專利名稱：一種芯片老化測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型屬于芯片測試領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片老化測試系統(tǒng)。
技術(shù)背景在芯片的使用過程中，例如LCD驅(qū)動芯片(也稱為LCD Driver)等，由 于該種芯片需要不斷地經(jīng)歷上電和掉電的狀態(tài)更替，久而久之，會使芯片老化， 從而發(fā)生失效等后果。為了測試芯片能夠承受的上電和掉電的沖擊次數(shù)，以得 到芯片的使用壽命，有必要提供一種能夠讓芯片快速進行上電和掉電沖擊(間 隔時間為幾秒)的測試系統(tǒng)，為芯片老化測試提供一個讓芯片快速老化的測試 環(huán)境，從而測試出芯片的老化性能。實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種芯片老化測試系統(tǒng)，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)存 在的由于難以測試芯片的老化性能，而無法得知芯片的使用壽命的問題。本實用新型是這樣實現(xiàn)的， 一種芯片老化測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括微控制 器，以及與所述微控制器電連接的輸入控制電路、電壓源控制電路、信號檢測 電路以及存儲器，以及與所述電壓源控制電路電連接的電壓源電路，所述輸入 控制電路向所述微控制器輸入測試參數(shù)以及所述微控制器的模式控制指令；所 述微控制器根據(jù)所述測試參數(shù)通過所述電壓源控制電路控制所述電壓源電路的 輸出電壓；所述信號檢測電路采集根據(jù)所述電壓源電路的輸出電壓產(chǎn)生的測試 數(shù)據(jù)，并將所述測試數(shù)據(jù)通過所述微控制器存儲至所述存儲器。在本實用新型中，電壓源控制電路在微控制器的控制下，控制電壓源電路輸出的通、斷，同時調(diào)節(jié)電壓源電路中電壓源信號的大小，使芯片在短時間內(nèi)不斷的經(jīng)歷上電和掉電的過程，從而為芯片的老化測試提供了一測試環(huán)境，信 號檢測電路檢測該芯片老化測試數(shù)據(jù)，通過對該測試數(shù)據(jù)進行分析，即可得到 芯片的老化性能,從而得到芯片的實用壽命。


圖1是本實用新型提供的芯片的老化測試系統(tǒng)的方框圖；圖2是本實用新型提供的芯片的老化測試系統(tǒng)的電連^^原理圖。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，
以下結(jié)合附圖 及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應(yīng)當理解，此處所描述的具體 實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。在實用新型中，在微控制器的控制下，根據(jù)設(shè)置的測試參數(shù)，使芯片不斷 的經(jīng)歷上電和掉電的過程，從而提供了一使芯片迅速老化的測試環(huán)境，通過本 實用新型提供的芯片老化測試系統(tǒng)可以測試出芯片的老化性能。圖1示出了本實用新型4是供的芯片的老化測試系統(tǒng)的方框組成，為了便于 說明，僅示出了與本實用新型相關(guān)的部分。輸入控制電路10的輸出端與微控制器20的輸入端電連接，用以向微控制 器20傳輸芯片老化測試所需的參數(shù)數(shù)據(jù)，并控制孩"空制器20的工作模式。輸 入控制電路10包括輸入端口 、輸入信號采集電路和濾波電路，輸入端口提供了 輸入信號采集電路與芯片老化測試系統(tǒng)外殼的按鍵相連接的接口 ，通過輸入端 口，輸入信號采集電路可以采集用戶通過按鍵輸入的參數(shù)數(shù)據(jù)和微控制器20 的工作模式控制指令。濾波電路對采集的參數(shù)數(shù)據(jù)進行濾波處理。其中芯片老 化測試所需的參數(shù)數(shù)據(jù)包括芯片的上電電壓、芯片上電保持時間以及芯片掉電 保持時間。