專利名稱：顯示面板的測試治具及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于測試顯示面板，特別是一種可測試不同規(guī)格顯示面板的測試 治具及測試方法。
背景技術(shù)：
顯示面板在制作完成之后，必須利用測試機臺產(chǎn)生測試信號，送入顯示 面板中，以確認顯示面板是否可以正確動作。由于剛由產(chǎn)線完成制作的顯示 面板還沒有設(shè)置信號排線或是電連接器，因此這時候測試機臺必須透過具備 探針的測試治具，來對顯示面板饋入測試信號。測試治具以探針接觸顯示面板邊緣外露的信號接點(Contact Pad)來達成電性連接，而將測試信號傳 送至待測試的顯示面板上。不同規(guī)格的顯示面板尺寸大小并不相同，在顯示面板上的信號接點數(shù)目 及配置位置也會不同。現(xiàn)有技術(shù)中是將測試治具可移動地設(shè)置于測試平臺 上，使測試治具可以快速地改變于測試平臺上的位置，以配合不同尺寸的顯 示面板，或是將復(fù)數(shù)個探針可移動地設(shè)置于測試治具上，并使該些探針除了 可以沿著測試治具的長軸方向移動而改變位置外，也可以進行伸縮以選擇是 否接觸信號接點，以配合不同顯示面板的信號接點位置配置。但當顯示面板 除了尺寸變化之外，信號接點的配置位置也有變化時，采用將測試治具可移 動地設(shè)置于測試平臺上的方式測試顯示面板時，仍需要更換探針的配置位置 不同的測試治具。而當顯示面板的信號接點數(shù)量眾多時，為了將復(fù)數(shù)個探針 可移動地設(shè)置于測試治具上的正確位置時或決定每一探針突出或縮入測試 治具，將耗去許多時間。不論是采用將測試治具可移動地設(shè)置于測試平臺上
的方式或是采用將復(fù)數(shù)個探針可移動地設(shè)置于測試治具上的方式測試顯示 面板皆無法快速地在產(chǎn)線上進行測試規(guī)格的變換。發(fā)明內(nèi)容鑒于現(xiàn)有技術(shù)的顯示面板的測試機臺無法快速變換測試規(guī)格的問題，本 發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種顯示面板的測試治具及測試方法，可任 意地測試不同規(guī)格的顯示面板。為了達成上述目的，本發(fā)明提出一種顯示面板的測試治具，其包括有一 板件、復(fù)數(shù)個第一探針、復(fù)數(shù)個第二探針、 一第一電連接組件及一第二電連 接組件。第一探針設(shè)于板件的一側(cè)邊，分別用以接觸一具有第一規(guī)格的第一 受測面板的信號接點。第二探針設(shè)于板件的側(cè)邊，分別用以接觸一具有第二 規(guī)格的第二受測面板的信號接點。第一電連接組件用以接收一第一測試信 號，透過各第一探針傳送至第一受測面板的信號接點。第二電連接組件，用 以接收一第二測試信號，透過各第二探針傳送至第二受測面板的信號接點。 如此一來，就可以透過同一套測試治具，對具備不同規(guī)格的面板進行測試。本發(fā)明還提出一種顯示面板的測試方法，其先提供一板件，并于板件的 側(cè)邊設(shè)復(fù)數(shù)個第一探針及復(fù)數(shù)個第二探針。接著將一待測試顯示面板置于一 測試平臺上，并將待測試顯示面板的信號接點與對應(yīng)的第一探針或第二探針 接觸。判斷待測試顯示面板與對應(yīng)的第一探針或第二探針接觸，若待測試顯 示面板與第一探針接觸，則對第一探針傳輸一第一測試信號。若待測試顯示 面板與第二探針接觸，則對第二探針傳輸一第二測試信號。本發(fā)明的功效在于，本發(fā)明只要選擇測試信號由第一電連接組件或第二 電連接組件饋入，就可以快速地變換測試治具的測試規(guī)格，不需要針對不同 的顯示面板更換測試治具，或耗費時間調(diào)整測試治具，使測試流程可以快速 地適應(yīng)產(chǎn)線產(chǎn)品的變化。


圖1為本發(fā)明第一實施例的測試機臺。圖2A及圖2B為本發(fā)明第一實施例的測試治具的局部立體圖。圖3A及圖3B為本發(fā)明第一實施例的測試治具的局部分解圖，揭示第一電連接組件及第二電連接組件。圖4A及圖4B為本發(fā)明第一實施例的平面示意圖。 圖5A及圖5B為本發(fā)明第二實施例的平面示意圖。 圖6為本發(fā)明測試治具的又一種電性連接組件示意圖。 主要元件符號說明100測試機臺110測試平臺120測試治具121板件122第一探針123第二探針124第一電連接組件124a第一電路板124b金屬線路層124c第一導(dǎo)線125第二電連接組件125a第二電路板125b金屬線路層125c第二導(dǎo)線126第三探針127a針座127b針座127c針座131電連接器132排線200顯示面板200a第一受測面板200b第二受測面板201a信號接點201b信號接點具體實施方式
