專利名稱：測試系統(tǒng)、附加裝置以及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)、附加裝置以及測試方法，特別是涉及一種根據(jù)經(jīng)過邏輯模擬而最終獲得的事件數(shù)據(jù)來對被測試裝置進(jìn)行測試的測試系統(tǒng)、附加裝置以及測試方法。
背景技術(shù)：
先前以來，已知有一種事件驅(qū)動(event driven)型測試裝置(例如，參照日本專利特開2001-67395號公報)。事件驅(qū)動型測試裝置，是根據(jù)含有多個由被測試裝置(DUT，Device Under Test)的輸入信號的變化定時及變化后的信號值所構(gòu)成的組的事件數(shù)據(jù)，生成測試信號，從而對被測試裝置(DUT)進(jìn)行測試。事件數(shù)據(jù)可以通過由邏輯模擬器(例如，參照日本專利特開平8-278988號公報)對DUT的設(shè)計數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯模擬而獲得。使用事件驅(qū)動型測試裝置，可無須直接制作測試圖案，因此可以減輕測試圖案的制作勞力。
然而，先前的事件驅(qū)動型測試裝置中，將DUT的輸出信號轉(zhuǎn)換成事件數(shù)據(jù)后與成為期待值的事件進(jìn)行對照，因此轉(zhuǎn)換及對照處理需要耗費(fèi)固定的時間。因此，如果要實現(xiàn)高速測試裝置，則會導(dǎo)致高價。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種能夠解決上述課題的測試系統(tǒng)、附加裝置以及測試方法。此目的可以通過權(quán)利要求書中獨(dú)立項所述的特征的組合來實現(xiàn)。而且，附屬項規(guī)定了本發(fā)明的更有利的具體例。
為了解決上述課題，在本發(fā)明第1形態(tài)中，提供一種測試系統(tǒng)，用來對被測試裝置進(jìn)行測試，此測試系統(tǒng)具備事件數(shù)據(jù)獲取部，獲取事件數(shù)據(jù)，該事件數(shù)據(jù)是對被測試裝置進(jìn)行邏輯模擬而獲得的，且含有多個由輸入到被測試裝置的裝置輸入信號及被測試裝置所輸出的裝置輸出信號各自的變化定時、以及變化后的信號值所構(gòu)成的組；信號生成部，根據(jù)事件數(shù)據(jù)中所包含的、含有裝置輸入信號的變化定時及變化后的信號值的輸入事件，生成提供給被測試裝置的裝置輸入信號；信號提供部，將所生成的裝置輸入信號提供給被測試裝置；信號輸入部，輸入被測試裝置對應(yīng)于裝置輸入信號而輸出的裝置輸出信號；變化檢測部，檢測所輸入的裝置輸出信號是否有變化；變化定時檢測部，檢測裝置輸出信號的變化定時；存儲部，對應(yīng)于裝置輸出信號變化的情況，將裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值作為輸出事件依次進(jìn)行存儲；讀出部，依次從存儲部中讀出輸出事件；以及良否判定部，將對被測試裝置進(jìn)行邏輯模擬而獲得的、包含被測試裝置應(yīng)輸出的裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的事件作為期待值事件，并與所讀出的輸出事件進(jìn)行對照，以此來判定裝置輸出信號是否與期待值一致。
存儲部可具有緩沖存儲部，可由寄存器或存儲器來實現(xiàn)，且依次對輸出事件進(jìn)行緩沖；以及文件存儲部，從緩沖存儲部中依次調(diào)出輸出事件，并作為文件進(jìn)行存儲。讀出部，在信號提供部完成基于事件數(shù)據(jù)而進(jìn)行的裝置輸入信號的提供之后，開始從存儲部讀出輸出事件。
測試系統(tǒng)更具備轉(zhuǎn)換部，輸入被測試裝置所輸出的裝置輸出信號，并將該裝置輸出信號轉(zhuǎn)換成包含該裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的輸出事件；以及選擇部，輸出經(jīng)轉(zhuǎn)換部轉(zhuǎn)換的輸出事件、或者由讀出部所讀出的輸出事件中預(yù)先指定的輸出事件。當(dāng)裝置輸出信號變化的間隔小于轉(zhuǎn)換部及良否判定部可處理的間隔時，選擇部選擇由讀出部所讀出的輸出事件而輸出。
測試系統(tǒng)更包括匹配判定部，該匹配判定部判定裝置輸出信號是否為預(yù)定的觸發(fā)信號值，并且存儲部對應(yīng)于裝置輸出信號與觸發(fā)信號值一致情況，開始存儲輸出事件。測試系統(tǒng)更包括計數(shù)器，針對每個預(yù)定的參考時鐘進(jìn)行增量；測量部，測量出裝置輸出信號的變化定時相對于參考時鐘邊緣的偏移量；以及變化定時輸出部，將裝置輸出信號變化的定時中的、計數(shù)器的值與由測量部所測量出的偏移量的組，作為變化定時而輸出。
裝置輸出信號是由多個比特構(gòu)成的信號，且測試系統(tǒng)更包括多個探針，與被測試裝置中輸出裝置輸出信號的多個端子相接觸；以及誤差測量部，測量出從被測試裝置向多個探針輸出信號后開始，直到變化檢測部檢測出相對應(yīng)的比特的變化為止的時間的每一比特的誤差；并且，變化定時輸出部，在與各個比特相對應(yīng)的計數(shù)器的值以及測量部所測量出的偏移量上，加上用來修正誤差測量部所測量出的誤差的修正值。
