專利名稱：色譜儀質量分析裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及氣相色譜儀質量分析裝置(GC/MS)或液相色譜儀質量分 析裝置(LC/MS)等組合了色譜儀和質量分析儀的色譜儀質量分析裝置，更具體來說，涉及利用掃描測定和選擇離子監(jiān)測(選択,才y乇二夕yy夕"測定進行同時數(shù)據(jù)收集的色譜儀質量分析裝置。
技術背景作為使用GC/MS或LC/MS等色譜儀質量分析裝置的測定方法，知道 的有掃描測定法和選擇離子監(jiān)測測定(以下，簡稱為SIM)法。在掃描測 定法中，用質量分析儀在規(guī)定的質量數(shù)范圍內掃描分析對象的離子的質量 數(shù)(m/z)檢測含于該質量數(shù)范圍的所有離子。從而，尤其在未知試料的 定性分析等分析對象成分的質量數(shù)不明確的情況下有用，但由于不太能得 到S/N比良好的色譜，因此，不面向定量目的的使用。另一方面，在SIM 測定法中，按時間分割有選擇地僅檢測具有預先指定的1至多個特定質量 數(shù)的離子。從而，在分析對象的物質為己知且以高靈敏度進行其物質的定 量分析的情況下有用，但只能檢測出具有特定的質量數(shù)的離子，因此，不 面向定性目的的使用。如上所述，掃描測定法和SIM測定法是正好補的關系，以往，還知道 足有為了應用兩者的特征，對于任意的時間范圍同時執(zhí)行掃描測定法和 SIM測定法的掃描/SIM同時測定法(參照專利文獻O。根據(jù)該測定法可 知，能夠通過一次分析獲得用于定性分析的質譜和用于定量分析的關于目 標離子的S/N比良好的色譜。這樣，掃描/SIM同時測定法雖然是有益的測定法，但如果包含掃描 /SIM同時測定中不需要的化合物而進行多個化合物的掃描/SIM同時測 定，則每單位時間導入檢測器的離子量變得過多，導致檢測靈敏度降低的 問題。因此，通常，大部分情況下僅限定于利用掃描測定得不到具有充分
的S/N比的質譜的化合物，執(zhí)行掃描/SIM同時測定，對其以外的化合物 僅執(zhí)行掃描測定。因此，需要在開始測定之前，預先確定掃描/SIM同時測 定法的對象化合物和其測定質量數(shù)。使用了以往的色譜儀質量分析裝置的上述測定的標準的步驟如下所 述。即，首先，操作人利用掃描測定法，進行含有成分為己知的標準試料 的預備測定，獲得色譜(總離子色譜)。然后，利用該色譜，確認欲定量 的化合物(目標化合物)的S/N比是否充分，基于其結果，選定掃描/SIM 同時測定的對象化合物。然后，按照包含該對象化合物的波峰的方式，確 定進行掃描/SIM同時測定的時間范圍、和進而作為該范圍中的SIM測定 的對象的質量數(shù)。然后，操作人在裝置的操作部進行規(guī)定的操作，在顯示部的畫面上顯 示如圖7所示的測定條件表格。然后，按每個測定時間范圍向表格的各欄 中輸入其開始時間和結束時間、測定方法(掃描或SIM)、掃描測定的質 量數(shù)范圍(開始質量數(shù)和結束質量數(shù))或SIM測定的質量數(shù)等數(shù)值。然后， 若對必要的項目的所有的輸入結束，則確定輸入設定，按照該測定條件進 行檢量線制作用標準試料的測定，進而執(zhí)行未知試料的測定。在圖7 (a)的例子中，將測定開始時點作為起點(0分鐘)，在經(jīng)過 時間為6分鐘到20分鐘為止的期間，利用掃描測定，在質量數(shù)100到400 的范圍內進出測定。