專利名稱：基于隨機(jī)向量的電路板分析測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于一種對電路板進(jìn)行測試和故障診斷的裝置。
技術(shù)背景目前，對電路板進(jìn)行測試的裝置主要分兩類， 一類是只對電路板上的所有器件進(jìn)行測試，其缺點(diǎn)是電路板上的所有器件正常并不能代表電路板就一定正常；另一類對電路 板的功能進(jìn)行測試，功能正常則判斷電路板無故障，其缺點(diǎn)是必須事先知道該電路板的 功能，否則基本無法進(jìn)行功能測試。實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種能夠克服現(xiàn)有技術(shù)的上述缺點(diǎn)，具有更好適用性的 電路板故障診斷裝置。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是 一種基于隨機(jī)向量的電路板分析測試儀，其特征是它 包括電腦，向量轉(zhuǎn)換裝置，1/0接口；所述電腦根據(jù)人工指令或者隨機(jī)生成測試向量，通過所述向量轉(zhuǎn)換裝置和所述I/O接口施加于被測試電路板，通過所述i/o接口和所述向量轉(zhuǎn)換裝置讀取、記錄所述被測試電路板的響應(yīng)，將已知無故障的電路板的響應(yīng)存貯為標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)，將所述被測試電路板 的響應(yīng)與所述標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)進(jìn)行比較和分析，給出測試結(jié)論，并存儲(chǔ)故障記錄。應(yīng)用本實(shí)用新型無需分析被測電路板的功能，運(yùn)用自動(dòng)生成的隨機(jī)測試向量就可以 對被測電路板進(jìn)行分析，隨著隨機(jī)測試向量的增加，對被測電路板的功能分析就越全面， 故障判斷與定位也越準(zhǔn)確。


附圖為本實(shí)用新型原理框圖。
具體實(shí)施方式
參見附圖， 一種基于隨機(jī)向量的電路板分析測試儀，其特征是它包括電腦l， 向量轉(zhuǎn)換裝置2， 1/0接口3;所述電腦1根據(jù)人工指令或者隨機(jī)生成測試向量，通過所述向量轉(zhuǎn)換裝置2和所述I/O接口 3施加于被測試電路板4，通過所述I/O接口 3和所述向量轉(zhuǎn)換裝置2讀取、記 錄所述被測試電路板4的響應(yīng)，將已知無故障的電路板的響應(yīng)存C為標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)，將所述 被測試電路板4的響應(yīng)與所述標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)進(jìn)行比較和分析，給出測試結(jié)論，并存儲(chǔ)故障記 錄。
權(quán)利要求1. 一種基于隨機(jī)向量的電路板分析測試儀，其特征是它包括電腦[1]，向量轉(zhuǎn)換裝置[2]，I/O接口[3]；所述向量轉(zhuǎn)換裝置[2]連接于所述電腦[1]與所述I/O接口[3]之間。
專利摘要本實(shí)用新型屬于一種對電路板進(jìn)行測試和故障診斷的裝置。其技術(shù)方案是一種基于隨機(jī)向量的電路板分析測試儀包括電腦[1]，向量轉(zhuǎn)換裝置[2]，I/O接口[3]；所述電腦[1]根據(jù)人工指令或者隨機(jī)生成測試向量，通過所述向量轉(zhuǎn)換裝置[2]和所述I/O接口[3]施加于被測試電路板[4]，通過所述I/O接口[3]和所述向量轉(zhuǎn)換裝置[2]讀取、記錄所述被測試電路板[4]的響應(yīng)，將已知無故障的電路板的響應(yīng)存貯為標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)，將所述被測試電路板[4]的響應(yīng)與所述標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)進(jìn)行比較和分析，給出測試結(jié)論，并存儲(chǔ)故障記錄。應(yīng)用本實(shí)用新型無需分析被測電路板的功能，運(yùn)用自動(dòng)生成的隨機(jī)測試向量就可以對被測電路板進(jìn)行分析，隨著隨機(jī)測試向量的增加，對被測電路板的功能分析就越全面，故障判斷與定位也越準(zhǔn)確。
文檔編號(hào)G01R31/00GK201096851SQ20072017624
公開日2008年8月6日 申請日期2007年9月5日 優(yōu)先權(quán)日2007年9月5日
發(fā)明者張意壽, 徐湘琴, 王宏風(fēng) 申請人:中國人民解放軍92854部隊(duì)通信雷達(dá)聲納修理廠