專利名稱：能夠精確控制切入深度的樣條缺口制取裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種高分子材料物理機械性能測試試樣制取裝置，是精密機構(gòu) 和高精度測量的組合，主要應用于高分子材料的分析測試領(lǐng)域。 背條技術(shù)
缺口拉伸試驗(PENT)的最大優(yōu)勢就在于通過加大測試負荷而使測試時間 大大縮短，而且可得到離散度小、平行性好的測試曲線，具有很好的可比性。 為了得到上述試驗結(jié)果，在被測樣條上按照標準精確地制取缺口就成為決定測 試結(jié)果準確與否的一個關(guān)鍵環(huán)節(jié)。制作樣條的缺口是一件看似簡單但工藝要求 很高的工作，直接影響樹脂性能測試結(jié)果的準確性。
目前傳統(tǒng)制樣機可用于在樣條上制取切口的裝置為一圓盤狀鋸片，由于盤 狀鋸片厚度較大(l毫米以上)，無法滿足缺口拉伸試驗(PENT)中刀片厚度
為0. 2-0. 3毫米的要求，且切口深度和切入速度均無法控制?？傊?，傳統(tǒng)制樣 機無法制出符合相關(guān)標準要求的試樣缺口 (例如，標準ASTMF1473-01中關(guān)于 試樣切口尺寸的技術(shù)要求為刀片厚度0. 2-0. 3咖；切入速度不大于 0. 25咖/min;深度誤差±0. Olmm),加上不同操作者之間的個體差異，所制樣 條的測試數(shù)據(jù)離散度較大，極大影響測試結(jié)論的準確性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種樣條缺口制取裝置，使用本發(fā)明的 裝置能夠精確有效地控制切入深度。
本發(fā)明的樣條缺口制取裝置包括靜支座2、滑塊6、刀片7以及螺紋施 力機構(gòu)9，所述靜支座2包括頭部、尾部和位于其間的兩條平行的導軌，所述 滑塊6安裝在兩條導軌上，并能夠沿導軌運動，所述刀片7安裝在滑塊6上，
其尖端指向靜支座2的頭部并與其垂直，所述螺紋施力機構(gòu)9安裝在靜支座2 的尾部，與所述尾部螺紋連接，其螺桿垂直于滑塊6，用于推動滑塊6在導軌 上運動，所述樣條缺口制取裝置還包括帶鎖緊裝置的可調(diào)限位螺旋測微器4， 其安裝于靜支座2的頭部兩導軌以外的位置且平行于刀片7，在所述滑塊6上 與所述螺旋測微器4相對的位置上安裝有帶鎖緊裝置的調(diào)節(jié)螺釘8，所述螺旋 測微器4的測量桿末端與所述調(diào)節(jié)螺釘8末端的起始位置之間的距離為設(shè)定的 切入深度T。
優(yōu)選地，本發(fā)明的樣條缺口制取裝置還包括百分表1，其安裝于靜支座2 的頭部兩導軌以外的位置且平行于刀片7，在所述滑塊6上與所述百分表1相 對的位置上安裝有帶鎖緊裝置的起始點調(diào)節(jié)螺釘5，在滑塊6行進的過程中， 所述起始點調(diào)節(jié)螺釘5推動百分表1上的測量桿，在所述百分表1上顯示行進 的距離。該優(yōu)選的技術(shù)方案能夠進一步對切入過程進行精密的指示和監(jiān)控，從 而有效地控制切入速度。
本發(fā)明使用的螺旋測微器4經(jīng)精確調(diào)整，可以精確控制切入深度，其分辨 率通?？蛇_0. Ol毫米；百分表l有放大作用，可以精確控制切入速度，其分 辨率可達O. 01毫米。使用本發(fā)明的裝置制取的樣條缺口精度高，重復性好， 可以排除制樣操作人員的個體差異，通過測試可以真實反映出被測材料的特 性。本發(fā)明在使用時，對操作人員無特殊技能要求，會使用計量器具即可。


圖1為本發(fā)明的樣條缺口制取裝置示意圖； 圖2為本發(fā)明優(yōu)選的樣條缺口制取裝置示意圖。
具體實施例方式
如圖1所示，本發(fā)明的樣條缺口制取裝置包括靜支座2、滑塊6、專用 刀片7以及螺紋施力機構(gòu)9，所述靜支座2包括頭部、尾部和位于其間的兩條 平行的精密導軌，所述滑塊6安裝在兩條導軌上，并能夠沿導軌運動，所述刀
片7安裝在滑塊6上，其尖端指向靜支座2的頭部并與其垂直，所述螺紋施力 機構(gòu)9安裝在靜支座2的尾部，與所述尾部螺紋連接，其螺桿垂直于滑塊6， 用于推動滑塊6在導軌上運動，所述樣條缺口制取裝置還包括帶鎖緊裝置的精 密可調(diào)限位螺旋測微器4 (分辨率0. 01毫米)，其安裝于靜支座2的頭部兩導 軌以外的位置且平行于刀片7，在所述滑塊6上與所述螺旋測微器4相對的位 置上安裝有帶鎖緊裝置的調(diào)節(jié)螺釘8，所述螺旋測微器4的測量桿末端與所述 調(diào)節(jié)螺釘8末端的起始位置之間的距離為設(shè)定的切入深度T。所述螺旋測微器 4經(jīng)精確調(diào)整，可以精確控制切入深度T。
