專利名稱：平面度檢驗平臺的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種平面度檢驗平臺，尤其是涉及一種接觸式平面度 檢驗平臺。
背景技術：
目前，業(yè)界針對電子元器件平面度檢驗通常采取兩種方法一 種是接觸式檢驗；另一種是非接觸式檢驗。接觸式檢驗是指采用將 產(chǎn)品平放于平臺上，讓產(chǎn)品處于自由狀態(tài)，然后將標準塊(根據(jù)產(chǎn)品 平面度規(guī)格選擇相應的標準塊0.08mm、 O.lOmm或0.12mm等規(guī)格) 與平臺工作面充分接觸，沿產(chǎn)品邊緣平推標準塊，若產(chǎn)品被推動或 者不可以插入被測產(chǎn)品與平臺工作面之間，則判定產(chǎn)品平面度符合 要求，若標準塊前端可以插入被測產(chǎn)品與平臺工作面之間，則判定 產(chǎn)品平面度不符合要求。
在接觸式檢驗中，對于檢驗具有定位腳針或定位柱等結構的產(chǎn) 品平面度時，閃邊是其重要課題之一，即在檢驗平臺上設置一結構 來容納定位腳針或定位柱等，使得被檢驗產(chǎn)品能夠很好地平放在檢 驗平臺的工作面上。
請參閱圖l所示，現(xiàn)有平面度檢驗平臺IOO是一平板體，其具 有一工作面11。該工作面ll具有較高的平面度且其上凹設二孔13 及一凹槽15。該凹槽15鄰接所述二孔13開設，且具有一定深度及 寬度。檢驗一電子元器件時，以檢驗圖2及3所示的一連接器40 的端子面41的平面度為例加以說明。該連接器40具有二定位腳針 43、 一導引部45及一底面47。該定位腳針43用于將連接器40固 定在電路板上。該導引部45起到導引連接器插接的作用。顯然，定 位腳針43、導引部45與底面47不在一個平面上，而端子面41與 底面47在同一個平面上。檢驗時，待檢驗連接器40的底面47放置 于平面度檢驗平臺100的工作面11上，使其定位腳針43相對應地 容置在孔13內，導引部45處于平面度檢-瞼平臺100的工作面11 之外，這樣，端子面41自由地貼合在工作面11上。最后，采用標 準塊檢驗該連接器40的端子面41的平面度。
然而，所述檢驗平臺IOO結構較復雜，不易加工，在現(xiàn)實平面 度檢驗過程中，檢驗人員需花較長時間將連接器與檢驗平臺對位平 放，增加了檢驗人員的勞動強度且檢驗效率較低，且該檢驗平臺100 通用性不強，一般只能檢驗某一類產(chǎn)品。

發(fā)明內容
有鑒于此，有必要提供一種能夠有效提高檢驗效率且通用性較 高的結構簡單的平面度檢驗平臺。
一種平面度檢驗平臺，用于檢驗一待檢驗產(chǎn)品的平面的平面度， 該待檢驗產(chǎn)品包括至少一突起部，該平面度檢驗平臺包括一工作面， 該工作面開設至少 一 凹槽，待4企-瞼產(chǎn)品的至少 一 突起部可移動地容 置在相對應的該至少一凹槽內。
相較現(xiàn)有技術，所述平面度檢驗平臺，設置至少一凹槽來代替 現(xiàn)有檢驗平臺的孔結構來相對應地容置被檢驗產(chǎn)品的至少 一 突起 部，使得被檢驗產(chǎn)品更加容易且高效地平放在檢驗平臺上，很好地 解決了接觸式平面度檢驗過程中的閃邊問題，并且平面度檢驗平臺 結構簡單，便于加工，且其通用性較強。


圖l是現(xiàn)有平面度檢驗平臺的立體示意圖。 圖2是一被檢驗連接器的立體示意圖。
圖3是利用圖l所示的平面度檢驗平臺檢驗一連接器的使用狀態(tài)
示意圖。
圖4是本發(fā)明平面度檢驗平臺第 一較佳實施例的結構示意圖。 圖5是一被檢驗連接器的立體示意圖。
圖6是利用本發(fā)明平面度檢驗平臺第一較佳實施例檢驗一連接
器的使用狀態(tài)示意圖。
圖7是本發(fā)明平面度檢驗平臺第二較佳實施例的結構示意圖。 圖8是利用本發(fā)明平面度檢驗平臺第二較佳實施例檢驗一連接
器的使用狀態(tài)示意圖。
具體實施例方式
請參閱圖4所示本發(fā)明平面度檢驗平臺第一較佳實施例，該平 面度檢驗平臺200以檢驗一產(chǎn)品如一連接器的端子面的平面度為例 加以i兌明。
請參閱圖5所示，連接器50具有若干端子(圖未標)、二突起 部53、 一導引部55及一底面57。該若干端子具有若干端子面51。 該突起部53可以是定位腳針或定位柱，其用于將連接器50固定在 電路板上。該導引部55起到導引連接器插接的作用。顯然，突起部 53、導引部55與底面57不在一個平面上，而端子面51與底面57 在同一個平面上。
請一并參閱圖6，該平面度檢驗平臺200是一平板體，材料采 用耐磨、耐腐蝕的材料制成，如SKD11號模具鋼等。該平面度檢驗 平臺200包括一工作面21，該工作面21具有較高的平面度， 一般 應比被檢驗產(chǎn)品平面度小一個數(shù)量級。工作面21上鄰接平面度檢驗 平臺200 —側開設一凹槽23,該凹槽23的深度及寬度與該連接器 50的突起部53的高度及寬度大致相當，使得連接器50的突起部53 可移動地容置于其內。