另一方面，在圖7 (b)的例子中，在測定開始時點到 經(jīng)過時間為6分鐘到11分鐘為止的期間，利用掃描測定，在質量數(shù)100 到400的范圍內進行測定(表格的第一行)。在接下來的11分鐘到13分 鐘為止的期間，利用掃描測定，在質量數(shù)100到質量數(shù)400的范圍內進行 測定(表格的第二行)，且同時利用SIM測定對質量數(shù)100、 200、 300、 400的四個質量數(shù)進行測定(表格的第三行)。進而，在接下來的13分鐘 到20分鐘為止的期間，利用掃描測定法，在質量數(shù)100到400的范圍內 進行測定(表格的第四行)。圖7 (b)的例子是進行掃描/SIM同時測定的化合物為一個的情況， 但實際上也進行約IOO成分以上的試料的分析，伴隨于此，作為掃描/SIM 同時測定的對象的化合物數(shù)量也變多。為了從如圖7 (a)所示的在規(guī)定的 測定時間范圍(在該例中為6 20分鐘)設定有掃描測定的狀態(tài)，追加如 圖7 (b)所示地進行掃描/SIM同時測定的條件，需要對每一個化合物， 在測定條件表格中追加三行，且對其三行的各欄進行參數(shù)的鍵輸入。從而， 將多個例如10成分的化合物掃描/SIM同時測定的情況，測定條件表格需 要最多輸入30行程度的追加輸入，對操作人來說是非?；ㄙM工時的作業(yè)， 而且也容易引起輸入錯誤。另外，操作人在向如上所述的測定條件表格輸入數(shù)值時，需要適當設 定掃描/SIM同時測定的時間范圍。例如，在兩個成分的色譜的波峰的保持 時間接近的情況下，若在這些兩個波峰之間設置進行掃描/SIM同時測定的 時間范圍的邊界，則色譜的波峰極其靠近時間范圍的邊界存在。在這種情 況下，在未知試料的測定時，保持時間即使偏離少許，色譜的波峰也與規(guī) 定的時間范圍的邊界重疊，導致不能正確地進行波峰的檢測及波峰面積的 計算，不能進行正確的定量。為了避免這樣的不妥善情況，掃描/SIM同時 測定的測定時間范圍的設定需要參照在標準試料的預備測定中得到的色 譜的同時謹慎進行。然而，以往，在如上所述地設定掃描/SIM同時測定的 時間范圍時，沒有在同一畫面上參照基于預備測定的色譜的機構，還存在 難以進行精密的設定的問題。專利文獻1日本特幵平08 —102282號公報發(fā)明內容本發(fā)明是為了解決上述問題而做成的，其目的在于提供能夠簡便、效 率良好地、而且正確地設定用于進行掃描/SIM同時測定的測定條件的色譜 儀質量分析裝置。為了解決上述問題而做成的本發(fā)明是一種色譜儀質量分析裝置，其是 將利用色譜儀在時間方向上分離的試料成分依次導入至質量分析部來執(zhí) 行質量分析的色譜儀質量分析裝置，其可以有選擇地執(zhí)行如下所述的測定，即在所述質量分析部反復進行在規(guī)定的質量數(shù)范圍內的連續(xù)的質量 掃描的掃描測定；對于特定的質量數(shù)，將一個質量數(shù)維持一定時間，同時 階段性地切換質量數(shù)的SIM測定；在掃描測定進行的質量掃描的中途執(zhí)行 SIM測定的掃描/SIM同時測定，所述色譜儀質量分析裝置的特征在于，具 備 — a) 顯示控制機構，其在顯示部的畫面上顯示預先制作的將化合物的種 類、該化合物的標準的保持時間及對該化合物賦予特征的質量數(shù)形成為一 覽表的化合物表格；b) 選擇機構，其用于使操作人從顯示的所述化合物表格中選擇欲執(zhí) 行掃描/SIM同時測定的化合物；c) 測定條件表格制作機構，其將測定條件表格如下作成對于由所述 選擇機構選擇的1至多個化合物的保持時間，在該保持時間的前后分別設 定規(guī)定的時間幅度并在該時間范圍內進行掃描/SIM同時測定，在該時間范 圍以外的時間范圍內執(zhí)行掃描測定或SIM測定。