專利名稱：溫度測試治具的制作方法
溫度測試治具
技術領域：
本發(fā)明提供一種溫度測試治具，特別是一種便于安裝的溫度測試治具。背景技術：
在已有技術中，當需要用溫度測量探頭(如電熱偶)對被測物的多個被測點做 測量時，通常是把探頭直接粘接或用膠帶把探頭壓緊在被測點上，為了提高探頭 和被測點的接解可靠性，還需要在兩者之間涂上導熱脂；如果被測物需要額外加 熱， 一個加熱塊需要用一個單獨的夾具。若被測物中被測點個數繁多，被測物更 換頻繁，或者加熱塊個數較多，這將給作業(yè)帶來如下困難-
1、 粘接探頭效率低，需要耗費大量時間；探頭拆裝頻繁，非常容易損壞，同時需 要操作熟練的人員才能勝任；
2、 涂導熱脂耗時，污染被測物；
3、 需要較多的夾持加熱塊的夾具，否則只有逐個加熱分區(qū)域測量。
發(fā)明內容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種可提高測試效率的溫度測試治具。 為達到以上目的，本發(fā)明提供一種溫度測試治具，其適用于固定若干探頭， 以測試一被測物上若千被測點處的溫度r該溫度測試治具包括一基板，該基板上 設有若干穿孔；這些穿孔內分別穿設有若干支座，且這些支座分別包括一套軸， 這些套軸的端部分別設有一限位部，這些限位部的頂部分別固定一探頭；這些套
軸外分別套設有一彈性元件，且這些彈性元件的一端分別抵持于限位部內側，而 這些彈性元件的另一端分別抵持于基板表面。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種可夾持加熱塊的溫度測試治具。可于上述溫 度測試治具的基板上開設若干加熱槽，并在需加熱的情形下，在這些加熱槽內分 別收容一加熱塊；而在不需加熱的情形下，將加熱槽空置。
相較于現有技術，本發(fā)明溫度測試治具通過多個支座將多個探頭加以固定， 測試時，將被測物在重力或下壓力的作用下壓靠于溫度測試治具上方，并使各個 探頭正對著各個被測點的位置，即可實現探頭與被測點之間的彈性接觸，以省去 手動粘接探頭的程序，提高了測試效率。另外，本發(fā)明溫度測試治具不需要用導 熱指，避免被測物的污染。又，本發(fā)明溫度測試治具可用于安放加熱塊，從而省 去用于固定加熱塊的夾具。

圖1是本發(fā)明溫度測試治具第一種實施例的立體分解圖。 圖2是本發(fā)明溫度測試治具第一種實施例的立體組合圖。
圖3是本發(fā)明溫度測試治具第一種實施例的使用狀態(tài)圖。 圖4是本發(fā)明溫度測試治具第二種實施例的立體分解圖。 圖5是本發(fā)明溫度測試治具第二種實施例的立體組合圖。
具體實施方式
請參閱圖l、圖2及圖3所示，本發(fā)明溫度測試治具適用于固定若干探頭10， 以測試一被測物90上若干被測點處的溫度；該溫度測試治具包括一基板20，該基 板20上設有若干穿孔201，各穿孔201的位置與被測點的位置相對應，于本實施 例中，穿孔201的形狀為圓形；另，該基板20上還可設有若干加熱槽202(加熱槽 202的數量可根據實際需要進行設置，加熱槽202的數量可為0、 1、 2……)。且 于這些穿孔201內分別穿設有若干支座30,且這些支座30分別包括一套軸31， 這些套軸31可于穿孔201內上下移動，且這些套軸31的端部分別設有一限位部 32，這些限位部32的頂部分別固定--探頭10;這些套軸31外分別套設有一彈性 元件40，且這些彈性元件40的一端分別抵持于限位部32內側，而這些彈性元件 40的另一端分別抵持于基板20表面。此外，基板20上分設有若干定位裝置50， 于本實施例中，定位裝置50可為定位柱，這些定位柱由基板20表面垂直向上延 伸。另，加熱槽202內收容有加熱塊60。
