專利名稱:一種鍵盤測試裝置的制作方法
技術領域:
本實用新型關于測試設備,尤其涉及一種鍵盤測試裝置。
背景技術:
目前,許多具有信息輸入功能的電子設備如電腦、工業(yè)控制器、收銀機等 都配置有鍵盤,以向這些電子設備輸入控制命令以及資料。因此,鍵盤作為這 些電子設備的外部輸入裝置,其品質及其功能是否可以正常操作,將直接影響 該電子設備的操作穩(wěn)定性。因而,鍵盤的測試是這些電子設備生產制造中的重 要環(huán)節(jié)。
傳統(tǒng)的鍵盤功能測試,是測試鍵盤柔性電路板(FPC)各個按鍵的電阻。測 試過程分多個工序,每個工序只測一種功能,測試時間長,費工時。而且各個 工序采用不同的測試設備,成本高。并且在測試鍵盤FPC各個按鍵的電阻時, 依各種不同的鍵盤,需要不同的治具配合,使測試更加復雜,增加測試成本, 且測試FPC的電阻的治具較為復雜,這樣增加了一些不確定的影響因素,會增 大測量誤差。
實用新型內容
本實用新型所要解決的技術問題在于提供一種成本低、測試方便快速的鍵 盤測試裝置。
為解決上述技術問題,本實用新型提供一種鍵盤測試裝置,其包括用于固 定待測鍵盤的支架、貫穿地設置有多個探針的探針部以及驅動探針部運動的探 針驅動機構,該待測鍵盤具有接口引腳,所述驅動機構和探針部靠近支架設置, 所述探針部連接于驅動機構,所述驅動機構驅動時帶動纟笨針部運動,使得所述探針部的多個探針在測試時運動到與支架上的待測鍵盤的接口引腳電氣接觸的 位置。
本實用新型提供的鍵盤測試裝置可通過多個探針與待測鍵盤的接口引腳相 電氣接觸,從而可以對鍵盤的多個按鍵同時進行測試,大大降低測試時間,提 高測試速度。而且通過將所述探針部連接于驅動機構,所述驅動機構驅動時帶 動探針部運動,從而可往復地驅動多個探針與待測鍵盤的接口相電氣接觸,以 在此一臺測試裝置上對鍵盤進行多種功能測試,由此降低成本,同時也方便對 鍵盤測試裝置進行操作。
圖1是本實用新型實施例提供的鍵盤測試裝置的立體結構示意圖。
圖2是圖1中的II部分結構示意圖。
圖3是本實用新型實施例提供的鍵盤測試裝置的功能模塊示意圖。 圖4是待測試鍵盤的電路觸發(fā)開關局部矩陣示意圖。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白,
以下結合附圖 及實施例,對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體 實施例僅僅用以解釋本實用新型,并不用于限定本實用新型。
請參閱圖1和2,為本實用新型實施例提供的鍵盤測試裝置,其包括測試 機臺10、支架20、探針部27、探針驅動機構30、電控電路板40以及微處理器 50。支架20、探針驅動機構30和探針部27都設置于測試機臺10上。支架20 用于固定待測鍵盤(圖未示),探針部27靠近支架20設置,探針驅動機構30 用于驅動探針部27運動。電控電路板40和微處理器50設置于測試機臺10底 部空間內。該待測試鍵盤具有金手指接口引腳,可以是筆記本電腦的鍵盤。
如圖1所示,測試機臺10包括工作臺11以及固設于工作臺11底下的載物板18、 19。電控電路板40豎立設置于載物板18上。微處理器50放置于載物 板19上。工作臺11上設有一顯示器15以及自鎖開關17。顯示器15位于工作 臺11靠后部的位置,其與微處理器50電氣連接,用于顯示測試中的鍵盤狀態(tài)。 支架20位于工作臺11相對靠前部的位置,包括支架臺21以及四個支柱 22。四個支柱22將支架臺21架設于工作臺11上。支架臺21上設置有鍵盤固 定座23,用于固定待測試鍵盤。該鍵盤固定座23通過活動設置于支架臺21上 的多個卡位塊24所固定。該鍵盤固定座23對應于容置待測試鍵盤的金手指接 口引腳的位置開設有接口引槽24,支架臺21上對應接口引槽24處開設有接口 槽25,用于固定待測鍵盤的金手指接口。接口槽25槽寬和金手指接口寬度基 本相等,接口槽25貫穿支架臺21。當待測試鍵盤固定于固定座23上,待測試 鍵盤的金手指接口引腳從接口引槽24中引出,然后伸入接口槽25中。支架20 對應接口槽25的底部位置還設置有可抽拉式收容探針部27及部分探針驅動機 構30的框架26。
