專利名稱：雙電源切換裝置檢測補償?shù)姆椒ê脱b置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬低壓電器領(lǐng)域，涉及雙電源切換裝置，特別是涉及一種使用線性光電耦合器的電壓檢測電路的雙電源切換裝置。
背景技術(shù)：
為了提高供電電網(wǎng)的用電質(zhì)量，當(dāng)供電電源發(fā)生故障時，雙電源切換裝置可以將另一路備用電源切換到供電回路，以保證用電電器的正常工作。一般雙電源切換裝置，由兩臺斷路器、電動及手動操作機構(gòu)、位置檢測主令開關(guān)、控制器組成。雙電源切換裝置由兩臺斷路器來分別接通和斷開各自連接的電源、電動或手動操作機構(gòu)用來操作所述斷路器的機械動作、位置檢測主令開關(guān)檢測斷路器的位置來為控制器提供位置信號、控制器對操作機構(gòu)的電機發(fā)出工作指令。而這一切都是在電壓檢測電路提供的供電電源的電壓參數(shù)，當(dāng)供電電源發(fā)生故障時電壓參數(shù)隨之改變，雙電源切換裝置動作。
雙電源切換裝置傳統(tǒng)的電壓檢測電路一般使用變壓器原理的電壓互感器，電流大、溫升高、特別是它的隔離電容很大干擾很容易進入控制器的微電子電路，給使用微處理器的控制器帶來了災(zāi)難性的后果。因此使用線性光電耦合器就成了一個很好的選擇，但是隨之而來的問題是線性光電耦合器的溫度補償是一個難題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的技術(shù)問題在于提出一種使用線性光電耦合器的電壓檢測電路的雙電源切換裝置的使用線性光電耦合器的電壓檢測電路的補償方法和裝置，來解決線性光電耦合器的溫度補償問題，提高檢測精度和工作穩(wěn)定性。
本發(fā)明的技術(shù)方案是在所述的使用線性光電耦合器的電壓檢測電路，還包括一個校正用的線性光電耦合器，兩者具有相同的工作電流，用比較法來抵消溫升的漂移。所述的使用線性光電耦合器的電壓檢測電路合校正用的線性光電耦合器是這樣組成的檢測電壓的線性光電耦合器的輸入端具有一個按常規(guī)設(shè)計的與發(fā)光管串接限流電阻，而它的輸出端也皆有一個串接的限流電阻，限流電阻的上端連接于控制器的直流電源，線性光電耦合器的輸出端還連接到微處理器的A/D1口用來讀出檢測電壓。校正用的線性光電耦合器與檢測電壓的線性光電耦合器同樣有分別串接于輸入輸出端的限流電阻，所不同的是輸入端的限流電阻的上端連接于微處理器的D/A口，輸出端的連接方法與檢測電壓的線性光電耦合器相同，只是連接線性光電耦合器的輸出端連接到微處理器的A/D2口用來讀出比較電壓。
補償?shù)姆椒ㄊ堑谝徊轿⑻幚砥髯x出A/D1的數(shù)字。
第二步是從D/A口輸出電壓并且從A/D2讀入數(shù)字，并且不斷調(diào)節(jié)D/A口的輸出，使兩個AD口的讀數(shù)一致。
第三步是用D/A口輸出數(shù)字和A/D2讀入數(shù)字之差來換算出A/D2口的限流電阻的電流，該電流等同于校正用的線性光電耦合器的發(fā)光管中的電流，也近似等同于檢測用的線性光電耦合器的發(fā)光管中的電流，當(dāng)這一對線性光電耦合器為同一型號時兩者發(fā)光管中的電流相等。同樣認為此時與檢測用的線性光電耦合器的發(fā)光管串接限流電阻中的電流也相等，從而可換算出該限流電阻上的電壓，加上A/D2口的讀出電壓就是檢測電壓。在此換算過程中溫漂被消除。同理檢測三相電壓用同樣方法完成。其間的參數(shù)差異在調(diào)試時按常規(guī)設(shè)計用軟件補償。
這樣實現(xiàn)的檢測，完成了發(fā)明目的，基本解決了本發(fā)明的技術(shù)問題。
按照本發(fā)明一個實施例本發(fā)明的技術(shù)方案可改進為所述的檢測用的線性光電耦合器和用的線性光電耦合器為同一芯片，可以取得最接近的幾乎一致的電參數(shù)。從而進一步提高了檢測精度。
按照本發(fā)明一個實施例，本發(fā)明的技術(shù)方案可進一步改進為所述的分別檢測三相用的三個線性光電耦合器和用的線性光電耦合器為同一芯片，可以取得最接近的幾乎一致的電參數(shù)，從而進一步提高了檢測精度。