為了解決上述課題，在本發(fā)明的第2形態(tài)中，提供一種測試系統(tǒng)，用來對被測試裝置進(jìn)行測試，此測試系統(tǒng)具備測試裝置，利用事件庫對被測試裝置進(jìn)行測試；以及附加裝置，當(dāng)被測試裝置輸出的裝置輸出信號變化的間隔小于測試裝置可處理的間隔時，附加在被測試裝置與測試裝置之間；并且，測試裝置具備事件數(shù)據(jù)獲取部，獲取事件數(shù)據(jù)，該事件數(shù)據(jù)含有多個由輸入到被測試裝置的裝置輸入信號及被測試裝置所輸出的裝置輸出信號各自的變化定時、以及變化后的信號值所構(gòu)成的組；信號生成部，根據(jù)事件數(shù)據(jù)中所包含的、含有裝置輸入信號的變化定時及變化后的信號值的輸入事件，生成提供給被測試裝置的裝置輸入信號；信號提供部，將所生成的裝置輸入信號提供給被測試裝置；轉(zhuǎn)換部，輸入被測試裝置所輸出的裝置輸出信號，并將該裝置輸出信號轉(zhuǎn)換成包含該裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的輸出事件；選擇部，輸出經(jīng)轉(zhuǎn)換部轉(zhuǎn)換的輸出事件、或者從外部輸入的輸出事件中預(yù)先選擇的輸出事件；以及良否判定部，在向被測試裝置提供信號的同時，將包含被測試裝置應(yīng)輸出的裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的事件，作為期待值事件，并與由選擇部所輸出的輸出事件進(jìn)行對照，以此來判定裝置輸出信號是否與期待值一致；并且，附加裝置具備信號輸入部，輸入被測試裝置對應(yīng)于裝置輸入信號而輸出的裝置輸出信號；變化檢測部，檢測所輸入的裝置輸出信號是否有變化；變化定時檢測部，檢測裝置輸出信號的變化定時；存儲部，對應(yīng)于裝置輸出信號變化的情況，將裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值作為輸出事件依次進(jìn)行存儲；以及讀出部，從存儲部中依次讀出輸出事件，并輸入到測試裝置。
為了解決上述課題，在本發(fā)明的第3形態(tài)中，提供一種附加裝置，附加在利用事件庫對被測試裝置進(jìn)行測試的測試裝置中，測試裝置具備事件數(shù)據(jù)獲取部，獲取事件數(shù)據(jù)，該事件數(shù)據(jù)含有多個由輸入到被測試裝置的裝置輸入信號及被測試裝置所輸出的裝置輸出信號各自的變化定時、以及變化后的信號值所構(gòu)成的組；信號生成部，根據(jù)事件數(shù)據(jù)中所包含的、含有裝置輸入信號的變化定時及變化后的信號值的輸入事件，生成提供給被測試裝置的裝置輸入信號；信號提供部，將所生成的裝置輸入信號提供給被測試裝置；轉(zhuǎn)換部，輸入被測試裝置所輸出的裝置輸出信號，并將該裝置輸出信號轉(zhuǎn)換成包含裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的輸出事件；選擇部，輸出經(jīng)轉(zhuǎn)換部轉(zhuǎn)換的輸出事件、或者從外部輸入的輸出事件中預(yù)先選擇的輸出事件；以及良否判定部，在向被測試裝置提供信號的同時，將包含被測試裝置應(yīng)輸出的裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的事件，作為期待值事件，并與由選擇部所輸出的輸出事件進(jìn)行對照，以此來判定裝置輸出信號是否與期待值一致；并且，此附加裝置，在裝置輸出信號變化的間隔小于測試裝置可處理的間隔時，附加在被測試裝置與測試裝置之間，并且，此附加裝置具備信號輸入部，輸入被測試裝置對應(yīng)于裝置輸入信號而輸出的裝置輸出信號；變化檢測部，檢測所輸入的裝置輸出信號是否有變化；變化定時檢測部，檢測裝置輸出信號的變化定時；存儲部，對應(yīng)于裝置輸出信號變化的情況，將裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值作為輸出事件依次進(jìn)行存儲；以及讀出部，從存儲部中依次讀出輸出事件，并輸入到測試裝置。
為了解決上述課題，在本發(fā)明的第4形態(tài)中，提供一種測試方法，通過測試系統(tǒng)來對被測試裝置進(jìn)行測試，此測試方法具備事件數(shù)據(jù)獲取階段，獲取事件數(shù)據(jù)，該事件數(shù)據(jù)是對被測試裝置進(jìn)行邏輯模擬而獲得的，且含有多個由輸入到被測試裝置的裝置輸入信號及被測試裝置所輸出的裝置輸出信號各自的變化定時、以及變化后的信號值所構(gòu)成的組；信號生成階段，根據(jù)事件數(shù)據(jù)中所包含的、含有裝置輸入信號的變化定時及變化后的信號值的輸入事件，生成提供給被測試裝置的裝置輸入信號；信號提供階段，將所生成的裝置輸入信號提供給被測試裝置；信號輸入階段，輸入被測試裝置對應(yīng)于裝置輸入信號而輸出的裝置輸出信號；變化檢測階段，檢測所輸入的裝置輸出信號是否有變化；變化定時檢測階段，檢測裝置輸出信號的變化定時；存儲階段，對應(yīng)于裝置輸出信號變化的情況，將裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值作為輸出事件依次進(jìn)行存儲；讀出階段，依次讀出在存儲階段中所存儲的輸出事件；以及良否判定階段，將對被測試裝置進(jìn)行邏輯模擬而獲得的、包含被測試裝置應(yīng)輸出的裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的事件，作為期待值事件，并與所讀出的輸出事件進(jìn)行對照，以此來判定裝置輸出信號是否與期待值一致。
