專利名稱：物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種物件曲面的檢測(cè)方法，尤其是一種物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是在工業(yè)、科研中被廣泛應(yīng)用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量的一種測(cè)量裝置， 一般的 測(cè)量方法是將被測(cè)物件置于三坐標(biāo)測(cè)量空間，利用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的接觸探頭沿被測(cè)物件的表 面經(jīng)過(guò)編程的路徑逐點(diǎn)捕捉數(shù)據(jù)，根據(jù)捕捉的數(shù)據(jù)分析被測(cè)物件的曲面品質(zhì)。然而，隨著產(chǎn) 品曲面造型越來(lái)越復(fù)雜，如手機(jī)、MP3、 MP4，傳統(tǒng)的測(cè)量方法獲得的測(cè)量數(shù)據(jù)很難反映曲面 的真實(shí)情況，測(cè)量速度慢且效率較低。尤其是針對(duì)物件曲面的局部輪廓進(jìn)行檢測(cè)，傳統(tǒng)的測(cè) 量方法無(wú)法進(jìn)行。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，其可對(duì)物件曲面的局部 輪廓進(jìn)行檢測(cè)，提高了曲面檢測(cè)的效率和精度。
一種物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，包括如下步驟(a)輸入物件、物件的點(diǎn)云和物 件的切線數(shù)據(jù)；(b)將所述切線拉伸成一個(gè)切面，計(jì)算切面與物件曲面的交點(diǎn)；(c)計(jì)算 所述切線周圍點(diǎn)云到曲面的垂直距離點(diǎn)、垂直距離及垂直線的法向量；(d)將所述垂直距 離點(diǎn)投影到切面上，得到點(diǎn)云在切面上的理論點(diǎn)；(e)根據(jù)所述理論點(diǎn)、點(diǎn)云到曲面的垂直 距離和垂直線的法向量計(jì)算出點(diǎn)云在切面上的量測(cè)點(diǎn)和上、下公差點(diǎn)；(f)連接量測(cè)點(diǎn)生成 量測(cè)線，連接切面與曲面的交點(diǎn)生成標(biāo)準(zhǔn)線，連接理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)的量測(cè)點(diǎn)，連接上公差點(diǎn)生 成上公差線，連接下公差點(diǎn)生成下公差線；(g)根據(jù)量測(cè)線與標(biāo)準(zhǔn)線的誤差范圍或理論點(diǎn) 和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)的連線是否在上、下公差線范圍內(nèi)判斷物件曲面的局部輪廓品質(zhì)。
相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述的物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，可對(duì)物件曲面的局部輪廓進(jìn)行 檢測(cè)，提高了曲面檢測(cè)的效率和精度。


圖l是本發(fā)明物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法較佳實(shí)施例的應(yīng)用環(huán)境圖。 圖2是本發(fā)明物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法較佳實(shí)施例的主流程圖。 圖3是圖2中步驟S200的具體流程圖。 圖4是圖2中步驟S300的具體流程圖。
5圖5是圖4中步驟S305的具體流程圖。 圖6是圖2中步驟S400的具體流程圖。
具體實(shí)施例方式
如圖1所示，是本發(fā)明物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法較佳實(shí)施例的應(yīng)用環(huán)境圖。該應(yīng)用 環(huán)境圖主要包括數(shù)據(jù)庫(kù)l、與數(shù)據(jù)庫(kù)1連接的計(jì)算機(jī)2以及與計(jì)算機(jī)2連接的顯示設(shè)備3。
數(shù)據(jù)庫(kù)1中儲(chǔ)存有物件的標(biāo)準(zhǔn)CAD模型的曲面數(shù)據(jù)(以下簡(jiǎn)稱曲面數(shù)據(jù))、掃描物件所得 到的實(shí)際點(diǎn)云數(shù)據(jù)(以下簡(jiǎn)稱點(diǎn)云數(shù)據(jù))及曲面局部輪廓檢測(cè)過(guò)程中產(chǎn)生的數(shù)據(jù)。所述曲面 數(shù)據(jù)包括曲面網(wǎng)格化處理后形成的三角形、每個(gè)三角形包含的頂點(diǎn)、每個(gè)頂點(diǎn)的坐標(biāo)等。