使用平面度檢驗平臺200檢驗該連接器50的端子面51的平面 度時，其包括以下步驟提供平面度檢驗平臺200,該平面度檢驗平臺200具有一工作 面21,該工作面21設有一凹槽23;
將待檢驗連接器50的底面57放置于平面度檢驗平臺200的工 作面21上，使其突起部53容置在凹槽23內，導引部55處于平面 度才企—驗平臺200的工作面21之外，這樣，端子面51自由地貼合在 工作面21上；
采用標準塊檢驗該連接器50的端子面51的平面度。
本實施例的平面度檢驗平臺200可應用于檢驗具有不同規(guī)格突 起部的待檢驗產(chǎn)品，只要待檢驗產(chǎn)品的突起部的高度及寬度小于平 面度檢驗平臺200的凹槽23的深度及寬度即可。
請參閱圖7所示本發(fā)明平面度檢驗平臺第二較佳實施例，該平 面度檢驗平臺300同樣以檢驗連接器50的端子面51的平面度為例 加以說明。
請一并參閱圖8,該平面度檢驗平臺300是一平板體，材料采 用耐磨、耐腐蝕的材料制成，如SKD11號模具鋼等。該平面度檢驗 平臺300包括一工作面31,該工作面31具有較高的平面度， 一般 應比被檢驗產(chǎn)品平面度小一個數(shù)量級。工作面31上鄰接平面度檢驗 平臺300 —側開設二凹槽33。該二凹槽33位于同 一直線上且相距 一距離L。該距離L應該小于連接器50的二突起部53之間的距離 (圖未標)。該二凹槽33的深度及寬度與該連接器50的二突起部 53的高度及寬度大致相當，且該二凹槽33具有一定的長度，使得 連接器50的二突起部53可移動地容置于相對應的二凹槽33內。
使用平面度檢驗平臺300檢驗連接器50的端子面51的平面度 時，其包括以下步驟
提供平面度檢驗平臺300，該平面度檢驗平臺300具有一工作 面31，該工作面31 i殳有一凹槽33;
將待檢驗連接器50的底面57放置于平面度檢驗平臺300的工 作面31上，使待檢驗連接器50的二突起部53相對應地容置在二凹
槽33內，導引部55處于平面度4全驗平臺300的工作面31之外，這 樣，端子面51自由地貼合在工作面31上；
采用標準塊檢驗該連接器50的端子面51的平面度。 本實施例的平面度檢驗平臺300也可應用于檢驗具有不同規(guī)格 突起部的待檢驗產(chǎn)品，只要待檢驗產(chǎn)品的二突起部的高度及寬度小 于平面度檢驗平臺200的二凹槽23的深度及寬度且待檢驗產(chǎn)品的二 突起部之間的距離大于二凹槽23之間的距離L即可。
可以理解，上述較佳實施例中的平面度檢驗平臺也可以檢驗不 具有突起部的一般類產(chǎn)品的平面度。
權利要求
1.一種平面度檢驗平臺，用于檢驗一待檢驗產(chǎn)品的平面的平面度，該待檢驗產(chǎn)品包括至少一突起部，該平面度檢驗平臺包括一工作面，其特征在于該工作面開設至少一凹槽，待檢驗產(chǎn)品的至少一突起部可移動地容置在相對應的該至少一凹槽內。
2. 如權利要求1所述的平面度檢驗平臺，其特征在于所述至 少一凹槽包括二凹槽，每一凹槽相對應地容置一突起部于其內。
3. 如權利要求2所述的平面度檢驗平臺，其特征在于所述二 凹槽之間的距離小于該二突起部之間的距離。
4. 如權利要求1所述的平面度檢驗平臺，其特征在于所述凹 槽的深度及寬度與待檢驗產(chǎn)品的突起部的高度及寬度相當。
5. 如權利要求1所述的平面度檢驗平臺，其特征在于所述凹 槽的深度及寬度大于待檢驗產(chǎn)品的突起部的高度及寬度。
6. 如權利要求1所述的平面度檢驗平臺，其特征在于所述平 面度檢驗平臺是一平板體。
7. 如權利要求1所述的平面度檢驗平臺，其特征在于所述工 作面的平面度高于待檢驗產(chǎn)品的平面的平面度。
8. 如權利要求1所述的平面度檢驗平臺，其特征在于所述平 面度檢驗平臺的材料是SKD11號模具鋼。
9. 如權利要求1所述的平面度檢驗平臺，其特征在于所述凹 槽設于工作面的邊緣。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種平面度檢驗平臺，用于檢驗一待檢驗產(chǎn)品的平面的平面度，該待檢驗產(chǎn)品包括至少一突起部，該平面度檢驗平臺包括一工作面，該工作面開設至少一凹槽，待檢驗產(chǎn)品的至少一突起部可移動地容置在相對應的該至少一凹槽內。
文檔編號G01B5/28GK101191718SQ200610157039
公開日2008年6月4日 申請日期2006年11月24日 優(yōu)先權日2006年11月24日
發(fā)明者杰 任, 邱煥澤, 鄭偉平 申請人:深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司