通常，欲進行掃描/SIM同時測定的時間范圍是在總離子色譜(卜一夕 /^T才y夕口7卜夕、、，厶)上出現(xiàn)欲進行定量的已知的化合物的波峰的范 圍。因此，在本發(fā)明的色譜儀質量分析裝置中，顯示控制機構在顯示部的 畫面上顯示預先制作的化合物表格，操作人利用選擇機構從其中選擇欲利 用掃描/SIM同時測定進行測定的化合物。這樣，測定條件表格制作機構在 選擇的化合物的保持時間的前后分別設定規(guī)定的時間幅度，由此確定包含 該化合物的波峰的掃描/SIM同時測定的時間范圍。在選擇了多個化合物的 情況下，對各化合物進行相同的處理，其結果，多個時間范圍重疊的情況 下，使該部分連續(xù)，擴大時間范圍即可。測定條件表格制作機構如上所述地自動地確定掃描/SIM同時測定對 象的時間范圍，在其以外的時間范圍，例如規(guī)定質量數(shù)范圍內進行掃描測 定的時間范圍，制作測定條件表格，例如，將其在顯示部的畫面上顯示。 但是，這樣自動制作的測定條件表格不限于一定按操作人的意圖，尤其在 多個化合物的保持時間在時間上靠近的情況下，有時也導致掃描/SIM同時 測定的時間范圍的邊界設定在不適當?shù)奈恢?。因此，如上所述地制作的測 定條件表格設為在之后操作人能夠適當修改為佳。另外，在選擇進行掃描/SIM同時測定的化合物，或如上所述地修改測 定條件表格時，若在同一畫面內描繪出色譜(總離子色譜)，則容易參照 其進行作業(yè)。因此，也可以在本發(fā)明的色譜儀質量分析裝置中，所述顯示 控制機構在顯示有所述化合物表格及所述測定條件表格的同一畫面內顯 示總離子色譜，該總離子色譜是對于標準試料或以該標準試料為標準的已
知試料，使用掃描測定法、SIM測定法、或掃描/SIM同時測定法的任一種 得到的。另外，所述顯示控制機構進行將描繪出的所述總離子色譜中出現(xiàn)的 1至多個波峰，進行與列舉記載于所述化合物表格中的化合物具有對應關 系的顯示也可。根據(jù)該結構可知，視覺上容易理解化合物表格中的各化合物和總離子 色譜上的各波峰的對應關系，另外，能夠容易確認接近來源于欲選擇的化 合物的波峰的波峰存在與否。由此，化合物的選擇作業(yè)變得容易，還能夠減輕錯誤。進而，所述顯示控制機構在制作所述測定條件表格時描繪出的所述總離子色譜上重疊顯示能夠識別掃描測定、SIM測定、及掃描/SIM同時測定 的時間范圍的顯示也可。根據(jù)該結構可知，操作人能夠視覺上及直觀上掌 握設定于測定條件表格的各測定的時間范圍，從而改進作業(yè)效果并且還能 夠減輕作業(yè)錯誤。進而，在如上所述地修改測定條件表格時，利用表格中的數(shù)值的鍵輸 入，能夠在總離子色譜上版面可視地進行修改的情況與消除 改寫的情況 相比，作業(yè)效率更好，錯誤也少。因此，能夠利用指示設備的指示，版面 可視地修改在所述總離子色譜上重疊顯示的掃描測定、SIM測定、及掃描 /SIM同時測定的時間范圍的構成也可。還有，作為所述選擇機構考慮各種選擇方法，但作為一個方式，通過 向所述化合物表格中的各化合物的每一個上設置的復選框輸入復選標記， 能夠選擇化合物。由此可知選擇容易，并且視覺上也容易分辨選擇結果。根據(jù)本發(fā)明的色譜儀質量分析裝置可知，通過大幅度減少在設定進行 掃描/SIM同時測定的測定條件時所需的輸入操作的工時，減輕操作人的負 荷，還能夠防止輸入錯誤的發(fā)生。另外，可視地顯示測定時間范圍的設定 或修改所需的信息，因此，操作人直觀地識別其，能夠簡單且正確地設定 測定時間范圍。由此，例如在色譜上兩個波峰相當靠近的情況下，能夠進 行避免測定時間范圍的邊界位于該兩者之間的情況等更高精度的掃描 /SIM同時測定。