另外，上述發(fā)明內(nèi)容中并未列舉出本發(fā)明的全部必要特征，這些特征群的次(sub)組合也可以成為本發(fā)明。
根據(jù)本發(fā)明，能夠以良好的效率進(jìn)行事件庫的測試。


圖1表示本發(fā)明實施形態(tài)的測試系統(tǒng)30的結(jié)構(gòu)，并且表示被測試裝置10、系統(tǒng)板12以及邏輯模擬器20。
圖2表示本發(fā)明實施形態(tài)的變化定時檢測部58及存儲部60的結(jié)構(gòu)的一例，并且表示變化檢測部56。
圖3表示測量部72的結(jié)構(gòu)的一例。
圖4表示測量部72的結(jié)構(gòu)的其他一例。
圖5表示變形例的附加裝置34的結(jié)構(gòu)，并且表示被測試裝置10。
10被測試裝置12系統(tǒng)板20邏輯模擬器30測試系統(tǒng)32測試裝置 34附加裝置42事件數(shù)據(jù)獲取部44信號生成部46信號提供部48轉(zhuǎn)換部50選擇部52良否判定部54信號輸入部56變化檢測部58變化定時檢測部60存儲部
62匹配判定部64讀出部70計數(shù)器72測量部74變化定時輸出部76緩沖存儲部78文件存儲部82計數(shù)值存儲部84偏移量存儲部 86信號值存儲部 88文件90-1～90-N延遲元件 92觸發(fā)器94第1編碼器 96傾斜產(chǎn)生器98取樣/保持電路 100模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器102第2編碼器110探針112誤差測量部具體實施方式
以下，通過發(fā)明的實施形態(tài)對本發(fā)明進(jìn)行說明，但以下的實施形態(tài)并不限定權(quán)利要求書中的發(fā)明，而且實施形態(tài)中所說明的所有的特征的組合并非限于發(fā)明內(nèi)容所必需。
圖1表示本實施形態(tài)的測試系統(tǒng)30的結(jié)構(gòu)，并且表示了被測試裝置10、系統(tǒng)板12及邏輯模擬器20。被測試裝置10安裝了作為測試對象的邏輯電路。被測試裝置10搭載在配置有周邊電路的系統(tǒng)板12上，可在與該周邊電路共同動作的狀態(tài)下進(jìn)行測試。以此，可檢測出被測試裝置10及周邊電路共同動作所導(dǎo)致的不良情況。另外，系統(tǒng)板12也可以是與實際上使用的裝置相同的形態(tài)。而且，取而代之，被測試裝置10也可以搭載在作為測試用基板的性能板(performance board)上進(jìn)行測試。以此，可檢測出被測試裝置10單獨(dú)動作而產(chǎn)生的不良情況。
邏輯模擬器20對被測試裝置10的設(shè)計數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯模擬。邏輯模擬器20對被測試裝置10進(jìn)行邏輯模擬的結(jié)果，可獲得事件數(shù)據(jù)，該事件數(shù)據(jù)含有多個由輸入到被測試裝置10的裝置輸入信號及被測試裝置10所輸出的裝置輸出信號各自的變化定時、以及變化后的信號值所構(gòu)成的組。
測試系統(tǒng)30對被測試裝置10進(jìn)行測試。測試系統(tǒng)30具備測試裝置32及附加裝置34。
測試裝置32利用事件庫對被測試裝置10進(jìn)行測試。即，測試裝置32根據(jù)事件數(shù)據(jù)而生成測試信號，并將該測試信號提供給被測試裝置10，從被測試裝置10獲取與所提供的測試信號相對應(yīng)的輸出信號，將所獲取的輸出信號轉(zhuǎn)換成事件數(shù)據(jù)并與期待值事件進(jìn)行對照。根據(jù)利用事件庫進(jìn)行測試的測試裝置32，使用者無須直接制作測試圖案即可對被測試裝置10進(jìn)行測試。
測試裝置32具有事件數(shù)據(jù)獲取部42、信號生成部44、信號提供部46、轉(zhuǎn)換部48、選擇部50、及良否判定部52。事件數(shù)據(jù)獲取部42從邏輯模擬器20中獲取對被測試裝置10進(jìn)行邏輯模擬而最終獲得的事件數(shù)據(jù)。更具體而言，事件數(shù)據(jù)獲取部42從邏輯模擬器20中獲取輸入事件，該輸入事件包含作為測試信號而應(yīng)輸入到被測試裝置10的裝置輸入信號的變化定時及變化后的信號值。而且，事件數(shù)據(jù)獲取部42從邏輯模擬器20獲取下述事件作為期待值事件，所述事件含有被測試裝置10對應(yīng)于裝置輸入信號而應(yīng)輸出的裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值。
信號生成部44，根據(jù)由事件數(shù)據(jù)獲取部42所獲取的事件數(shù)據(jù)中所包含的輸入事件而形成信號波形，從而生成提供給被測試裝置10的裝置輸入信號。信號提供部46將由信號生成部44所生成的裝置輸入信號提供給被測試裝置10。轉(zhuǎn)換部48輸入被測試裝置10對應(yīng)于裝置輸入信號的提供而輸出的裝置輸出信號。接著，轉(zhuǎn)換部48將該裝置輸出信號轉(zhuǎn)換成含有該裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的輸出事件。
選擇部50從信號提供部46及外部輸入輸出事件。更具體而言，選擇部50從信號提供部46及附加裝置34輸入輸出事件。選擇部50輸出經(jīng)轉(zhuǎn)換部48轉(zhuǎn)換的輸出事件、或者從外部輸入的輸出事件中預(yù)先選擇的輸出事件。舉例說明當(dāng)從被測試裝置10輸入的裝置輸出信號變化的間隔小于轉(zhuǎn)換部48及良否判定部52可處理的間隔時，該選擇部50選擇從附加裝置34輸入的輸出事件而輸出。
