專利名稱：一種輻射計的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測量日照輻射總量的輻射計，屬于氣象學(xué)測量技 術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，測量日照輻射總量的輻射計，由于設(shè)計簡單、制造工藝 精度低，使得其受環(huán)境影響大，測量的數(shù)據(jù)誤差較大，對植物生長、熱量 轉(zhuǎn)換、土壤水分蒸發(fā)蒸騰損失總量的研究不利。實用新型內(nèi)容本實用新型提供了一種用于測量太陽短波輻射的輻射計，包括機(jī)體， 其特征在于，所述機(jī)體上端設(shè)置余弦修正片，所述余弦修正片能夠減小測 量中的余弦誤差，所述機(jī)體中心支撐一個硅光探測器，所述硅光探測器設(shè) 置在所述余弦修正片下面，所述硅光探測器具有光電轉(zhuǎn)換的傳感功能，對 被測光起到光電轉(zhuǎn)換作用，當(dāng)有入射光照射時產(chǎn)生一個電壓輸出信號，該 輸出信號與太陽輻射強(qiáng)度成正比，在所述機(jī)體側(cè)面設(shè)置有信號輸出導(dǎo)線孔。 本實用新型的輻射計通過余弦修正，使得余弦誤差大大減小，測量數(shù)據(jù)更 精確，對植物生長、熱量轉(zhuǎn)換和土壤水分蒸發(fā)蒸騰損失總量的研究極為有 利。本實用新型的輻射計相對于現(xiàn)有技術(shù)有如下優(yōu)點-1、 由于本實用新型的輻射計在機(jī)體的上面設(shè)有余弦修正片，使得其在太陽高度角為10()時余弦誤差從<10%減小到<7%，明顯提高了精確度。2、 由于本實用新型的輻射計結(jié)構(gòu)設(shè)計巧妙，技術(shù)含量高，制造工藝精 度高，使得測量時受環(huán)境影響小，測量數(shù)據(jù)精確。3、 由于本實用新型的輻射計結(jié)構(gòu)簡單，制造容易，大大降低了成本。


圖l為本實用新型的輻射計結(jié)構(gòu)示意圖；具體實施方式
現(xiàn)結(jié)合附圖對本實用新型作進(jìn)一步說明本實用新型的輻射計是這樣實現(xiàn)的參照圖l，包括機(jī)體2，所述機(jī)體 2的上端設(shè)置余弦修正片3，所述機(jī)體2的中心支撐一個硅光探測器4，所 述硅光探測器4設(shè)置在所述余弦修正片3下面，所述機(jī)體2側(cè)面設(shè)置有信 號輸出導(dǎo)線孔l。本實用新型的輻射計與數(shù)字采集器配合使用，當(dāng)有入射光 照射時，通過硅光探測器4的光電轉(zhuǎn)換功能將光信號轉(zhuǎn)換成電信號，該電 信號與太陽輻射強(qiáng)度成正比，再將該電信號通過余弦修正片3修正，使得 其誤差<7%。
權(quán)利要求1、一種輻射計，包括機(jī)體(2)，其特征在于，所述機(jī)體(2)上端設(shè)置余弦修正片(3)，所述機(jī)體(2)中心支撐一個硅光探測器(4)，所述硅光探測器(4)設(shè)置在余弦修正片(3)下面，所述機(jī)體(2)側(cè)面設(shè)置有信號輸出導(dǎo)線孔(1)。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射計，其特征在于，所述硅光探測器(4) 為光電轉(zhuǎn)換傳感器。
專利摘要一種用于測量太陽和日照總輻射量的輻射計，包括機(jī)體，其特征在于，機(jī)體上端設(shè)置余弦修正片，余弦修正片能夠修正測量中的余弦誤差，機(jī)體中心支撐一個硅光探測器，硅光探測器設(shè)置在余弦修正片下面，硅光探測器具有光電轉(zhuǎn)換的傳感功能，對被測光起到光電轉(zhuǎn)換作用，在機(jī)體側(cè)面設(shè)置有信號輸出導(dǎo)線孔，當(dāng)有入射光照射時，硅光探測器將光信號轉(zhuǎn)換為電信號，再經(jīng)過余弦修正片的修正，使得余弦誤差大大減小。本實用新型的輻射計設(shè)計科學(xué)，工藝精密，測量方便，余弦誤差小，結(jié)果精確。
文檔編號G01J1/42GK201094100SQ20072017317
公開日2008年7月30日 申請日期2007年9月17日 優(yōu)先權(quán)日2007年9月17日
發(fā)明者李成才, 白素蓮, 劍 馬 申請人:北京華創(chuàng)維想科技開發(fā)有限責(zé)任公司