專利名稱：閃燈集成電路測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測試儀，尤其是關(guān)于一種測試閃燈集成電路的測試儀。
背景技術(shù)：
由于閃燈集成電路通常會(huì)具有一些瑕疵，例如大電流，即閃燈集成電路的靜態(tài)工作電流超過某一預(yù)定值；無觸發(fā)，即按下閃燈集成電路觸發(fā)鍵的時(shí)候，其仍保持靜態(tài)工作狀態(tài)；閃燈時(shí)間不正常，即在閃燈集成電路上電后，閃燈時(shí)間有的很長有的很短；長亮長滅，即閃燈集成電路上電后要么一直亮燈，要么沒有任何反映一直保持熄滅。而在生產(chǎn)、制造過程中，通常需要通過檢測環(huán)節(jié)挑選出具有這些瑕疵的閃燈集成電路，以保證產(chǎn)品優(yōu)良。
現(xiàn)有的閃燈集成電路的測試儀是將多個(gè)待測的閃燈集成電路分別接成單獨(dú)的測試通道，總電源輸入線上串聯(lián)電流表用于顯示多個(gè)閃燈集成電路的工作電流。測試時(shí)，測試人員依次扳動(dòng)每一個(gè)閃燈集成電路對應(yīng)的測試開關(guān)，從而順序接通每一個(gè)閃燈集成電路的測試回路。通過測試人員觀測閃燈集成電路驅(qū)動(dòng)LED(light-Emitting Diode，發(fā)光二極管)的閃爍頻率以及電流表指示來判斷當(dāng)前測試測試人員是否具有大電流或閃燈時(shí)間不正常等瑕疵。
但是，由于人力操作速度的局限性以及人為觀察判斷的主觀性因素的存在，采用現(xiàn)有的測試儀進(jìn)行，測試速度慢、效率低、易產(chǎn)生人為誤測且測試參數(shù)指標(biāo)隨意性大。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種測試速度較快、效率較高且誤差較小的閃燈集成電路測試儀。
為解決上述問題，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是一種閃燈集成電路測試儀包括穩(wěn)壓模塊、控制模塊、電流測試模塊、選通模塊、測試夾具模塊及顯示模塊；所述穩(wěn)壓模塊給控制模塊及電流測試模塊提供電源；所述控制模塊控制所述選通模塊中通道的選通；所述選通模塊經(jīng)由所述測試夾具模塊電性連接至待測閃燈集成電路；所述電流測試模塊檢測被測閃燈集成電路的靜態(tài)工作電流并向所述控制模塊反饋電流測試結(jié)果；所述測試夾具模塊固定并電性連接所述待測閃燈集成電路，并將所述待測閃燈集成電路的信號(hào)反饋至所述控制模塊；所述控制模塊控制所述顯示模塊顯示測試結(jié)果。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的優(yōu)勢在于利用所述控制模塊分析、處理所述閃燈集成電路測試儀各個(gè)模塊各模塊產(chǎn)生的信號(hào)，總體控制所述閃燈集成電路測試儀，無須人工操作，測試速度較快、效率較高，同時(shí)由于是所述控制模塊中的程序?qū)y試數(shù)據(jù)進(jìn)行判斷，因此其測試精度也較高。


圖1是本實(shí)用新型閃燈集成電路測試儀方框圖；圖2是本實(shí)用新型閃燈集成電路測試儀的控制模塊、電流測試模塊及選通模塊的電路原理圖；圖3是本實(shí)用新型閃燈集成電路測試儀的顯示模塊的電路原理圖；圖4是16路模擬開關(guān)芯片CD4067的邏輯關(guān)系示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合說明書附圖對本實(shí)用新型閃燈集成電路測試儀具體說明。