微控制器20分別與輸入控制電路10、電壓源控制電路30、信號檢測電路50、存儲器60、顯示驅(qū)動電路70以及傳輸控制電路80電連接，用以對芯片老 化測試系統(tǒng)的上述電路單元的工作進行調(diào)配控制。微控制器20根據(jù)輸入控制電 路10傳輸?shù)墓ぷ髂Ｊ娇刂浦噶顚⑵涔ぷ髂Ｊ秸{(diào)整為與該工作模式控制指令對 應(yīng)的工作模式。再根據(jù)輸入控制電路IO傳輸?shù)男酒匣瘻y試所需的參數(shù)數(shù)據(jù)， 調(diào)節(jié)電壓源控制電路30的電路狀態(tài)，并讀取信號檢測電路50中采集的測試數(shù) 據(jù)，將該測試數(shù)據(jù)存儲至存儲器60。電壓源控制電路30的輸入端與微控制器20的輸出端電連接，其輸出端與 電壓源電路40的輸入端電連接。微控制器20通過調(diào)節(jié)電壓源控制電路30的電 路狀態(tài)，來改變電壓源電路40的輸出電壓。電壓源電路40用以提供芯片老化 測試所需的工作電壓，其輸出端與信號檢測電路50的輸入端電連接，該電壓源 電路40的電壓輸出可以通過外部電路的調(diào)節(jié)而改變。信號檢測電路50的輸入端與電壓源電路40的輸出端電連接，其輸出端與 微控制器20的輸入端電連接。信號檢測電路50采集測試數(shù)據(jù)，并將采集的測 試數(shù)據(jù)傳輸至凝:控制器20。顯示驅(qū)動電路70的輸入端與微控制器20的輸出端電連接，其在微控制器 20的控制下，顯示芯片老化測試系統(tǒng)的工作狀態(tài)。傳輸控制電路80是芯片老化測試系統(tǒng)與PC連接的載體，其通過RS232串 口將芯片老化測試系統(tǒng)與PC連接，用以對存儲器60中的測試數(shù)據(jù)上傳。圖2示出了本實用新型提供的芯片的老化測試系統(tǒng)的電連接原理，在本實 用新型中以LCD驅(qū)動芯片老化測試為例，進行說明。單片機與圖1所示的微控制器20對應(yīng)；數(shù)字控制器構(gòu)成圖1所示的電壓源 控制電路30，該數(shù)字電位器為非易失性數(shù)字電位器；電壓源與圖l所示的電壓 源電路40對應(yīng)，該電壓源的輸出電壓可以通過外部電路(如電壓源控制電路) 的調(diào)節(jié)而改變；信號采樣電路、信號放大電路和AD轉(zhuǎn)換電路構(gòu)成圖1所示的 信號檢測電路50;圖1所示的存儲器60采用FLSAH存儲器；LCD驅(qū)動電路 與圖1所示的LCD驅(qū)動顯示電路70對應(yīng)；RS232傳輸控制電路和RS232接口構(gòu)成圖1所示的傳輸控制電路80。以下對本實用新型提供的芯片老化測試系統(tǒng)的工作原理進行詳細說明。芯片老化測試系統(tǒng)通電后，單片機首先進行初始化設(shè)置，如設(shè)置其自身的寄存器狀態(tài)，清空內(nèi)部的計數(shù)器和RAM等空間，同時，單片機通過其R/W、 CS等控制信號控制LCD驅(qū)動電路顯示"初始"狀態(tài)，通過其CTRL控制信號 對數(shù)字電位器的控制，使數(shù)字電位器的ENABLE的輸出為"0",從而使電壓源 的輸出電壓為0V。初始化設(shè)置完畢后，芯片老化測試系統(tǒng)等待輸入控制電路的 按鍵的輸入控制，來進行系統(tǒng)工作狀態(tài)的設(shè)置。用戶通過按鍵操作，可以選擇將系統(tǒng)的工作模式設(shè)置為"測試工作"模式 或者"數(shù)據(jù)傳輸"模式。如當^4建1被按下時，芯片老化測試系統(tǒng)處于"測試 工作"模式，此時，單片機控制LCD驅(qū)動電路實時地顯示"TESTMODE"的 狀態(tài)標識；當^4建2被按下時，芯片老化測試系統(tǒng)處于"數(shù)據(jù)傳輸"模式，此 時，單片機控制LCD顯示驅(qū)動電路實時地顯示"DATATRANSFER"的狀態(tài)標 識。當芯片老化測試系統(tǒng)處于"測試工作"模式時，首先進行測試所需參數(shù)的 設(shè)置。其中測試所需參數(shù)包括上電電壓、上電保持時間和下電保持時間。