專利名稱：兩段式測(cè)試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種治具，尤其是一種兩段式測(cè)試治具。
技術(shù)背景電子線路集成板(PCB板)在生產(chǎn)過程中需要經(jīng)歷很多的環(huán)節(jié)，每一 環(huán)節(jié)都需要有相應(yīng)的測(cè)試儀器來檢測(cè)產(chǎn)品的好壞。治具是一個(gè)提供PCB板 測(cè)試的平臺(tái)，其工作原理是利用探針將PCB板上的待測(cè)點(diǎn)與測(cè)試機(jī)器中的 對(duì)應(yīng)點(diǎn)導(dǎo)通，通過調(diào)用測(cè)試機(jī)器中對(duì)應(yīng)的程序來實(shí)現(xiàn)最終的測(cè)試?，F(xiàn)有的治具一般分為上下模、上下載板、針板、各類定位系統(tǒng)、探針組 件及輸出牛角。治具通過其天板和底框固定在測(cè)試機(jī)器上的，上下載板用來 保護(hù)待測(cè)板和導(dǎo)正測(cè)試針點(diǎn)，定位系統(tǒng)是確保待測(cè)點(diǎn)與探針能準(zhǔn)確的定位， 牛角是用來轉(zhuǎn)接探針與測(cè)試機(jī)臺(tái)中的對(duì)應(yīng)點(diǎn)?，F(xiàn)有治具的結(jié)構(gòu)如圖1、圖2、 圖3所示。探針組件包括探針和針套，探針是通過針套環(huán)固定在針板上的， 復(fù)位彈簧確保每次測(cè)試完后探針和載板都能復(fù)位。但是，現(xiàn)有結(jié)構(gòu)的治具在使用中還存在一些問題① 使用于ATE (or ICT)的Power on (上電)測(cè)試在所有ATE (or ICT)測(cè)試機(jī)都有上電測(cè)試的功能，Power on后可以使UUT (待測(cè)板)局 部上電后進(jìn)行數(shù)字組件的功能測(cè)量。近些年，電路板功能越來越強(qiáng)，線路結(jié) 構(gòu)越復(fù)雜，也越講究省電功能(工作電壓也越低)；當(dāng)ATE治具壓合測(cè)試到 Power on階段，某些數(shù)字組件會(huì)因特定Nets (線路節(jié)點(diǎn))接觸探針致使阻 抗增加，引發(fā)保護(hù)功能致使該類組件因無法得到額定的工作電壓而無法進(jìn)行 功能測(cè)試。使用原有治具時(shí)的傳統(tǒng)解決方式是用人工把這些針點(diǎn)一一拔除，再進(jìn) 行測(cè)試，這樣做的不利因素是如果把這些針點(diǎn)一一拔除，會(huì)造成對(duì)產(chǎn)品測(cè) 試的測(cè)試零件的含蓋率不足，產(chǎn)生有些零件無法測(cè)試對(duì)產(chǎn)品良率間接造成影 響。另外，在插拔探針時(shí)，容易使針套偏移，造成探針無法準(zhǔn)確接觸測(cè)試點(diǎn)， 影響測(cè)試結(jié)果。② 使用于MDA測(cè)試(泛指靜態(tài)、不上電的測(cè)試)合并ATX (局部線
路電壓測(cè)量)測(cè)試此類電子廠的測(cè)試流程是將MDA測(cè)試，與局部線路電 壓測(cè)量(ATX)分成兩個(gè)站別進(jìn)行測(cè)試。如能將上述兩站合并，即可減少測(cè) 試成本(測(cè)試機(jī)器+治具+勞務(wù))，又可縮短測(cè)試時(shí)間。實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種兩段式測(cè)試治具，在使用中能按測(cè)量要求很方便地使已設(shè)定的會(huì)干擾或不須測(cè)試的探針脫離，能方便進(jìn)行二次測(cè) 量；并且，在使用中探針不易偏移且有自動(dòng)導(dǎo)正作用。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是 一種兩段式測(cè)試治具，用以測(cè)試電子線路集 成板，包括上下模、上下載板、上下固定針板、探針組件及各類定位系統(tǒng)， 所述載板用以保護(hù)待測(cè)板和導(dǎo)正測(cè)試針點(diǎn)，所述探針組件包括探針、針套， 由復(fù)位彈簧確保每次測(cè)試完后探針和載板復(fù)位，治具還包括裝設(shè)有上下活動(dòng) 針板，多次測(cè)量時(shí)始終接觸到測(cè)試針點(diǎn)的探針通過其針套環(huán)固定在固定針板 上，在一些測(cè)試過程中會(huì)干擾的或不需測(cè)試的探針通過其針套環(huán)固定在活動(dòng) 針板上。