專利名稱：使用镥本底輻射的pmt增益和能量校準的制作方法
使用镥本底輻射的PMT增益和能量校準
本發(fā)明涉及醫(yī)學(xué)成像領(lǐng)域。它特別是在與正電子發(fā)射斷層攝影(PET) 掃描器相結(jié)合的光電倍增管(PMT)校準方面得到應(yīng)用，且將特別參考其 加以描述。本發(fā)明還應(yīng)用于利用了閃爍晶體的其^1成像模態(tài)(例如SPECT) 及其他成像模態(tài)。
通常，在醫(yī)學(xué)成像中，掃描器的一致性至關(guān)重要。在其他條件都相同 時，技術(shù)人員希望看到使用相同設(shè)置獲得的同一對象的兩幅圖像看起來是 相同的。在核成像中保持掃描器穩(wěn)定性最大的難題之一就是保持PMT已校 準。公知的是由于使用和溫度的原因，PMT的輸出隨著時間而漂移。PMT 漂移可通過調(diào)節(jié)PMT的電子增益進行校正。通常，校準的PMT和未校準 的PMT輸出是相同的，只是能量通道漂移了。電子增益調(diào)節(jié)能夠使漂移的 PMT輸出回到通道對準，不過，通常PMT并不是均勻地漂移，因此必須 要單獨校準每個PMT。
典型地，每個PMT所需的增益是通過在掃描器中放置放射性物質(zhì)并運 行校準過程來決定的。放射性校準源產(chǎn)生特征能量的輻射。確定每個PMT 的增益，使其將來自特征能量輻射的輸出信號置入相應(yīng)的輸出能量通道。 該增益被存儲在存儲器中并在后續(xù)的成像程序期間使用。該過程一直運行 到系統(tǒng)的所有PMT都被校準為止。
為了執(zhí)行這種例行維護，需要在設(shè)置好的維護日期或?qū)嶋H的漂移妨礙 生成有用的醫(yī)學(xué)圖像時讓技術(shù)人員在掃描器上進行PMT校準。這給掃描器 帶來了一些不可避免的停機時間并帶來了技術(shù)人員的人工成本。
本申請預(yù)期一種能夠克服上述問題等的新的改進的核成像設(shè)備及其附 帶的方法。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種診斷成像設(shè)備。閃爍元件響應(yīng)于 固有輻射發(fā)光。所述閃爍元件也是固有地具有放射性的。PMT陣列產(chǎn)生對入射輻射的響應(yīng)，該響應(yīng)隨時間而變化且在PMT之間有變化。PMT自校 準處理器利用閃爍元件的固有放射性再次校準PMT的響應(yīng)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種校準診斷成像掃描器的方法。利 用表現(xiàn)出至少一個特征能量的固有放射性的閃爍元件陣列產(chǎn)生本底輻射。 響應(yīng)于由所述閃爍元件發(fā)射的本底輻射利用所述閃爍元件產(chǎn)生光子發(fā)射。 利用所述光電倍增管產(chǎn)生對所述光子發(fā)射的響應(yīng)，所述響應(yīng)在所述光電倍 增管之間有所變化。使用對所述閃爍元件的固有本底輻射的響應(yīng)校準所述 光電倍增管。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種診斷成像設(shè)備。包括閃爍器陣列 和光電探測器陣列的至少一個探測器組件包括發(fā)射具有至少一個特征能量 峰的輻射的放射性元素。所述閃爍器表現(xiàn)出根據(jù)特征能量峰的放射性光輸 出量有所變化。幅度校準存儲器存儲對應(yīng)于每個閃爍器的縮放因子，以對 光電探測器輸出進行縮放。自校準處理器接收所述光電探測器響應(yīng)于所述 放射性元素發(fā)射的輻射而產(chǎn)生的輸出并調(diào)節(jié)所述縮放因子，使得所述光電 探測器輸出的特征峰幅度處于共同幅度。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種診斷成像設(shè)備。所述設(shè)備包括至 少一個探測器組件，所述探測器組件包括其響應(yīng)特征隨時間漂移的光電探 測器。所述探測器組件中的閃爍器產(chǎn)生固有本底輻射。自校準處理器作為 時間的函數(shù)接收所述光電探測器響應(yīng)于所述固有本底輻射的輸出并在所述 成像設(shè)備的停機時間期間校準所述光電探測器。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種校準診斷成像掃描器的方法。利 用表現(xiàn)出至少一個特征能量的固有放射性的閃爍元件陣列產(chǎn)生本底輻射。 響應(yīng)于由所述閃爍元件發(fā)射的本底輻射利用所述閃爍元件產(chǎn)生光子發(fā)射。 利用所述光電倍增管產(chǎn)生對所述光子發(fā)射的響應(yīng)，所述響應(yīng)在所述光電倍 增管之間有所變化。利用對所述閃爍元件的固有本底輻射的響應(yīng)中的至少 兩個特征峰校準光電倍增管。