請參閱圖1，本實(shí)用新型閃燈集成電路測試儀用于同時(shí)并測若干閃燈集成電路，其包括一個(gè)穩(wěn)壓模塊10，一個(gè)控制模塊20，一個(gè)用于檢測被測閃燈集成電路的靜態(tài)工作電流的電流測試模塊30，一個(gè)用于選擇待測閃燈集成電路的測試回路的選通模塊40，一個(gè)用于固定并電性連接所述待測閃燈集成電路的測試夾具模塊50及一個(gè)測試結(jié)果的顯示模塊60。
所述穩(wěn)壓模塊10為所述控制模塊20及電流測試模塊30提供穩(wěn)定的工作電壓。所述控制模塊20對各模塊產(chǎn)生的信號(hào)進(jìn)行分析以及處理，對本電路的各功能模塊進(jìn)行統(tǒng)一管理及調(diào)配，起到總體控制的作用。所述電流測試模塊30提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)參考電壓以判斷所述被測閃燈集成電路的靜態(tài)工作電流是否正常，并向所述控制模塊20反饋電流測試結(jié)果。所述選通模塊40由所述控制模塊20控制選擇待測閃燈集成電路的位置。所述被測閃燈集成電路的邏輯功能的測試數(shù)據(jù)經(jīng)由所述選通模塊40、測試夾具模塊50返回至所述控制模塊20，并由顯示模塊60顯示測試狀態(tài)及結(jié)果。
請共同參閱圖2及圖3，在本具體實(shí)施方式
中，所述控制模塊20包括一個(gè)微程序控制器U1，所述微程序控制器U1采用的是ATMEL公司的Mega8單片機(jī)。所述電流測試模塊30包括一個(gè)型號(hào)為LF444的運(yùn)算放大器U4及一個(gè)型號(hào)為LM339N的模擬比較器U5。所述選通模塊40包括兩個(gè)型號(hào)為CD4067的16路模擬開關(guān)U2、U3。所述顯示模塊60包括若干與所述待測閃燈集成電路一一對應(yīng)的LED，所述LED用以顯示對應(yīng)的閃燈集成電路的測試進(jìn)行狀態(tài)及其最終的測試結(jié)果。
所述微程序控制器U1的引腳1與一個(gè)復(fù)位開關(guān)K1電性連接，在所述閃燈集成電路測試儀工作不正常的時(shí)候，可以通過按動(dòng)所述復(fù)位開關(guān)K1進(jìn)行復(fù)位；TG端(即引腳3)連接所述被測閃燈集成電路的觸發(fā)端；引腳4、5分別與所述模擬比較器U5的out4、out1端(即引腳13、2)相連，用于接收所述模擬比較器U5反饋的電流測試結(jié)果；引腳23、24、25、26分別與所述模擬開關(guān)U2、U3的A、B、C、D端相連，用于控制所述模擬開關(guān)U2、U3的通道的選通。所述模擬開關(guān)U2的VDD1～VDD9端(即引腳2～8及引腳22、23)，以及所述模擬開關(guān)U3的ICLED1～I(xiàn)CLED9端(即引腳2～8及引腳22、23)分別經(jīng)由所述連接測試夾具50的金手指與對應(yīng)待測閃燈集成電路連接。所述微程序控制器U1的DSP0～DSP9端(即引腳2、9、10及14～19)分別與對應(yīng)的LED串聯(lián)；每一LED的陰極接至所述微程序控制器U1的對應(yīng)引腳，陽極經(jīng)由一個(gè)電阻接至5v電源；所述LED用于顯示對應(yīng)被測閃燈集成電路的測試結(jié)果。
所述微程序控制器U1的內(nèi)部程序?qū)λ霰粶y閃燈集成電路的輸出脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)，如果在特定的時(shí)間內(nèi)脈沖數(shù)達(dá)到特定的數(shù)量，那么則認(rèn)為所述被測閃燈集成電路為合格；否則為不合格。由于所述閃燈集成電路在設(shè)計(jì)參數(shù)上允許有一定的容差，而根據(jù)集成電路所適用的使用環(huán)境的不同，對容差的要求也有所不同，因此，可以利用Mega8單片機(jī)的編程軟件，調(diào)整所述微程序控制器U1參數(shù)的判定范圍，以適應(yīng)不同參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