計(jì)算機(jī)2中安裝有曲面局部輪廓檢測(cè)程序20，所述曲面局部輪廓檢測(cè)程序20用于對(duì)物件 曲面的局部輪廓品質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)。
顯示設(shè)備3提供一顯示界面用于顯示物件的曲面、掃描物件得到的點(diǎn)云、利用該方法對(duì) 物件曲面局部輪廓進(jìn)行檢測(cè)得到的檢測(cè)圖形。所述檢測(cè)圖形中包括上公差線、下公差線、標(biāo) 準(zhǔn)線和量測(cè)線等。用戶可以設(shè)置不同線條顯示的顏色，例如，用戶設(shè)置上公差線用紅色顯示 、下公差線用藍(lán)色顯示、標(biāo)準(zhǔn)線用綠色顯示、量測(cè)線用白色顯示等。
如圖2所示，是本發(fā)明物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法較佳實(shí)施例的主流程圖。首先，步 驟SIOO，輸入物件、物件的點(diǎn)云和物件的切線數(shù)據(jù)，并設(shè)置檢測(cè)圖形中不同線條顯示的顏色
步驟S200，將切線拉伸成一個(gè)切面，計(jì)算切面與物件曲面(以下簡(jiǎn)稱曲面)的交點(diǎn)。 步驟S300，計(jì)算切線周圍點(diǎn)云到曲面的垂直距離點(diǎn)、垂直距離及垂直線的法向量。 步驟S400，將所述垂直距離點(diǎn)投影到切面上，得到點(diǎn)云在切面上的理論點(diǎn)。 步驟S500，根據(jù)所述理論點(diǎn)、點(diǎn)云到曲面的垂直距離和垂直線的法向量計(jì)算出點(diǎn)云在切 面上的量測(cè)點(diǎn)和上、下公差點(diǎn)。假設(shè)理論點(diǎn)存儲(chǔ)于數(shù)組m—ptStds中，點(diǎn)云到曲面的垂直距離 存儲(chǔ)于數(shù)組triDis中，垂直線的法向量存儲(chǔ)于數(shù)組triVecs中，量測(cè)點(diǎn)存儲(chǔ)于存儲(chǔ)于數(shù)組 m—MeasurePts中，上公差點(diǎn)存儲(chǔ)于數(shù)組m—MeasureUpTols中，下公差點(diǎn)存儲(chǔ)于數(shù)組 m—MeasureDownTols中，則量測(cè)點(diǎn)的計(jì)算公式為
m—MeasurePts[i]. x = m—ptStds[i]. x + triDis[i] * triVecs[i]. x m—MeasurePts[i]. y = m—ptStds[i].y + triDis[i] * triVecs[i].y m—MeasurePts[i]. z = m—ptStds[i].z + triDis[i] * triVecs[i].z 其中，符號(hào)"*"代表相乘，m—MeasurePts[i].x代表量測(cè)點(diǎn)的X軸坐標(biāo)， m—ptStds[i]. x代表理論點(diǎn)的X軸坐標(biāo)，triVecs[i]. x代表垂直線的X軸法向量；m—MeasurePts[i]. y代表量測(cè)點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)，m—ptStds[i]. y代表理論點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)， triVecs[i]. y代表垂直線的Y軸法向量；m—MeasurePts [i]. z代表量測(cè)點(diǎn)的Z軸坐標(biāo)， m—ptStds[i]. z代表理論點(diǎn)的Z軸坐標(biāo)，triVecs[i]. z代表垂直線的Z軸法向量。 上公差點(diǎn)的計(jì)算公式為
m—MeasureUpTols[i]. x = m—ptStds[i]. x + MaxTol * triVecs[i]. x m—MeasureUpTols[i]. y = m—ptStds[i].y + MaxTol * triVecs[i].y m—MeasureUpTols[i]. z = m—ptStds[i].z + MaxTol * triVecs[i].z 其中，MaxTol代表最大上公差值，m—MeasureUpTols[i].x代表上公差點(diǎn)的X軸坐標(biāo)，
m—MeasureUpTols [i]. y代表上公差點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)，m—MeasureUpTols [i] z代表上公差點(diǎn)的Z軸坐標(biāo)。
下公差點(diǎn)的計(jì)算公式為