自鎖開關17用于選擇是功能測試系統(tǒng)還是不良分析測試系統(tǒng),當進行不良 分析時要按下此鍵,進行功能測試時不按下此鍵。不良分析主要就是用來測試 鍵盤是否為良產品,并分析不良原因,主要分析是否存在問題如按鍵聯動或按 鍵不通及按鍵無法彈回。功能測試主要檢測鍵盤按鍵通斷及按鍵電阻等來獲得 鍵盤的功能性是否良好。這兩種測試系統(tǒng)只有自鎖開關的狀態(tài)不一樣,其它結 構及測試方式都相同。
如圖2所示,探針部27可收容于框架26內且位于對應于接口槽25的位置。 探針部27包括探針架28以及貫穿于探針架28的多個4笨針29。探針29的數量 對應于待測試鍵盤用于輸出的金手指接口引腳,且探針29之間的間隔與待測試 鍵盤的接口引腳間的間隔相等。通常鍵盤的金手指接口為二十四個引腳,因此 本實施例圖示出二十四個探針29。每個探針29的兩端部分別伸出探針架28的 兩側,圖2中僅示外側的端部,未示出的內側端部用于與伸入接口槽25的鍵盤 的金手指接口引腳電氣接觸。探針驅動機構30包括探針導軌36和驅動部,本實施例中,驅動部采用氣 缸驅動,包括部分收容于框架26內的底座31、設置于底座31上的氣缸32以 及活動設置于氣缸32上的氣缸推桿35??梢岳斫猓寗硬恳部梢允轻娪闷渌?動力形式的機構,如電力驅動。底座31可相對框架26運動而將探針驅動機構 30收容支架20底部,當然也可固定地設置在框架26或者固定設置在工作臺11 上。探針導軌36包括設置于底座31上的一對滑軌37以及可沿滑軌37滑動的 滑塊38。氣缸推桿35卡固地與探針架28相接,使得探針架28與氣缸推桿35 一起運動。探針架28座設于滑塊38上,在氣缸推桿35的驅動下隨著滑塊38 沿滑軌37滑行。氣缸32—側開設有兩個進氣口 33,分別用于連接氣管以提供 壓力氣源驅動氣缸推桿35推進和歸位。氣缸推桿35前進時,推動探針架28 運動,使得探針29內側的端部與伸入接口槽25的鍵盤的金手指接口引腳相接 觸;氣缸推桿35歸位時,拉動探針架28歸位,探針29內側的端部與伸入接口 槽25的鍵盤的金手指接口引腳相分離。
氣缸32上還設置有探針傳感器34,用于感應氣缸推桿35是否將探針29 推進到位或已歸位。本實施例設有兩個^:針傳感器34,分別對應于感應氣缸推 桿35的推進到位和歸位,探針傳感器34將感應到的信號發(fā)送給微處理器50, 微處理器50收到信號后發(fā)出停止氣缸32推動探針29的運動的控制信號。氣缸 32還可包括電;茲閥,用于控制氣缸32的兩個進氣口 33的進氣。
請參閱圖3,為本實用新型實施例中的鍵盤測試裝置的控制功能模塊示意 圖。該鍵盤測試裝置還包括檢測電路板42以及與電控電路板40電連接的開關 16。圖3中的各器件可按圖示中的連接方式相電氣連接。本實施例中,檢測電 路板42可為單片才;i4企測電路板,微處理器50為一內建有控制程序的電腦52。 電控電路板40放置各種電控器件,用于把各器件的輸入信號轉換、通過并口傳 輸給電腦52,并把電腦52發(fā)出的控制信號轉換、傳輸給相應控制器件。電腦 52接收外部器件如檢測電路板42以及電控電路板40的輸入,并保存測試數據 及輸出相應的控制信號,顯示器15即時顯示測試時按<睫狀態(tài)。包括氣缸32的探針驅動機構30、開關16都連接到電控電路板40。開關 16可為腳踏開關,用于輸入控制探針驅動機構30運作的信號。具體操作時, 閉合開關16,輸入控制信號到電控電路板40,該控制信號通過電控電路板40 轉換后輸入至電腦52中,電腦52的控制程序掃描到此信號,發(fā)出控制信號, 同樣通過電控電路板40將此信號轉換后傳給探針驅動機構30,具體可以是發(fā) 給電磁閥,電磁閥開啟,使探針驅動機構30推動探針部27運動。探針部27 的多個探針29外側的端部通過引線連接到檢測電路板42,當探針29與待測鍵 盤的接口引腳電氣接觸時,檢測電路板42獲得檢測信號,并將此檢測信號發(fā)送 給電腦52進行處理,處理結果可通過顯示器15顯示,以即時觀測按鍵測試狀 態(tài)。