圖1是本發(fā)明的一實施方式的GC/MS的整體結構圖。圖2是表示本實施例的GC/MS中掃描/SIM同時測定時間設定時使用的測定條件設定用畫面的一例的圖。圖3是表示圖2中執(zhí)行測定條件表格的自動制作后顯示的測定條件設定用畫面的一例的圖。圖4是表示預先設定的化合物表格的一例的圖。圖5是用于說明校正測定時間范圍的邊界時的步驟的圖。圖6是用于說明校正測定時間范圍的邊界時的步驟的圖。圖7是表示在以往的GC/MS中輸入設定測定條件表格的步驟的圖。
具體實施方式
以下，對作為本發(fā)明的一實施例的氣相色譜儀質量分析裝置(GC/MS) 進行說明。圖1是本實施例的GC/MS的整體結構圖。在氣相色譜儀部(GC) 10 中，在利用柱式加熱爐14加熱為適度的溫度的柱15的入口設置有試料氣 化室ll，規(guī)定量的運載氣體通過運載氣體流路13供給于該試料氣化室11， 并流入柱15中。若在該狀態(tài)下，利用微注射器12，向試料氣化室11內注 入少量的液體試料，則液體試料隨即氣化并隨著運載氣體流送至柱15內。 通過柱15的期間，運載氣體中的各成分按時間分離，到達其出口，在接 口部20通過由加熱器22加熱的試料導入管21，導入質量分析部(MS) 30的離子化室31中。在MS部30中，導入離子化室31的試料分子例如通過與熱電子的接 觸而被離子化。產生的離子引出至離子化室31的外側，被離子透鏡32聚 集，導入四條桿電極構成的四重極質量過濾器33的長軸方向的空間中。 從電源部36向四重極質量過濾器33施加重疊了直流電壓和高頻電壓的電 壓，僅使具有對應于該施加電壓的質量數(shù)的離子通過其長軸方向的空間， 到達離子檢測器34并被檢測。離子化室31、離子透鏡32、四重極質量過 濾器33及離子檢測器34配設于利用未圖示的真空泵真空吸引的真空容器 35內。
基于離子檢測器34的檢測信號通過A/D變換器40轉換為數(shù)字數(shù)據(jù)， 并被送至數(shù)據(jù)處理部44。數(shù)據(jù)處理部44通過進行規(guī)定的運算處理，制作 質譜、色譜、或總離子色譜，進而執(zhí)行定量分析或定性分析等。構成GC 部10、接口部20及MS部30的各部件的動作由分析控制部43統(tǒng)籌控制。 數(shù)據(jù)處理部44或分析控制部43的功能通過執(zhí)行搭載于個人計算機41的 專用控制/處理軟件來具體實現(xiàn)，含于個人計算機41的中央控制部42執(zhí)行 包含鍵盤或鼠標等指示設備的操作部45或顯示部46等的輸入輸出控制等 基本的控制。本發(fā)明中的顯示控制機構、及測定條件表格制作機構是通過 搭載于該個人計算機41的控制/處理軟件的執(zhí)行來更具體實現(xiàn)的功能，選 擇機構是通過該軟件的執(zhí)行和操作部45來實現(xiàn)的功能。然后，在該GC/MS中，對執(zhí)行未知試料的測定的情況下的特征動作 進行說明。首先，代替從GC部10的柱15析出的試料氣體，將由未圖示的標準 氣體供給部預先準備的標準試料氣體導入MS部30的離子化室31中，對 該標準試料執(zhí)行基于掃描測定法的質量分析。