用戶 可以通過與輸入控制電路連接的"加"或者"減"按鍵，設(shè)置芯片老化測試系 統(tǒng)進行測試工作時的上電電壓的大小、上電保持時間以及掉電保持時間。設(shè)置完芯片老化測試系統(tǒng)的測試參數(shù)后，按下與輸入控制電路連接的"開 始"按^t,芯片老化測試系統(tǒng)開始進行測試。其測試流程(即芯片老化測試系 統(tǒng)的上電和掉電過程)如下所述單片機根據(jù)用戶設(shè)置的上電電壓通過CTRL控制信號控制數(shù)字電位器調(diào)節(jié) 其狀態(tài)，從而使電壓源的輸出電壓為設(shè)置的上電電壓，芯片老化測試系統(tǒng)開始 上電。數(shù)字電位器在單片機的控制下，調(diào)節(jié)電壓源的電壓輸出，從而在單片機 的控制下，通過數(shù)字電位器可以實現(xiàn)對電壓源輸出的通、斷控制或者電壓源的 電壓源信號大小的調(diào)節(jié)。以滿足本實用新型中不停上電、下電的參數(shù)設(shè)置需求。電壓源輸出的電壓用以驅(qū)動LCD Driver進行正常的工作。同時，電壓源的 工作電流通過放大電路和AD轉(zhuǎn)換器后，其電流值被轉(zhuǎn)換為測試數(shù)據(jù)，該測試 數(shù)據(jù)同時被傳輸至單片機。單片機將該測試數(shù)據(jù)存儲到FLASH存儲器中。當 經(jīng)過上述設(shè)置的上電保持時間后，芯片老化測試系統(tǒng)開始掉電，單片機通過 CTRL控制信號控制數(shù)字電位器的ENABLE控制信號為"0"，從而使電壓源的 輸出電壓為0，使測試進入掉電狀態(tài)。當經(jīng)過上述設(shè)置的掉電保持時間后，芯 片老化測試系統(tǒng)重新開始上電，使該芯片老化測試系統(tǒng)循環(huán)反復(fù)地進行上述上 電、掉電過程，而單片機不斷的將芯片老化測試系統(tǒng)上電時由電流轉(zhuǎn)換得到的 測試數(shù)據(jù)存儲至FLASH存儲器中。直到該FLASH存儲器的容量寫滿后，或者 通過單片機對測試數(shù)據(jù)的計算，檢測到測試狀態(tài)中的電流出現(xiàn)異常時，芯片老 化測試系統(tǒng)的測試即完成。在芯片老化測試系統(tǒng)的測試過程中，LCD顯示驅(qū)動電if各則實時地顯示芯片 老化測試系統(tǒng)工作的狀態(tài)，例如某時刻為"上電"或者"掉電"狀態(tài)，以及測 試工作持續(xù)了多長的時間等。當芯片老化測試系統(tǒng)處于"數(shù)據(jù)傳輸"模式時，將芯片老化測試系統(tǒng)通過 RS232串口連接到PC機上。通過按下"開始，，鍵，單片機讀取FLASH存儲器 中保存的測試數(shù)據(jù)，并通過串口傳輸芯片，將測試數(shù)據(jù)傳輸至PC機中。通過 RS232串口，芯片老化測試系統(tǒng)可以與PC才幾進行雙向通信，使該芯片老化測 試系統(tǒng)可以通過PC機輸入測試所需的測試參數(shù)以及系統(tǒng)工作模式控制指令。 同時通過PC機中的應(yīng)用軟件，可以對該測試數(shù)據(jù)進行換算分析，從而得到測 試結(jié)果。用戶也可以通過查看PC機保存或顯示的測試數(shù)據(jù)，可以查看芯片老 化測試過程中芯片電流的變化，也可以對該測試數(shù)據(jù)進行分析和統(tǒng)計，或者通 過同時，將FLASH存儲器中的測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存到PC機，避免了 FLASH存儲器 中的測試數(shù)據(jù)被下一次的測試數(shù)據(jù)覆蓋。本實用新型提供的芯片老化測試系統(tǒng)，電壓源控制電路在微控制器的控制 下，可以調(diào)節(jié)電壓源電路的輸出，從而可以實現(xiàn)對電壓源電路輸出的通、斷控制或者電壓源電路中電壓源信號大小的調(diào)節(jié)，從而使芯片不斷地經(jīng)歷上電和掉 電的過程。