專利名稱：探針式電路板測試制具的固定方法
技術領域：
本發(fā)明關于一種探針式電路板測試制具的固定方法，尤其是指一種利用 待測電路板上電子卡連接器進行安裝的探針式電路板測試制具的固定方法。
背景技術：
為了方便調(diào)試和了解系統(tǒng)的工作情況，復雜的電路板上一般都設有用于 測試的信號線。這些測試信號線連接到電子卡插槽的預留的端子上，然后將 測試制具做成電子卡的外部結(jié)構(gòu)，安置在連接器上，利用插槽內(nèi)預留端子與 測試制具的電性連接，將測試信號讀入到測試制具。
然而，在電子卡連接器的預留端子用于功能升級之后，測試信號線則不 能與預留端子連接，此時不得不重新設計測試信號線的輸出點與測試制具， 這給測試工作帶來很大的不便，而且新設計的測試制具跟以前設計的系統(tǒng)板 不再兼容，給工程上帶來極大的不便，降低了工作效率。
為解決上述測試方式受功能升級影響的問題，將測試信號線連接到專門 用于測試的接點上。通過將測試接點與測試制具的探針連接來讀取測試信 號。然而，該測試制具的固定需要通過焊接或者額外打孔來實現(xiàn)，如果通過 焊接，那么每次的效率會非常低，如果通過額外打孔來固定測試制具，那么 就會影響系統(tǒng)板上的走線。因此，該種探針式電路板測試制具的使用仍是非 常不便。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種探針式電路板測試制具的固定方法， 其利用待測電路板上電子卡連接器來固定該探針式電路板測試制具，從而方 便測試制具的固定，提高了測試效率。
為實現(xiàn)在上述目的，本發(fā)明提供一種探針式電路板測試制具的固定方
法，包括以下歩驟
步驟l，提供一測試制具，其具有數(shù)個測試探針；
步驟2，提供一待測試電路板，其設有電子卡連接器及數(shù)個測試接點； 步驟3，安裝測試制具于電子卡連接器上以將測試制具固定于電路板上，
同時電性連接測試制具的測試探針與電路板的測試接點；
步驟4，通過測試制具的測試探針與測試接點的電性連接讀取待測電路板
的測試數(shù)據(jù)。
所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其中，該測試制具包括可插 入電子卡連接器的插槽的插接部與可與電子卡連接器固定件配合的固定部。
所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其中，在步驟3中，安裝測試 制具于電子卡連接器上，包括以下步驟-
將測試制具的插接部斜插入連接器的插槽里；
按下測試制具的固定部，使其與連接器的固定件配合，以將測試制具固 定于連接器上。
所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其中，該測試制具還包括可 與電子卡連接器定位件配合的定位部。
所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其中，在步驟3中，安裝測試
制具于電子卡連接器上，還包括以下步驟按下測試制具的定位部，使其與 連接器的定位件配合以將測試制具定位于連接器上。
所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其中，該插接部設于測試制 具的一端，固定部則位于測試制具的另一端，而定位部則是靠近固定部的通 孔。
所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其中，該數(shù)個測試探針設于 插接部與設固定部之間，且在測試制具相對于測試探針的另一側(cè)面上設有數(shù) 個輸出端子。
綜上所述，本發(fā)明探針式電路板測試制具的固定方法不需要利用電子卡 連接器預留測試端子，而是通過將測試制具安置在電子卡連接器中，利用測 試探針與電路板上的測試接點接觸并電性連接將測試信號數(shù)據(jù)讀入測試制 具，因此，后續(xù)若電子卡有功能升級需要使用之前沒有使用的端子，不需更
改測試制具，同時，也不需要通過焊接或者打孔來固定測試制具，使測試工 序大為簡便，大大提高了工作效率。
附圖的簡要說明
下面結(jié)合附圖，通過對本實用新型的具體實施方式
詳細描述，將使本實 用新型的技術方案及其他有益效果顯而易見。 附圖中，


圖1是本發(fā)明探針式電路板測試制具的固定方法流程圖； 圖2是本發(fā)明探針式電路板測試制具的安裝過程示意圖； 圖3是本發(fā)明探針式電路板測試制具的固定示意圖。
具體實施例方式
如圖l-3所示，本發(fā)明探針式電路板測試制具的固定方法，包括以下步
驟
步驟l，提供一測試制具IO，其具有數(shù)個測試探針12;
步驟2，提供一待測試電路板20，其設有電子卡連接器22及數(shù)個測試接點
24;
步驟3，安裝測試制具10于電子卡連接器22上以將測試制具10固定于電路 板20上，同時電性連接測試制具10的測試探針12與電路板20的測試接點24; 步驟4，通過測試制具10的測試探針12與測試接點24的電性連接讀取待測
電路板的測試數(shù)據(jù)。
該電子卡連接器22可為現(xiàn)有各種電子卡連接器，例如Mini—PCIE， Mini 一PCI， SoDIMM等。如圖2所示，在本實施例中，該電子卡連接器22包括 可供電子卡插接的插槽(圖未示)、固定件26與定位件28。在本實施例中，該 固定件26為一對卡扣，而定位件28為一對定位柱。 '
該測試制具10包括可插入電子卡連接器的插槽的插接部14、可與電子卡 連接器固定件26配合的固定部16、及可與電子卡連接器22定位件28配合的定 位部18。該插接部14設于測試制具的一端，而固定部16為設于測試制具另一 端的端部，定位部18則為靠近固定部16的一對通孔。該數(shù)個測試探針12設于