m—MeasureDownTols[i].x = m—ptStds[i].x + MinTol * triVecs[i].x m—MeasureDownTols[i]. y = m—ptStds[i]. y + MinTol * triVecs[i]. y m—MeasureDo體Tols [i]. z = m—ptStds [i]. z + MinTol * triVecs [i]. z 其中，MinTol代表最小下公差值，m—MeasureDownTols[i]. x代表下公差點(diǎn)的X軸坐標(biāo)，
m—MeasureDownTols[i]. y代表下公差點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)，m—MeasureDownTols [i]. z代表下公差點(diǎn)
的Z軸坐標(biāo)。
步驟S600，連接量測(cè)點(diǎn)生成量測(cè)線，連接切面與曲面的交點(diǎn)生成標(biāo)準(zhǔn)線，連接理論點(diǎn)和 對(duì)應(yīng)的量測(cè)點(diǎn)，連接上公差點(diǎn)生成上公差線，連接下公差點(diǎn)生成下公差線，同時(shí)在顯示設(shè)備 3上用不同顏色顯示所述生成的線。
步驟S700，根據(jù)量測(cè)線與標(biāo)準(zhǔn)線的誤差范圍或理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)的連線是否在上、下 公差線范圍內(nèi)判斷物件曲面的局部輪廓品質(zhì)。具體而言，如果量測(cè)線偏離標(biāo)準(zhǔn)線超過(guò)了誤差 范圍(即量測(cè)線偏離標(biāo)準(zhǔn)線超過(guò)了上公差線或下公差線)或理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)的連線超過(guò) 了上、下公差線，則可以判斷所述物件曲面的局部輪廓品質(zhì)不合格。否則，則可以判斷所述 物件曲面的局部輪廓品質(zhì)合格。
另外，用戶還可以通過(guò)設(shè)置不同公差分段區(qū)間內(nèi)所述理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)連線顯示的顏 色，即用不同的顏色顯示落在不同公差分段區(qū)間的理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)的連線。假如公差范 圍為[-O. 350,0.350]，其中，最大上公差值為O. 350，最小下公差值為-O. 350，如將所述公 差范圍分成若干個(gè)公差分段區(qū)間[-0. 350，-0. 300]， [-0.300，-0.250]，…，
，
。則可以設(shè)定落在公差分段區(qū)間[-0. 350， -0. 300]的理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)的連線用深藍(lán)顯示，落在公差分段區(qū)間[-0. 300， -0. 250]的理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)的連線用天藍(lán) 顯示，落在公差分段區(qū)間
的理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)的連線用粉紅顯示，落在公 差分段區(qū)間
的理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)的連線用深紅顯示，大于最大上公差值的 區(qū)間
的理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)的連線用咖啡色顯示。
如圖3所示，是圖2中步驟S200的具體流程圖。首先，步驟S201，對(duì)所述曲面進(jìn)行三角網(wǎng) 格化處理，將所述曲面拆分成三角形表示。
步驟S202，將每個(gè)三角形的頂點(diǎn)坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS (Display Coordinate System,顯示坐 標(biāo)系統(tǒng))坐標(biāo)。具體而言，是將每個(gè)三角形頂點(diǎn)的WCS (World Coordinate System,世界坐 標(biāo)系統(tǒng))坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS坐標(biāo)。
步驟S203，將切線的端點(diǎn)坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS坐標(biāo)，即將切線端點(diǎn)的WCS坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS坐標(biāo)