標準試料含有多個已知成分 的己知量。通過該質量分析，在數(shù)據(jù)處理部44中，制作出現(xiàn)有對應于已 知成分的波峰的總離子色譜，將其數(shù)據(jù)保存于未圖示的存儲部中。還有， 標準試料的測定不需要每次在未知試料的測定時進行，在過去已經(jīng)測定了 含有含于未知試料的定量對象的成分的標準試料的情況下，可以省略標準 試料的測定。另外，預先設定如圖4所示的化合物表格?；衔锉砀袷菍Χ鄠€化合 物清單列舉記載了其名稱(化合物名)和規(guī)定GC條件(例如，GC部IO 中的運載氣體流量、溫度分布圖等)下的保持時間、對該化合物賦予特征 的質量數(shù)等信息的表格。該化合物表格例如有時可以用手動輸入，也可以 基于如上所述的標準試料的測定結果自動制作。這樣的化合物表格也不需 要在每次測定未知試料時制作，只要是GC分析條件相同，就可以利用過 去制作的表格。若在測定未知試料之前，操作人在操作部45進行規(guī)定的操作，則接 受了該操作的分析控制部43中，起動向導，在顯示部46的畫面上顯示如 圖2所示的測定條件設定用畫面50。即，該測定條件設定用畫面50包括
利用標準試料的預備測定獲得的總離子色譜51、上述化合物表格52、測 定條件表格53。此時，總離子色譜51為了明確列舉記載于化合物表格52 的各化合物和波峰的對應關系，僅將列舉記載于化合物表格52的化合物 的化合物名顯示在對應的波峰附近，不顯示表格52中沒有記載的化合物 名?；蛘?，也可以將記載于化合物表格52的化合物的化合物名用矩形狀 框圈起來進行顯示等，將沒有記載于化合物表格52的化合物顯示為沒有 矩形狀的框。另外，在此作為初始的測定條件表格53，顯示僅記載結束時 間的表格，但這表示在規(guī)定的質量數(shù)范圍內執(zhí)行掃描測定直至該結束時間 為止。但是，該初始狀態(tài)的測定條件表格53也可以以規(guī)定的質量數(shù)進行 SIM測定。操作人利用總離子色譜51確認波峰的位置，同時，選定欲進行掃描 /SIM同時測定的化合物，向化合物表格52的最右欄的復選框521輸入復 選標記。在此，對成分B及成分C兩個化合物進行掃描/SIM同時測定。 還有，在輸入復選標記后，用鼠標等指示設備點擊操作"自動制作"按鈕 54。這樣，經(jīng)由中央控制部42結束該操作的分析控制部43提取選擇的成 分的保持時間，將對該保持時間前后確保規(guī)定的時間幅度的測定時間范圍 確定為掃描/SIM同時測定的時間范圍。上述時間幅度可以預先由操作人確 定，例如，±0.5分鐘、士1分鐘即可，也可以將前方的時間幅度和后方的 時間幅度設定為其他值。例如，在時間幅度為土0.5分鐘的情況下，成分B的保持時間為12分 鐘，因此在其前后各設定0.5分鐘的時間幅度，將12.5分鐘 13.5分鐘作 為掃描/SIM同時測定的時間范圍。另外，對于成分C，同樣對于保持時間 18分鐘，將17.5 18.5分鐘作為掃描/SIM同時測定的時間范圍。另外， 各掃描/SIM同時測定的時間范圍中的測定質量數(shù)作為記載于化合物表格 的質量數(shù)。從而，關于成分B，測定質量數(shù)為100、 200、 300、 400，關于 成分C，測定質量數(shù)為150、 160?；诖?，自動制作測定條件表格。還有， 如圖3所示地更新測定條件設定用畫面50。即，顯示考慮了掃描/SIM同 時測定的測定條件表格53，并且，在總離子色譜51上重疊與測定條件表 格53的各行對應的時間范圍的顯示。在圖3的測定條件表格53中，對于 設定有質量數(shù)的行，將之前的行的結束時間作為開始時間，將對于記載的
