵測傳感器432可以偵測金屬線402所產(chǎn)生的感應(yīng)電荷。所以,控制電路41可以依序控制信號輸入傳感器421,422,423提供偵測信號,并控制信號偵測傳感器431,432,433同步接收偵測信號,以能達成利用電子掃描方式來對面板40上的所述金屬線401,402,403進行檢測,以大幅檢測時間與降低括傷顯示面板40的幾率。
顯示面板40也可能切割成多個小基板,而本發(fā)明所提供的非接觸式檢測裝置的第一檢測長條42與第二檢測長條43一次僅能檢測一側(cè)的多個小基板,所以在檢測完之后,第一檢測長條42與第二檢測長條43須位移至其它未檢測的基板,以進行檢測。因此,在本實施例中,本發(fā)明所提供的非接觸式檢測裝置僅須位移兩次便能完成薄膜晶體管陣列基板的檢測而可有效地增加產(chǎn)能。另外,第一檢測長條42與第二檢測長條43中的所述信號輸入傳感器421,422,423及所述信號偵測傳感器431,432,433的位置也可加以調(diào)整,因此對于不同分辨率的基板而言,是無需再另外準備不同的非接觸式檢測裝置,故能節(jié)省顯示面板檢測設(shè)備的成本。
在其它實施例中,為了加速檢測時間,控制電路410可以一次控制多組檢測單元對顯示面板40的金屬線401,402,403進行檢測。也即,控制電路410可以同時控制奇數(shù)的信號輸入傳感器421,423來對金屬線401,403供應(yīng)電壓,以使得金屬線401,403產(chǎn)生感應(yīng)電荷,控制電路410并同時控制奇數(shù)的信號偵測傳感器431,433接收感應(yīng)電荷,以檢測金屬線401,403。之后,控制電路410可以控制偶數(shù)的信號輸入傳感器422與偶數(shù)的信號偵測傳感器432來對偶數(shù)的金屬線402進行檢測,以大幅降低檢測時間。
圖6a與圖6b顯示本發(fā)明第二較佳實施例的示意圖。在圖6a中,第一檢測長條62包括有多個信號輸入傳感器621,第二檢測長條63包括有多個信號偵測傳感器6311,6312,6313,其中信號輸入傳感器621與所述信號偵測傳感器6311,6312,6313組成一個檢測單元。
由于本實施例中,檢測單元包括有一個信號輸入傳感器621與三個信號偵測傳感器6311,6312,6313,因此當信號輸入傳感器621對顯示面板60的金屬線601提供電壓時,金屬線601能夠產(chǎn)生感應(yīng)電荷,且所述信號偵測傳感器6311,6312,6313能接收金屬線601所產(chǎn)生的感應(yīng)電荷,故能增加測量結(jié)果的準確度,并有效地增加接收的信號強度與過濾不必要的噪聲。
圖6b顯示本實施采用多個信號偵測傳感器的示意圖。A1為一個信號偵測傳感器所接收的信號的波形,A2為三個信號偵測傳感器所接收的信號的波形,由此可知,利用多個信號偵測傳感器同時接收一信號,可使得波形具加成性,所以在進行檢測顯示面板時可以增加測量結(jié)果的準確度。
圖7顯示本發(fā)明第三較佳實施例的示意圖,在有些實施中,可以利用第一檢測長條72與一個信號偵測傳感器731來檢測顯示面板70,其中第一檢測長條72包括有多個信號輸入傳感器721,722。所以,控制電路可以控制第一檢測長條72的輸入傳感器721,722依序提供偵測信號,并控制信號偵測傳感器731機械式移動來接收偵測信號。
圖8顯示本發(fā)明第四較佳實施例的示意圖,也可以利用信號輸入傳感器821與第二檢測長條83來檢測面板80,其中第二檢測長條83包括有多個信號偵測傳感器831,832。所以,控制電路可以控制信號輸入傳感器821機械移動以在不同位置提供偵測信號,并控制第二檢測長條83的信號偵測傳感器831、832依序接收偵測信號。
由以上的說明可知,本發(fā)明利用多個信號輸入傳感器組成第一檢測長條,并利用多個信號偵測傳感器組成第二檢測長條,以供直接利用第一檢測長條與第二檢測長條來對顯示面板進行檢測。此外,控制電路并控制第一檢測長條的信號輸入傳感器依序提供偵測信號,且控制第二檢測長條的信號偵測傳感器同步接收偵測信號,以達成電子式掃描面板,以能降低檢測時間,并有效地增加顯示面板產(chǎn)能。
上述實施例僅是為了方便說明而舉例而已,本發(fā)明所主張的權(quán)利范圍應(yīng)以權(quán)利要求所述為準,而非僅限于上述實施例。
權(quán)利要求
1.一種顯示面板的非接觸式檢測裝置,用以對一包括有多條金屬線的顯示面板進行檢測,其特征在于,該非接觸式檢測裝置包括一第一檢測長條,組設(shè)有多個信號輸入傳感器;一第二檢測長條,組設(shè)有多個信號偵測傳感器,所述信號輸入傳感器與所述信號偵測傳感器組成多組檢測單元;以及一控制電路,分別與所述信號輸入傳感器及所述信號偵測傳感器電性連接,當該非接觸式檢測裝置對所述顯示面板檢測時,每一組檢測單元對應(yīng)一條金屬線,以供所述控制電路控制至少一組檢測單元對至少一條金屬線進行檢測。
2.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述控制電路控制至少一組檢測單元的信號輸入傳感器提供偵測信號,且所述控制電路控制該至少一組檢測單元的信號偵測傳感器同步偵測信號。
3.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述控制電路控制至少一組檢測單元的信號輸入傳感器提供電壓,以使得至少一條金屬線產(chǎn)生感應(yīng)電荷,且所述控制電路控制該至少一組檢測單元的信號偵測傳感器,通過接收感應(yīng)電荷來檢測所述至少一條金屬線。
4.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述控制電路依序控制所述至少一組檢測單元對所述至少一條金屬線進行檢測。