例如，當(dāng)裝置輸出信號變化的間隔小于轉(zhuǎn)換部48及良否判定部52所耗費(fèi)的處理時間時，選擇部50選擇從附加裝置34輸出的輸出事件而輸出。而且，例如，選擇部50參照由事件數(shù)據(jù)獲取部42所獲取的事件數(shù)據(jù)，當(dāng)從被測試裝置10應(yīng)輸出的輸出事件的時間間隔小于等于規(guī)定值時，可選擇從附加裝置34輸入的輸出事件而輸出。
良否判定部52，在向被測試裝置10提供信號的同時，將包含被測試裝置10應(yīng)輸出的裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的事件作為期待值事件，并與從選擇部50輸出的輸出事件進(jìn)行對照，以此來判定裝置輸出信號是否與期待值一致。即，良否判定部52將通過選擇部50而輸入的輸出事件，與由事件數(shù)據(jù)獲取部42所獲取的期待值事件進(jìn)行對照，從而判定被測試裝置10的良否。
良否判定部52，在根據(jù)輸出事件與期待值事件不同而檢測出不良時，也可以將不同的輸出事件提供給邏輯模擬器20。以此，邏輯模擬器20可參照對被測試裝置10的測試結(jié)果，而修正設(shè)計數(shù)據(jù)中的問題。而且，邏輯模擬器20逆向返回輸出錯誤的邏輯電路，可檢測出導(dǎo)致輸出不同數(shù)據(jù)的邏輯電路。
附加裝置34，在裝置輸出信號變化的間隔小于測試裝置32可處理的間隔時，附加在被測試裝置10與測試裝置32之間。舉例說明附加裝置34，可以通過利用信號線連接在測試裝置32與被測試裝置16之間的方式而附加，可以通過機(jī)械性安裝在測試裝置32上的方式而附加，也可以通過預(yù)先與測試裝置32形成為一體，并自動或手動地利用選擇部進(jìn)行切換的方式而附加。
附加裝置34具備信號輸入部54、變化檢測部56、變化定時檢測部58、存儲部60、匹配判定部62、及讀出部64。信號輸入部54，輸入被測試裝置10對應(yīng)于裝置輸入信號而輸出的裝置輸出信號，并且輸入由信號提供部46所輸出的裝置輸入信號。以下，當(dāng)表示由信號輸入部54所輸入的裝置輸出信號以及裝置輸入信號這兩個信號時，稱為裝置輸入輸出信號。另外，信號輸入部54也可以僅輸入裝置輸出信號。
變化檢測部56，檢測由信號輸入部54所輸入的裝置輸入輸出信號是否有變化。如果裝置輸入輸出信號為二進(jìn)制信號，則變化檢測部56檢測出裝置輸入輸出信號中0→1的變化以及1→0的變化。
變化定時檢測部58檢測由信號輸入部54所輸入的裝置輸入輸出信號的變化定時。舉例說明變化定時檢測部58，可以檢測從參考時刻開始直到對應(yīng)的變化點(diǎn)為止所經(jīng)過的時間所呈現(xiàn)出的變化定時，也可以檢測從之前的變化點(diǎn)開始直到對應(yīng)的變化點(diǎn)為止的時間差所呈現(xiàn)出的變化定時。
存儲部60對應(yīng)于裝置輸入輸出信號變化的情況，將由裝置輸入輸出信號的變化定時及變化后的信號值所構(gòu)成的組，作為輸入事件及輸出事件依次進(jìn)行存儲。以下，當(dāng)表示存儲部60所存儲的輸入事件及輸出事件這兩個事件時，稱為輸入輸出事件。另外，存儲部60也可以僅存儲輸出事件。
而且，存儲部60也可以將多個輸入輸出事件以文件的形式進(jìn)行存儲。從而，存儲部60可存儲大量的輸入輸出事件。
匹配判定部62判定裝置輸入輸出信號是否為預(yù)定的觸發(fā)信號值。存儲部60可對應(yīng)于裝置輸入輸出信號與觸發(fā)信號值一致的情況，開始存儲輸入輸出事件。取而代之或者除此以外，存儲部60可對應(yīng)于裝置輸入輸出信號與觸發(fā)信號值一致的情況，結(jié)束輸入輸出事件的存儲。以此，存儲部60可以將輸出事件歸結(jié)為良否判定對象而進(jìn)行存儲。
讀出部64從存儲部60中依次讀出輸出事件，并將所讀出的輸出事件依次輸入到測試裝置32。舉例說明讀出部64可在信號提供部46完成基于事件數(shù)據(jù)而進(jìn)行的裝置輸入信號的提供之后，開始從存儲部60讀出輸出事件。而且，讀出部64可從存儲部60中讀出輸入輸出事件，并輸入到邏輯模擬器20。以此，可參照被測試裝置10所產(chǎn)生的輸入輸出事件來修正設(shè)計數(shù)據(jù)。
另外，當(dāng)裝置輸入輸出信號是由多個比特所構(gòu)成的信號時，附加裝置34對應(yīng)于各個比特的信號而具有多個信號輸入部54、變化檢測部56及變化定時檢測部58。而且，當(dāng)裝置輸入輸出信號是由多個比特所構(gòu)成的信號時，附加裝置34可對應(yīng)于每一由多個比特構(gòu)成群組而具有信號輸入部54、變化檢測部56及變化定時檢測部58。
根據(jù)這樣的測試系統(tǒng)30，測試裝置32根據(jù)輸入事件而產(chǎn)生裝置輸入信號，并將該裝置輸入信號提供給被測試裝置10。接著，測試裝置32將被測試裝置10對應(yīng)于裝置輸入信號而輸出的裝置輸出信號轉(zhuǎn)換成輸出事件，并將所轉(zhuǎn)換的輸出事件與期待值事件進(jìn)行對照，從而判定良否。以此，根據(jù)測試系統(tǒng)30，可以利用事件庫對被測試裝置10進(jìn)行測試。