本發(fā)明的一個優(yōu)點在于減少了掃描器不掃描患者的停機時間。 另一個優(yōu)點在于消除了對PMT校準的服務(wù)呼叫。 另一個優(yōu)點在于連續(xù)更新PMT校準。 另一個優(yōu)點在于以精確校準產(chǎn)生的診斷圖像。另一個優(yōu)點在于消除了對單獨輻射校準源的需求。
在閱讀和理解以下有關(guān)優(yōu)選實施例的詳細說明的基礎(chǔ)上，本領(lǐng)域的普 通技術(shù)人員將明了本發(fā)明的其他優(yōu)點和益處。
本發(fā)明可以實現(xiàn)為各種組件和組件布置以及各種步驟和步驟布置。附 圖僅用于示出優(yōu)選實施例，并不被視為限制本發(fā)明。

圖1為根據(jù)本申請的核醫(yī)學(xué)掃描器的示意圖； 圖2為示例性單光子能譜； 圖3為示例性符合能譜；
圖4為根據(jù)本申請的自校準處理器的更詳細圖示； 圖5示出了對PET裝置產(chǎn)生的典型單光子能譜的增益調(diào)節(jié)； 圖6示出了對PET裝置產(chǎn)生的典型單光子能譜的幅度調(diào)節(jié)； 圖7示出了對PET裝置產(chǎn)生的典型符合能譜的增益調(diào)節(jié)。
參照圖l，示出了核醫(yī)學(xué)掃描器10的優(yōu)選實施例。在掃描之前，對象 置于對象支架表面12上。對象支架表面沿其縱軸A移入和移出掃描器10 的機架16的內(nèi)膛14。 PET掃描器的內(nèi)膛襯有圓柱形的輻射探測器18?？?選地，探測器包括多個探測頭，對于SPECT掃描器這更為典型。在任一種 情況下，環(huán)繞并沿著對象接收內(nèi)膛14布置探測器18以接收入射的Y射線。 典型地，入射的Y射線擊中優(yōu)選包括閃爍晶體和PMT的陣列的探測器18， 然而預(yù)期可采用包括閃爍晶體的任何其他探測器。當閃爍晶體被Y射線擊 中時發(fā)射小脈沖的可見光，由PMT的光陰極將可見光轉(zhuǎn)變成電子，并由 PMT中的倍增極柱放大電信號。
有很多化合物適于做閃爍晶體。鍺酸鉍(BGO)、氟化鋇(BaFl)、硅 酸釓(GSO)、原硅酸镥(LSO)和原硅酸镥釔(LYSO)為形成閃爍晶體 的化合物示例。在優(yōu)選實施例中，閃爍晶體包括镥，因此LSO和LYSO兩 者都適合，其他包含镥的晶體變型也適合。
為對象注射放射性藥物，對于PET掃描器而言該放射性藥物經(jīng)歷湮滅 事件，發(fā)射沿相反方向傳播的兩束511eV的Y射線。亦即，兩束Y射線沿 共同射線朝相反方向傳播。在SPECT掃描器中，放射性藥物包括衰變并發(fā)射具有一個(或多個)特征能量的Y射線的放射性同位素。
探測到在掃描器的內(nèi)膛14內(nèi)發(fā)生湮滅事件時，如果兩束Y射線基本同 時擊中探測器，則將其作為有效的湮滅事件。為了驗證事件，事件驗證處 理器20檢測探測到Y(jié)射線的時間。Y射線經(jīng)受若干次事件驗證過程，該過 程從虛假事件中鑒別出有效的湮滅事件。例如，如果沒有在足夠靠近第一 束的時間內(nèi)接收到第二束Y射線，就把第一束Y射線作為不成對的拋棄。 除了符合檢測之外，事件驗證處理器20還可以執(zhí)行其他驗證過程，例如能 量閾值和加窗濾波器以及其他本領(lǐng)域公知的驗證過程。
事件驗證在利用其中含有镥的探測器晶體(例如LSO和LYSO)時特 別有效。用于PET成像的閃爍晶體中的镥天然地包括大量的镥放射性同位 素(Lu176)。镥的這種特殊同位素在衰變時釋放P粒子和88、 202和307 keV 的三束Y射線。如果沒有事件驗證過程，可能會把這些Y射線誤認為源自 對象的Y射線。
