專利名稱：：插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明是關(guān)于一種電子測(cè)量?jī)x器，特別是關(guān)于測(cè)試引線(testlead)檢測(cè)電路。
背景技術(shù)：
：各種電子測(cè)量?jī)x器中，都需要利用測(cè)試引線(testlead)與電子測(cè)量?jī)x器耦合，借以連接至待測(cè)物上測(cè)量。一般測(cè)試引線接包括兩端，一端連接至待測(cè)物，另一端用以插入電子測(cè)量?jī)x器的插座內(nèi)，以便將待測(cè)物上的各種物理量(例如電壓、電流以及功率等)通過(guò)測(cè)試引線傳輸至電子測(cè)量?jī)x器，測(cè)量其所需的參數(shù)值。通常電子測(cè)量?jī)x器大都有多個(gè)插座，用于測(cè)量不同的物理量；測(cè)量電壓時(shí)，用此一插座；測(cè)量電流時(shí)，使用另一插座。于測(cè)量電流時(shí)，因?yàn)檫B接至電流測(cè)量插座的測(cè)量電路電阻很低，故把一高電壓值的電壓施加于電流測(cè)量插座，可能會(huì)導(dǎo)致一極高的電流值流過(guò)電流測(cè)量電路，造成電子測(cè)量?jī)x器損壞。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明揭露一種插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路，用于檢測(cè)一測(cè)試引線(testlead)是否存在于電子測(cè)量?jī)x器的分離式接觸金屬片的插口中狀況，該插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路，包含一分流器(shunt)，耦合于接地線與該分離式接觸金屬片插口的一端；一振蕩單元，通過(guò)一防護(hù)單元耦合至該分離式接觸金屬片另一端，用于產(chǎn)生脈沖或靜態(tài)輸出；一識(shí)別單元，耦合至該振蕩單元，接收自該振蕩單元所傳送的輸出信號(hào)，用于判斷利用該振蕩電路的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路的狀態(tài)。本發(fā)明又揭露一種利用振蕩電路的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)方法，包含由該識(shí)別單元設(shè)定該插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路的操作模式；測(cè)試引線有無(wú)插入該分離式接觸金屬片的插口，該振蕩羊元都會(huì)發(fā)送信號(hào)至該識(shí)別單元；識(shí)別單元接收自振蕩單元的信號(hào)后，判斷該插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路的狀態(tài)；識(shí)別單元依其判斷結(jié)果，發(fā)送信息通知使用者。圖1是一系統(tǒng)圖，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用以敘述本發(fā)明的低誤差插栓式測(cè)試？I線檢測(cè)電路其架構(gòu)。圖2是一電路圖，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用以敘述圖1架構(gòu)的電路圖。圖3是一流程圖，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用以說(shuō)明本發(fā)明的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)方法。圖4是一根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用以敘述利用本發(fā)明的應(yīng)用實(shí)例。圖5是圖4振蕩電路產(chǎn)生的一預(yù)期頻率的波形圖。圖6是圖4振蕩電路產(chǎn)生的靜態(tài)電壓圖。符號(hào)說(shuō)明100插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路102分流器104熔絲106分離式接觸金屬片插口108防護(hù)單元110振蕩單元112識(shí)別單元114金屬片116金屬片118中央處理機(jī)120輸入/輸出埠122隨機(jī)存取存儲(chǔ)器124計(jì)數(shù)定時(shí)器400應(yīng)用電路術(shù)振蕩電路404識(shí)別單元錫中央處理機(jī)408輸入/輸出埠410計(jì)數(shù)器412計(jì)數(shù)定時(shí)器步驟S100、S120、S140、S160。