而且，根據(jù)測試系統(tǒng)30，當(dāng)裝置輸出信號變化的間隔小于測試裝置32可處理的間隔時，附加裝置34附加在被測試裝置10與測試裝置32之間。附加裝置34將由被測試裝置10所輸出的裝置輸出信號轉(zhuǎn)換成輸出事件，并依次存儲到存儲部60中。附加裝置34依次讀出存儲部60所存儲的輸出事件并輸入到測試裝置32中。然后，測試裝置32將從附加裝置34輸入的輸出事件與期待值事件進(jìn)行對照，從而判定良否。
以此，根據(jù)測試系統(tǒng)30，即便是在裝置輸出信號變化的間隔小于測試裝置32可處理的間隔時，也可以不減慢裝置輸出信號的速度，而以良好的效率進(jìn)行測試。因此，根據(jù)測試系統(tǒng)30，可以縮短測試時間。而且，根據(jù)測試系統(tǒng)30，通過存儲部60來存儲被測試裝置10的輸出事件，因此可存儲大量的測試結(jié)果。因此，即便當(dāng)出現(xiàn)發(fā)生頻率較低的不良時，也可以通過參照所存儲的輸出事件而容易地分析出不良原因。
圖2表示了本實施形態(tài)的變化定時檢測部58及存儲部60的結(jié)構(gòu)的一例，并且表示了變化檢測部56。變化定時檢測部58可包含計數(shù)器70、測量部72、及變化定時輸出部74。計數(shù)器70在每一預(yù)定的參考時鐘，對內(nèi)部所存儲的計數(shù)值進(jìn)行增量(increament)。舉例說明計數(shù)器70可在開始時刻等參考時刻重設(shè)(reset)內(nèi)部所存儲的計數(shù)值，然后可以不進(jìn)行重設(shè)而繼續(xù)增量，也可以每當(dāng)裝置輸入輸出信號變化時重設(shè)內(nèi)部所存儲的計數(shù)值。
測量部72對裝置輸入輸出信號的變化定時相對于參考時鐘邊緣的偏移量進(jìn)行測量。舉例說明測量部72以不足參考時鐘周期的精度，對裝置輸入輸出信號產(chǎn)生變化的時間點(diǎn)之前產(chǎn)生的參考時鐘的邊緣、與該產(chǎn)生變化的時間點(diǎn)的時間差進(jìn)行測量，并將所測量出的值作為偏移量而輸出。
變化定時輸出部74，將裝置輸入輸出信號產(chǎn)生變化的定時下的計數(shù)器70的值與由測量部72所測量出的偏移量的組，作為變化定時而輸出。舉例說明，變化定時輸出部74，可分別引入在裝置輸入輸出信號產(chǎn)生變化的定時下由測量部72所檢測出的偏移量、與該定時下的變化定時輸出部74的計數(shù)值，并將所引入的偏移量與計數(shù)值設(shè)為一組進(jìn)行輸出。根據(jù)這樣的變化定時檢測部58，即便是在裝置輸入輸出信號變化的間隔較短時，也可以檢測出變化定時。
存儲部60可包含緩沖存儲部76及文件存儲部78。緩沖存儲部76可由寄存器或存儲器來實現(xiàn)，且對輸入輸出事件依次進(jìn)行緩沖。舉例說明緩沖存儲部76可具有分別由寄存器或存儲器來實現(xiàn)的計數(shù)值存儲部82、偏移量存儲部84、及信號值存儲部86。
信號值存儲部86從變化定時輸出部74中獲取裝置輸入輸出信號產(chǎn)生變化的定時下的計數(shù)值并進(jìn)行存儲。偏移量存儲部84從變化定時輸出部74中獲取裝置輸入輸出信號產(chǎn)生變化的定時下的偏移量并進(jìn)行存儲。計數(shù)值存儲部82依次引入裝置輸入輸出信號的變化定時之后的信號值。然后，計數(shù)值存儲部82、偏移量存儲部84及信號值存儲部86將計數(shù)值、偏移量及信號值相互對應(yīng)，并作為輸入輸出事件而進(jìn)行存儲。
文件存儲部78從緩沖存儲部76中依次調(diào)出輸入輸出事件，并將該輸入輸出事件轉(zhuǎn)換成以特定形式記載有多個輸入輸出事件的文件88。然后，文件存儲部78將所轉(zhuǎn)換的文件88存儲到硬盤等大容量存儲裝置中。以此，文件存儲部78可將輸入輸出事件作為文件88而進(jìn)行存儲。
根據(jù)這樣的存儲部60，利用寄存器或存儲器對輸入輸出事件進(jìn)行緩沖，因此當(dāng)裝置輸入輸出信號的變化的間隔較短時，也可以引入輸出事件。而且根據(jù)存儲部60，將輸入輸出事件轉(zhuǎn)換為文件，因此可存儲大量的輸入輸出事件。
圖3表示測量部72的結(jié)構(gòu)的一例。測量部72具有第1～第N這N個(N為大于等于2的整數(shù))延遲元件90-1～90-N、第1～第N觸發(fā)器92-1～92-N、第1編碼器94。第1～第N延遲元件90-1～90-N是串聯(lián)連接的，并從最前段起輸入?yún)⒖紩r鐘(例如周期為(T))。然后，第1～第N延遲元件90-1～90-N每經(jīng)N/T時間，使分別從前段元件輸入的參考時鐘延遲后，輸出到后段元件。以此，第1～第N延遲元件90-1～90-N，可每經(jīng)N/T時間而將參考時鐘的邊緣依次傳送到后段。
第1～第N觸發(fā)器92-1～92-N分別對應(yīng)于第1～第N延遲元件90-1～90-N而設(shè)。第1～第N觸發(fā)器92-1～92-N分別將對應(yīng)的延遲元件90的輸出信號輸入到數(shù)據(jù)輸入端，并將表示裝置輸入輸出信號的變化的脈沖輸入到時鐘端。然后，第1～第N觸發(fā)器92-1～92-N分別在裝置輸入輸出信號產(chǎn)生變化的定時，引入相對應(yīng)的延遲元件90的輸出信號。以此，第1～第N觸發(fā)器92-1～92-N，可檢測出裝置輸入輸出信號產(chǎn)生變化的定時下第1至第N延遲元件90-1～90-N上的參考時鐘的邊緣的傳送位置。