5.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,每一檢測單元包括一個信號輸入傳感器與一個信號偵測傳感器。
6.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,每一檢測單元包括一個信號輸入傳感器與多個信號偵測傳感器。
7.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述顯示面板為未切割的薄膜晶體管陣列基板。
8.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述顯示面板為經(jīng)過切割的薄膜晶體管陣列基板。
9.一種非接觸式檢測裝置,用以對一包括有多條金屬線的顯示面板進行檢測,其特征在于,該非接觸式檢測裝置包括一第一檢測長條,組設(shè)有多個信號輸入傳感器;一信號偵測傳感器,能與一信號輸入傳感器組成一檢測單元;以及一控制電路,分別與所述信號輸入傳感器及所述信號偵測傳感器電性連接,當該非接觸式檢測裝置對所述顯示面板檢測時,所述檢測單元能對應(yīng)一條金屬線,以供該控制電路控制該檢測單元對該金屬線進行檢測,且該檢測單元檢測下一條金屬線時,所述信號偵測傳感器能位移,以使得其與另一信號輸入傳感器能對應(yīng)及檢測下一條金屬線。
10.如權(quán)利要求9所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述控制電路控制所述檢測單元的所述信號輸入傳感器提供偵測信號,且該控制電路控制該檢測單元的信號偵測傳感器同步偵測信號。
11.如權(quán)利要求9所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述控制電路控制所述檢測單元的所述信號輸入傳感器提供電壓,以使得所述金屬線產(chǎn)生感應(yīng)電荷,且該控制電路控制該檢測單元的信號偵測傳感器,通過接收感應(yīng)電荷來檢測所述金屬線。
12.如權(quán)利要求9所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述控制電路依序控制所述信號輸入傳感器來提供偵測信號,并控制所述信號偵測傳感器位移以同步偵測信號。
13.一種非接觸式檢測裝置,用以對一包括有多條金屬線的顯示面板進行檢測,其特征在于,該非接觸式檢測裝置包括一信號輸入傳感器;一第二檢測長條,組設(shè)有多個信號偵測傳感器,且所述信號輸入傳感器能與至少一信號偵測傳感器組成一檢測單元;以及一控制電路,分別與所述信號輸入傳感器及所述信號偵測傳感器電性連接,當該非接觸式檢測裝置對所述顯示面板檢測時,所述檢測單元能對應(yīng)一條金屬線,以供所述控制電路控制該檢測單元對該金屬線進行檢測,且該檢測單元檢測下一條金屬線時,所述信號輸入傳感器能位移,以使得其與另一至少一信號偵測傳感器能對應(yīng)及檢測下一條金屬線。
14.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述控制電路控制所述檢測單元的信號輸入傳感器提供偵測信號,且該控制電路控制所述檢測單元的至少一信號偵測傳感器同步偵測信號。
15.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述控制電路控制所述檢測單元的信號輸入傳感器提供電壓,以使得所述金屬線產(chǎn)生感應(yīng)電荷,且該控制電路控制所述檢測單元的至少一信號偵測傳感器,通過接收感應(yīng)電荷來檢測所述至少一金屬線。
16.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述控制電路控制依序位移所述信號輸入傳感器,以對準所述金屬線,并提供偵測信號,且該控制電路并控制至少一信號偵測傳感器依序同步偵測信號。
17.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述檢測單元包括一信號輸入傳感器與一信號偵測傳感器。
18.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述檢測單元包括一信號輸入傳感器與多個信號偵測傳感器。
19.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述顯示面板為未切割的薄膜晶體管陣列基板。
20.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測裝置,其特征在于,所述顯示面板為經(jīng)過切割的薄膜晶體管陣列基板。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)于一種顯示面板的非接觸式檢測裝置,包括多個信號輸入傳感器、多個信號偵測傳感器以及控制電路,其中所述信號輸入傳感器組設(shè)于第一檢測長條中,所述信號偵測傳感器組設(shè)于第二檢測長條中。當該裝置檢測面板時,可以通過控制電路控制第一檢測長條中的所述信號輸入傳感器提供偵測信號,并控制第二檢測長條中的所述信號偵測傳感器同步接收偵測信號,以大幅降低檢測時間。
文檔編號G01R31/00GK1831550SQ20061007577
公開日2006年9月13日 申請日期2006年4月26日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月26日
發(fā)明者廖國廷, 陳志強, 李國魁, 黃亦德 申請人:廣輝電子股份有限公司