自從LSO出現(xiàn)一來，這種多余輻射源就是輻射學(xué)家們的問題。很多專 利申請以此為主題試圖補償這種多余的放射源。盡管本申請在成像過程中 仍必須要補償Lu^同位素，但本申請建議支配該多余的放射現(xiàn)象并引導(dǎo)其
在診斷掃描之間實現(xiàn)有利的目的。
可以利用在圖2所示的單光子(singles)模式下的單光子能譜22中出 現(xiàn)的202 keV峰執(zhí)行較粗的校準?？梢岳萌鐖D3所示的包括202 keV峰 和307 keV峰的組合能譜24執(zhí)行更精細的校準。來自任何給定閃爍的光通 常由多個PMT進行觀察?；谟^察PMT的位置和來自每個觀察PMT的信 號的相對幅度，閃爍器定位器26利用Anger邏輯確定每個閃爍的位置，即， 每個接收到的Y射線。以校準期間確定的增益操作每個光電倍增管。典型 增益在大約8:1的范圍上變化。從增益査找表(LUT) 28中檢索出將每個 倍增管偏置到可工作時的增益。
為了適應(yīng)閃爍器的光輸出變化，幅度調(diào)節(jié)電路或處理器30調(diào)節(jié)每個輸
出信號的幅度。確定初級閃爍位置以識別接收到Y(jié)射線并發(fā)射光閃爍的閃 爍晶體。LSO和LYSO閃爍體通常是單個晶體的陣列，例如幾厘米見方的
陣列，每個晶體可以且典型地產(chǎn)生來自給定能量輻射事件的不同水平的光。 幅度調(diào)節(jié)處理器30為來自幅度校正LUT 32的探測閃爍器利用縮放因子縮放觀察給定事件的每個PMT的輸出。
重建處理器34將來自準確定位的有效事件的射線重建成對象的圖像表 示。在PET成像中，符合探測到的Y射線定義了利用公知算法重建的射線。 在SPECT成像中，準直器界定對應(yīng)于每次閃爍的射線。重建處理器34利 用公知算法將所述射線重建成圖像。顯示監(jiān)視器36顯示對象解剖結(jié)構(gòu)的重 建部分。
再次，iV76在其衰變時發(fā)射88 keV、 202 keV和307 keV的三束y射 線。自校準處理器40使用來自放射性镥的這種本底輻射以在系統(tǒng)10未掃 描患者時對其進行校準。當系統(tǒng)未掃描患者時，其進入自校準模式，該模 式激活自校準處理器。參照圖4、 5和6，自然輻射，尤其是202 keV和307
keV的y射線離開閃爍器晶體并擊中另一個閃爍器引起閃爍。中央濾波電 路或處理器42使用Anger邏輯拋棄掉并非源于基本在光電倍增管下方中央 的任何信號。202 keV峰探測器44和307 keV峰探測器46探測來自對應(yīng)于 Lu^的能量的y射線的事件。88keV峰往往被視為沒有用處，因為它很少 能逃出發(fā)射其的晶體，而且加窗閾值常常更高，以區(qū)分環(huán)境和散射輻射等。
在第一單光子模式的實施例中，增益調(diào)節(jié)子處理器50將圖5中的所接 收信號的峰52與理想的202 keV峰54比較，并相應(yīng)地調(diào)節(jié)用于探測閃爍 的PMT的增益LUT 26中的增益設(shè)置。在優(yōu)選實施例中，參照圖5，增益 調(diào)節(jié)子處理器查找能量脈沖的特征前緣56。在一個實施例中，通過繪制對 于所探測到響應(yīng)的直線擬合找到前緣56。此外，可以用其他多項式結(jié)合針 對典型202 keV響應(yīng)而定制的函數(shù)一起確定前緣56。無論其幅度或位置如 何，對于所有探測到的202keV的Y射線來說，前緣應(yīng)當是相同的。亦即， 即使系統(tǒng)PMT的幅度和能量響應(yīng)可能會漂移，也可以調(diào)節(jié)倍增管的增益以 使202keV峰位于適當?shù)耐ǖ乐小?br> 一旦完成了 202keV峰的PMT增益校準過程，對于第二實施例而言， 還可選地完成類似307 keV峰的PMT增益校準過程，則可選地執(zhí)行了符合 模式校準。具體而言，符合探測器60探測202keV的Y射線是否在時間上 充分接近已經(jīng)在同一Lu^衰變事件中產(chǎn)生的307keV的y射線。在符合模 式下，符合探測器60探測何時由一個閃爍晶體探測到202 keV的y射線且 在第二閃爍晶體處幾乎同時探測到307 keV的Y射線。如圖3所示，符合能譜產(chǎn)生兩個較銳利的峰，這兩個峰用于同時對兩個PMT進行更精細的校 準。亦即，調(diào)節(jié)每個探測PMT的增益以將所述307keV與理想的307 keV 峰精確地對準，即，位于307 keV的能量通道中?？梢灶愃频卣{(diào)節(jié)接收符 合202 keV事件的倍增管的增益。因為能量校正是線性的，所以自校準處 理器40執(zhí)行的增益校正準確地對用于PET成像的511 keV峰進行平移。