以上關(guān)于本發(fā)明內(nèi)容的說明及以下的實施方式的說明是用以示范與解 釋本發(fā)明的原理，并且提供本發(fā)明的權(quán)利要求書更進一步的解釋。
以下在實施方式中詳細敘述本發(fā)明的詳細特征以及優(yōu)點，其內(nèi)容足以使 任何熟習相關(guān)技藝者了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容并據(jù)以實施，且根據(jù)本說明書所 揭露的內(nèi)容、權(quán)利要求書及圖式，任何熟習相關(guān)技藝者可輕易地理解本發(fā)明 相關(guān)的目的及優(yōu)點。為使對本發(fā)明的目的、構(gòu)造、特征及其功能有進一步的了解，現(xiàn)配合實 施例詳細說明如下。參閱圖1所示，為本發(fā)明第一實施例所揭露的一種測試機臺100，用以 測試顯示面板200。該測試機臺100包含有用以承載顯示面板200的測試平 臺110及二可測試不同規(guī)格顯示面板200的測試治具120。 二測試治具120 分別設(shè)置于測試平臺110兩側(cè)，用以傳送測試信號至顯示面板200，以對顯 示面板200進行測試。再參照圖2A及圖2B所示，各測試治具120包括一板件121、復(fù)數(shù)個第 一探針122及復(fù)數(shù)個第二探針123。復(fù)數(shù)個第一探針122設(shè)于板件121的一 側(cè)邊，同時第一探針122的位置配置，是相對于一具有第一規(guī)格的第一受測 面板200a的信號接點201a的位置。當?shù)谝皇軠y面板200a放置于測試平臺 110，且使測試治具120位于第一受測面板200a的邊緣上方時，各第一探針 122接觸第一受測面板200a的信號接點201a，如圖2A所示。復(fù)數(shù)個第二探 針123也設(shè)置于板件121的側(cè)邊。第二探針123的位置配置，是相對于一具 有第二規(guī)格的第二受測面板200b的信號接點201b的位置。當?shù)诙軠y面板 200b放置于測試平臺110使測試治具120位于第二受測面板200b的邊緣上 方時，各第二探針123接觸第二受測面板200b的信號接點201b，如圖2B 所示。由于第一探針122及第二探針123的位置配置，是分別相對于第一受 測面板200a及第二受測面板200b配置，因此第一探針122及第二探針123 的位置配置較佳是交錯或是間隔配置。當?shù)谝皇軠y面板200a ^C置于測試平 臺110時，第一受測面板200a的信號接點只會與第一探針122接觸，而不 會與第二探針123接觸。反之，當?shù)诙軠y面板200b放置于測試平臺110 時，第二受測面板200b的信號接點201b只會與第二探針123接觸，而不會 與第一探針122接觸。參照圖3A及圖3B所示，測試治具120還包含復(fù)數(shù)個 針座127a、 127b、 127c，設(shè)置于板件121的邊緣。這些第一探針122及這些 第二探針123固定于各針座127a、 127b、 127c上，而設(shè)置于板件121的邊 緣。其中，第一探針122及第二探針123先固定于針座127a、 127b、 127c 上，針座127a、 127b、 127c再被設(shè)置于板件121邊緣，以使板件121的組 裝較為便利，同時，針座127a、 127b、 127c也可以延長第一探針122及第 二探針123距離。探針設(shè)置于針座127a、 127b、 127c上的數(shù)目，可依據(jù)各 探針所要設(shè)置的相對位置來決定。以本實施例為例，各針座127a、 127b、 127c 的探針數(shù)目(第一探針122加上第二探針123)可為二個、三個或四個，但數(shù)目并不以前述為限。再參照圖2A、圖2B、圖3A及圖3B所示，測試治具120還包含有一第 一電連接組件124及第二電連接組件125。第一電連接組件124電性連接于 第一探針122，用以接收一第一測試信號。第二電連接組件125電性連接第 二探針123，用以接收一第二測試信號。于測試第一受測面板200a時，是以 測試信號源(圖未繪示)的電連接器131電性連接于第一電連接組件124， 并以排線132連接電連接器131及測試信號源。當測試第一受測面板200a 時，測試信號源提供一第一測試信號，該第一測試信號通過排線132及電連 接器131，將第一測試信號傳輸至第一電連接組件124，并透過各第一探針 122傳輸至第一受測面板200a的信號接點201a。相同地，當測試第二受測 面板200b時，是以測試信號源(圖未繪示)的電連接器131電性連接于第 二電連接組件125，測試信號源提供一第二測試信號，該第二測試信號通過 排線132及電連接器131，將第二測試信號傳輸至第二電連接組件125，并 透過各第二探針123，傳輸至第二受測面板200b的信號接點201b。