專利名稱：可自檢故障點(diǎn)的顯示屏的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
可自檢故障點(diǎn)的顯示屏技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是關(guān)于一種顯示裝置，尤指一種具有檢測故障的顯示裝置。背景技術(shù)：
目前大量戶外部署的LED顯示屏的發(fā)光二極管以及控制電路是否正常 工作的檢測沒有很好的辦法，通常采用人工目測的方法，發(fā)光二極管是否受 控制的檢測判斷方法是目測該發(fā)光體是否按照控制發(fā)光或者不發(fā)光來判斷。 效率低下，不能及時(shí)準(zhǔn)確的發(fā)現(xiàn)問題，在使用種產(chǎn)生很多困擾。例如在公共 場合使用的LED顯示屏，常用的①5mm顯示屏，每個(gè)平方米有17200個(gè)發(fā)光 二極管，我們經(jīng)?？吹接酗@示不全，或者部分常亮的故障不能及時(shí)被發(fā)現(xiàn)的 情況，非常影響城市景觀和形象，成千上萬個(gè)顯示屏，發(fā)光的故障依靠人工 目測檢測無法有效及時(shí)并準(zhǔn)確的完成。因此，對現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行改進(jìn)，提供一種簡單方便、效率高、成本低、準(zhǔn) 確發(fā)現(xiàn)問題的可自檢故障點(diǎn)的顯示屏實(shí)為必要。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種成本低、準(zhǔn)確度高、結(jié)構(gòu)簡單、性能好 的具有檢測故障的顯示屏。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案提供一種可自檢故障點(diǎn)的顯示屏，其包括微處理器和相連的CPLD (Complex Programmable Logic Device,復(fù)雜的可編程邏輯器)或FPGA( Field Programmable Gates Array,現(xiàn)場可編程門陣列器)控制系統(tǒng)、LED二極管， 其包括LED二極管點(diǎn)陣總體電源前串連的電阻，以及放大器和A/D轉(zhuǎn)換器。該放大器泉用線性放大器。且該微處理器連接無線數(shù)傳單無，如GPRS 或CDMA，把檢測數(shù)搌實(shí)i時(shí)傳回、，可以有效解決大量公共場合LED顯示器等 密集發(fā)光設(shè)備的檢測問題。顯示屏內(nèi)部的微處理器MCU控制CPLD (或FPGA )掃描方法，通過譯碼電路控制行列驅(qū)動(dòng)，控制LED發(fā)光二極管逐個(gè)分別發(fā)光和不發(fā)光，通過對 LED發(fā)光二極管總體電源前串連的小阻值電阻，采樣該小阻值電阻的電壓 降，并通過線性放大電路對該電壓進(jìn)行放大并A/D轉(zhuǎn)換，獲得電壓數(shù)值，并 換算出是否有電流通過以及采樣計(jì)算電流大小，來判斷每個(gè)二極管是否受控 發(fā)光和不發(fā)光。該判斷方法如下1. 若發(fā)光狀態(tài)有正常范圍電流，不發(fā)光狀態(tài)沒有電流，則LED控制顯 示正常；2. 若發(fā)光狀態(tài)電流超過正常范圍，則二極管可能短路損壞；3. 若發(fā)光狀態(tài)沒有電流，則二極管可能斷路損壞或者控制電路失效；4. 若不發(fā)光狀態(tài)有電流，則二極管可能短路損壞或者控制電路失效。 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有如下有益效果本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)筒單、成本低，在原有的微處理器MCU和CPLD (或 FPGA)控制系統(tǒng)上，增加串連電阻和線性放大器，通過微處理器MCU自帶 的A/D轉(zhuǎn)換實(shí)現(xiàn)。檢測效果準(zhǔn)確，速度快，也可以通過無線數(shù)傳單元 (GPRS/CDMA)，把檢測數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)傳回，可以有效解決大量公共場合LED顯 示器等密集發(fā)光設(shè)備的檢測問題。