所述上下活動(dòng)針板各設(shè)置有汽缸帶動(dòng)其運(yùn)動(dòng)。本實(shí)用新型的兩段式治具與現(xiàn)有技術(shù)中類似治具相比，其優(yōu)點(diǎn)是1. 當(dāng)治具在DEBUG (第二次測(cè)量)時(shí)，可將已設(shè)定后會(huì)干擾或不須 測(cè)試的探針脫離，方便DEBUG。2. 當(dāng)DEBUG時(shí)發(fā)現(xiàn)探針錯(cuò)位時(shí)，可將針套移除，另?yè)Q針套環(huán)不同高 度的針套，將其重新敲入，且敲套高度同其它針套保持不變，如原本固定在 固定針板上的探針，其中有一些會(huì)干擾或不須測(cè)試的探針，將其拔出，換上 另一種針套環(huán)較深的針套，將其敲入，因?yàn)樗嗅樚赘叨纫恢?，所以此針套的環(huán)將卡在活動(dòng)針板上，因此當(dāng)活動(dòng)針板向下移動(dòng)時(shí)，此針套將變?yōu)槊撾x測(cè) 試板，同理可用于將脫離的探針改為在固定針板上要測(cè)試的探針。3. 當(dāng)活動(dòng)針板在移動(dòng)時(shí)，所有針套(固定針板上的針套及活動(dòng)針板上 的針套)都保持在針板的孔內(nèi)，可使針點(diǎn)不易偏移且有自動(dòng)導(dǎo)正作用。情況如下活動(dòng)針板上的針套上下移動(dòng)時(shí)，針套前端保持在固定針板的 針套孔內(nèi)，因此，固定針板的針套孔內(nèi)壁可限制活動(dòng)針板上的針套偏移，因 此可導(dǎo)正活動(dòng)的探針，使其偏移量固定于公差的范圍內(nèi)。 活動(dòng)針板在上下移動(dòng)時(shí)，固定針板上的針套后端保持在活動(dòng)針板的針套 孔內(nèi)，因此，活動(dòng)針板的針套孔內(nèi)壁可限制固定針板上的針套偏移，因此可 導(dǎo)正固定針板的探針，使其偏移量固定于公差的范圍內(nèi)。


以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一歩的描述圖1為現(xiàn)有技術(shù)治具的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖1治具從另一方向觀察的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為現(xiàn)有技術(shù)治具的局部示意圖；圖4為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為本實(shí)用新型治具的局部示意圖；圖6為本實(shí)用新型治具第一次測(cè)試時(shí)的示意圖(局部)； 圖7為本實(shí)用新型治具第二次測(cè)試時(shí)的示意圖(局部)。其中10載板；20固定針板；21固定針板；22活動(dòng)針板；30探針； 31固定探針；32活動(dòng)探針；35針套；36針套環(huán)；37針套環(huán)；40復(fù) 位彈簧；50待測(cè)板；51待測(cè)點(diǎn)；60接地板；70汽缸；80墊片；81天 板；82底框；83上支撐柱；84累計(jì)記數(shù)器；88牛角；89針板導(dǎo)柱。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例如圖4、圖5所示， 一種兩段式測(cè)試治具，用以測(cè)試電子線路集成板，包括上下模、上下載板10、上下固定針板21、上下活動(dòng)針板22、 探針組件及各類定位系統(tǒng)及輸出牛角88。圖4所示的天板81和底框82是固定在測(cè)試機(jī)器上的，上下載板10用 來保護(hù)待測(cè)板50和導(dǎo)正測(cè)試針點(diǎn)，探針組件包括探針30、針套35，由復(fù)位 彈簧40確保每次測(cè)試完后探針30和載板10復(fù)位，定位系統(tǒng)是確保待測(cè)點(diǎn) 51與探針30能準(zhǔn)確的定位，牛角88是用來轉(zhuǎn)接探針30與測(cè)試機(jī)臺(tái)中的對(duì) 應(yīng)點(diǎn)。多次測(cè)量時(shí)始終接觸到測(cè)試針點(diǎn)的固定探針31通過其針套環(huán)36固定在 固定針板21上，在一些測(cè)試過程中會(huì)干擾的或不需測(cè)試的活動(dòng)探針32通過 其針套環(huán)37固定在活動(dòng)針板22上。