具體實(shí)施方式本發(fā)明將配合其較佳實(shí)施例與隨附的圖示詳述于下，應(yīng)理解者為本發(fā)明中所有的較佳實(shí)施例僅為例示之用，因此除文中之較佳實(shí)施例外，本發(fā)明亦可廣泛地應(yīng)用在其它實(shí)施例中。且本發(fā)明并不受限于任何實(shí)施例，應(yīng)以隨附的申請(qǐng)專利范圍及其同等領(lǐng)域而定。貫穿本專利說(shuō)明書(shū)中，『較佳實(shí)施例』意指描述關(guān)于較佳實(shí)施例的一特殊特征、結(jié)構(gòu)或一特性，在本發(fā)明中，其較佳實(shí)施例數(shù)目，至少為一個(gè)。因此，本說(shuō)明書(shū)中出現(xiàn)『較佳實(shí)施例中』，不必完全參照同一實(shí)施例。再者，其特殊特征、結(jié)構(gòu)或特性可使用任何適當(dāng)方法混合于較佳實(shí)施例中。參照?qǐng)D1，根據(jù)本發(fā)明的較佳實(shí)施例，描述一系統(tǒng)方塊圖，用以說(shuō)明一插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100。插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100包括一分流器(shunt)102,連接至接地線，用以分流與測(cè)量待測(cè)物體的電流值；一振蕩單元IIO,用于產(chǎn)生脈沖或靜態(tài)輸出；一識(shí)別單元112,耦合至振蕩單元110，接收自振蕩單元110所傳送的輸出信號(hào)，用于判斷插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100的狀態(tài)；一熔絲(fuse)104,串聯(lián)至分流器102,用于預(yù)防過(guò)量電流通過(guò)熔絲流至分流器102;—防護(hù)單元108，耦合至振蕩單元IIO，其防護(hù)單元108具有高阻抗值，防止誤差電流自振蕩羊元IIO流經(jīng)分流器102;—分離式接觸金屬片插口(jack)106，具有兩片接觸金屬片114與116,金屬片114通過(guò)熔絲104與分流器102的串聯(lián)路徑，耦合至接地線，而金屬片116耦合至防護(hù)單元108。再參照?qǐng)D1,根據(jù)本發(fā)明的較佳實(shí)施例，若測(cè)試引線接腳插入接頭或具有分離式接觸金屬片的插口106內(nèi)，則其測(cè)試引線橋接起金屬片116與金屬片114間，創(chuàng)造出一電路路徑，使防護(hù)單元108、熔絲104與分流器102連接成一串聯(lián)路徑，耦合至接地線。而后其振蕩單元110將自動(dòng)停止振蕩，并維持靜態(tài)(quiescentstate)輸出，傳送至識(shí)別單元112。反之，若其測(cè)試引線接腳不插入接頭或具有分離式接觸金屬片的插口，則金屬片114與116呈開(kāi)路(open)，則振蕩單元IIO將產(chǎn)生一預(yù)期頻率的脈沖，傳送至識(shí)別單元112。而后識(shí)別單元112接收自振蕩單元110所傳送的信號(hào)(振蕩信號(hào)或靜態(tài)輸出)，識(shí)別其振蕩單元110的狀態(tài)。參照?qǐng)D2，根據(jù)本發(fā)明的較佳實(shí)施例，細(xì)部敘述圖1架構(gòu)的電路圖。圖2詳細(xì)描述分流器102、防護(hù)單元108、振蕩單元110與識(shí)別單元112。闡明于圖2的分流器102包含一電阻，具有極微小的電阻值，若與防護(hù)單元108的阻抗值比較，其分流器電阻值可近似忽略；防護(hù)單元108包含一高電阻值的電阻R3，用以防止無(wú)預(yù)期的高電壓施加于分離式接觸金屬片插口106;振蕩單元110包含一運(yùn)算放大器(OPA)、電阻R1、R2、R5、R6以及一電容C的振蕩電路，借由電阻R6與電容C產(chǎn)生充放電現(xiàn)象，借以不斷地改變輸出狀態(tài)，以達(dá)到輸出振蕩信號(hào)的功能；識(shí)別單元112含有一中央處理機(jī)118，用于判斷識(shí)別其插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100狀態(tài)、一輸入/輸出埠(I/Oport)120，做為中央處理機(jī)118對(duì)外溝通橋梁、一隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)(本文亦可稱計(jì)數(shù)器(counter))122，計(jì)數(shù)自振蕩單元110輸出的信號(hào)周期，并儲(chǔ)存其振蕩單元110的輸出狀態(tài)，隨后通過(guò)輸入/輸出端口120傳送計(jì)數(shù)信息至中央處理機(jī)118、一計(jì)數(shù)定時(shí)器(timer)124,預(yù)先設(shè)置一設(shè)定時(shí)間(settime)，當(dāng)?shù)竭_(dá)其設(shè)定時(shí)間，其計(jì)數(shù)定時(shí)器124停止計(jì)數(shù)，并通過(guò)輸入/輸出端口120，傳送信息通知中央處理機(jī)118。