單片機檢測電路板42可采用12V直流電源供電,檢測電路板42內部采用 高精度的穩(wěn)壓電源芯片穩(wěn)壓到5V為單片機及其處圍電路供電,穩(wěn)壓電源芯片 可采用TL431,但不限于此,優(yōu)選為精度比較高的電源芯片。電控電路板40 連接外圍控制器件部分為24V供電,連接電腦部分為5V供電,兩部分采用光 電藕合開關隔離。
請參閱圖4,示出鍵盤的部分觸發(fā)開關矩陣結構。通常鍵盤都是矩陣式行 列觸發(fā)開關, 一般為八行,十五、十六列,金手指接口為二十四個引腳,作為 示例,圖中僅示出一個4x4的矩陣觸發(fā)開關。圖示的矩陣觸發(fā)開關具有R廣R4 的四個列的腳位和C廣Q的四個行的腳位,共8個接腳,對應16 ( 4 x 4 )個按 鍵。因此,每個按鍵都對應著相應的行和列,按鍵未被按下時行列是斷開的, 當按下鍵盤上的一個按鍵時,該按鍵上的行和列就接通,所以通過檢測鍵盤上 的行列是否相通來判斷是否有按鍵及判斷是哪個按鍵。當按4建被按下時,相應 的行和列導通,由于電路布線等原因,在此導通行列的兩端之間有一定的電阻。 因此可在接腳的一端(即行或列)接地,在另一端(即列或行)連接模數轉換(A/D) 輸入口 ,此輸入口通過一個基準電阻連到基準電源上,用A/D轉換得到此按鍵 上的分壓,通過運算就能得到此按鍵的電阻。如前所述,請同時參閱圖2、 3和4,測試時,氣缸推桿35推動探針29運 動,使得探針29—端與待測鍵盤的金手指接口引腳相電連接,另一端與單片機 檢測電路板42電連接。因此,可通過單片機檢測電路板42來檢測鍵盤的按鍵 及按鍵按下時的電阻,鍵盤所有行(如C廣C4)接在單片機檢測電路板42的模數 轉換引腳上,所有列(如R廣R4等)接在數字I/0 口,每列都接上拉電阻,每行通 過一個500歐的基準電阻接到基準電源上,先開上拉電阻來掃描按鍵,掃描到 按鍵后,再關上拉電阻,開基準電阻測按鍵的電阻。單片機檢測電路板42的測 試結果通過串口發(fā)送到電腦52上,電腦52上的控制程序接收數據并把按鍵狀 態(tài)顯示在顯示器15上,從而能測試出鍵盤狀態(tài)。
兩個探針傳感器34也可與電控電路板40相連接,在測試過程中隨時感應 氣缸推桿35的位置,并將感應信號通過電控電路板40發(fā)送給電腦52,當感應 到氣缸推桿35將纟果針29推進到位時,將此感應信號發(fā)送給電腦52,電腦52 收到此信號后就立即停止。當測試結束后,電腦52控制氣缸33的氣缸推桿35 歸位,即讓探針29歸位。
本實用新型提供的鍵盤測試裝置通過多個探針29可與待測鍵盤的接口引 腳相電氣接觸,從而可以對鍵盤的多個按鍵同時進行測試,大大降低測試時間, 提高測試速度。而且通過將所述探針部27連接于驅動機構30,所述驅動機構 30驅動時帶動探針部27運動,從而可往復地驅動多個探針29與待測鍵盤的接 口相電氣接觸,以在此一臺測試裝置上對鍵盤進行多種功能測試,由此降低成 本,同時也方便對鍵盤測試裝置進行操作。
以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已,并不用以限制本實用新型, 凡在本實用新型的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等,均應 包含在本實用新型的保護范圍之內。