第1編碼器94，根據(jù)第1～第N觸發(fā)器92-1～92-N所引入的值，計算出參考時鐘的邊緣與裝置輸入輸出信號的變化點(diǎn)的時間差，作為偏移量而輸出。更具體而言，第1編碼器94檢測從裝置輸入輸出信號產(chǎn)生變化的定時下的參考時鐘邊緣的傳送位置起直至第幾段延遲元件有延遲，并根據(jù)所檢測出的段數(shù)換算出從參考時鐘的邊緣起直至裝置輸入輸出信號產(chǎn)生變化為止的時間差。然后，第1編碼器94將所換算出的時間差作為偏移量而輸出。
根據(jù)具有這樣的結(jié)構(gòu)的測量部72，能夠以不足參考時鐘周期的精度對裝置輸入輸出信號的變化定時相對于參考時鐘邊緣的偏移量進(jìn)行測量并輸出。
圖4表示測量部72的結(jié)構(gòu)的其他一例。測量部72可具有傾斜(ramp)產(chǎn)生器96、取樣/保持電路98、模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器100、及第2編碼器102。傾斜產(chǎn)生器96以特定的傾斜度使輸出電壓產(chǎn)生直線變化，且當(dāng)輸入?yún)⒖紩r鐘的邊緣時，將輸出電壓重設(shè)為初始值。即，傾斜產(chǎn)生器96產(chǎn)生與參考時鐘同步的具有傾斜波形的電壓。
取樣/保持電路98輸入傾斜產(chǎn)生器96的輸出電壓。然后，取樣/保持電路98，在表示裝置輸入輸出信號的變化的脈沖的輸入定時下，保持所輸入的輸出電壓。模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器100將由取樣/保持電路98所保持的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字值。此時，模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器100以充分小于參考時鐘周期的時間，將模擬值轉(zhuǎn)換為數(shù)字值。
第2編碼器102根據(jù)由模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器100轉(zhuǎn)換成數(shù)字值的值，計算出參考時鐘的邊緣與裝置輸入輸出信號的變化點(diǎn)的時間差，并將所計算出的時間差作為偏移量而輸出。例如，第2編碼器102計算出在裝置輸入輸出信號變化的定時下所保持的電壓(m)、相對于傾斜產(chǎn)生器96以參考時鐘的1周期(T)而改變的電壓(M)的比例(m/M)，并將所計算出的比例(m/M)乘以參考時鐘1周期的時間(T)。以此，根據(jù)第2編碼器102，可計算出從裝置輸入輸出信號的變化點(diǎn)之前的參考時鐘的邊緣直至該變化點(diǎn)為止的偏移量。
根據(jù)具有這樣的結(jié)構(gòu)的測量部72，能夠以不足參考時鐘周期的精度，對裝置輸入輸出信號的變化定時相對于參考時鐘邊緣的偏移量進(jìn)行測量并輸出。
圖5表示本實施形態(tài)的變形例的附加裝置34的結(jié)構(gòu)，并且表示了被測試裝置10。本變形例中，由于與圖1及圖2所示的同一符號采用了大致相同的結(jié)構(gòu)以及功能，因此以下除了說明不同之處以外，省略其他重復(fù)說明。
在裝置輸入輸出信號是由多個比特所構(gòu)成的信號時，附加裝置34可對應(yīng)于各個信號而具有信號輸入部54、變化檢測部56及變化定時檢測部58。而且，在裝置輸入輸出信號是由多個比特所構(gòu)成的信號時，附加裝置34可更具有探針110、及誤差測量部112。
探針110與被測試裝置10中輸出裝置輸入輸出信號的多個端子相接觸。探針110檢測從被測試裝置10的各個端子所輸出的信號。而且，各個信號輸入部54，通過對應(yīng)的探針110而輸入被測試裝置10的輸出信號。誤差測量部112，測量從被測試裝置10向多個探針110輸出信號后開始，直到變化檢測部56檢測出對應(yīng)的比特的變化為止的時間的每個比特的誤差。舉例說明誤差測量部112在測試開始前等的初始設(shè)定時，從被測試裝置10的各端子產(chǎn)生定時在時間上一致的輸出信號，并由變化檢測部56檢測該輸出信號。然后，誤差測量部112測量從被測試裝置10的端子到變化檢測部56為止的信號傳送時間的每個比特的誤差。
而且，在測試時，與各個比特相對應(yīng)的變化定時檢測部58內(nèi)的變化定時輸出部74，在與各個比特相對應(yīng)的計數(shù)器70的值及由測量部72所測量出的偏移量上，加上用來修正誤差測量部112所測量出的誤差的修正值。以此，根據(jù)本變形例中的附加裝置34，可修正因各個比特的信號傳送的延遲量的不同而導(dǎo)致的誤差。因此，根據(jù)附加裝置34，可正確地生成輸出事件的發(fā)生時間并進(jìn)行存儲。
以上，使用實施形態(tài)對本發(fā)明進(jìn)行了說明，但本發(fā)明的技術(shù)范圍并不限于上述實施形態(tài)中所記載的范圍。本領(lǐng)域技術(shù)人員可明確，可以對上述實施形態(tài)添加多種變更或改良。