參照?qǐng)D2,首先，當(dāng)測(cè)試引線未插入分離式接觸金屬片插口106時(shí)，金屬片114與金屬片116并未接觸，意即金屬片114通過(guò)熔絲104與分流器102的串聯(lián)路徑，以及金屬片116耦合至防護(hù)單元的電阻R3路徑呈開(kāi)路狀態(tài)，因此無(wú)自振蕩單元(于本文亦可稱振蕩電路)110的電流流經(jīng)電阻R3、分離式接觸金屬片插口106、熔絲104以及分流器102的串聯(lián)路徑至接地線。參照?qǐng)D2,振蕩電路110的運(yùn)算放大器第4端點(diǎn)具有電壓K，第8端點(diǎn)具有電壓「+,其運(yùn)算放大器的輸出端為第1端，其輸出電壓K視其運(yùn)算放大器第2端對(duì)地的電壓(意指電容C對(duì)地的電壓K)與參考電壓、/(其參考電壓為輸出電壓K施加于通過(guò)電阻R2、Rl的串聯(lián)路徑耦合至接地，其電阻R1相對(duì)于電阻Rl串聯(lián)電阻R2耦合至接地，其所分配到的輸出電壓=^^xF。),其比較結(jié)果而定。當(dāng)測(cè)試引線未插入分離式接觸金屬片插口106，若電容C電壓K.-O，此時(shí)輸出電壓K等于第8端的電壓K+,則電容C借由自輸出端連接至電阻R6、電容c耦合至接地路徑儲(chǔ)存電荷，直到電容c電壓^;大于參考電壓f^，則輸入于運(yùn)算放大器第2端電壓大于第3端，則運(yùn)算放大器的輸出電壓r。轉(zhuǎn)態(tài)成為電壓K，則電容C放電并依照相同路徑逆向充電，直到當(dāng)電容C電壓^小于)^,此時(shí)輸入于運(yùn)算放大器第3端電壓大于第2端，則輸出電壓K等于電壓K+，則電容C又按此路徑充電。則按上述情況反復(fù)循環(huán)，則輸出電壓匕不斷地于電壓F+與電壓K—間變換振蕩。若測(cè)試引線插入分離式接觸金屬片插口106，則其測(cè)試引線橋接起金屬片116與金屬片114間，創(chuàng)造出一電路路徑，使防護(hù)單元108電阻R3、溶絲104與分流器102連接成一串聯(lián)路徑，耦合至接地線。則由輸出端通過(guò)電阻R6流經(jīng)電容器的電流，將流向電阻R3、熔絲104與分流器102連接成一串聯(lián)路徑并耦合至接地線，則電容C停止反復(fù)充放電，維持一與節(jié)點(diǎn)A相同的電位，則振蕩電路11Q停止振蕩，并輸出一靜態(tài)電壓值至識(shí)別羊元112。識(shí)別單元112接收自振蕩電路110傳送的信號(hào)(振蕩信號(hào)或靜態(tài)輸出)，識(shí)別其振蕩單元110的狀態(tài)。識(shí)別單元112可由濾波器傳送(filtertransfer)或位準(zhǔn)移位元(levelshift)等方式，使用模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(A/Dconverter)或比較器(comparator)等類似裝置識(shí)別其插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100的狀態(tài)，亦可僅使用頻率或工作周期(dutycircle)或脈沖寬度的測(cè)量裝置計(jì)數(shù)(count)后，交由中央處理機(jī)(CPU)或微處理機(jī)(MPU)識(shí)別其狀態(tài)。參照?qǐng)D2與圖3，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用以說(shuō)明本發(fā)明的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)方法。首先，使用者經(jīng)由識(shí)別單元112設(shè)定插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100的操作模式(步驟S100)。插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100包含三個(gè)操作模式，分別為測(cè)試引線檢測(cè)模式、熔絲開(kāi)路檢測(cè)模式以及電流測(cè)量模式，使用者可根據(jù)需求任選一操作模式。使用者經(jīng)由識(shí)別單元112設(shè)定插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100的操作模式后，無(wú)論處于何種操作模式下，測(cè)試引線有無(wú)插入分離式接觸金屬片的插口106，振蕩單元皆會(huì)發(fā)送信號(hào)至識(shí)別單元112(步驟S120)。