測試時，將定位裝置50定位于被測物90內，且被測物90在重力或下壓力的 作用下壓靠于溫度測試治具上方，并使各個探頭10正對著各個被測點的位置，即 可實現探頭10與被測點之間的彈性接觸。另，當被測物90需加熱時，可于基板 20的加熱槽202內安放加熱塊60，對需加熱的部位實施加熱處理。
請參閱圖4及圖5所示，本發(fā)明溫度測試治具包括一基板20，該基板20上設 有若干盲孔203，各盲孔203的位置與被測點的位置相對應，于本實施例中，盲孔 203的形狀為圓形；另，該基板20上還可設有若干加熱槽202(加熱槽202的數量 可根據實際需要進行設置，加熱槽202的數量可為0、 1、 2……)。叵于這些盲孔 203內分別收容一彈性元件40，彈性元件40的高度小于盲孔203的深度，且這些 彈性元件40的上方分別頂持一支座30，其中，支座30的末端穿入至盲孔203內， 且這些支座30的頂部分別固定一探頭10。此外，基板20上分設有若干定位裝置 50，于本實施例中，定位裝置50可為定位柱，這些定位柱由基板20表面垂直向 上延伸。另，加熱槽202內收容有加熱塊60。
權利要求
1.一種溫度測試治具，適用于固定若干探頭，以測試一被測物上若干被測點處的溫度；其特征在于包括一基板，其上設有若干穿孔；若干支座，分別包括一套軸，這些套軸分別穿設于穿孔內，且這些套軸的端部分別設有一限位部，這些限位部的頂部分別固定一探頭；若干彈性元件，分別套設于套軸外，且這些彈性元件的一端分別抵持于限位部內側，而這些彈性元件的另一端分別抵持于基板表面。
2. 根據權利要求1所述的溫度測試治具，其特征在于穿孔的形狀為圓形。
3. 根據權利要求1所述的溫度測試治具，其特征在于基板上分設有若干定 位裝置。
4. 根據權利要求3所述的溫度測試治具，其特征在于定位裝置為定位柱， 這些定位柱由基板表面垂直向上延伸。
5. 根據權利要求1所述的溫度測試治具，其特征在于基板上分設有若干加 熱槽，加熱槽內收容有加熱塊。
6. —種溫度測試治具，適用于固定若干探頭，以測試一被測物上若干被測點 處的溫度；其特征在于包括-一基板，其上設有若干盲孔； 若干彈性元件，分別收容于盲孔內'；若干支座，分別頂持于彈性元件上方，且其末端穿入至盲孔內，且這些支座的頂 部分別固定一探頭。
7. 根據權利要求6所述的溫度測試治具，其特征在于:肓孔的形狀為圓形。
8. 根據權利要求6所述的溫度測試治具，其特征在于基板上分設有若干定 位裝置。
9. 根據權利要求8所述的溫度測試治具，其特征在于定位裝置為定位柱， 這些定位柱由基板表面垂直向上延伸。
10. 根據權利要求6所述的溫度測試治具，其特征在于基板上分設有若干加 熱槽，加熱槽內收容有加熱塊。
全文摘要
本發(fā)明提供一種溫度測試治具，其適用于固定若干探頭，以測試一被測物上若干被測點處的溫度；該溫度測試治具包括一基板，該基板上設有若干穿孔；這些穿孔內分別穿設有若干支座，且這些支座分別包括一套軸，這些套軸的端部分別設有一限位部，這些限位部的頂部分別固定一探頭；這些套軸外分別套設有一彈性元件，且這些彈性元件的一端分別抵持于限位部內側，而這些彈性元件的另一端分別抵持于基板表面。溫度測試治具通過多個支座將多個探頭加以固定，測試時，將被測物在重力或下壓力的作用下壓靠于溫度測試治具上方，并使各個探頭正對著各個被測點的位置，即可實現探頭與被測點之間的彈性接觸，以省去手動粘接探頭的程序，提高了測試效率。
文檔編號G01K1/14GK101349594SQ200710024960
公開日2009年1月21日 申請日期2007年7月16日 優(yōu)先權日2007年7月16日
發(fā)明者江大陽 申請人:漢達精密電子(昆山)有限公司