由權(quán)利要求書的揭示可明確，添加了這些變更或改良的形態(tài)也包含在本發(fā)明的技術(shù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種測試系統(tǒng)，用來對被測試裝置進(jìn)行測試，其特征在于包括事件數(shù)據(jù)獲取部，獲取事件數(shù)據(jù)，該事件數(shù)據(jù)是對所述被測試裝置進(jìn)行邏輯模擬而獲得的，且含有多個由輸入到所述被測試裝置的裝置輸入信號及所述被測試裝置所輸出的裝置輸出信號各自的變化定時、以及變化后的信號值所構(gòu)成的組；信號生成部，根據(jù)所述事件數(shù)據(jù)中所包含的、含有所述裝置輸入信號的變化定時及變化后的信號值的輸入事件，生成提供給所述被測試裝置的所述裝置輸入信號；信號提供部，將所生成的所述裝置輸入信號提供給所述被測試裝置；信號輸入部，輸入所述被測試裝置對應(yīng)于所述裝置輸入信號而輸出的裝置輸出信號；變化檢測部，檢測所輸入的所述裝置輸出信號是否有變化；變化定時檢測部，檢測所述裝置輸出信號的變化定時；存儲部，對應(yīng)于所述裝置輸出信號變化的情況，將所述裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值作為輸出事件依次進(jìn)行存儲；讀出部，依次從所述存儲部中讀出所述輸出事件；以及良否判定部，將對所述被測試裝置進(jìn)行邏輯模擬而獲得的、包含所述被測試裝置應(yīng)輸出的所述裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的事件作為期待值事件，并與所讀出的所述輸出事件進(jìn)行對照，以此來判定所述裝置輸出信號是否與期待值一致。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于其中所述的存儲部包括緩沖存儲部，可由寄存器或存儲器來實現(xiàn)，依次對所述輸出事件進(jìn)行緩沖；以及文件存儲部，從所述緩沖存儲部中依次調(diào)出所述輸出事件，并作為文件進(jìn)行存儲。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于其中所述的讀出部，在所述信號提供部完成基于所述事件數(shù)據(jù)而進(jìn)行的所述裝置輸入信號的提供之后，開始從所述存儲部讀出所述輸出事件。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于其更包括轉(zhuǎn)換部，輸入所述被測試裝置所輸出的所述裝置輸出信號，將所述裝置輸出信號轉(zhuǎn)換成包含該裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的所述輸出事件；以及選擇部，輸出經(jīng)所述轉(zhuǎn)換部轉(zhuǎn)換的所述輸出事件、或者由所述讀出部所讀出的所述輸出事件中預(yù)先指定的所述輸出事件。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)所述裝置輸出信號變化的間隔小于所述轉(zhuǎn)換部及所述良否判定部可處理的間隔時，所述選擇部選擇由所述讀出部所讀出的所述輸出事件而輸出。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于其更包括匹配判定部，該匹配判定部判定所述裝置輸出信號是否為預(yù)定的觸發(fā)信號值，并且所述存儲部對應(yīng)于所述裝置輸出信號與所述觸發(fā)信號值一致情況，開始存儲所述輸出事件。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于其更包括計數(shù)器，針對每個預(yù)定的參考時鐘進(jìn)行增量；測量部，測量出所述裝置輸出信號的變化定時相對于所述參考時鐘邊緣的偏移量；以及變化定時輸出部，將所述裝置輸出信號變化的定時下的所述計數(shù)器的值與由所述測量部所測量出的偏移量的組，作為所述變化定時而輸出。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試系統(tǒng)，其特征在于其中所述的裝置輸出信號是由多個比特構(gòu)成的信號，且此測試系統(tǒng)更包括多個探針，與所述被測試裝置中輸出所述裝置輸出信號的多個端子相接觸；以及誤差測量部，測量出從所述被測試裝置向所述多個探針輸出信號后開始，直到所述變化檢測部檢測出相對應(yīng)的比特的變化為止的時間的每一比特的誤差；且所述變化定時輸出部，在與各個比特相對應(yīng)的所述計數(shù)器的值以及所述測量部所測量出的偏移量上，加上用來修正所述誤差測量部所測量出的誤差的修正值。
9.一種測試系統(tǒng)，用來對被測試裝置進(jìn)行測試，其特征在于包括測試裝置，利用事件庫對所述被測試裝置進(jìn)行測試；以及附加裝置，當(dāng)所述被測試裝置輸出的裝置輸出信號變化的間隔小于所述測試裝置可處理的間隔時，附加在所述被測試裝置與所述測試裝置之間；且所述測試裝置包括事件數(shù)據(jù)獲取部，獲取事件數(shù)據(jù)，該事件數(shù)據(jù)含有多個由輸入到所述被測試裝置的裝置輸入信號及所述被測試裝置所輸出的裝置輸出信號各自的變化定時、以及變化后的信號值所構(gòu)成的組；信號生成部，根據(jù)所述事件數(shù)據(jù)中所包含的、含有所述裝置輸入信號的變化定時及變化后的信號值的輸入事件，生成提供給所述被測試裝置的所述裝置輸入信號；信號提供部，將所生成的所述裝置輸入信號提供給所述被測試裝置；轉(zhuǎn)換部，輸入所述被測試裝置輸出的裝置輸出信號，并將該裝置輸出信號轉(zhuǎn)換成包含該裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的輸出事件；選擇部，輸出經(jīng)所述轉(zhuǎn)換部轉(zhuǎn)換的所述輸出事件、或者從外部輸入的所述輸出事件中預(yù)先選擇的所述輸出事件；以及良否判定部，在向被測試裝置提供信號的同時，將包含所述被測試裝置應(yīng)輸出的所述裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的事件，作為期待值事件，并與由所述選擇部所輸出的所述輸出事件進(jìn)行對照，以此來判定所述裝置輸出信號是否與期待值一致；且所述附加裝置包括信號輸入部，輸入所述被測試裝置對應(yīng)于所述裝置輸入信號而輸出的裝置輸出信號；變化檢測部，檢測所輸入的所述裝置輸出信號是否有變化；變化定時檢測部，檢測所述裝置輸出信號的變化定時；存儲部，對應(yīng)于所述裝置輸出信號變化的情況，將所述裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值作為輸出事件依次進(jìn)行存儲；以及讀出部，從所述存儲部中依次讀出所述輸出事件，并輸入到所述測試裝置。