圖l是本實(shí)用新型可自檢故障點(diǎn)的顯示屏的示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖l所示的一種可自檢故障點(diǎn)的顯示屏，其包括微處理器，該微處理 器連接有譯碼器、行驅(qū)動(dòng)和列驅(qū)動(dòng)，并通過行驅(qū)動(dòng)、列驅(qū)動(dòng)連接到LED顯示 屏，并且該LED顯示器連接有電壓采樣線性放大器及A/D轉(zhuǎn)換器，微處理器 將采樣電壓除以電阻值后換算為電流。該放大器采用線性放大器。該微處理器連接有CPLD (或FPGA )控制系統(tǒng)，LED二極管總體電源前 串連有小值電阻。該微處理器控制CPLD或FPGA掃描方法，通過譯碼電路控制行列驅(qū)動(dòng)， 控制LED發(fā)光二極管逐個(gè)分別發(fā)光和不發(fā)光，通過對LED發(fā)光二極管總體電 源前串連的小電阻，采樣該小阻值電阻的電壓降，并通過線性放大電路對該-電壓進(jìn)行放大并A/D轉(zhuǎn)換，獲得電壓數(shù)值，并換算出是否有電流通過以及采
樣計(jì)算電流大小，來判斷每個(gè)二極管是否受控發(fā)光和不發(fā)光。具體判斷方法如下1. 若發(fā)光狀態(tài)有正常范圍電流，不發(fā)光狀態(tài)沒有電流，貝化ED控制顯 示正常；2. 若發(fā)光狀態(tài)電流超過正常范圍，則二極管可能短路損壞；3. 若發(fā)光狀態(tài)沒有電流，則二極管可能斷路損壞或者控制電路失效；4. 若不發(fā)光狀態(tài)有電流，則二極管可能短路損壞或者控制電路失效。 且該微處理器連接無線數(shù)傳單元，如GPRS或CDMA，把檢測數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)傳回，可以有效解決大量公共場合LED顯示器等密集發(fā)光設(shè)備的檢測問題。 以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局 限于此，本領(lǐng)域中的技術(shù)人員任何基于本實(shí)用新型技術(shù)方案上非實(shí)質(zhì)性變更 均包括在本實(shí)用新型保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1、一種可自檢故障點(diǎn)的顯示屏，其包括微處理器和相連的CPLD或FPGA控制系統(tǒng)、二極管，其特征在于，其包括LED二極管點(diǎn)陣總體電源前串連的電阻，以及放大器和A/D轉(zhuǎn)換器。
2、 如權(quán)利要求l所述的可自檢故障點(diǎn)的顯示屏，其特征在于，該放大器 為線性放大器。
3、 如權(quán)利要求2所述的可自檢故障點(diǎn)的顯示屏，其特征在于，該微處理 器連接無線數(shù)傳單元。
4、 如權(quán)利要求3所述的可自檢故障點(diǎn)的顯示屏，其特征在于，該無線數(shù) 傳單元采用GPRS或CDMA傳輸。
5、 如權(quán)利要求l所述的可自檢故障點(diǎn)的顯示屏，其特征在于，該CPLD 或FPGA控制系統(tǒng)設(shè)置成可控制LED發(fā)光二極管逐個(gè)分別發(fā)光和不發(fā)光。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種可自檢故障點(diǎn)的顯示屏，其包括微處理器和相連的CPLD(或FPGA)控制系統(tǒng)、LED二極管，其包括LED二極管點(diǎn)陣總體電源前串聯(lián)的電阻，以及放大器和A/D轉(zhuǎn)換器。本實(shí)用新型可自檢故障點(diǎn)的顯示屏結(jié)構(gòu)簡單、成本低，檢測效果準(zhǔn)確，速度快，可以有效解決大量公共場合LED顯示器等密集發(fā)光設(shè)備的檢測問題。
文檔編號G01R31/26GK201017606SQ20072004867
公開日2008年2月6日 申請日期2007年2月13日 優(yōu)先權(quán)日2007年2月13日
發(fā)明者焱 王 申請人:王 雄