請參照圖4A及圖4B所示，第一電連接組件124還包含一第一電路板 124a及復(fù)數(shù)條第一導(dǎo)線124c，且第一電路板124a之上具有一金屬線路層 124b，電性連接于第一導(dǎo)線124c。各第一導(dǎo)線124c的另一端分別電性連接 于各第一探針122，以傳送第一測試信號至各第一探針122。同樣地，第二 電連接組件125還包含一第二電路板125a及復(fù)數(shù)條第二導(dǎo)線125c，且第二 電路板125a之上具有一金屬線路層125b，電性連接于第二導(dǎo)線125c。各第 二導(dǎo)線125c的另一端分別電性連接于各第二探針123，以傳送第二測試信號 至各第二探針123。應(yīng)用上述測試治具110進行的測試方法，是先提供一側(cè)邊設(shè)有復(fù)數(shù)個第 一探針122及復(fù)數(shù)個第二探針123的板件120。接著將一待測試顯示面板置 于測試平臺110上，并將待測試顯示面板的信號接點與對應(yīng)的第一探針122 或第二探針123接觸。然后判斷待測試顯示面板的信號接點與對應(yīng)的第一探 針122或第二探針123接觸。若待測試顯示面板的信號接點與第一探針122 接觸，則決定待測試顯示面板的規(guī)格為第一規(guī)格，并對這些第一探針122傳 輸?shù)谝粶y試信號。若待測試面板的信號接點與第二探針123接觸，則決定待 測試面板的規(guī)格為第二規(guī)格，并對第二探針123傳輸?shù)诙y試信號。如此一 來，只要選擇測試信號由第一電連接組件124或第二電連接組件125饋入， 就可以透過同一套測試治具110，對具備不同規(guī)格的面板進行測試。參閱圖5A及圖5B所示，為本發(fā)明第二實施例所提供的一種測試治具 120，該測試治具120包含一板件121、復(fù)數(shù)個第一探針122、復(fù)數(shù)個第二探 針123、復(fù)數(shù)個第三探針126、第一電連接組件124、第二電連接組件125。 第一探針122、第二探針123及第三探針126設(shè)置于板件120的一側(cè)邊。對 于具備不同規(guī)格的第一受測面板200a及第二受測面板200b而言，它們的信 號接點201a、 201b中，會有部分位于相同的配置位置，這一部份的信號接 點201a、 201b可透過第三探針126來接觸，也就是說第三探針126是可選 擇地接觸第一受測面板200a的部分信號接點201a,或是第二受測面板200b 的部分信號接點201b。于此實施例中，第一探針122及第三探針126共同組 成的位置配置，是相對于第一受測面板200a的信號接點201a的位置，如圖 5A所示。同樣地，相同的這些第三探針126與第二探針123共同組成的位置 配置，是相對于第二受測面板200b的信號接點201b的位置，如圖5B所示。 因此，第一探針122與第三探針126可共同用于接觸第一受測面板200a的 信號接點201a，而第二探針123與第三探針126可共同用于接觸第二受測面 板200b的信號接點201b。對于第一測試信號及第二測試信號的傳遞而言，于第一電性連接組件 124的第一導(dǎo)線124c中，部分的第一導(dǎo)線124c連接于第三探針126，其余 第一導(dǎo)線124c連接于第一探針122。于第二電性連接組件125的第二導(dǎo)線 125c中，部分的第二導(dǎo)線125c連接于第三探針126，其余第二導(dǎo)線125c連 接于第二探針123。也就是說，至少一第一導(dǎo)線124c及至少一第二導(dǎo)線125c 共同電性連接于第三探針126。因此，當測試第一受測面板200a時，測試信 號源提供一第一測試信號時，該第一測試信號通過第一探針122及第三探針 126傳輸至第一受測面板200a的信號接點201a。相同的，當測試第二受測 面板200b時，測試信號源提供一第二測試信號，該第二測試信號通過第二 探針123及第三探針126傳輸至第二受測面板200b的信號接腳點201b。參閱圖6所示，為本發(fā)明所揭露測試治具120的又一種電性連接組件示 意圖，該測試治具120大致與第一實施例相同，其差異在于第一電性連接組 件124及第二電性連接組件125是分別電性連接有一電連接器131。各電連 接器131分別透過排線132連接第一電性連接組件124和第二電性連接組件 125,以快速地插接于測試信號源，接收第一測試信號或是第二測試信號。 當然，第一電性連接組件124及第二電性連接組件125也可以僅包含一個電 連接器131，該電連接器131透過一排線132可選擇性的連接于第一電性連 接組件124或第二電性連接組件125 (省略附圖)，可以降低成本。雖然本發(fā)明以前述的實施例揭露如上，然而其并非用以限定本發(fā)明。在 不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)所作的更動與潤飾，均屬本發(fā)明的專利保護范 圍。關(guān)于本發(fā)明所界定的保護范圍將以權(quán)利要求書所限定的范圍為準。