使用者將測(cè)試引線插入分離式接觸金屬片的插口106,則振蕩電路110將停止振蕩，并輸出一靜態(tài)電壓值至識(shí)別單元ll2。反之，若其測(cè)試引線接腳不插入接頭或具有分離式接觸金屬片的插口，則金屬片114與116呈開(kāi)路(open)，則振蕩單元110將產(chǎn)生一預(yù)期頻率的脈沖，傳送至識(shí)別單元112。識(shí)別單元112接收自振蕩單元110的信號(hào)，依其使用者先前所設(shè)定的操作模式，判斷插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100的狀態(tài)(步驟S140)。因有不同的操作模式，則識(shí)別單元112接收的振蕩脈沖或靜態(tài)電壓在不同模式下，具有不同的意義。例如使用者經(jīng)由識(shí)別單元112設(shè)定插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100為測(cè)試引線檢測(cè)模式，若使用者將測(cè)試引線插入分離式接觸金屬片的插口106,則振蕩單元110將傳送靜態(tài)電壓至識(shí)別單元112,識(shí)別單元112接收自振蕩單元110的靜態(tài)電壓判斷為使用者誤將測(cè)試引線插入，發(fā)送信息告知使用者請(qǐng)勿將測(cè)試引線插入分離式接觸金屬片的插口106內(nèi)(步驟160)。或例如插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100為電流量測(cè)模式，若測(cè)試引線未插入分離式接觸金屬片的插口106，振蕩單元110將傳送振蕩信號(hào)至識(shí)別單元112，識(shí)別單元112接收自振蕩單元110的振蕩信號(hào)判斷為熔絲熔斷或使用者未將測(cè)試引線插入分離式接觸金屬片的插口106，識(shí)別單元112將發(fā)送信息提醒使用者插入測(cè)試引線或檢查熔絲104是否熔斷(blown)(步驟S160)。或例如插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路100為熔絲開(kāi)路模式，當(dāng)測(cè)試引線插入分離式接觸金屬片的插口106時(shí)，若熔絲104不存在，振蕩單元110將傳送振蕩信號(hào)至識(shí)別單元112,識(shí)別單元112接收自振蕩單元110的振蕩信號(hào)判斷為熔絲104是開(kāi)路或熔斷，識(shí)別單元112將發(fā)送信息提醒使用者更換熔絲。(步驟S160)參照?qǐng)D4，才艮據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，為利用本發(fā)明的應(yīng)用實(shí)例。于圖4的應(yīng)用電路400,包括一電阻R4，連接至接地線，具有極微小的電阻值，若與R3的阻抗值(2.5MQ)比較，其R4電阻值可近似忽略；一熔絲F(最大流經(jīng)電流量為15A)，串聯(lián)至R4，用于預(yù)防過(guò)量電流通過(guò)熔絲F流至R4;—分離式接觸金屬片插口A-INPUT,具有上、下兩片接觸金屬片，下金屬片通過(guò)熔絲F與R4的串聯(lián)路徑，耦合至接地線，而上金屬片耦合至R3;R3為一高電阻值的電阻，用以防止無(wú)預(yù)期的高電壓施加于分離式接觸金屬片插口A-INPUT;一振蕩電路402與R3耦合，為包含一運(yùn)算放大器(型號(hào)為T(mén)L062)、電阻R1、R2、R5、R6以及一電容C的電路，借由電阻R6與電容C產(chǎn)生充放電現(xiàn)象，借以不斷地改變輸出狀態(tài)，以達(dá)到輸出振蕩信號(hào)的功能；一識(shí)別單元404，耦合至振蕩電路402輸出端(運(yùn)算放大器的第l端)，含有一中央處理機(jī)406，用于判斷識(shí)別其插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路400狀態(tài)、一輸入/輸出埠408，做為中央處理機(jī)406對(duì)外溝通橋梁、一計(jì)數(shù)器410，計(jì)數(shù)自振蕩電路402輸出的信號(hào)周期，并儲(chǔ)存其振蕩電路402的輸出狀態(tài)，隨后通過(guò)輸入/輸出端口408傳送計(jì)數(shù)信息至中央處理機(jī)406、一計(jì)數(shù)定時(shí)器412，預(yù)先設(shè)置一設(shè)定時(shí)間，當(dāng)?shù)竭_(dá)其設(shè)定時(shí)間，其計(jì)數(shù)定時(shí)器412停止計(jì)數(shù)，并通過(guò)輸入/輸出端口408，傳送信息通知中央處理機(jī)406。