權利要求1、一種鍵盤測試裝置,其包括用于固定待測鍵盤的支架,該待測鍵盤具有接口引腳,其特征在于,所述鍵盤測試裝置還包括貫穿地設置有多個探針的探針部和驅動探針部運動的探針驅動機構,所述探針驅動機構和探針部靠近支架設置,所述探針部連接于探針驅動機構,所述探針驅動機構驅動時帶動探針部運動,使得所述探針部的多個探針在測試時運動到與支架上的待測鍵盤的接口引腳電氣接觸的位置。
2、 如權利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,所述探針驅動機構包 括探針導軌和驅動部,所述探針部設置于4笨針導軌上并與驅動部相接,所述驅 動部驅動時帶動探針部沿著探針導軌運動。
3、 如權利要求2所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,所述驅動部包括氣缸 以及活動設置于氣缸上的氣缸推桿,所述氣缸推桿與所述探針部相接并在所述 氣缸的驅動下帶動〗笨針部沿著探針導軌運動。
4、 如權利要求3所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,所述探針導軌包括滑 軌和沿滑軌上滑動的滑塊,所述探針部設置于所述滑塊上。
5、 如權利要求3所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,所述氣缸設置有感應 氣缸推桿將多個探針推進到位或歸位的探針傳感器。
6、 如權利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,所述多個探針的數量 與待測鍵盤的接口引腳的數量相等,所述多個探針的之間的間隔與待測鍵盤的 接口引腳間的間隔相等。
7、 如權利要求6所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,進一步包括檢測電路 板,其與所述多個探針的靠近氣缸推桿的探針端部電氣連接,所述檢測電路板 通過多個探針與待測鍵盤的接口引腳電氣連接,以掃描待測試鍵盤并獲取鍵盤 測試數據。
8、 如權利要求7所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,進一步包括具有控制 程序的微處理器以及與微處理器相連接用于顯示鍵盤測試狀態(tài)的顯示器,所述微處理器與檢測電路板電氣連接以接收來自檢測電路板的測試數據。
9、 如權利要求8所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,進一步包括電控電路 板以及開關,所述開關與電控電路板電氣連接以輸入控制氣缸信號到電控電路 板,所述電控電路板接收并轉換該輸入信號,所述電控電路板與所述微處理器控制信號,所述電控電路板與氣缸電氣連接以將微處理器發(fā)出的控制信號轉換 后傳輸給氣缸。
10、 如權利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,所述支架設有接口 槽,用于固定待測鍵盤的接口引腳,所述接口槽位置對應于所述探針部的多個 探針。
專利摘要本實用新型公開了一種鍵盤測試裝置,其包括用于固定待測鍵盤的支架、貫穿地設置有多個探針的探針部以及驅動探針部運動的探針驅動機構,該待測鍵盤具有接口引腳,所述驅動機構和探針部靠近支架設置,所述探針部連接于驅動機構,所述驅動機構驅動時帶動探針部運動,使得所述探針部的多個探針在測試時運動到與支架上的待測鍵盤的接口引腳電氣接觸的位置。本實用新型提供的鍵盤測試裝置具有成本低、測試方便快速等特點。
文檔編號G01R1/02GK201145715SQ20072017152
公開日2008年11月5日 申請日期2007年12月11日 優(yōu)先權日2007年12月11日
發(fā)明者喜 何, 吳文生, 立 潘, 王潤斌, 鄭春榮 申請人:比亞迪股份有限公司