步驟S204，根據(jù)切線端點(diǎn)的DCS坐標(biāo)和公差范圍計(jì)算出一個(gè)矩形，所述矩形的長(zhǎng)度為切 線端點(diǎn)的X軸坐標(biāo)值之差的絕對(duì)值，所述矩形的寬度為所述公差范圍的最大上公差值與最小 下公差值之差。假如所述公差范圍為[-0.350， 0.350]，其中，最大上公差值為0.350，最小 下公差值為-0.350，則矩形的寬度=0.350 — (-0.350) = 0.7。
步驟S205，找出位于所述矩形中的三角形頂點(diǎn)。
步驟S206，計(jì)算頂點(diǎn)位于所述矩形中的三角形與切面的交點(diǎn)，作為曲面與切面的交點(diǎn)。 如圖4所示，是圖2中步驟S300的具體流程圖。步驟S301，獲取物件的點(diǎn)云(以下簡(jiǎn)稱點(diǎn) 云)。
步驟S302，將點(diǎn)云坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS坐標(biāo)，即將點(diǎn)云的WCS坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS坐標(biāo)。所述點(diǎn)云 的WCS坐標(biāo)和DCS坐標(biāo)存儲(chǔ)于兩個(gè)數(shù)組中，且點(diǎn)云在每個(gè)數(shù)組中的存儲(chǔ)位置相同。比如，點(diǎn)云 的WCS坐標(biāo)存儲(chǔ)于數(shù)組pt3ds，轉(zhuǎn)換后的DCS坐標(biāo)存儲(chǔ)于數(shù)組pt2ds，如果一個(gè)點(diǎn)云a的WCS坐標(biāo) 存儲(chǔ)于pt3ds[4]，則點(diǎn)云a轉(zhuǎn)換后的DCS坐標(biāo)存儲(chǔ)于pt2ds[4]。
步驟S303，將切線的端點(diǎn)坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS坐標(biāo)，即將切線端點(diǎn)的WCS坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS坐標(biāo)
步驟S304，根據(jù)切線端點(diǎn)的DCS坐標(biāo)和公差范圍計(jì)算出一個(gè)矩形，所述矩形的長(zhǎng)度為切 線端點(diǎn)的X軸坐標(biāo)值之差的絕對(duì)值，所述矩形的寬度為所述公差范圍的最大上公差值與最小 下公差值之差。
步驟S305，計(jì)算出位于所述矩形中的點(diǎn)云。步驟S306，計(jì)算所述矩形中的點(diǎn)云到曲面的垂直距離點(diǎn)、垂直距離及垂直線的法向量。 如圖5所示，是圖4中步驟S305的具體流程圖。步驟S3051，獲取所有DCS坐標(biāo)下的點(diǎn)云。 假設(shè)點(diǎn)云的DCS坐標(biāo)存儲(chǔ)于數(shù)組pt2ds中，pt2ds[i]存儲(chǔ)數(shù)組中第i+l個(gè)點(diǎn)云的DCS坐標(biāo)，其中 ，0《i 〈pt2ds. length() ， pt2ds. length()代表點(diǎn)云數(shù)量。pt2ds[i] x代表第i+l個(gè)點(diǎn)云的 X軸坐標(biāo)(DCS坐標(biāo))，pt2ds[i].y代表第i+l個(gè)點(diǎn)云的Y軸坐標(biāo)(DCS坐標(biāo))。
步驟S3052，從1=0開(kāi)始循環(huán)査找位于所述矩形中的點(diǎn)云。假設(shè)所述矩形的最小點(diǎn)為 pt2dMin，最大點(diǎn)為pt2dMax， pt2dMin. x代表所述矩形最小點(diǎn)的X軸坐標(biāo)，pt2dMin. y代表所 述矩形最小點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)，pt2dMax. x代表所述矩形最大點(diǎn)的X軸坐標(biāo)，pt2dMax. y代表所述矩 形最大點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)。
步驟S3053，判斷i是否小于點(diǎn)云數(shù)量(即i 〈pt2ds. length())，如果i大于或等于點(diǎn) 云數(shù)量，則循環(huán)結(jié)束。
如果i小于點(diǎn)云數(shù)量，步驟S3054，判斷該點(diǎn)云是否在所述矩形中，判斷該點(diǎn)云在所述矩 開(kāi)沖的公式為pt2dMin. x〈pt2ds [i] x〈pt2dMax. x且pt2dMin. y〈pt2ds [i] y〈pt2dMax. y。如 果判斷該點(diǎn)云不在所述矩形中，則流程轉(zhuǎn)到步驟S3053。
