專利名稱：鋁膜厚度測(cè)量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測(cè)量?jī)x器領(lǐng)域，特別涉及一種鋁膜厚度測(cè)量裝置。 技術(shù)背景
目前，彩管制造生產(chǎn)線用鋁膜厚度測(cè)量裝置，雖然測(cè)試的一致性好，但是， 因?yàn)樗臋z測(cè)電路是安裝在檢測(cè)頭內(nèi)的，由于在頻繁的測(cè)試動(dòng)作時(shí)，檢測(cè)頭與 屏表面的碰觸、振動(dòng)，致使設(shè)置在檢測(cè)頭內(nèi)的電路元件特別容易損壞，故障率 特別高，維修起來(lái)也非常麻煩，使用壽命特別短。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，設(shè)計(jì)一種即一致性好、 而且故障率低的用于彩管制造鋁膜厚度測(cè)量裝置。該設(shè)計(jì)獨(dú)特之處在于將鋁膜 厚度的檢測(cè)電路從探測(cè)頭中移置于鋁膜厚度測(cè)量裝置儀器內(nèi)，避免因頻繁測(cè)試 帶來(lái)檢測(cè)頭損壞，大大減少了故障發(fā)生率。
為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采取的技術(shù)方案是
鋁膜厚度測(cè)量裝置，包括檢測(cè)電路、儀器電路和檢測(cè)頭l，檢測(cè)頭l由聚乙
烯管材2、檢測(cè)線圈3，電纜4、熱塑管5組成，聚乙烯管材2的下半端即測(cè)試 端繞制有膜厚檢測(cè)線圈3，檢測(cè)線圈3的外部包裹有熱塑管5，檢測(cè)線圈3的三 個(gè)抽頭JI-K JI-2、 JI-3捆扎在一起，組成電纜4連接到鋁膜厚度測(cè)量裝置儀器 箱里的鋁膜厚度檢測(cè)電路6上。

圖1為鋁膜厚度測(cè)量裝置的檢測(cè)頭1剖面圖。
具體實(shí)施方式
參見圖l，本實(shí)用新型包括檢測(cè)電路、儀器電路和檢測(cè)頭l，鋁膜厚度測(cè)
量裝置的檢測(cè)電路、儀器電路為原有的線路沒有改變，檢測(cè)頭1由聚乙烯管材2、 檢測(cè)線圈3，電纜4、熱塑管5組成，在一段長(zhǎng)為80mm、直徑為062ram的聚乙 烯管材2的下半端即測(cè)試端繞制有膜厚檢測(cè)線圈3，檢測(cè)線圈3的外部包裹有 熱塑管5，檢測(cè)線圈3的三個(gè)抽頭JI-1、 JI-2、 JI-3捆扎在一起，組成電 纜4連接到鋁膜厚度測(cè)量?jī)x器箱里的鋁膜厚度檢測(cè)電路6上。
由于經(jīng)過改進(jìn)的膜厚i十是將檢測(cè)頭1中的鋁膜厚度測(cè)量電路從檢測(cè)頭移至 于鋁膜厚度測(cè)量?jī)x器內(nèi)，避免因頻繁測(cè)試帶來(lái)檢測(cè)頭損壞，大大減少了故障發(fā) 生率，使鋁膜厚度測(cè)量裝置的使用壽命延長(zhǎng)了幾倍，無(wú)形中降低了生產(chǎn)成本。
權(quán)利要求1、鋁膜厚度測(cè)量裝置，包括檢測(cè)電路、儀器電路和檢測(cè)頭(1)，其特征在于，檢測(cè)頭(1)由聚乙烯管材(2)、檢測(cè)線圈(3)，電纜(4)、熱塑管(5)組成，聚乙烯管材(2)的下半端即測(cè)試端繞制有膜厚檢測(cè)線圈(3)，檢測(cè)線圈(3)的外部包裹有熱塑管(5)，檢測(cè)線圈(3)的三個(gè)抽頭JI-1、JI-2、JI-3捆扎在一起，組成電纜(4)連接到鋁膜厚度測(cè)量?jī)x器箱里的鋁膜厚度檢測(cè)電路(6)上。
專利摘要一種鋁膜厚度測(cè)量裝置，測(cè)試電路為原有的線路沒有改變，檢測(cè)頭1由聚乙烯管材2、檢測(cè)線圈3，電纜4、熱塑管5組成，在一段長(zhǎng)為80mm、直徑為Φ62mm的聚乙烯管材2的下半端即測(cè)試端繞制有膜厚檢測(cè)線圈3，檢測(cè)線圈3的外部包裹有熱塑管5，檢測(cè)線圈3的三個(gè)抽頭JI-1、JI-2、JI-3捆扎在一起，通過電纜4連接到鋁膜厚度測(cè)量器里的鋁膜厚度檢測(cè)電路6上。由于經(jīng)過改進(jìn)的膜厚計(jì)是將檢測(cè)頭部分電路從檢測(cè)頭移至于儀器內(nèi)，避免因頻繁測(cè)試帶來(lái)檢測(cè)頭損壞，大大減少了故障發(fā)生率，使膜厚計(jì)的使用壽命延長(zhǎng)了幾倍，無(wú)形中降低了生產(chǎn)成本。
文檔編號(hào)G01B7/06GK201138192SQ20072013326
公開日2008年10月22日 申請(qǐng)日期2007年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月28日
發(fā)明者陳六一 申請(qǐng)人:彩虹顯示器件股份有限公司