如圖2所示，本發(fā)明優(yōu)選的樣條缺口制取裝置還包括百分表l(分辨率0. 01 毫米)，用于監(jiān)控指示切入過程，其安裝于靜支座2的頭部兩導軌以外的位置 且平行于刀片7，在所述滑塊6上與所述百分表1相對的位置上安裝有帶鎖緊 裝置的起始點調(diào)節(jié)螺釘5，在滑塊6行進的過程中，所述起始點調(diào)節(jié)螺釘5推 動百分表l上的測量桿，在所述百分表l上顯示行進的距離。所述百分表l可 以準確顯示出刀片7切入的動態(tài)過程(不同的材料對切入速度有各自不同的要 求)，該優(yōu)選的技術(shù)方案能夠進一步對切入過程進行精密的指示和監(jiān)控，從而 有效地控制切入速度。
本發(fā)明優(yōu)選的樣條缺口制取裝置的操作步驟如下
1. 將待加工樣條3置于靜支座2的兩條平行導軌上；
2. 轉(zhuǎn)動螺紋施力機構(gòu)9，推動滑塊6前進，當?shù)镀?接觸到樣條3時停止轉(zhuǎn)動；
3. 不分先后地進行以下兩步
a、 將螺旋測微器4調(diào)零位，然后旋動調(diào)節(jié)螺釘8使之與螺旋測微器4接觸， 擰緊調(diào)節(jié)螺釘8上的鎖緊裝置鎖住調(diào)節(jié)螺釘8，旋動螺旋測微器4，旋動 值為缺口切入深度T，然后鎖緊；
b、 轉(zhuǎn)動起始點調(diào)節(jié)螺釘5，使其接觸百分表1上的測量桿，使百分表1指 針指零；旋緊起始點調(diào)節(jié)螺釘5上的鎖緊裝置，此時若百分表l指針
微量偏離零位，可以旋轉(zhuǎn)百分表l的刻度盤，使指針指零，至此，零點
調(diào)好；
4.轉(zhuǎn)動螺紋施力機構(gòu)9，推動滑塊6前進，注意監(jiān)視百分表l，控制好螺紋施 力機構(gòu)9的轉(zhuǎn)動，使切入速度符合相應標準要求；當?shù)镀?切入樣條3且 螺旋測微器4接觸到調(diào)節(jié)螺釘8、螺紋施力機構(gòu)9轉(zhuǎn)不動即可，則切入深度 符合相應標準要求。
權(quán)利要求
1.一種樣條缺口制取裝置，包括靜支座(2)、滑塊(6)、刀片(7)以及螺紋施力機構(gòu)(9)，所述靜支座(2)包括頭部、尾部和位于其間的兩條平行的導軌，所述滑塊(6)安裝在兩條導軌上，并能夠沿導軌運動，所述刀片(7)安裝在滑塊(6)上，其尖端指向靜支座(2)的頭部并與其垂直，所述螺紋施力機構(gòu)(9)安裝在靜支座(2)的尾部，與所述尾部螺紋連接，其螺桿垂直于滑塊(6)，用于推動滑塊(6)在導軌上運動，所述樣條缺口制取裝置還包括帶鎖緊裝置的可調(diào)限位螺旋測微器(4)，其安裝于靜支座(2)的頭部兩導軌以外的位置且平行于刀片(7)，在所述滑塊(6)上與所述螺旋測微器(4)相對的位置上安裝有帶鎖緊裝置的調(diào)節(jié)螺釘(8)，所述螺旋測微器(4)的測量桿末端與所述調(diào)節(jié)螺釘(8)末端的起始位置之間的距離為設(shè)定的切入深度(T)。
2. 如權(quán)利要求1所述的樣條缺口制取裝置，其特征在于所述樣條缺口制取 裝置還包括百分表(1),其安裝于靜支座(2)的頭部兩導軌以外的位置 且平行于刀片(7)，在所述滑塊(6)上與所述百分表(1)相對的位置上 安裝有帶鎖緊裝置的起始點調(diào)節(jié)螺釘(5),在滑塊(6)行進的過程中， 所述起始點調(diào)節(jié)螺釘(5 )推動百分表(1)上的測量桿，在所述百分表(1) 上顯示行進的距離。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種樣條缺口制取裝置，該裝置包括帶鎖緊裝置的可調(diào)限位螺旋測微器(4)，所述螺旋測微器(4)相對的位置上安裝有帶鎖緊裝置的調(diào)節(jié)螺釘(8)，所述螺旋測微器(4)的測量桿末端與所述調(diào)節(jié)螺釘(8)末端的起始位置之間的距離為設(shè)定的切入深度T。本發(fā)明使用的螺旋測微器(4)經(jīng)精確調(diào)整，可以精確控制切入深度，其分辨率通?？蛇_0.01毫米。使用本發(fā)明的裝置制取的樣條缺口精度高，重復性好，可以排除制樣操作人員的個體差異，通過測試可以真實反映出被測材料的特性。
文檔編號G01N1/28GK101149314SQ20061011331
公開日2008年3月26日 申請日期2006年9月22日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月22日
發(fā)明者曄 華, 孫佳文, 李曉林, 者東梅 申請人:中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司北京化工研究院