如果該點(diǎn)云在所述矩形中，步驟S3055，獲取該點(diǎn)云DCS坐標(biāo)對(duì)應(yīng)的WCS坐標(biāo)，同時(shí)i加l ，流程轉(zhuǎn)到步驟S3053。
如圖6所示，是圖2中步驟S400的具體流程圖。步驟S401，獲取步驟S306中所述矩形中的 點(diǎn)云到曲面的垂直距離點(diǎn)。
步驟S402，獲取當(dāng)前視角的Z軸向量。
步驟S403，根據(jù)所述Z軸向量將所述切線拉伸成一個(gè)切面。 步驟S404，從i = 0開(kāi)始循環(huán)。
步驟S405，判斷i是否小于垂直距離點(diǎn)數(shù)量，如果i大于或等于垂直距離點(diǎn)數(shù)量，則循環(huán)結(jié)束。
如果i小于垂直距離點(diǎn)數(shù)量，步驟S406，將所述垂直距離點(diǎn)投影到所述拉伸的切面上， 得到理論點(diǎn)，同時(shí)i加l，流程轉(zhuǎn)到步驟S405。
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權(quán)利要求
權(quán)利要求1一種物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，其特征在于，該方法包括如下步驟(a)輸入物件、物件的點(diǎn)云和物件的切線數(shù)據(jù)；(b)將所述切線拉伸成一個(gè)切面，計(jì)算切面與物件曲面的交點(diǎn)；(c)計(jì)算所述切線周圍點(diǎn)云到曲面的垂直距離點(diǎn)、垂直距離及垂直線的法向量；(d)將所述垂直距離點(diǎn)投影到切面上，得到點(diǎn)云在切面上的理論點(diǎn)；(e)根據(jù)所述理論點(diǎn)、點(diǎn)云到曲面的垂直距離和垂直線的法向量計(jì)算出點(diǎn)云在切面上的量測(cè)點(diǎn)和上、下公差點(diǎn)；(f)連接量測(cè)點(diǎn)生成量測(cè)線，連接切面與曲面的交點(diǎn)生成標(biāo)準(zhǔn)線，連接理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)的量測(cè)點(diǎn)，連接上公差點(diǎn)生成上公差線，連接下公差點(diǎn)生成下公差線；及(g)根據(jù)量測(cè)線與標(biāo)準(zhǔn)線的誤差范圍或理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)的連線是否在上、下公差線范圍內(nèi)判斷物件曲面的局部輪廓品質(zhì)。
2.如權(quán)利要求l所述的物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，其特征在于， 其中步驟(a)還包括步驟設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)線、量測(cè)線、理論點(diǎn)和對(duì)應(yīng)量測(cè)點(diǎn)的連線、上公差線 和下公差線顯示的顏色。
3.如權(quán)利要求l所述的物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，其特征在于， 其中步驟(b)包括以下步驟(bl)對(duì)所述曲面進(jìn)行三角網(wǎng)格化處理，將所述曲面拆分成三角形表示； (b2)將每個(gè)三角形頂點(diǎn)的WCS坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS坐標(biāo)； (b3)將切線端點(diǎn)的WCS坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS坐標(biāo)；(b4)根據(jù)切線端點(diǎn)的DCS坐標(biāo)和公差范圍計(jì)算出一個(gè)矩形，所述矩形的長(zhǎng)度為切線端 點(diǎn)的X軸坐標(biāo)值之差的絕對(duì)值，所述矩形的寬度為所述公差范圍的最大上公差值與最小下公 差值之差；(b5)找出位于所述矩形中的三角形頂點(diǎn)；(b6)計(jì)算頂點(diǎn)位于所述矩形中的三角形與切面的交點(diǎn)，作為切面與物件曲面的交點(diǎn)
4.如權(quán)利要求l所述的物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，其特征在于， 其中步驟(C)包括以下步驟(cl)獲取物件的點(diǎn)云；(c2)將點(diǎn)云的WCS坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS坐標(biāo)；(c3)將切線端點(diǎn)的WCS坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成DCS坐標(biāo)；(c4)根據(jù)切線端點(diǎn)的DCS坐標(biāo)和公差范圍計(jì)算出一個(gè)矩形，所述矩形的長(zhǎng)度為切線端 點(diǎn)的X軸坐標(biāo)值之差的絕對(duì)值，所述矩形的寬度為所述公差范圍的最大上公差值與最小下公 差值之差；(c5)找出位于所述矩形中的點(diǎn)云；(c6)計(jì)算所述矩形中的點(diǎn)云到曲面的垂直距離點(diǎn)、垂直距離及垂直線的法向量。