按照本發(fā)明一個實施例，本發(fā)明的技術(shù)方案可進一步改進為所述的分別檢測三相用的三個線性光電耦合器和用的線性光電耦合器為同一芯片。所述的芯片具有一個機械散熱外殼，來保障四個線性光電耦合器的溫升完全一致，完全一致的電參數(shù)，從而進一步提高了檢測精度。
本發(fā)明的有益效果是采用了本發(fā)明的光電方案的這種結(jié)構(gòu)的使得看來與溫度補償硬件電路完全無關(guān)的電路，得到了理想的補償效果因此本發(fā)明達到了專利法所稱的具有突出的實質(zhì)性特點和顯著的進步，并且具有意想不到的效果。


圖在圖中光耦1即所述的使用線性光電耦合器的電壓檢測電路，光耦2為校正用的線性光電耦合器，兩者具有相同的工作電流，檢測電壓的線性光電耦合器的輸入端具有一個按常規(guī)設(shè)計的與發(fā)光管串接限流電阻R1，而它的輸出端也皆有一個串接的限流電阻R2，限流電阻的上端連接于控制器的直流電源VDD，線性光電耦合器的輸出端還連接到微處理器的A/D1口用來讀出檢測電壓。校正用的線性光電耦合器與檢測電壓的線性光電耦合器同樣有分別串接于輸入輸出端的限流電阻R3和R4，所不同的是輸入端的限流電阻R3的上端連接于微處理器的D/A口，輸出端的連接方法與檢測電壓的線性光電耦合器相同，只是連接線性光電耦合器的輸出端連接到微處理器的A/D2口用來讀出比較電壓。微處理器MCU的其它外圍電路及其他端口均按常規(guī)設(shè)計并在圖中略去。
具體實施例方式
下面結(jié)合實施例來進一步說明本發(fā)明的技術(shù)方案和優(yōu)點。
實施例1為典型實施例，結(jié)合

，在所述的使用線性光電耦合器的電壓檢測電路，還包括一個校正用的線性光電耦合器，兩者具有相同的工作電流，用比較法來抵消溫升的漂移。所述的使用線性光電耦合器的電壓檢測電路合校正用的線性光電耦合器是這樣組成的檢測電壓的線性光電耦合器的輸入端具有一個按常規(guī)設(shè)計的與發(fā)光管串接限流電阻，而它的輸出端也皆有一個串接的限流電阻，限流電阻的上端連接于控制器的直流電源，線性光電耦合器的輸出端還連接到微處理器的A/D1口用來讀出檢測電壓。校正用的線性光電耦合器與檢測電壓的線性光電耦合器同樣有分別串接于輸入輸出端的限流電阻，所不同的是輸入端的限流電阻的上端連接于微處理器的D/A口，輸出端的連接方法與檢測電壓的線性光電耦合器相同，只是連接線性光電耦合器的輸出端連接到微處理器的A/D2口用來讀出比較電壓。
補償?shù)姆椒ㄊ堑谝徊轿⑻幚砥髯x出A/D1的數(shù)字。
第二步是從D/A口輸出電壓并且從A/D2讀入數(shù)字，并且不斷調(diào)節(jié)D/A口的輸出，使兩個AD口的讀數(shù)一致。
第三步是用D/A口輸出數(shù)字和A/D2讀入數(shù)字之差來換算出A/D2口的限流電阻的電流，該電流等同于校正用的線性光電耦合器的發(fā)光管中的電流，也近似等同于檢測用的線性光電耦合器的發(fā)光管中的電流，當(dāng)這一對線性光電耦合器為同一型號時兩者發(fā)光管中的電流相等。同樣認為此時與檢測用的線性光電耦合器的發(fā)光管串接限流電阻中的電流也相等，從而可換算出該限流電阻上的電壓，加上A/D2口的讀出電壓就是檢測電壓。在此換算過程中溫漂被消除。同理檢測三相電壓用同樣方法完成。其間的參數(shù)差異在調(diào)試時按常規(guī)設(shè)計用軟件補償。
這樣實現(xiàn)的檢測，完成了發(fā)明目的，基本解決了本發(fā)明的技術(shù)問題。
實施例2本發(fā)明的技術(shù)方案改進為所述的檢測用的線性光電耦合器和用的線性光電耦合器為同一芯片，可以取得最接近的幾乎一致的電參數(shù)。從而進一步提高了檢測精度。
實施例3本發(fā)明的技術(shù)方案進一步改進為所述的分別檢測三相用的三個線性光電耦合器和用的線性光電耦合器為同一芯片，可以取得最接近的幾乎一致的電參數(shù)，從而進一步提高了檢測精度。