質量數(shù)的SIM測定與掃描測定同時執(zhí)行。從而，根據(jù)圖3所示的測定條件表格53可知，在標準試料的預備測 定數(shù)據(jù)的測定開始時點作為起點到經(jīng)過時間11.5分鐘為止的期間，利用掃 描測定，在規(guī)定質量數(shù)范圍內進行測定(測定條件表格53的第一行)，在 接下來的11.5分鐘到12.5分鐘的期間，利用掃描測定在規(guī)定質量數(shù)范圍 內進行測定，同時利用SIM測定對于質量數(shù)100、 200、 300、 400的四個 質量數(shù)迸行測定(測定條件表格53的第二行)，在接下來的12.5分鐘到 17.5分鐘的期間，利用掃描測定在規(guī)定的質量數(shù)范圍內進行測定(測定條 件表格53的第三行)，在接下來的17.5分鐘到18.5分鐘的期間，利用掃 描測定在規(guī)定的質量數(shù)范圍內進出測定，同時利用SIM測定對于質量數(shù) 150、 160的兩個質量數(shù)進行測定(測定條件表格53的第四行)，進而在 18.5分鐘到22分鐘的期間，利用掃描測定在規(guī)定的質量數(shù)范圍內進行測 定(測定條件表格53的第五行)。如上所述，能夠在不進行繁雜的輸入操作的情況下制作測定條件表 格。但是，如上所述地自動制作的測定條件表格不限于一定直接利用。例 如，在圖3的例子中，在總離子色譜上非?？拷膩碓从诔煞諦的波峰、 和來源于剛好之后的成分E (圖3中沒有記載化合物名)的波峰之間設定 有測定時間范圍的邊界，在測定含有成分B的未知試料時，成分B的保持 時間偏離的情況下，成分B的波峰與測定時間范圍的邊界重疊，從而有可 能導致偏析。在那種情況下，不能正確進行成分B的波峰檢測及波峰面積 的算出，有時對定量解析帶來故障。因此，在需要對如上所述地自動制作 的測定條件表格進行修改、變更的情況下，可以如下所述地簡單地修改測 定時間范圍。在修改測定時間范圍時，首先，用指示設備點擊操作測定條件表格53 中欲變更測定時間范圍的行。當期，例如，點擊操作測定條件表格53的 第二行。這樣，在總離子色譜51中指定的行的結束時間的位置顯示標記 M(參照圖3、圖5)。若將該M用指示設備指定，并將其移動至適當?shù)奈?置解除指定，則測定時間范圍變寬或變窄對應于標記M移動的位置的時 間為止。當期，如圖5所示，若欲將標記M從12.5分鐘的位置移動至13.5 分鐘的位置，則伴隨于此，指示測定時間范圍的箭頭的長度也變化。另外，
如圖6所示，測定條件表格53中的參數(shù)(第二行的結束時間)也相應地 從12.5分鐘一>13.5分鐘變化。這樣，測定時間范圍的修改、變更也可以 在對輸入不進行鍵輸入的情況下，利用基于指示設備的操作，可視且直觀 地進行。若在操作人如上所述地將測定條件表格53適當?shù)刈兏?、修改后，點 擊操作"設定結束"按鈕55，則確定測定條件表格53的設定，按照其內 容自動制作用于執(zhí)行測定的測定條件分布圖，進行實際的未知試料的測定 的準備。如上所述，根據(jù)本實施例的GC/MS可知，能夠非常簡便地進行執(zhí)行 掃描測定、SIM測定、掃描/SIM同時測定的任一種的測定時間范圍的輸入 設定，減輕操作人的負擔，還能夠減少輸入錯誤。還有，上述實施例均為一例，可以在本發(fā)明的宗旨的范圍內進行適當 變形或修改、追加是顯而易見的。