上下活動(dòng)針板22各設(shè)置有汽缸70帶動(dòng)其運(yùn)動(dòng)，利用汽缸70控制活動(dòng) 針板22的高度。本實(shí)用新型利用固定針板21、活動(dòng)針板22高度產(chǎn)生的落差，使會(huì)干擾 的或不須測(cè)試的活動(dòng)探針32向下移動(dòng)以達(dá)到目的。 其測(cè)量過程圖6、圖7所示1、 如圖6所示，當(dāng)固定針板21和活動(dòng)針板22貼合時(shí)，所有探針針點(diǎn) 高度相同，其利用針套環(huán)位置的不同，將需固定的固定探針31 (始終接觸 到測(cè)試針點(diǎn)的探針)固定于固定針板21上，將需脫離的活動(dòng)探針32 (在一 些測(cè)試過程中會(huì)干擾的或不需測(cè)試)固定在活動(dòng)針板22上。2、 如圖7所示，當(dāng)固定針板21和活動(dòng)針板22(利用汽缸70向下移動(dòng))， 上下產(chǎn)生一定的高度時(shí)，活動(dòng)針板22上的活動(dòng)探針32便無法再接觸到待測(cè) 板50上的針點(diǎn)，于是只有固定針板21上的固定探針31接觸到測(cè)試點(diǎn)51， 而不需測(cè)試的或會(huì)干擾的活動(dòng)探針32向下移開，達(dá)到第二次測(cè)試的條件。當(dāng)然，本實(shí)用新型的兩段式測(cè)試治具還可具有多種變換及改型，并不局 限于上述實(shí)施方式的具體結(jié)構(gòu)?？傊?，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)包括那些對(duì) 于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說顯而易見的變換或替代以及改型。
權(quán)利要求1.一種兩段式測(cè)試治具，用以測(cè)試電子線路集成板，包括上下模、上下載板(10)、上下固定針板(21)、探針組件及各類定位系統(tǒng)，所述載板(10)用以保護(hù)待測(cè)板(50)和導(dǎo)正測(cè)試針點(diǎn)，所述探針組件包括探針(30)、針套(35)，由復(fù)位彈簧(40)確保每次測(cè)試完后探針(30)和載板(10)復(fù)位，其特征在于治具還包括裝設(shè)有上下活動(dòng)針板(22)，多次測(cè)量時(shí)始終接觸到測(cè)試針點(diǎn)的固定探針(31)通過其針套環(huán)(36)固定在固定針板(21)上，在一些測(cè)試過程中會(huì)干擾的或不需測(cè)試的活動(dòng)探針(32)通過其針套環(huán)(37)固定在活動(dòng)針板(22)上。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的兩段式測(cè)試治具，其特征在于所述上下活 動(dòng)針板(22)各設(shè)置有汽缸(70)帶動(dòng)其運(yùn)動(dòng)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種兩段式測(cè)試治具，用以測(cè)試電子線路集成板，包括上下模、上下載板(10)、上下固定針板(21)、探針組件及定位系統(tǒng)，載板(10)用以保護(hù)待測(cè)板(50)和導(dǎo)正測(cè)試針點(diǎn)，探針組件包括探針(30)、針套(35)，由復(fù)位彈簧(40)確保每次測(cè)試完后探針(30)和載板(10)復(fù)位，治具還裝設(shè)有上下活動(dòng)針板(22)，多次測(cè)量時(shí)始終接觸到測(cè)試針點(diǎn)的固定探針(31)通過其針套環(huán)固定在固定針板(21)上，在一些測(cè)試過程中會(huì)干擾的或不需測(cè)試的活動(dòng)探針(32)通過其針套環(huán)固定在活動(dòng)針板(22)上。本實(shí)用新型在使用中能按測(cè)量要求很方便地使會(huì)干擾或不須測(cè)試的探針脫離，能方便二次測(cè)量；在使用中探針不易偏移且有自動(dòng)導(dǎo)正作用。
文檔編號(hào)G01R1/02GK201053973SQ20072004020
公開日2008年4月30日 申請(qǐng)日期2007年6月29日 優(yōu)先權(quán)日2007年6月29日
發(fā)明者林建青 申請(qǐng)人:昆山鴻漢電子有限公司