通過輸出控制電路，芯片老化測試系統(tǒng)可以與PC機進行雙向通信， 使該芯片老化測試系統(tǒng)通過PC機輸入測試所需的測試參數(shù)以及系統(tǒng)工作模式 控制指令。同時通過PC機上的應(yīng)用軟件可以對該測試數(shù)據(jù)進行分析，得出被 測試芯片的老化性能。以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型， 凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng) 包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1、一種芯片老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括微控制器，以及與所述微控制器電連接的輸入控制電路、電壓源控制電路、信號檢測電路以及存儲器，以及與所述電壓源控制電路電連接的電壓源電路，所述輸入控制電路向所述微控制器輸入測試參數(shù)以及所述微控制器的模式控制指令；所述微控制器根據(jù)所述測試參數(shù)通過所述電壓源控制電路控制所述電壓源電路的輸出電壓；所述信號檢測電路采集根據(jù)所述電壓源電路的輸出電壓產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)，并將所述測試數(shù)據(jù)通過所述微控制器存儲至所述存儲器。
2、 如權(quán)利要求1所述的芯片老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括 與所述微控制器進行雙向通信的傳輸控制電路，所述微控制器通過所述傳輸控 制電路將所述存儲器中的測試數(shù)據(jù)上傳至PC機。
3、 如權(quán)利要求2所述的芯片老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述傳輸控制電 路包括RS232傳輸控制電路和RS232接口 。
4、 如權(quán)利要求1所述的芯片老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括 與所述微控制器電連接的驅(qū)動顯示電路，所述驅(qū)動顯示電路在所述微控制器的 控制下，實時地顯示所述芯片老化測試系統(tǒng)的工作狀態(tài)。
5、 如權(quán)利要求1所述的芯片老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電壓源控制 電路為一非易失性數(shù)字電位器。
6、 如權(quán)利要求1所述的芯片老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電壓源電路 的電壓可以通過外部電3各的調(diào)節(jié)而改變。
7、 如權(quán)利要求1所述的芯片老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述信號檢測電 路包括信號采樣電路、信號放大電路和AD轉(zhuǎn)換電路。
專利摘要本實用新型適用于芯片測試領(lǐng)域，提供了一種芯片老化測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括微控制器，以及與該微控制器電連接的輸入控制電路、電壓源控制電路、信號檢測電路以及存儲器，以及與該電壓源控制電路電連接的電壓源電路。在本實用新型中，電壓源控制電路在微控制器的控制下，控制電壓源電路的電壓的通和斷，從而為芯片的老化測試提供了一使芯片在短時間內(nèi)不斷的經(jīng)歷上電和掉電過程的測試環(huán)境，信號檢測電路檢測該芯片老化測試數(shù)據(jù)，通過對該測試數(shù)據(jù)進行分析，即可得到芯片的老化性能，從而得到芯片的使用壽命。
文檔編號G01R31/00GK201096847SQ20072012240
公開日2008年8月6日 申請日期2007年8月22日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月22日
發(fā)明者祥 朱, 林 黃 申請人:比亞迪股份有限公司