表一為圖4振蕩電路402的各項(xiàng)參數(shù):<table>tableseeoriginaldocumentpage11</column></row><table>表一其中的振蕩頻率，可用振蕩頻率公式算出其振蕩頻率。參照?qǐng)D4，首先，當(dāng)測(cè)試引線未插入分離式接觸金屬片插口A-INPUT時(shí)，上、下金屬片并未接觸，意即下金屬片通過(guò)熔絲F與電阻R4的串聯(lián)路徑，以及上金屬片耦合至電阻R3路徑呈開(kāi)路狀態(tài)，因此無(wú)自振蕩電路402的電流流經(jīng)電阻R3、分離式接觸金屬片插口A-INPUT、熔絲F以及電阻R4的串聯(lián)路徑至接地線。則振蕩電路402將產(chǎn)生一預(yù)期頻率的波形的識(shí)別單元404，如圖5的波形。若測(cè)試引線插入分離式接觸金屬片插口A-INPUT時(shí)，則其測(cè)試引線橋接起上、下金屬片間，創(chuàng)造出一電路路徑，使電阻R3、熔絲與電阻R4連接成一串聯(lián)路徑，耦合至接地線。則由運(yùn)算放大器輸出端(第l端)通過(guò)電阻R6流經(jīng)電容器C的電流，將流向電阻R3、熔絲F與電阻R4連接成一串聯(lián)路徑并耦合至接地線，則電容C停止反復(fù)充放電，維持一與節(jié)點(diǎn)A相同的電位，則振蕩電路402停止振蕩，并輸出一靜態(tài)電壓值至識(shí)別單元404,其輸出的靜態(tài)電壓可為『高準(zhǔn)位』或『低準(zhǔn)位』，如囝6的波形。識(shí)別單元404接收自振蕩電路402傳送的信號(hào)(振蕩信號(hào)或靜態(tài)輸出)，識(shí)別其振蕩電路402的狀態(tài)。中央處理機(jī)406根據(jù)分離式接觸金屬片插口A-INPUT插入與否，檢測(cè)振蕩狀態(tài)或計(jì)數(shù)振蕩電路402的頻率或脈沖寬度或工作周期。以下為中央處理機(jī)406判斷振蕩信號(hào)的判斷步驟的例示1.設(shè)定每6.6毫秒，檢測(cè)一次自振蕩電路402輸出的信號(hào)。2.設(shè)定計(jì)數(shù)定時(shí)器412的設(shè)定時(shí)間為264毫秒。3.初始化計(jì)數(shù)定時(shí)器412,并設(shè)定計(jì)數(shù)器410至零，儲(chǔ)存振蕩電路402輸出狀態(tài)至計(jì)數(shù)器410。4.每6.6毫秒檢測(cè)一次自振蕩電路402輸出的信號(hào)，計(jì)數(shù)器410將增加一次瞬時(shí)輸出，并儲(chǔ)存輸出狀態(tài)。5.計(jì)數(shù)定時(shí)器412達(dá)到設(shè)定時(shí)間，判斷計(jì)數(shù)器410狀態(tài)。a.計(jì)數(shù)器次數(shù)〉1，是代表測(cè)試引線未插入分離式接觸金屬片插口A-INPUT。b.計(jì)數(shù)器次數(shù)<1，是代表測(cè)試引線插入分離式接觸金屬片插口A-INPUT。6.重復(fù)步驟3至5，循環(huán)檢測(cè)其信號(hào)。本發(fā)明以較佳實(shí)施例說(shuō)明如上，然其并非用以限定本發(fā)明所主張的專利權(quán)利范圍。其專利保護(hù)范圍當(dāng)視申請(qǐng)專利范圍及其等同領(lǐng)域而定。凡熟悉此領(lǐng)域的技藝者，在不脫離本專利精神或范圍內(nèi)，所作的更動(dòng)或潤(rùn)飾，均屬于本發(fā)明所揭示精神下所完成的等效改變或設(shè)計(jì)，且應(yīng)包含在申請(qǐng)專利范圍內(nèi)。權(quán)利要求1.一種插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路，用于檢測(cè)一測(cè)試引線是否存在于電子測(cè)量?jī)x器的至少包括兩片分離式接觸金屬片的插口中狀況，該插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路，包含一分流器，耦合于接地線與該分離式接觸金屬片插口的一端；一振蕩單元，通過(guò)一防護(hù)單元耦合至該分離式接觸金屬片另一端，用于產(chǎn)生脈沖或靜態(tài)輸出；及一識(shí)別單元，耦合至該振蕩單元，接收自該振蕩單元所傳送的輸出信號(hào)，用于判斷利用該振蕩單元的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路的狀態(tài)。2.如權(quán)利要求1所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路，其中該分流器包含一電阻。3.