在計算出增益調(diào)節(jié)并將其加載到增益LUT26中之后，能量調(diào)節(jié)子處理 器62響應(yīng)于所接收的y射線，將輸出信號的幅度，即接收閃爍器的光輸出 水平與標稱或理想202 keV的Y射線響應(yīng)64比較并相應(yīng)地調(diào)節(jié)幅度調(diào)節(jié)査 找表32中的縮放因子。來自不同閃爍器的光輸出不是一致的，因此由觀察 PMT所產(chǎn)生的輸出信號的幅度之和將會變化。閃爍器定位器68使用Anger 邏輯來確定產(chǎn)生每個所探測到事件的閃爍器。能量調(diào)節(jié)子處理器62在查找 表32中調(diào)節(jié)探測到事件的閃爍器的縮放因子，將輸出信號之和的幅度縮放 到標稱響應(yīng)曲線64。
類似地，參照圖7，可以在符合模式下進行上述校準。亦即，將實際符 合響應(yīng)70與符合標稱響應(yīng)72比較并與其對準。
在自校準模式中時，所探測到的能量應(yīng)當僅是202 keV和307 keV之 一，從而使濾波器42除去其他信號。優(yōu)選針對基本在單個PMT正下方發(fā) 生的閃爍執(zhí)行PMT增益調(diào)節(jié)。這使得來自PMT的輸出信號幅度最大化并 方便了出于這一目的的增益調(diào)節(jié)，濾波電路42拋棄被閃爍器定位器68判 斷為不是基本在單個PMT下方中央的事件。
镥76具有3X10"年的半衰期，因此在掃描器壽命期間無需補充。也 預(yù)期使用其他天然含有放射性元素或經(jīng)摻雜而含有它們的閃爍晶體。
已經(jīng)參考優(yōu)選實施例描述了本發(fā)明。他人在閱讀并理解前述描述的基 礎(chǔ)上將會想到修改和變更。本發(fā)明旨在被解釋為包括落入隨附權(quán)利要求或 其等價物的范圍內(nèi)的所有這些修改和變更。
權(quán)利要求
1、一種診斷成像設(shè)備(10)，包括至少一個響應(yīng)于入射輻射而發(fā)光的閃爍元件(18)，所述閃爍元件(18)表現(xiàn)出至少一個特征能量的固有放射性；與所述至少一個閃爍元件(18)進行光通信的光電倍增管陣列，所述光電倍增管的每個都對入射輻射產(chǎn)生響應(yīng)，所述響應(yīng)隨時間而變化且在所述光電倍增管之間有變化；光電倍增管自校準處理器(40)，其使用所述至少一個閃爍元件(18)的所述固有放射性再次校準所述光電倍增管的響應(yīng)。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的診斷成像設(shè)備(10)，其中，所述校準處理 器(40)針對光電倍增管增益和響應(yīng)幅度中的至少一個確定校準因子。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的診斷成像設(shè)備(10)，其中，所述至少一個 閃爍元件(18)包含镥。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的診斷成像設(shè)備(10)，其中，所述固有放射 性來自大量天然镥176 。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的診斷成像設(shè)備(10)，還包括 包含對于每個光電倍增管的增益設(shè)置的增益存儲器(28);以及 所述自校準處理器(40)確定在單光子模式下由所述光電倍增管之一探測到的響應(yīng)中的特征峰，并線性地調(diào)節(jié)相應(yīng)的光電倍增管的增益設(shè)置， 以校正所述響應(yīng)信號中所述特征峰的定位。
6、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的診斷成像設(shè)備(10)，其中，所述自校準處 理器(40)包括中央濾波器(66)，其將所探測到的閃爍限制為在每個光電 倍增管下方的閃爍。