權利要求
1. 一種色譜儀質量分析裝置，其是將利用色譜儀在時間方向上分離的試料成分依次導入至質量分析部來執(zhí)行質量分析的色譜儀質量分析裝置，其可以有選擇地執(zhí)行如下所述的測定，即在所述質量分析部反復進行在規(guī)定的質量數(shù)范圍內的連續(xù)的質量掃描的掃描測定；對于特定的質量數(shù)，將一個質量數(shù)維持一定時間，同時階段性地切換質量數(shù)的SIM測定；在掃描測定進行的質量掃描的中途執(zhí)行SIM測定的掃描/SIM同時測定，所述色譜儀質量分析裝置的特征在于，具備a)顯示控制機構，其在顯示部的畫面上顯示預先制作的將化合物的種類、該化合物的標準的保持時間及對該化合物賦予特征的質量數(shù)形成為一覽表的化合物表格；b)選擇機構，其用于使操作人從顯示的所述化合物表格中選擇欲執(zhí)行掃描/SIM同時測定的化合物；c)測定條件表格制作機構，其將測定條件表格如下作成對于由所述選擇機構選擇的1至多個化合物的保持時間，在該保持時間的前后分別設定規(guī)定的時間幅度并在該時間范圍內進行掃描/SIM同時測定，在該時間范圍以外的時間范圍內執(zhí)行掃描測定或SIM測定。
2. 根據(jù)權利要求l所述的色譜儀質量分析裝置，其特征在于， 所述顯示控制機構在顯示有所述化合物表格及所述測定條件表格的同一畫面內顯示總離子色譜，該總離子色譜是對于標準試料或以該標準試 料為標準的己知試料，使用掃描測定法、SIM測定法或掃描/SIM同時測定 法的任一種而得到的。
3. 根據(jù)權利要求2所述的色譜儀質量分析裝置，其特征在于， 所述顯示控制機構進行對于所描繪出的所述總離子色譜中出現(xiàn)的1至多個波峰，進行與列舉記載于所述化合物表格中的化合物具有對應關系 的顯示。
4. 根據(jù)權利要求2或3所述的色譜儀質量分析裝置，其特征在于， 所述顯示控制機構在制作所述測定條件表格時描繪出的所述總離子色譜上重疊顯示能夠識別掃描測定、SIM測定及掃描/SIM同時測定的時間 范圍的顯示。
5. 根據(jù)權利要求4所述的色譜儀質量分析裝置，其特征在于， 能夠通過指示設備的指示，版面可視地修改在所述總離子色譜上重疊顯示的掃描測定、SIM測定及掃描/SIM同時測定的時間范圍。
6. 根據(jù)權利要求1所述的色譜儀質量分析裝置，其特征在于， 所述選擇機構通過向對所述化合物表格中的各化合物的每一個設置的復選框輸入復選標記而選擇化合物。
全文摘要
一種色譜儀質量分析裝置，適當設定測定時間范圍，能夠選擇掃描測定、選擇離子監(jiān)測(SIM)測定或掃描/SIM同時測定的任一種，在進行測定條件表格的輸入設定時，在顯示部的畫面上顯示通過掃描測定標準試料得到的總離子色譜(51)、和預先制作的化合物表格(52)。操作人選定作為掃描/SIM測定的對象的化合物，向化合物表格(52)中的復選框輸入標記，點擊操作“自動制作”按鈕(54)。這樣，確定在選擇的化合物的保持時間的前后帶有規(guī)定的時間幅度的測定時間范圍，自動制作在該范圍內執(zhí)行將對化合物賦予特征的質量數(shù)作為測定質量數(shù)的掃描/SIM同時測定的測定條件表格(53)而顯示。
文檔編號G01N27/62GK101400995SQ20068005373
公開日2009年4月1日 申請日期2006年3月7日 優(yōu)先權日2006年3月7日
發(fā)明者住吉崇史 申請人:株式會社島津制作所