如權(quán)利要求1所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路，其中該防護(hù)單元，耦合至振蕩單元，具有高阻抗值，防止誤差電流自振蕩單元流經(jīng)分流器，且該防護(hù)單元阻抗值比較分流器阻抗值，其分流器阻抗值可忽略。4.如權(quán)利要求1所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路，其中還包括一熔絲。5.—種插栓式測(cè)試引線檢測(cè)方法，包含由識(shí)別單元設(shè)定插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路的操作模式；測(cè)試引線有無(wú)插入該分離式接觸金屬片的插口，振蕩單元發(fā)送信號(hào)至該識(shí)別單元；識(shí)別單元接收自振蕩單元的信號(hào)后，判斷該插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路的狀態(tài)；及識(shí)別單元依其判斷結(jié)果，發(fā)送信息通知使用者。6.如權(quán)利要求5所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)方法，其中所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路的操作模式，包括測(cè)試引線檢測(cè)模式、熔絲開(kāi)路檢測(cè)模式以及電流測(cè)量模式。7.如權(quán)利要求5所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)方法，其中所述的測(cè)試引線插入分離式接觸金屬片的插口，則該振蕩單元將停止振蕩，并輸出一靜態(tài)電壓值至識(shí)別單元；測(cè)試引線不插入分離式接觸金屬片的插口，則該振蕩單元將產(chǎn)生一預(yù)期頻率的脈沖，傳送至該識(shí)別單元。8.如權(quán)利要求5所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)方法，其中所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路的操作模式為測(cè)試引線檢測(cè)模式，若測(cè)試引線插入分離式接觸金屬片的插口，則該振蕩單元將傳送靜態(tài)電壓至該識(shí)別單元，該識(shí)別單元發(fā)送信息告知使用者請(qǐng)勿將測(cè)試引線插入分離式接觸金屬片的插口。9.如權(quán)利要求5所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)方法，其中所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路的操作模式為電流量測(cè)模式，若測(cè)試引線未插入該分離式接觸金屬片的插口，該振蕩單元將傳送振蕩信號(hào)至該識(shí)別單元，該識(shí)別單元將發(fā)送信息提醒使用者插入測(cè)試引線或檢查熔絲是否熔斷。10.如權(quán)利要求5所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)方法，其中所述的插栓式測(cè)試引線檢測(cè)電路的操作模式為熔絲開(kāi)路模式，當(dāng)測(cè)試引線插入該分離式接觸金屬片的插口時(shí)，若熔絲不存在，該振蕩單元將傳送振蕩信號(hào)至該識(shí)別單元，該識(shí)別單元接收自該振蕩單元的振蕩信號(hào)判斷為熔絲系開(kāi)路或熔斷，該識(shí)別單元將發(fā)送信息提醒使用者更換熔絲。全文摘要一種低錯(cuò)誤率，插栓式測(cè)試引線(testlead)檢測(cè)電路及其方法。操作于測(cè)試引線檢測(cè)模式或熔絲破壞模式期間，其檢測(cè)電路插入測(cè)試引線接腳而停止振蕩。于測(cè)試引線檢測(cè)模式期間，若測(cè)試引線接腳插入具有分離式接觸金屬片的插口(jack)，其振蕩單元將自動(dòng)停止振蕩，并維持靜態(tài)(quiescentstate)輸出。反之，若其測(cè)試引線接腳不插入具有分離式接觸金屬片的插口，振蕩單元將依據(jù)振蕩電路產(chǎn)生一預(yù)期頻率的波形。操作于熔絲破壞模式期間，測(cè)試引線插入輸入插口。于電流測(cè)量模式期間，當(dāng)一測(cè)試引線接腳插入具有分離式接觸金屬片的差口，則防護(hù)單元與分流器形成一串并聯(lián)電路。比較分流器與防護(hù)單元的阻抗，其分流器阻抗可忽略，且跨接分流器兩端的電壓降與注入電流成比例關(guān)系。文檔編號(hào)G01R31/00GK101126788SQ20061011591公開(kāi)日2008年2月20日申請(qǐng)日期2006年8月18日優(yōu)先權(quán)日2006年8月18日發(fā)明者武震裕,蕭文清,蔡森貴申請(qǐng)人:威華電子股份有限公司