權(quán)利要求
1.一種顯示面板的測試治具，其特征在于，包括有一板件；復(fù)數(shù)個第一探針，設(shè)于該板件的一側(cè)邊，分別用以接觸一具有第一規(guī)格的受測面板的信號接點；復(fù)數(shù)個第二探針，設(shè)于該板件的該側(cè)邊，分別用以接觸一具有第二規(guī)格的受測面板的信號接點；一第一電連接組件，電性連接這些第一探針，其中該第一電連接組件用以接收一第一測試信號，并透過各該第一探針傳送該第一測試信號至該第一規(guī)格的受測面板的信號接點；及一第二電連接組件，電性連接這些第二探針，其中該第二電連接組件用以接收一第二測試信號，并透過各該第二探針傳送至該第二規(guī)格的受測面板的信號接點。
2. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測試治具，其特征在于，還包含一電 連接器，電性連接于該第一電連接組件或該第二電連接組件。
3. 如權(quán)利要求2所述的顯示面板的測試治具，其特征在于，還包含一排 線，用以電性連接該第一電連接組件及該電連接器，或電性連接該第二電連 接組件及該電連接器。
4. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測試治具，其特征在于，還包含二電 連接器，分別電性連接于該第一電連接組件和該第二電連接組件。
5. 如權(quán)利要求4所述的顯示面板的測試治具，其特征在于，還包含二排 線，該二電連接器分別透過該二排線連接該第一 電性連接組件和第二電性連 接組件。
6. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測試治具，其特征在于，該第一電連 接組件具有復(fù)數(shù)條第一導(dǎo)線，用以分別電性連接這些第一探針。
7. 如權(quán)利要求6所述的顯示面板的測試治具，其特征在于，該第一電連 接組件具有一第一電路板，其上具有一金屬線路層，該金屬線路層電性連接 于這些第一導(dǎo)線。
8. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測試治具，其特征在于，該第二電連 接組件具有復(fù)數(shù)條第二導(dǎo)線，用以分別電性連接這些第二探針。
9. 如權(quán)利要求8所述的顯示面板的測試治具，其特征在于，該第二電連 接組件具有一第二電路板，其上具有一金屬線路層，該金屬線路層電性連接 于這些第二導(dǎo)線。
10. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測試治具，其特征在于，還包含 至少一第三探針，設(shè)于該板件的該側(cè)邊，用以接觸該第一規(guī)格的受測面板的 部份信號接點，或是該第二規(guī)格的受測面板的部份信號接點。
11. 如權(quán)利要求10所述的顯示面板的測試治具，其特征在于，該第三 探針電性連接于該第一電連接組件與該第二電連接組件。
12. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測試治具，其特征在于，這些第 一探針與這些第二探針是以交錯或間隔的方式排列于該板件的該側(cè)邊。
13. —種顯示面板的測試方法，其特征在于，包括有如下步驟 提供一側(cè)邊設(shè)有復(fù)數(shù)個第一探針及復(fù)數(shù)個第二探針的板件； 將一待測試顯示面板置于一測試平臺上，并將該待測試顯示面板的信號接點與對應(yīng)的第一探針或第二探針接觸；及判斷該待測試顯示面板與第一探針或第二探針接觸，若該待測試顯示面 板與第一探針接觸，則對這些第一探針傳輸一第一測試信號，若該待測試面 板與第二探針接觸，則對該第二探針傳輸一第二測試信號。
全文摘要
一種顯示面板的測試治具及測試方法，該測試治具包括有一板件及設(shè)置于板件側(cè)邊的探針。這些探針至少包含復(fù)數(shù)個第一探針，用以接觸具有第一規(guī)格的第一受測面板的信號接點，而傳送第一測試信號至第一受測面板的信號接點；以及復(fù)數(shù)個第二探針，用以接觸具有第二規(guī)格的第二受測面板的信號接點，而傳送第二測試信號至第二受測面板的信號接點。因此該測試治具可選擇地用于測試不同規(guī)格的顯示面板。
文檔編號G01R1/073GK101101314SQ20071014663
公開日2008年1月9日 申請日期2007年8月23日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月23日
發(fā)明者林憲杰 申請人:友達光電股份有限公司