所述運(yùn)算放大器U4的in1+端(即引腳3)與一個(gè)精密電阻Rx1連接，它將輸入所述運(yùn)算放大器U4的輸入端in1+的電壓恒定到5V。一個(gè)電阻R3、一個(gè)電容C2及所述運(yùn)算放大器共同組成一個(gè)電壓跟隨器，將所述運(yùn)算放大器U4輸送至所述模擬開關(guān)U2的電壓VDD穩(wěn)定在5V。所述運(yùn)算放大器U4的OUT1端(即引腳1)輸出電壓等于所述電壓VDD加上所述電阻R3上的分壓。在被測閃燈集成電路正常的情況下，其靜態(tài)工作電流小于1uA，所以在理論上，所述運(yùn)算放大器U4的out1端的輸出電壓應(yīng)該小于5.01V，這個(gè)數(shù)值輸送到所述模擬比較器U5的in1+端(即引腳5)，通過比較，在所述模擬比較器U5的out1端(即引腳13)向所述微程序控制器U1輸出比較結(jié)果如果in1+大于in1-，則被測閃燈集成電路靜態(tài)工作電流過大，所述模擬比較器U5的out1端輸出1；如果in1+小于in1-，則被測閃燈集成電路正常，所述模擬比較器U5的out1輸出0；由此，所述微程序控制器U1通過讀取所述模擬比較器U5的out1端的電平值就可判斷被測閃燈集成電路是否正常。
請參閱圖4，所述型號(hào)為CD4067的16路模擬開關(guān)具有4個(gè)通道控制端A、B、C、D，當(dāng)所述16路模擬開關(guān)的使能端INHIBIT為低電平(即為0)時(shí)，上述A、B、C、D分別設(shè)置不同電平，則所述16路模擬開關(guān)的16個(gè)通道中相應(yīng)的通道選通。在本具體實(shí)施方式
中，只選用了其中的9路通道，即引腳2～8及引腳22、23所對應(yīng)的通道。
工作時(shí)，所述選通模塊40在所述微程序控制器U1的控制下選擇一個(gè)閃燈集成電路，通過所述微程序控制器U1的內(nèi)部程序檢測所述閃燈集成電路的脈沖參數(shù)是否符合要求，若不符合要求，則對應(yīng)LED燈亮，所述微程序控制器U1控制所述選通模塊40選擇下一個(gè)待測閃燈集成電路；若所述脈沖參數(shù)符合要求，則檢測所述閃燈集成電路的靜態(tài)工作電流是否符合要求，若不符合，則對應(yīng)LED燈亮，所述微程序控制器U1控制所述選通模塊40選擇下一個(gè)待測閃燈集成電路；若所述靜態(tài)工作電流符合要求，則發(fā)出一觸發(fā)信號(hào)，經(jīng)過等待，若無脈沖信號(hào)輸出，則對應(yīng)LED燈亮，所述微程序控制器U1控制所述選通模塊40選擇下一個(gè)待測閃燈集成電路；若有所述脈沖信號(hào)輸出，則對應(yīng)LED滅，所述微程序控制器U1控制所述選通模塊40選擇下一個(gè)待測閃燈集成電路。直至將與所述閃燈集成電路測試儀連接的閃燈集成電路測試完畢。被測的閃燈集成電路中的良品所對應(yīng)的LED熄滅。
在上述具體實(shí)施方式
介紹的閃燈集成電路測試儀中，其設(shè)計(jì)參數(shù)如下工作電壓+8V待機(jī)電流25Ma最大工作電流80mA整機(jī)功率小于0.5W測試周期8s(9個(gè)閃燈集成電路)以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以作出若干改進(jìn)，這些改進(jìn)也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種閃燈集成電路測試儀，其特征在于閃燈集成電路測試儀包括穩(wěn)壓模塊、控制模塊、電流測試模塊