5.如權(quán)利要求4所述的物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，其特征在于，其中步驟(c5)中尋找所述矩形中點(diǎn)云的依據(jù)為所述點(diǎn)云的X軸坐標(biāo)值和Y軸坐標(biāo)值大于所述矩形最小點(diǎn)的X軸坐標(biāo)值和Y軸坐標(biāo)值，并且所述點(diǎn)云的X軸坐標(biāo)值和Y軸坐標(biāo)值小于所述矩形最大點(diǎn)的X軸坐標(biāo)值和Y軸坐標(biāo)值。
6.如權(quán)利要求l所述的物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，其特征在于，其中步驟(e)中量測(cè)點(diǎn)的計(jì)算公式為量測(cè)點(diǎn)的X軸坐標(biāo)二理論點(diǎn)的X軸坐標(biāo)+垂直距離4垂直線的X軸法向量；量測(cè)點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)=理論點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)+垂直距離4垂直線的Y軸法向量；量測(cè)點(diǎn)的Z軸坐標(biāo)二理論點(diǎn)的Z軸坐標(biāo)+垂直距離4垂直線的Z軸法向量。
7.如權(quán)利要求l所述的物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，其特征在于，其中步驟(e)中上公差點(diǎn)的計(jì)算公式為上公差點(diǎn)的X軸坐標(biāo)二理論點(diǎn)的X軸坐標(biāo)+最大上公差值4垂直線的X軸法向量；上公差點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)二理論點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)+最大上公差值傘垂直線的Y軸法向量；上公差點(diǎn)的Z軸坐標(biāo)二理論點(diǎn)的z軸坐標(biāo)+最大上公差值傘垂直線的z軸法向量。
8.如權(quán)利要求l所述的物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，其特征在于， 其中步驟(e)中下公差點(diǎn)的計(jì)算公式為下公差點(diǎn)的X軸坐標(biāo)二理論點(diǎn)的X軸坐標(biāo)+最小下公差值4垂直線的X軸法向量；下公差點(diǎn) 的Y軸坐標(biāo)二理論點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)+最小下公差值4垂直線的Y軸法向量；下公差點(diǎn)的Z軸坐標(biāo)二理論點(diǎn)的Z軸坐標(biāo)+最小下公差值4垂直線的Z軸法向:
全文摘要
一種物件曲面的局部輪廓檢測(cè)方法，該方法包括如下步驟(a)輸入物件、物件的點(diǎn)云和物件的切線；(b)將切線拉伸成一個(gè)切面，計(jì)算切面與物件曲面的交點(diǎn)；(c)計(jì)算切線周圍點(diǎn)云到曲面的垂直距離點(diǎn)、垂直距離及垂直線的法向量；(d)將所述垂直距離點(diǎn)投影到切面上，得到點(diǎn)云在切面上的理論點(diǎn)；(e)根據(jù)所述理論點(diǎn)、垂直距離和垂直線的法向量計(jì)算出點(diǎn)云在切面上的量測(cè)點(diǎn)和上、下公差點(diǎn)；(f)將對(duì)應(yīng)的點(diǎn)連接起來(lái)，生成量測(cè)線、標(biāo)準(zhǔn)線、理論點(diǎn)和量測(cè)點(diǎn)的連線、上公差線和下公差線。利用本發(fā)明可以對(duì)物件曲面的局部輪廓進(jìn)行量測(cè)，提高了曲面檢測(cè)的效率和精度。
文檔編號(hào)G01B11/03GK101424520SQ20071020233
公開(kāi)日2009年5月6日 申請(qǐng)日期2007年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月31日
發(fā)明者吳新元, 張旨光, 敏 王, 華 黃 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司