7、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的診斷成像設(shè)備(10)，其中，所述自校準處 理器(40)處理來自符合模式下的響應(yīng)的至少一個特征峰并相應(yīng)地調(diào)節(jié)探 測光電倍增管的增益。
8、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的診斷成像設(shè)備，其中，所述至少一個閃爍器 包括閃爍器陣列，所述閃爍器之間的閃爍光輸出有變化，并且還包括.-包含用于所述多個閃爍器中每個的幅度縮放因子的幅度校正存儲器 (32);所述自校準確定響應(yīng)于由每個所述閃爍器探測到的閃爍調(diào)節(jié)用于光電 倍增管輸出的所述縮放因子。
9、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的診斷成像設(shè)備(10)，還包括 包含對于每個光電倍增管的增益設(shè)置的增益存儲器(28);以及 包含用于所述多個閃爍器中每個的幅度縮放因子的幅度校正存儲器(32);更新所述增益存儲器和所述幅度校正存儲器中的至少一個的所述自校準處理器(40)。
10、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的診斷成像設(shè)備，其中，所述自校準處理器(40):根據(jù)所述光電倍增管響應(yīng)于閃爍的輸出確定響應(yīng)峰； 調(diào)節(jié)所述響應(yīng)的光電倍增管的增益設(shè)置，將所述響應(yīng)峰移動到與預(yù)選 特征曲線的對應(yīng)峰對準；確定所述閃爍器中哪個產(chǎn)生所述閃爍；以及調(diào)節(jié)所述產(chǎn)生閃爍的閃爍器的縮放因子，使得所述響應(yīng)峰的幅度與所 述預(yù)選特征曲線的所述對應(yīng)峰在幅度上對應(yīng)。
11、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中，所述自校準處理器(40)在 診斷成像間的停機時間期間校準所述光電倍增管的所述響應(yīng)。
12、 一種對診斷成像掃描器(10)進行校準的方法，包括 利用表現(xiàn)出至少一個特征能量的固有放射性的閃爍元件陣列產(chǎn)生本底輻射；響應(yīng)于由所述閃爍元件發(fā)射的本底輻射利用所述閃爍元件產(chǎn)生光子發(fā)射；利用所述光電倍增管產(chǎn)生對所述光子發(fā)射的響應(yīng)，所述響應(yīng)在所述光 電倍增管之間有所變化；以及使用對所述閃爍元件的所述固有本底輻射的響應(yīng)校準所述光電倍增管。
13、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，還包括通過繪制對由接收所述光子發(fā)射之一的所述光電倍增管產(chǎn)生的響應(yīng)的 能譜的前緣(52)的特征擬合，確定所述光子發(fā)射的特征邊緣(56);調(diào)節(jié)所述光電倍增管的增益，以移動所述特征邊緣(56)與預(yù)選特征 譜(22， 24， 54， 64)的相應(yīng)特征邊緣符合。
14、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述校準步驟包括 確定與來自所述光電倍增管之一的特征能量對應(yīng)的響應(yīng)的能量峰； 調(diào)節(jié)所述一個光電倍增管的增益設(shè)置，使得所確定的能量峰與所述特征能量對準。
15、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述閃爍器表現(xiàn)出至少兩個 特征能量的固有放射性，并且還包括利用兩個光電倍增管探測所述兩個特征能量的符合光子事件并產(chǎn)生對 應(yīng)的輸出峰；針對至少探測到所述特征能量光子事件中選定的一個的所述光電倍增 管調(diào)節(jié)增益設(shè)置，以將所述對應(yīng)的輸出峰與預(yù)選特征曲線的相應(yīng)峰對準。