實施例4本發(fā)明的技術(shù)方案進一步改進為所述的分別檢測三相用的三個線性光電耦合器和用的線性光電耦合器為同一芯片。所述的芯片具有一個機械散熱外殼，來保障四個線性光電耦合器的溫升完全一致，完全一致的電參數(shù)，從而進一步提高了檢測精度。
上述實施例是提供給熟悉本領(lǐng)域內(nèi)的人員來實現(xiàn)或使用本發(fā)明的，熟悉本領(lǐng)域的人員可在不脫離本發(fā)明的發(fā)明思想的情況下，對上述實施例做出種種修改或變化，因而本發(fā)明的保護范圍并不被上述實施例所限，而應(yīng)該是符合權(quán)利要求書提到的創(chuàng)新性特征的最大范圍。
權(quán)利要求
1.一種雙電源切換裝置，由兩臺斷路器、電動及手動操作機構(gòu)、位置檢測主令開關(guān)、控制器組成，還包括使用線性光電耦合器的電壓檢測電路，其特征在于所述的使用線性光電耦合器的電壓檢測電路，還包括一個校正用的線性光電耦合器，兩者具有相同的工作電流。所述的使用線性光電耦合器的電壓檢測電路合校正用的線性光電耦合器是這樣組成的檢測電壓的線性光電耦合器的輸入端具有一個按常規(guī)設(shè)計的與發(fā)光管串接限流電阻，而它的輸出端也皆有一個串接的限流電阻，限流電阻的上端連接于控制器的直流電源，線性光電耦合器的輸出端還連接到微處理器的A/D1口用來讀出檢測電壓。校正用的線性光電耦合器與檢測電壓的線性光電耦合器同樣有分別串接于輸入輸出端的限流電阻，所不同的是輸入端的限流電阻的上端連接于微處理器的D/A口，輸出端的連接方法與檢測電壓的線性光電耦合器相同，只是連接線性光電耦合器的輸出端連接到微處理器的A/D2口用來讀出比較電壓。
2.使用權(quán)利要求1所述的檢測補償電路，其補償方法包括以下步驟。用比較法來抵消溫升的漂移。補償?shù)姆椒ㄊ堑谝徊轿⑻幚砥髯x出A/D1的數(shù)字。第二步是從D/A口輸出電壓并且從A/D2讀入數(shù)字，并且不斷調(diào)節(jié)D/A口的輸出，使兩個AD口的讀數(shù)一致。第三步是用D/A口輸出數(shù)字和A/D2讀入數(shù)字之差來換算出A/D2口的限流電阻的電流，該電流等同于校正用的線性光電耦合器的發(fā)光管中的電流，也近似等同于檢測用的線性光電耦合器的發(fā)光管中的電流，當(dāng)這一對線性光電耦合器為同一型號時兩者發(fā)光管中的電流相等。同樣認為此時與檢測用的線性光電耦合器的發(fā)光管串接限流電阻中的電流也相等，從而可換算出該限流電阻上的電壓，加上A/D2口的讀出電壓就是檢測電壓。在此換算過程中溫漂被消除。第四步是檢測三相電壓用同樣方法完成。其間的參數(shù)差異在調(diào)試時按常規(guī)設(shè)計用軟件補償。
3.權(quán)利要求1所述的雙電源切換裝置，其特征在于在訴述所述的檢測用的線性光電耦合器和用的線性光電耦合器為同一芯片。
4.權(quán)利要求1所述的雙電源切換裝置，其特征在于在訴述的分別檢測三相用的三個線性光電耦合器和用的線性光電耦合器為同一芯片
5.權(quán)利要求3或4所述的雙電源切換裝置，其特征在于所述的芯片具有一個機械散熱外殼。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種雙電源切換裝置檢測補償?shù)姆椒ê脱b置。本發(fā)明的技術(shù)方案是一種雙電源切換裝置，由兩臺斷路器、電動及手動操作機構(gòu)、位置檢測主令開關(guān)、控制器組成，還包括使用線性光電耦合器的電壓檢測電路，其特征在于所述的使用線性光電耦合器的電壓檢測電路，還包括一個校正用的線性光電耦合器，兩者具有相同的工作電流。用比較法來抵消溫升的漂移。
文檔編號G01R19/32GK101038308SQ20071003949
公開日2007年9月19日 申請日期2007年4月16日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月16日
發(fā)明者潘貽豐, 潘貽春, 許世聰, 洪振海 申請人:上海萬松電氣設(shè)備有限公司