插接部14與固定部16之間，且在測試制具10相對于測試探針12的另一側(cè)面上 設有數(shù)個輸出端子19以將測試數(shù)據(jù)輸出。
所述的探針式電路板測試制具的固定方法，在步驟3中，安裝測試制具IO 于電子卡連接器22上，包括以下步驟
將測試制具10的插接部14斜插入連接器22的插槽里；
按下測試制具10的定位部18，使其與連接器的定位件28配合以將測試制 具10定位于連接器22上；及
按下測試制具10的固定部16，使其與連接器的固定件26配合，以將測試 制具10固定于連接器22上。
作為一個更具體的例子，安裝測試制具10于電子卡連接器22包括以下步
驟
首先，將測試制具10的一端斜插入連接器22的插槽里；
其次，按下測試制具10的另一端，使其上通孔18對準連接器22的定位柱
28;
最后，進一步按下測試制具10的該另--端，使其端部16邊緣滑過卡扣 26，并卡于卡扣26上。
另外，測試制具10也可方便的從連接器22中取下，其通過按下對應于卡 扣26設置的釋放扣30，利用彈性使卡扣26從測試制具10的端部16邊緣松脫， 這樣可方便的將測試制具10從連接器22中取下。
本發(fā)明通過測試制具10設有用于與電子卡連接器對接固定的外部結(jié)構(gòu)及 數(shù)個測試探針32，方便地將測試制具10固定于待測電路板10上，測試制具IO 與連接器沒有任何電性連接，不需要利用連接器22插槽內(nèi)預留端子讀入測試 信號數(shù)據(jù)，因此，不受電路板升級的影響。所以，后續(xù)即便電子卡有功能升 級需要使用之前沒有使用的端子，不需更改測試制具IO，同時，也不需要通 過焊接或者打孔來固定測試制具IO，使測試工序大為簡便，大大提高了工作 效率。
以上所述，對于本領域的普通技術人員來說，可以根據(jù)本實用新型的技 術方案和技術構(gòu)思作出其他各種相應的改變和變形，而所有這些改變和變形 都應屬于本實用新型后附的權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求
1、一種探針式電路板測試制具的固定方法，其特征在于，包括以下步驟步驟1，提供一測試制具，其具有數(shù)個測試探針；步驟2，提供一待測試電路板，其設有電子卡連接器及數(shù)個測試接點；步驟3，安裝測試制具于電子卡連接器上以將測試制具固定于電路板上，同時電性連接測試制具的測試探針與電路板的測試接點；步驟4，通過測試制具的測試探針與測試接點的電性連接讀取待測電路板的測試數(shù)據(jù)。
2、 如權(quán)利要求l所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其特征在 于，該測試制具包括可插入電子卡連接器的插槽的插接部與可與電子卡連接 器固定件配合的固定部。
3、 如權(quán)利要求2所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其特征在 于，在步驟3中，安裝測試制具于電子卡連接器上，包括以下步驟將測試制具的插接部斜插入連接器的插槽里；按下測試制具的固定部，使其與連接器的固定件配合，以將測試制具固 定于連接器上。
4、 如權(quán)利要求3所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其特征在 于，該測試制具還包括可與電子卡連接器定位件配合的定位部。
5、 如權(quán)利要求4所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其特征在 于，在步驟3中，安裝測試制具于電子卡連接器上，還包括以下步驟按下測 試制具的定位部，使其與連接器的定位件配合以將測試制具定位于連接器 上。
6、 如權(quán)利要求5所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其特征在 于，該插接部設于測試制具的一端，固定部則位于測試制具的另一端，而定 位部則是靠近固定部的通孔。
7、如權(quán)利要求6所述的探針式電路板測試制具的固定方法，其特征在于，該數(shù)個測試探針設于插接部與設固定部之間，且在測試制具相對于測試 探針的另一側(cè)面上設有數(shù)個輸出端子。
全文摘要
一種探針式電路板測試制具的固定方法，包括以下步驟步驟1，提供一測試制具，其具有數(shù)個測試探針；步驟2，提供一待測試電路板，其設有電子卡連接器及數(shù)個測試接點；步驟3，安裝測試制具于電子卡連接器上以將測試制具固定于電路板上，同時電性連接測試制具的測試探針與電路板的測試接點；及步驟4，通過測試制具的測試探針與測試接點的電性連接讀取待測電路板的測試數(shù)據(jù)。本發(fā)明探針式電路板測試制具的固定方法通過將測試制具做成具有電子卡的外部結(jié)構(gòu)，從而可固定于電路板的電子卡的連接器上，并在測試制具上設數(shù)個探針，利用探針與電路板上的測試接點電性連接將測試信號讀入測試制具，其不需要通過打孔或者焊接來固定測試制具，簡化了很多測試工序，提高了工作效率，也不需要占用電子卡卡槽的腳位，即便后續(xù)電子卡有功能升級需要使用之前沒有使用的端子，也不必更改測試制具。
文檔編號G01R31/28GK101183137SQ20061015684
公開日2008年5月21日 申請日期2006年11月14日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月14日
發(fā)明者桂志明, 熊笑顏, 韓東鋒 申請人:深圳市頂星數(shù)碼網(wǎng)絡技術有限公司