、選通模塊、測試夾具模塊及顯示模塊；所述穩(wěn)壓模塊給控制模塊及電流測試模塊提供電源；所述控制模塊控制所述選通模塊中通道的選通；所述選通模塊經(jīng)由所述測試夾具模塊電性連接至待測閃燈集成電路；所述電流測試模塊檢測被測閃燈集成電路的靜態(tài)工作電流并向所述控制模塊反饋電流測試結(jié)果；所述測試夾具模塊固定并電性連接所述待測閃燈集成電路，并將所述待測閃燈集成電路的信號(hào)反饋至所述控制模塊；所述控制模塊控制所述顯示模塊顯示測試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的閃燈集成電路測試儀，其特征在于所述控制模塊包括一個(gè)微程序控制器。
3.如權(quán)利要求2所述的閃燈集成電路測試儀，其特征在于所述微程序控制器采用的是ATMEL公司的Mega8單片機(jī)。
4.如權(quán)利要求3所述的閃燈集成電路測試儀，其特征在于所述顯示電路包括若干發(fā)光二極管，每一發(fā)光二極管均串聯(lián)連接于電源與所述Mega8單片機(jī)的對應(yīng)引腳之間，且所述發(fā)光二極管與所述待測閃燈集成電路一一對應(yīng)以顯示對應(yīng)閃燈集成電路的測試結(jié)果。
5.如權(quán)利要求4所述的閃燈集成電路測試儀，其特征在于所述發(fā)光二極管的陽極接至所述電源，其陰極接至所述Mega8單片機(jī)的對應(yīng)引腳。
6.如權(quán)利要求1所述的閃燈集成電路測試儀，其特征在于電流測試模塊包括一個(gè)運(yùn)算放大器及一個(gè)模擬比較器，所述運(yùn)算放大器采用電壓跟隨的接法將所述運(yùn)算放大器輸送給所述選通模塊的電壓穩(wěn)定在一個(gè)預(yù)定值，所述模擬比較器通過比較負(fù)載壓降得到一個(gè)電流測試結(jié)果并將所述電流測試結(jié)果反饋至所述控制模塊。
7.如權(quán)利要求6所述的閃燈集成電路測試儀，其特征在于所述運(yùn)算放大器采用的型號(hào)為LF444的運(yùn)算放大器。
8.如權(quán)利要求6所述的閃燈集成電路測試儀，其特征在于模擬比較器采用的是型號(hào)為LM339N的模擬比較器。
9.如權(quán)利要求1所述的閃燈集成電路測試儀，其特征在于所述選通模塊包括兩個(gè)模擬開關(guān)，所述控制模塊控制所述模擬開關(guān)中的通道選通，以選擇相應(yīng)的待測閃燈集成電路進(jìn)行測試。
10.如權(quán)利要求9所述的閃燈集成電路測試儀，其特征在于所述模擬開關(guān)采用的是型號(hào)為CD4067的16路模擬開關(guān)。
專利摘要一種閃燈集成電路測試儀包括穩(wěn)壓模塊、控制模塊、電流測試模塊、選通模塊、測試夾具模塊及顯示模塊；所述穩(wěn)壓模塊給控制模塊及電流測試模塊提供電源；所述控制模塊控制所述選通模塊中通道的選通；所述選通模塊經(jīng)由所述測試夾具模塊電性連接至待測閃燈集成電路；所述電流測試模塊檢測被測閃燈集成電路的靜態(tài)工作電流并向所述控制模塊反饋電流測試結(jié)果；所述測試夾具模塊固定并電性連接所述待測閃燈集成電路，并將所述待測閃燈集成電路的信號(hào)反饋至所述控制模塊；所述控制模塊控制所述顯示模塊顯示測試結(jié)果。本實(shí)用新型利用所述控制模塊分析、處理所述閃燈集成電路測試儀各個(gè)模塊各模塊產(chǎn)生的信號(hào)，測試速度較快、效率較高、精度高。
文檔編號(hào)G01R23/00GK2903997SQ20062001368
公開日2007年5月23日 申請日期2006年4月19日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月19日
發(fā)明者王英廣, 李科 申請人:深圳安博電子有限公司