16、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述至少一個閃爍元件包括 具有不同光輸出特征的閃爍器陣列，所述校準步驟包括確定所述陣列中哪個閃爍器產(chǎn)生每個光子發(fā)射；在所述探測光電倍增管的響應(yīng)的步驟中確定所述特征能量峰的幅度； 調(diào)節(jié)所述產(chǎn)生閃爍的閃爍器的輸出縮放因子，將所確定的幅度縮放到 預(yù)選幅度。
17、 根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，還包括 在增益存儲器(28)中存儲每個光電倍增管的增益設(shè)置； 在幅度校正存儲器(32)中存儲每個閃爍元件的縮放因子；以及 在所述校準步驟中更新所述增益存儲器(28)和所述幅度校正存儲器(32)中的至少一個。
18、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述閃爍元件包括镥176。
19、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述校準步驟發(fā)生在診斷成 像間的停機時間期間。
20、 一種執(zhí)行權(quán)利要求12所述的方法的設(shè)備。
21、 一種診斷成像設(shè)備，包括至少一個包括閃爍器(18)陣列和光電探測器陣列的探測器組件，所 述閃爍器包括發(fā)射具有至少一個特征能量峰的輻射的放射性元素，所述閃 爍器表現(xiàn)出根據(jù)所述特征能量峰的放射性光輸出量有所變化；幅度校準存儲器(32)，其存儲對應(yīng)于每個閃爍器的縮放因子，以對光 電探測器輸出進行縮放；自校準處理器(40)，其接收所述光電探測器響應(yīng)于所述放射性元素發(fā) 射的輻射而產(chǎn)生的輸出并調(diào)節(jié)所述縮放因子，使所述光電探測器輸出的特 征峰幅度處于共同幅度。
22、 根據(jù)權(quán)利要求21所述的診斷成像設(shè)備，還包括 增益校準存儲器(28)，其存儲所述光電探測器中每個的增益設(shè)置；所述自校準電路(40)還調(diào)節(jié)所述增益設(shè)置，使得每個光電探測器源 自對所述特征能量輻射的響應(yīng)的輸出峰與預(yù)選特征能量曲線的對應(yīng)特征能 量峰對準。
23、 一種診斷成像設(shè)備，包括至少一個探測器組件，所述探測器組件包括其響應(yīng)特征隨時間漂移的光電探測器；自校準處理器(40)，其作為時間的函數(shù)接收所述光電探測器的輸出并在所述成像設(shè)備的停機時間期間校準所述光電探測器。
24、 一種校準診斷成像掃描器(10)的方法，包括利用表現(xiàn)出至少一個特征能量的固有放射性的閃爍元件陣列產(chǎn)生本底輻射；響應(yīng)于由所述閃爍元件發(fā)射的本底輻射利用所述閃爍元件產(chǎn)生光子發(fā)射；利用所述光電倍增管產(chǎn)生對所述光子發(fā)射的響應(yīng)，所述響應(yīng)在所述光 電倍增管之間有所變化；以及使用對所述閃爍元件的所述固有本底輻射的響應(yīng)中的至少一個特征峰 校準所述光電倍增管。
全文摘要
閃爍器(18)包括發(fā)射特征能量輻射的放射性元素，例如镥¹⁷⁶，其發(fā)射202keV和307keV的γ射線。閃爍器具有變動的光輸出水平，和對傾向于漂移的光閃爍有響應(yīng)的光電倍增管。當掃描器(10)不生成診斷圖像時，光電倍增管探測來自镥¹⁷⁶輻射的閃爍。自校準處理器(40)調(diào)節(jié)每個光電倍增管的增益，使得其的輸出峰對應(yīng)于202keV或307keV，并調(diào)節(jié)PMT對應(yīng)于每個閃爍器的輸出的縮放因子，使得輸出峰具有共同幅度。
文檔編號G01T1/164GK101292174SQ200680038455
公開日2008年10月22日 申請日期2006年9月15日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月17日
發(fā)明者S·庫克, T·勞倫斯 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司