10.一種附加裝置，附加在利用事件庫對被測試裝置進(jìn)行測試的測試裝置中，此附加裝置的特征在于所述測試裝置包括事件數(shù)據(jù)獲取部，獲取事件數(shù)據(jù)，該事件數(shù)據(jù)含有多個由輸入到所述被測試裝置的裝置輸入信號及所述被測試裝置所輸出的裝置輸出信號各自的變化定時、以及變化后的信號值所構(gòu)成的組；信號生成部，根據(jù)所述事件數(shù)據(jù)中所包含的、含有所述裝置輸入信號的變化定時及變化后的信號值的輸入事件，生成提供給所述被測試裝置的所述裝置輸入信號；信號提供部，將所生成的所述裝置輸入信號提供給所述被測試裝置；轉(zhuǎn)換部，輸入被測試裝置所輸出的裝置輸出信號，并將該裝置輸出信號轉(zhuǎn)換成包含裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的輸出事件；選擇部，輸出經(jīng)所述轉(zhuǎn)換部轉(zhuǎn)換的所述輸出事件、或者從外部輸入的所述輸出事件中預(yù)先選擇的所述輸出事件；以及良否判定部，在向被測試裝置提供信號的同時，將包含所述被測試裝置應(yīng)輸出的所述裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的事件，作為期待值事件，并與由所述選擇部所輸出的所述輸出事件進(jìn)行對照，以此來判定所述裝置輸出信號是否與期待值一致；并且該附加裝置，在所述裝置輸出信號變化的間隔小于所述測試裝置可處理的間隔時，附加在所述被測試裝置與所述測試裝置之間，且此附加裝置包括信號輸入部，輸入所述被測試裝置對應(yīng)于所述裝置輸入信號而輸出的裝置輸出信號；變化檢測部，檢測所輸入的所述裝置輸出信號是否有變化；變化定時檢測部，檢測所述裝置輸出信號的變化定時；存儲部，對應(yīng)于所述裝置輸出信號變化的情況，將所述裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值作為輸出事件依次進(jìn)行存儲；以及讀出部，從所述存儲部中依次讀出所述輸出事件，并輸入到所述測試裝置。
11.一種測試方法，通過測試系統(tǒng)來對被測試裝置進(jìn)行測試，此測試方法的特征在于包括事件數(shù)據(jù)獲取階段，獲取事件數(shù)據(jù)，該事件數(shù)據(jù)是對所述被測試裝置進(jìn)行邏輯模擬而獲得的，且含有多個由輸入到所述被測試裝置的裝置輸入信號及所述被測試裝置所輸出的裝置輸出信號各自的變化定時、以及變化后的信號值所構(gòu)成的組；信號生成階段，根據(jù)所述事件數(shù)據(jù)中所包含的、含有所述裝置輸入信號的變化定時及變化后的信號值的輸入事件，生成提供給所述被測試裝置的所述裝置輸入信號；信號提供階段，將所生成的所述裝置輸入信號提供給所述被測試裝置；信號輸入階段，輸入所述被測試裝置對應(yīng)于所述裝置輸入信號而輸出的裝置輸出信號；變化檢測階段，檢測所輸入的所述裝置輸出信號是否有變化；變化定時檢測階段，檢測所述裝置輸出信號的變化定時；存儲階段，對應(yīng)于所述裝置輸出信號變化的情況，將所述裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值作為輸出事件依次進(jìn)行存儲；讀出階段，依次讀出在所述存儲階段中所存儲的所述輸出事件；以及良否判定階段，將對所述被測試裝置進(jìn)行邏輯模擬而獲得的、包含所述被測試裝置應(yīng)輸出的所述裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值的事件，作為期待值事件，并與所讀出的所述輸出事件進(jìn)行對照，以此來判定所述裝置輸出信號是否與期待值一致。
全文摘要
本發(fā)明能夠以良好的效率進(jìn)行事件庫的測試。本發(fā)明提供一種測試系統(tǒng)，用來對被測試裝置進(jìn)行測試，此測試系統(tǒng)具備測試裝置，利用事件庫對被測試裝置進(jìn)行測試；以及附加裝置，當(dāng)裝置輸出信號變化的間隔小于測試裝置可處理的間隔時，附加在被測試裝置與測試裝置之間；并且，附加裝置具備信號輸入部，輸入被測試裝置對應(yīng)于裝置輸入信號而輸出的裝置輸出信號；變化檢測部，檢測所輸入的裝置輸出信號是否有變化；變化定時檢測部，檢測裝置輸出信號的變化定時；存儲部，對應(yīng)于裝置輸出信號變化的情況，將裝置輸出信號的變化定時及變化后的信號值作為輸出事件依次進(jìn)行存儲；以及讀出部，從存儲部中依次讀出輸出事件，并輸入到測試裝置。
文檔編號G01R31/3183GK101038326SQ20071007996
公開日2007年9月19日 申請日期2007年2月27日 優(yōu)先權(quán)日2006年2月27日
發(fā)明者渡辺雄也, 菅森茂 申請人:愛德萬測試株式會社